集成電路的老煉方法及老煉裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種集成電路的老煉方法及老煉裝置。其中，所述方法包括：通過聯(lián)合測試行動小組JTAG接口接收老煉需求信號；根據(jù)所述老煉需求信號，采用預設(shè)的信號生成規(guī)則生成集成電路中的老煉單元進行老煉所需的老煉信號；將所述老煉信號傳輸至所述集成電路中的老煉單元，以使所述老煉單元根據(jù)所述老煉信號，執(zhí)行所述集成電路的老煉過程。本發(fā)明實施例復用了I/O端口測試用的JTAG接口，無需重新設(shè)計老煉方案，老煉測試接口的連接更加簡單方便，簡化了集成電路老煉測試的過程，同時還降低了老煉成本。
【專利說明】集成電路的老煉方法及老煉裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及集成電路老煉技術(shù)，尤其涉及一種集成電路的老煉方法及老煉裝置?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]信息技術(shù)的發(fā)展促使集成電路成為信息科技領(lǐng)域的核心部件，集成電路的可靠性已是制約信息科技等行業(yè)軟硬件可靠性的關(guān)鍵。集成電路生產(chǎn)工藝的復雜性、精密性等特性會使得集成電路在制造過程中留下缺陷。對于某些可靠性要求嚴格的芯片，為了避免電路出現(xiàn)早期失效的問題，在集成電路芯片出廠前必須進行老煉測試。老煉測試技術(shù)是在一定時間內(nèi)對元器件施加一定的應力，如電流、電壓、溫度等，且通常高于其正常工作時的使用應力，從而剔除一些有缺陷的產(chǎn)品，保證出廠的產(chǎn)品質(zhì)量。
[0003]目前，一般對于普通的組合邏輯電路，可以選取敏化通路法進行老煉，對于單一的時序邏輯電路則可以采用狀態(tài)變遷檢查法進行老煉。但對于現(xiàn)代超大規(guī)模集成電路(VeryLarge Scale Integration,簡稱VLSI)，諸如SOC、多核微處理器等規(guī)模龐大,功能模塊復雜繁多的集成電路，已不能簡單地采用敏化通路法和狀態(tài)變遷檢查法來進行老煉了。為了能對大規(guī)模集成電路進行老煉，達到老煉效果，必須在集成電路設(shè)計階段采用可測性設(shè)計。在可測性設(shè)計階段，考慮集成電路老煉測試的策略在集成電路中設(shè)計加入相應的用于老煉測試的接口和/或電路，以便于后續(xù)老煉測試時使用。
[0004]現(xiàn)有技術(shù)這種在集成電路設(shè)計階段就考慮老煉測試的策略在集成電路設(shè)計加入相應老煉測試的接口和/或電路，不僅增加了集成電路的設(shè)計難度，提高了設(shè)計成本，還使得整個老煉測試過程既包括集成電路設(shè)計過程還包括后續(xù)的測試過程，老煉過程復雜，成本聞。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明提供一種集成電路的老煉方法及老煉裝置，以利用JTAG接口進行老煉測試，簡化老煉方法。
[0006]本發(fā)明第一個方面提供一種集成電路的老煉方法，包括:
[0007]通過聯(lián)合測試行動小組JTAG接口接收老煉需求信號；
[0008]根據(jù)所述老煉需求信號，采用預設(shè)的信號生成規(guī)則生成集成電路中的老煉單元進行老煉所需的老煉信號；
[0009]將所述老煉信號傳輸至所述集成電路中的老煉單元，以使所述老煉單元根據(jù)所述老煉信號，執(zhí)行所述集成電路的老煉過程。
[0010]本發(fā)明另一個方面提供一種老煉裝置，包括:
[0011]接收模塊，用于通過JTAG接口接收老煉需求信號；
[0012]生成模塊，用于根據(jù)所述老煉需求信號，采用預設(shè)的信號生成規(guī)則生成集成電路中的老煉單元進行老煉所需的老煉信號；
[0013]傳輸模塊，用于將所述老煉信號傳輸至所述集成電路中的老煉單元，以使所述老煉單元根據(jù)所述老煉信號，執(zhí)行所述集成電路的老煉過程。
[0014]由上述技術(shù)方案可知，本發(fā)明實施例利用JTAG接口接收集成電路老煉所需的老煉需求信號，并根據(jù)獲取到的老煉需求信號，生成老煉信號，以使集成電路中的老煉單元根據(jù)所述老煉信號進行老煉。本發(fā)明實施例復用了 I/o端口測試用的JTAG接口，無需重新設(shè)計老煉方案，老煉測試接口的連接更加簡單方便，簡化了集成電路老煉測試的過程，同時還降低了老煉成本。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1為本發(fā)明實施例一提供的集成電路的老煉方法的流程示意圖；
[0016]圖2為本發(fā)明實施例二提供的老煉裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0017]圖3為本發(fā)明實施例三提供的集成電路的老煉方法的原理圖
[0018]圖4為本發(fā)明提供的TAP控制器輸出狀態(tài)控制信號的原理圖；
[0019]圖5為本發(fā)明提供的TAP控制器根據(jù)接收到的時鐘信號和模式選擇信號輸出的狀態(tài)控制信號的電位示意圖；
[0020]圖6為本發(fā)明提供的老煉控制器根據(jù)所述時鐘信號和所述狀態(tài)控制信號輸出的第一老煉使能信號和第一老煉時鐘的電位示意圖；
[0021]圖7為本發(fā)明實施例四提供的集成電路的老煉方法的原理圖；
[0022]圖8為本發(fā)明提供的老煉控制器根據(jù)所述時鐘信號輸出的第二老煉使能信號和第二老煉信號的電位示意圖，以及根據(jù)MBIST輸出端的輸出信號輸出的MBIST自復位信號的電位示意圖；
[0023]圖9為本發(fā)明實施例五提供的集成電路的老煉方法的原理圖。
【具體實施方式】
[0024]本發(fā)明各實施例中所提到的集成電路均為支持IEEE1149.1標準協(xié)議的集成電路，具有符合IEEE1149.1標準協(xié)議的聯(lián)合測試行動小組(Joint Test Action Group,簡稱JTAG)接口。現(xiàn)有技術(shù)只應用JTAG接口包括的引腳和端口對集成電路的I/O端口以及I/O端口的內(nèi)部邏輯進行控制測試，而并不能用于對集成電路內(nèi)部邏輯及存儲單元進行老煉測試。JTAG接口包括5個測試訪問端口(Test Access Port，簡稱TAP)引腳，這5個TAP引腳分別接入:測試時鐘(Test Clock Input,簡稱TCK)接口，測試輸入數(shù)據(jù)(Test Data Input,簡稱TDI)接口，測試輸出數(shù)據(jù)(Test Data Output，簡稱TDO)接口，測試模式選擇信號(TestMode Select，簡稱TMS)接口和測試復位信號(Test Reset，簡稱TRST)接口。本發(fā)明就是要利用集成電路中已有的JTAG接口對集成電路中的邏輯單元和/或存儲單元進行老煉，以減少集成電路因老煉需附加設(shè)計的接口和/或電路，簡化老煉過程，減低老煉成本。
[0025]如圖1所示，本發(fā)明實施例一提供的集成電路的老煉方法的流程示意圖。如圖1所示，本實施例一所述的方法的執(zhí)行主體可以是老煉裝置，具體地，所述集成電路的老煉方法包括:
[0026]步驟101、通過JTAG接口接收老煉需求信號。
[0027]具體地，在實際應用中所述集成電路可能是僅包括組合邏輯電路和時序電路，或者僅包括存儲單元，或者為既包括組合邏輯電路和時序電路，同時還包括存儲單元的復雜集成電路，例如CPU。
[0028]對于不同功能種類的集成電路，通過所述JTAG接口接收到的老煉需求信號是不同的，舉例如下:
[0029]1)當所述老煉單元為所述集成電路中邏輯功能單元的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈時，所述老煉需求信號包括:時鐘信號、模式選擇信號以及老煉數(shù)據(jù)。其中，所述老煉單元可以是多個插入到掃描鏈中的寄存器形成的老煉鏈。相應地，本步驟101、所述通過JTAG接口接收老煉需求信號可采用如下方法實現(xiàn)，包括:
[0030]步驟SI 11、通過所述JTAG接口中的測試時鐘TCK接口接收所述時鐘信號。
[0031 ] 步驟S112、通過所述JTAG接口中的測試模式選擇信號TMS接口接收所述模式選擇信號。
[0032]步驟S113、通過所述JTAG接口中的測試輸入數(shù)據(jù)TDI接口接收所述老煉數(shù)據(jù)。
[0033]這里需要說明的是:采用本實施例提供的技術(shù)方案對集成電路進行老煉，需將邏輯功能單元中的寄存器插入到掃描鏈中形成由寄存器串聯(lián)組成的一條掃描鏈，此掃描鏈即為老煉鏈。其中，由于現(xiàn)有集成電路內(nèi)部并不是都設(shè)計了現(xiàn)成的老煉鏈，因此當集成電路中沒有現(xiàn)成的老煉鏈時，需要在上述步驟S111之前，增加如下步驟:將所述集成電路中的邏輯功能單元的寄存器串聯(lián)成一條掃描鏈，此掃描鏈即為老煉鏈。
[0034]2)當所述老煉單元為所述集成電路中的對內(nèi)嵌存儲單元進行存儲自測的存儲內(nèi)建自測單元MBIST時，所述老煉需求信號包括:時鐘信號、模式選擇信號以及MBIST輸出端的輸出信號。相應地，本步驟101、所述通過JTAG接口接收老煉需求信號可采用如下方法實現(xiàn)，包括:
[0035]步驟S121、通過所述JTAG接口中的TCK接口接收所述時鐘信號。
[0036]步驟S122、通過所述JTAG接口中的TMS接口接收所述模式選擇信號。
[0037]步驟S123、在所述JTAG接口中的測試輸出數(shù)據(jù)TD0接口的信號接收側(cè)獲取所述MBIST輸出端的輸出信號。
[0038]這里需要補充說明的是:存儲內(nèi)建自測單元(Memory Built-1n Self Test,簡稱MBIST)是在集成電路設(shè)計時在電路中植入的相關(guān)功能電路用于提供自我測試功能的自測單元。MBIST包括測試電路用于加載、讀取和比較測試圖形。在老煉過程中，所述集成電路的存儲單元進入運行MBIST的運行狀態(tài)，通過MBIST對集成電路的存儲單元進行循環(huán)讀寫操作，以實現(xiàn)對存儲單元的老煉。需要注意的是:不是所有的集成電路內(nèi)部都設(shè)計了現(xiàn)成的MBIST。因此，當所述集成電路中沒有現(xiàn)成的MBIST時，需將集成電路中內(nèi)嵌存儲單元(例如RAM、ROM)插入存儲單元自測試邏輯，構(gòu)成MBIST。
[0039]3)當所述老煉單元包括:所述集成電路的邏輯功能單元中的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈，以及所述集成電路中的存儲內(nèi)建自測單元MBIST時，所述老煉需求信號包括:時鐘信號、模式選擇信號、老煉數(shù)據(jù)以及MBIST輸出端的輸出信號。相應地，本步驟101、所述通過JTAG接口接收老煉需求信號可采用如下方法實現(xiàn)，包括:
[0040]步驟S131、通過所述JTAG接口中的TCK接口接收所述時鐘信號。
[0041]步驟S132、通過所述JTAG接口中的TMS接口接收所述模式選擇信號。
[0042]步驟S133、通過所述JTAG接口中的TDI接口接收所述老煉數(shù)據(jù)。
[0043]步驟S134、在所述JTAG接口中的TD0接口的信號接收側(cè)獲取所述MBIST輸出端的輸出信號。
[0044]步驟102、根據(jù)所述老煉需求信號，采用預設(shè)的信號生成規(guī)則生成集成電路中的老煉單元進行老煉所需的老煉信號。
[0045]同樣地，對于不同功能種類的集成電路，由于接收到的老煉需求信號是不同的，因此生成的所述老煉信號也是不同的。舉例如下:
[0046]I)當所述老煉單元為所述集成電路的邏輯功能單元中的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈時，所述老煉信號包括:第一老煉使能信號、第一老煉時鐘信號、老煉控制信號以及所述老煉數(shù)據(jù)。相應地，本步驟102、根據(jù)所述老煉需求信號，采用預設(shè)的信號生成規(guī)則生成集成電路中的老煉單元進行老煉所需的老煉信號可采用如下方法實現(xiàn)，包括:
[0047]步驟S211、根據(jù)所述時鐘信號和所述模式選擇信號，生成老煉模式信號和狀態(tài)控制信號。
[0048]其中，所述狀態(tài)控制信號包括:掃描控制信號和暫?？刂菩盘枴＞唧w的，當所述時鐘信號為有效電平時，生成持續(xù)為有效電平的老煉模式信號；當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的掃描控制信號；當所述模式選擇信號為第二選擇時序信號時，生成電平為有效電平的暫停控制信號。
[0049]步驟S212、根據(jù)所述時鐘信號、所述老煉模式信號以及所述狀態(tài)控制信號，生成老煉控制信號、第一老煉使能信號和第一老煉時鐘信號。
[0050]具體的，將所述掃描控制信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號，以及所述暫?？刂菩盘枮橛行щ娖降某掷m(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第一老煉時鐘信號；
[0051]當所述掃描控制信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第一老煉使能信號有效；
[0052]當所述老煉模式信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述老煉控制信號有效。
[0053]步驟S213、當所述老煉控制信號為有效信號時，獲取所述老煉需求信號中的所述老煉數(shù)據(jù)。
[0054]2)當所述老煉單元為所述集成電路中的MBIST時，所述老煉信號包括:第二老煉使能信號、第二老煉時鐘信號以及MBIST自復位信號。相應地，本步驟102、根據(jù)所述老煉需求信號，采用預設(shè)的信號生成規(guī)則生成集成電路中的老煉單元進行老煉所需的老煉信號可采用如下方法實現(xiàn)，包括:
[0055]步驟221、根據(jù)所述時鐘信號和所述模式選擇信號，生成老煉模式信號和驅(qū)動指示信號。
[0056]具體的，當所述時鐘信號為有效電平時，生成持續(xù)為有效電平的老煉模式信號；
[0057]當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的驅(qū)動指示信號。
[0058]步驟222、根據(jù)所述時鐘信號、所述老煉模式信號和所述驅(qū)動指示信號，生成第二老煉使能信號和所述第二老煉時鐘信號。
[0059]具體的，當所述驅(qū)動指示信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第二老煉使能信號有效；
[0060]將所述驅(qū)動指示信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第二老煉時鐘信號。
[0061]步驟223、根據(jù)所述MBIST輸出端的輸出信號，生成所述MBIST自復位信號。
[0062]具體的，當所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平時，在所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平的起始時刻后延遲預設(shè)時間，生成所述MBIST自復位信號。
[0063]3)當所述老煉單元包括:所述集成電路的邏輯功能單元中的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈，以及所述集成電路中的MBIST時，所述老煉信號包括:第一老煉信號和第二老煉信號，其中，所述第一老煉信號包括:第一老煉使能信號、第一老煉時鐘信號、老煉控制信號以及所述老煉數(shù)據(jù)，所述第二老煉信號包括:第二老煉使能信號、第二老煉時鐘信號以及MBIST自復位信號。相應地，本步驟102、根據(jù)所述老煉需求信號，采用預設(shè)的信號生成規(guī)則生成集成電路中的老煉單元進行老煉所需的老煉信號可采用如下方法實現(xiàn)，包括:
[0064]步驟231、根據(jù)所述時鐘信號和所述模式選擇信號，生成老煉模式信號、狀態(tài)控制信號以及驅(qū)動指示信號。
[0065]具體的，當所述時鐘信號為有效電平時，生成持續(xù)為有效電平的老煉模式信號；
[0066]當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的掃描控制信號；當所述模式選擇信號為第二選擇時序信號時，生成電平為有效電平的暫?？刂菩盘枺?br> [0067]當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的驅(qū)動指示信號。
[0068]步驟232、根據(jù)所述時鐘信號、所述老煉模式信號以及所述狀態(tài)控制信號，生成老煉控制信號、第一老煉使能信號和第一老煉時鐘信號。
[0069]具體的，將所述掃描控制信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號，以及所述暫?？刂菩盘枮橛行щ娖降某掷m(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第一老煉時鐘信號；
[0070]當所述掃描控制信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第一老煉使能信號有效；
[0071]當所述老煉模式信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述老煉控制信號有效。
[0072]步驟233、當所述老煉控制信號為有效信號時，獲取所述老煉需求信號中的所述老煉數(shù)據(jù)。
[0073]步驟234、根據(jù)所述時鐘信號、所述老煉模式信號和所述驅(qū)動指示信號，生成第二老煉使能信號和所述第二老煉時鐘信號。
[0074]具體的，當所述驅(qū)動指示信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第二老煉使能信號有效；
[0075]將所述驅(qū)動指示信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第二老煉時鐘信號。
[0076]步驟235、根據(jù)所述MBIST輸出端的輸出信號，生成所述MBIST自復位信號。
[0077]具體的，當所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平時，在所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平的起始時刻后延遲預設(shè)時間，生成所述MBIST自復位信號。
[0078]步驟103、將所述老煉信號傳輸至所述集成電路中的老煉單元，以使所述老煉單元根據(jù)所述老煉信號，執(zhí)行老煉過程。
[0079]所述老煉單元根據(jù)所述老煉信號，執(zhí)行老煉過程，具體可通過以下實例但不限于以下實例實現(xiàn):
[0080]I)當所述老煉單元為所述集成電路中邏輯功能單元的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈時，所述老煉鏈根據(jù)所述第一老煉使能信號、第一老煉時鐘信號和所述老煉數(shù)據(jù)，對所述集成電路的邏輯功能單元進行老煉。
[0081]2)當所述老煉單元為所述集成電路中的MBIST時，所述MBIST根據(jù)所述第二老煉使能信號、所述MBIST自復位信號和所述第二老煉時鐘信號，對所述集成電路的內(nèi)嵌存儲單元進行老煉。
[0082]3)當所述老煉單元包括老煉鏈以及MBIST時，將所述第一老煉信號傳輸至所述老煉鏈，以使所述老煉鏈根據(jù)所述第一老煉信號，對所述集成電路的邏輯功能單元進行老煉；其中，所述第一老煉信號包括:第一老煉使能信號、第一老煉時鐘信號、老煉控制信號以及所述老煉數(shù)據(jù)。同時，將所述第二老煉信號傳輸至所述MBIST，以使所述MBIST根據(jù)所述第二老煉信號，對所述集成電路的內(nèi)嵌存儲單元進行老煉，其中，所述第二老煉信號包括:所述第二老煉使能信號、所述MBIST自復位信號和所述第二老煉時鐘信號。
[0083]本實施例利用JTAG接口接收集成電路老煉所需的老煉需求信號，并根據(jù)獲取到的老煉需求信號，生成老煉信號，以使集成電路中的老煉單元根據(jù)所述老煉信號進行老煉。本實施例復用了 I/o端口測試用的JTAG接口，無需重新設(shè)計老煉方案，老煉測試接口的連接更加簡單方便，簡化了集成電路老煉測試的過程，同時還降低了老煉成本。
[0084]進一步地，上述實施例一所述的方法步驟103之后，還包括:通過所述JTAG接口的TDO接口輸出老煉結(jié)果。具體地，當所述老煉單元為老煉鏈時，通過所述JTAG接口的TDO接口輸出邏輯功能單元老煉結(jié)果。當所述老煉單元為MBIST時，通過所述JTAG接口的TDO接口輸出內(nèi)嵌存儲單元老煉結(jié)果。當所述老煉單元包括老煉鏈和MBIST時，所述JTAG接口的TDO接口需輸出兩個老煉結(jié)果，此時可采取下述方法實現(xiàn)老煉結(jié)果的輸出:
[0085]根據(jù)預設(shè)的輸出策略，生成老煉結(jié)果輸出控制信號；當所述輸出控制信號為第一控制信號時，通過所述JTAG接口中的TDO接口輸出邏輯功能單元老煉結(jié)果；當所述輸出控制信號為第二控制信號時，通過所述JTAG接口中的TDO接口輸出內(nèi)嵌存儲單元老煉結(jié)果。
[0086]如圖2所示，本發(fā)明實施例二提供的老煉裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，本實施例二所述的老煉裝置包括:接收模塊1、生成模塊2和傳輸模塊3。其中，所述接收模塊I用于通過JTAG接口接收老煉需求信號。所述生成模塊2用于根據(jù)所述老煉需求信號，生成老煉信號。所述傳輸模塊3用于將所述老煉信號傳輸至集成電路中的老煉單元，以使所述老煉單元根據(jù)所述老煉信號，執(zhí)行所述集成電路的老煉過程。
[0087]本實施例利用JTAG接口接收集成電路老煉所需的老煉需求信號，并根據(jù)獲取到的老煉需求信號，生成老煉信號，以使集成電路中的老煉單元根據(jù)所述老煉信號進行老煉。本實施例復用了 I/o端口測試用的JTAG接口，無需重新設(shè)計老煉方案，老煉測試接口的連接更加簡單方便，簡化了集成電路老煉測試的過程，同時還降低了老煉成本。
[0088]在實際應用中，所述集成電路根據(jù)功能類型，分為:僅包括組合邏輯電路和時序電路的集成電路、僅包括存儲單元的集成電路、以及既包括組合邏輯電路和時序電路，又包括存儲單元的集成電路。因此對于不同集成電路的老煉，上述實施例二所述的老煉裝置中的各模塊的具體實現(xiàn)可是有區(qū)別的。若所述集成電路僅包括組合邏輯電路和時序電路，則所述老煉單元為邏輯功能單元中的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈；若所述集成電路僅包括內(nèi)嵌存儲單元，則所述老煉單元為所述集成電路中的存儲內(nèi)建自測單元MBIST ;若所述集成電路既包括組合邏輯電路和時序電路，又包括內(nèi)嵌存儲單元，則所述老煉單元為所述集成電路中邏輯功能單元中的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈，以及所述集成電路中的MBIST。具體地，如下述內(nèi)容:
[0089]當所述老煉單元為所述集成電路的邏輯功能單元中的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈時，所述老煉需求信號包括:時鐘信號、模式選擇信號以及老煉數(shù)據(jù)。相應的，上述實施例二中所述的接收模塊具體用于通過所述JTAG接口中的TCK接口接收所述時鐘信號；通過所述JTAG接口中的TMS接口接收所述模式選擇信號；通過所述JTAG接口中的TDI接口接收所述老煉數(shù)據(jù)。所述老煉信號包括:第一老煉使能信號、第一老煉時鐘信號、老煉控制信號以及所述老煉數(shù)據(jù)。相應地，所述生成模塊可采用如下結(jié)構(gòu)實現(xiàn)。具體地，所述生成模塊包括:TAP控制器、老煉控制器和模式選擇器。其中，所述TAP控制器，用于根據(jù)所述時鐘信號和所述模式選擇信號，生成老煉模式信號和狀態(tài)控制信號。具體的，所述TAP控制器，用于當所述時鐘信號為有效電平時，生成持續(xù)為有效電平的老煉模式信號；當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的掃描控制信號；當所述模式選擇信號為第二選擇時序信號時，生成電平為有效電平的暫?？刂菩盘?。所述老煉控制器，用于根據(jù)所述時鐘信號、所述老煉模式信號以及所述狀態(tài)控制信號，生成老煉控制信號、第一老煉使能信號和第一老煉時鐘信號。具體的，所述老煉控制器，用于將所述掃描控制信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號，以及所述暫?？刂菩盘枮橛行щ娖降某掷m(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第一老煉時鐘信號；當所述掃描控制信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第一老煉使能信號有效；當所述老煉模式信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述老煉控制信號有效。所述模式選擇器，用于當所述老煉控制信號為有效信號時，獲取所述老煉需求信號中的所述老煉數(shù)據(jù)。
[0090]當所述的老煉單元為所述集成電路中的對內(nèi)嵌存儲單元進行存儲自測的MBIST時，所述老煉需求信號包括:時鐘信號、模式選擇信號以及MBIST輸出端的輸出信號。相應地，上述實施例二中所述的接收模塊，具體用于通過所述JTAG接口中的TCK接口接收所述時鐘信號；通過所述JTAG接口中的TMS接口接收所述模式選擇信號；在所述JTAG接口中的TD0接口的信號接收側(cè)獲取所述MBIST輸出端的輸出信號。所述老煉信號包括:第二老煉使能信號、第二老煉時鐘信號以及MBIST自復位信號。相應地，所述生成模塊可采用如下結(jié)構(gòu)實現(xiàn)，具體地，所述的生成模塊包括:TAP控制器和老煉控制器。其中，所述TAP控制器，用于根據(jù)所述時鐘信號和所述模式選擇信號，生成老煉模式信號和驅(qū)動指示信號。具體的，所述TAP控制器，用于當所述時鐘信號為有效電平時，生成持續(xù)為有效電平的老煉模式信號；當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的驅(qū)動指示信號。所述老煉控制器，用于根據(jù)所述時鐘信號、所述老煉模式信號和所述驅(qū)動指示信號，生成第二老煉使能信號和所述第二老煉時鐘信號；根據(jù)所述MBIST輸出端的輸出信號，生成所述MBIST自復位信號。具體的，所述老煉控制器，用于當所述驅(qū)動指示信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第二老煉使能信號有效；將所述驅(qū)動指示信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第二老煉時鐘信號；當所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平時，在所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平的起始時刻后延遲預設(shè)時間，生成所述MBIST自復位信號。[0091]當老煉單元包括:所述集成電路中邏輯功能單元的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈，以及所述集成電路中的MBIST時，所述老煉需求信號包括:時鐘信號、模式選擇信號、老煉數(shù)據(jù)以及MBIST輸出端的輸出信號。相應地，上述實施例二中所述的接收模塊，具體用于通過所述JTAG接口中的TCK接口接收所述時鐘信號；通過所述JTAG接口中的TMS接口接收所述模式選擇信號；通過所述JTAG接口中的TDI接口接收所述老煉數(shù)據(jù)；在所述JTAG接口中的TDO接口的信號接收側(cè)獲取所述MBIST輸出端的輸出信號。所述老煉信號包括:第一老煉信號和第二老煉信號，其中，所述第一老煉信號包括:第一老煉使能信號、第一老煉時鐘信號、老煉控制信號以及所述老煉數(shù)據(jù)，所述第二老煉信號包括:第二老煉使能信號、第二老煉時鐘信號以及MBIST自復位信號。相應地，所述生成模塊可采用如下結(jié)構(gòu)實現(xiàn)。具體地，所述生成模塊包括:TAP控制器、老煉控制器和模式選擇器。其中，所述TAP控制器，用于根據(jù)所述時鐘信號和所述模式選擇信號，生成老煉模式信號、狀態(tài)控制信號以及驅(qū)動指示信號。具體的，所述TAP控制器，用于當所述時鐘信號為有效電平時，生成持續(xù)為有效電平的老煉模式信號；當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的掃描控制信號；當所述模式選擇信號為第二選擇時序信號時，生成電平為有效電平的暫?？刂菩盘?；當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的驅(qū)動指示信號。所述老煉控制器，用于根據(jù)所述時鐘信號、所述老煉模式信號以及所述狀態(tài)控制信號，生成老煉控制信號、第一老煉使能信號和第一老煉時鐘信號；根據(jù)所述時鐘信號、所述老煉模式信號和所述驅(qū)動指示信號，生成第二老煉使能信號和所述第二老煉時鐘信號；根據(jù)所述MBIST輸出端的輸出信號，生成所述MBIST自復位信號。具體的，老煉控制器，用于將所述掃描控制信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號，以及所述暫?？刂菩盘枮橛行щ娖降某掷m(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第一老煉時鐘信號；當所述掃描控制信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第一老煉使能信號有效；當所述老煉模式信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述老煉控制信號有效；當所述驅(qū)動指示信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第二老煉使能信號有效；將所述驅(qū)動指示信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第二老煉時鐘信號；當所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平時，在所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平的起始時刻后延遲預設(shè)時間，生成所述MBIST自復位信號。所述模式選擇器，用于當所述老煉控制信號為有效信號時，獲取所述老煉需求信號中的所述老煉數(shù)據(jù)。相應地，所述傳輸模塊，具體用于將所述第一老煉信號傳輸至所述老煉鏈，以使所述老煉鏈根據(jù)所述第一老煉信號，對所述集成電路的邏輯功能單元進行老煉；將所述第二老煉信號傳輸至所述MBIST，以使所述MBIST根據(jù)所述第二老煉信號，執(zhí)行內(nèi)嵌存儲單元老煉過程。
[0092]進一步地，為了獲取老煉結(jié)果以監(jiān)測集成電路的質(zhì)量，上述實施例二所述的老煉裝置還包括:輸出模塊。所述輸出模塊用于通過所述JTAG接口中的TDO接口輸出老煉結(jié)果。這里需要說明的是:當所述的集成電路中的老煉單元為老煉鏈，或者為MBIST時，所述老煉裝置僅需要所述輸出模塊，用于通過所述JTAG接口中的TDO接口輸出邏輯功能單元老煉結(jié)果或內(nèi)嵌存儲單元老煉結(jié)果。但當所述集成電路中的老煉單元包括老煉鏈和MBIST時，此時，所述集成電路進行老煉得出的老煉結(jié)果就會有兩個，分別為邏輯功能單元老煉結(jié)果和內(nèi)嵌存儲單元老煉結(jié)果，而所述JTAG接口中只有一個TDO接口，因此，上述實施例二所述的老煉裝置還應該包括；輸出選擇模塊。具體地，所述輸出選擇模塊用于根據(jù)預設(shè)的輸出策略，生成老煉結(jié)果輸出控制信號。所述輸出模塊，用于當所述輸出控制信號為第一控制信號時，通過所述JTAG接口中的TDO接口輸出邏輯功能單元老煉結(jié)果；當所述輸出控制信號為第二控制信號時，通過所述JTAG接口中的TDO接口輸出內(nèi)嵌存儲單元老煉結(jié)果。
[0093]下面結(jié)合具體應用實例，分別對本發(fā)明提供的所述集成電路的老煉方法作進一步地說明。
[0094]如圖3所示，本發(fā)明實施例三提供的集成電路的老煉方法的原理圖。如圖3所示，本實施例三老煉對象為集成電路的邏輯功能電路，即通過向所述集成電路中的老煉鏈4發(fā)送老煉信號，以使所述老煉鏈根據(jù)所述老煉信號，對所述集成電路的邏輯功能單元進行老煉。如圖3所示，本實施例三中所述的老煉裝置包括:接收模塊、TAP控制器1、老煉控制器
2、模式選擇器5以及輸出模塊6。其中，
[0095]所述接收模塊，用于通過所述JTAG接口中的測試時鐘TCK接口 31接收所述時鐘信號TCK，通過所述JTAG接口中的測試模式選擇信號TMS接口 32接收所述模式選擇信號TMS，通過所述JTAG接口中的測試輸入數(shù)據(jù)TDI接口 33接收所述老煉數(shù)據(jù)Burnin_si。
[0096]所述TAP控制器1，用于根據(jù)所述時鐘信號TCK和所述模式選擇信號TMS，生成老煉模式信號和狀態(tài)控制信號(如圖3中所示的shift_dr_c或Pause_dr_c)。
[0097]所述老煉控制器2，用于根據(jù)所述時鐘信號TCK、所述老煉模式信號以及所述狀態(tài)控制信號，生成老煉控制信號Burnin_mode、第一老煉使能信號Scan_en和第一老煉時鐘信號 Scan_clk。
[0098]所述模式選擇器5，用于當所述老煉控制信號為有效信號時，獲取所述老煉需求信號中的所述老煉數(shù)據(jù)，即通過所述JIAG接口的TDI接口接收到的老煉數(shù)據(jù)。
[0099]所述老煉鏈4，用于根據(jù)所述根據(jù)所述第一老煉使能信號Scan_en、第一老煉時鐘信號Scan_clk和所述老煉數(shù)據(jù)Burnin_si,對所述集成電路的邏輯功能單元進行老煉。
[0100]所述輸出模塊6，用于通過所述JIAG接口的TD0接口輸出邏輯功能老煉結(jié)果Burnin_so。
[0101]其中，本發(fā)明實施例通過所述TAP控制器1和老煉控制器2向老煉鏈4發(fā)出第一老煉使能信號Scan_en和第一老煉時鐘Scan_clk，并在所述老煉控制信號為有效信號時通過TDI端口輸入老煉數(shù)據(jù)，使得集成電路內(nèi)部的邏輯功能單元進行翻轉(zhuǎn)。老煉鏈的輸入接到JTAG接口的TDI端口上，可通過控制TDI的輸入來控制輸入老煉鏈的數(shù)據(jù)，這樣老煉過程中，可通過控制輸入老煉鏈的老煉數(shù)據(jù)來對集成電路內(nèi)部的邏輯功能單元的翻轉(zhuǎn)進行控制，以達到較好的老煉效果。
[0102]這里需要說明的是:本實施例中所述的老煉鏈是由所述集成電路的邏輯單元中的寄存器串聯(lián)組成(圖3中未示出)，老煉鏈有兩種狀態(tài)，一種是掃描移位狀態(tài)，另一種是掃描捕獲狀態(tài)，在掃描移位狀態(tài)，老煉鏈順序移入TDI端口的數(shù)據(jù)，在掃描捕獲狀態(tài)，老煉鏈處于功能翻轉(zhuǎn)狀態(tài)。這兩種狀態(tài)的切換由第一老煉使能信號Scan_en控制，當Scan_en有效時，老煉鏈為掃描移位狀態(tài)；iScan_en無效時老煉鏈為掃描捕獲狀態(tài)。組成該老煉鏈的寄存器越多，即說明參與老煉的邏輯單元越多，則所述集成電路的老煉效果越好，因此在實際應用中可將集成電路中的所有邏輯單元的寄存器串聯(lián)組成所述老煉鏈。
[0103]本發(fā)明實施例利用JTAG接口接入到集成電路中邏輯功能單元的寄存器中，即通過JTAG接口的TAP控制器和老煉控制器向由集成電路中邏輯功能單元的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈發(fā)送第一老煉使能信號和第一老煉時鐘信號，通過TDI接口向所述老煉鏈發(fā)送老煉數(shù)據(jù)，以使所述老煉鏈根據(jù)所述第一老煉使能信號、第一老煉時鐘信號和所述老煉數(shù)據(jù)，對所述集成電路的邏輯功能單元進行老煉。本發(fā)明實施例通過利用JTAG接口使得老煉測試接口簡單方便，簡化了集成電路老煉測試的過程，同時由于本發(fā)明實施例復用了 I/O端口測試用的JTAG接口，無需重新設(shè)計老煉方案，因而降低了老煉成本。
[0104]進一步地，本實施例三中所述狀態(tài)控制信號可以具體為掃描移位控制信號Shift_dr_c或暫?？刂菩盘朠ause_dr_c。相應地,本實施例三中所述的TAP控制器具體用于:當所述TAP控制器處于圖4的Shift_DR狀態(tài)時，輸出掃描移位控制信號Shift_dr_c ;當所述TAP控制器處于圖4的Paurse_DR狀態(tài)時，輸出暫停信號Paurse_dr_c。具體地，圖4給出了 TAP控制器輸出狀態(tài)控制信號的原理圖。TAP控制器與TCK信號同步工作，并響應TMS信號。在TCK信號和TMS信號的控制下，TAP控制器以選擇輸出不同的狀態(tài)。具體地，無論當前狀態(tài)如何，只要TMS保持5個TCK時鐘為高電平(即5個TCK時鐘，TMS=1), TAP控制器都會回到Test_logic_ResetOxF狀態(tài)。如圖4所示，需要老煉測試時，TMS為低電平(即TMS=0), TAP 控制器跳出 Test_logic_ResetOxF 狀態(tài)進入 Run_Test/IdleOxC，如圖 5 所示，在第1、第2和第3個TCK時鐘內(nèi)TMS=100則在第3個TCK時鐘的上升沿時，TAP控制器進入Shift_DR狀態(tài)，輸出掃描移位控制信號Shift_dr_c，即TAP控制器的第一輸出端(如圖3所示的Shift_dr_c信號輸出端)輸出高電平，如圖5所示。如圖4所示，若后續(xù)的TCK時鐘內(nèi)TMS持續(xù)為0，即如圖5所示，第4?第7個TCK時鐘內(nèi)TMS持續(xù)為0，則所述TAP控制器持續(xù)處于Shift_DR狀態(tài)，處于Shift_DR狀態(tài)時的老煉鏈處于掃描移位狀態(tài)，處于Shift_DR的時間長度由老煉鏈的長度決定，即Shift_DR狀態(tài)的時鐘周期個數(shù)等于老煉鏈內(nèi)寄存器的個數(shù)，以保證所有老煉鏈內(nèi)的寄存器在Shift_DR狀態(tài)從TD0獲取了老煉數(shù)據(jù)。當所有的老煉鏈內(nèi)的寄存器都移入了 TDI輸入的老煉數(shù)據(jù)后，如圖3所示實例，當在第8個TCK時鐘內(nèi)TMS=1，則在第8個TCK時鐘的上升沿時所述TAP控制器從所述Shift_DR狀態(tài)跳出進入Exitl-DR狀態(tài)。如圖5所示，若緊接著在第9個TCK時鐘內(nèi)TMS=0，則在第9個TCK時鐘的上升沿時TAP控制器從Exitl-DR狀態(tài)過渡進入Pause_DR狀態(tài)，輸出暫停掃描移位控制信號Shift_dr_c,即TAP控制器的第二輸出端(如圖3所示的Pause_dr_c信號輸出端)輸出高電平，如圖5所示。若第10個TCK時鐘內(nèi)TMS=1，則在第10個TCK時鐘的上升沿時TAP控制器從Pause_DR狀態(tài)過渡進入Exit2_DR狀態(tài)；第11個TCK時鐘內(nèi)TMS=0，則在第11個TCK時鐘的上升沿時TAP控制器從Exit2-DR狀態(tài)過渡進入到Shift_DR狀態(tài)。本發(fā)明實施例所述的支持JTAG標準的集成電路在老煉期間，所述TAP控制器可采用圖5所示的時序信號圖循環(huán)處于 Shift_DR 狀態(tài)一Exitl-DR 狀態(tài)一Pause_DR 狀態(tài)一Exit2_DR — Shift_DR 狀態(tài)，即循環(huán)輸出掃描移位控制信號Shift_dr_c和暫停掃描移位控制信號Shift_dr_c,以使所述老煉控制器輸出相應的第一老煉使能信號和第一老煉時鐘信號，對集成電路進行老煉測試，直至老煉結(jié)束。另外，老煉測試的結(jié)束條件通常為老煉時間。老煉時間的確定可參照以前收集到的老煉故障及故障分析的統(tǒng)計數(shù)據(jù)來確定，或者可根據(jù)自己的實際需求自行決定老化強度和時間。
[0105]這里需要補充的是:由于本實施例是復用I/O端口測試用的JTAG接口來對集成電路進行老煉的，因此，本實施例所述的集成電路可進入兩種工作模式:一種是自定義的專用老煉模式Burnin_mode和JTAG協(xié)議專用的測試指令例如EXTEST、SAMPLE/PRELOAD、BYPASS。如圖3和圖5所示的，當老煉模式信號為有效電平，如高電平時，所述集成電路進入老煉模式。當老煉模式為無效電平，如低電平時，所述集成電路進入測試模式。其中，所述TAP控制器I可根據(jù)所述時鐘信號TCK和所述模式選擇信號TMS完成老煉控制指令配置，并根據(jù)所述老煉控制指令生成所述老煉模式信號，將所述老煉模式信號輸出至老煉控制器2，由所述老煉控制器2生成老煉模式信號，以使所述集成電路進入老煉模式，并在老煉模式下連接內(nèi)部的邏輯功能單元的寄存器為老煉鏈。具體地，所述TAP控制器I生成的所述老煉控制指令是所述TAP控制器根據(jù)圖4所示的原理圖生成的，具體地，TAP控制器根據(jù)圖4所示的模式選擇信號TMS可進入指令掃描狀態(tài)Select-1R-Scan0x4，經(jīng)Capture-1R狀態(tài)，并在Shift-1R狀態(tài)移入老煉指令，然后經(jīng)過Exitl-1R狀態(tài)——Pause-1R狀態(tài)——Exit2_IR狀態(tài)進入Update-1R狀態(tài)，在所述Update-1R狀態(tài)時將所述移入的老煉指令更新為當前指令，老煉控制器執(zhí)行當前指令并輸出老煉控制模式burnin_mode為有效。
[0106]進一步地，上述實施例三中所述的老煉控制器2具體用于當所述狀態(tài)控制信號為掃描移位控制信號時，所述第一老煉使能信號有效。
[0107]進一步地，所述老煉控制器2還用于當所述狀態(tài)控制信號為暫停掃描移位控制信號時，所述第一老煉使能信號無效，暫停執(zhí)行老煉鏈移入數(shù)據(jù)過程，以使所述集成電路處于正常功能狀態(tài)。
[0108]進一步地，所述老煉控制器還用于當所述狀態(tài)控制信號為掃描移位控制信號持續(xù)段內(nèi)和暫停掃描移位控制信號Shift_dr_c持續(xù)時間段內(nèi)，獲取所述掃描移位控制信號持續(xù)段內(nèi)和暫停掃描移位控制信號Shift_dr_c持續(xù)時段內(nèi)的時鐘信號TCK為第一老煉時鐘，并將所述第一老煉時鐘發(fā)送至所述老煉鏈的寄存器，以使所述老煉鏈在所述狀態(tài)控制信號為掃描移位控制信號持續(xù)段內(nèi)進行掃描移位，并從TDO端口順序的把老煉數(shù)據(jù)移入到老煉鏈中；并使所述老煉鏈在所述狀態(tài)控制信號為暫停掃描移位控制信號Shift_dr_c持續(xù)段內(nèi)進行正常功能路徑的邏輯翻轉(zhuǎn)。
[0109]具體地，如圖6所示，當所述狀態(tài)控制信號為掃描移位控制信號時，即如圖6所示的Shift_dr_c有效(如圖6所示的高電平)時,所述老煉控制器第一老煉使能信號Scan_en有效(如圖6所示的高電平)；當shift_dr_c無效(如圖6所示的低電平)時，第一老煉使能信號Scan_en無效。當所述狀態(tài)為掃描移位控制信號或暫停信號時，即Shift_dr_c為高電平或Pause_dr_C為高電平時，獲取所述TCK為所述第一老煉時鐘信號Scan_clk。當所述第一老煉使能信號Scan_en有效時，所述老煉鏈順序的移入TDO的數(shù)據(jù)，當所述第一老煉使能信號Scan_en無效且PauSe_dr_C有效時，所述老煉鏈不進行移位操作進行正常功能路徑的邏輯翻轉(zhuǎn)。老煉鏈的掃描移位過程(scan_en有效期間)和老煉鏈邏輯翻轉(zhuǎn)過程(scan_en無效且PauSe_dr_C有效)組成了集成電路的老煉過程。集成電路內(nèi)部邏輯處于老煉鏈移位和功能翻轉(zhuǎn)交錯循環(huán)，直至老煉結(jié)束。
[0110]基于上述內(nèi)容可知，本實施例三提供的集成電路的老煉方法，包括如下步驟:
[0111]步驟201、所述接收模塊通過JTAG接口的TCK接口 31接收時鐘信號TCK，通過JTAG接口的TMS接口 32接收模式選擇信號TMS，通過JTAG接口的TDI接口 33接收老煉數(shù)據(jù)。
[0112]步驟202、所述TAP控制器I根據(jù)所述時鐘信號TCK和所述模式選擇信號TMS，生成老煉模式信號和狀態(tài)控制信號。
[0113]步驟203、所述老煉控制器2根據(jù)所述時鐘信號TCK、所述老煉模式信號以及所述狀態(tài)控制信號，生成老煉控制信號Burnin_mode、第一老煉使能信號Scan_en和第一老煉時鐘信號Scan_clk。
[0114]步驟204、當所述老煉控制信號Burnin_mode為有效信號時，所述模式選擇器5獲取所述老煉需求信號中的所述老煉數(shù)據(jù)。
[0115]步驟205、將獲取到的老煉數(shù)據(jù)、所述第一老煉使能信號和所述第一老煉時鐘信號傳輸至所述老煉鏈4，以使所述老煉鏈4根據(jù)所述老煉數(shù)據(jù)、所述第一老煉使能信號和所述第一老煉時鐘信號，對所述集成電路的邏輯功能單元進行老煉。
[0116]步驟206、所述輸出模塊6通過所述JTAG接口的TD0接口輸出邏輯功能老煉結(jié)果。
[0117]這里需要說明的是:上述各步驟具體實現(xiàn)原理和實現(xiàn)過程可參見上述方法步驟之前本實施例三中描述地相關(guān)內(nèi)容，此處不再贅述。
[0118]本發(fā)明實施例利用JTAG接口接入到集成電路中邏輯功能單元的寄存器中，即通過JTAG接口的TAP控制器和老煉控制器向由集成電路中邏輯功能單元的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈發(fā)送第一老煉使能信號和第一老煉時鐘，通過TDI接口向所述老煉鏈發(fā)送老煉數(shù)據(jù)，以使所述老煉鏈根據(jù)所述第一老煉使能信號、第一老煉時鐘信號和所述老煉數(shù)據(jù)，對所述集成電路的邏輯功能單元進行老煉。本發(fā)明實施例通過利用JTAG接口使得老煉測試接口簡單方便，簡化了集成電路老煉測試的過程，同時由于本發(fā)明實施例復用了 I/O端口測試用的JTAG接口，無需重新設(shè)計老煉方案，因而降低了老煉成本。
[0119]如圖7所示，本發(fā)明實施例四提供的集成電路的老煉方法的原理圖。如圖7所示，本實施例四老煉對象為集成電路的存儲單元。其中，集成電路設(shè)計時在電路中植入的相關(guān)功能電路用于提供自我測試功能的自測單元，即如圖7中所示的MBIST。MBIST包括測試電路用于加載、讀取和比較測試圖形。在老煉過程中，所述集成電路的存儲單元進入運行MB 1ST的運行狀態(tài)，通過MBIST對集成電路的存儲單元進行循環(huán)讀寫操作，以實現(xiàn)對存儲單元的老煉。如圖7所示，本實施例四所述的老煉裝置包括:接收模塊、TAP控制器1、老煉控制器2以及輸出模塊6。其中，
[0120]所述接收模塊，用于通過所述JTAG接口中的TCK接口接收所述時鐘信號；通過所述JTAG接口中的TMS接口接收所述模式選擇信號；在所述JTAG接口中的測試輸出數(shù)據(jù)TD0接口的信號接收側(cè)34獲取所述MBIST7輸出端的輸出信號Bist_end。
[0121]所述TAP控制器1，用于根據(jù)所述時鐘信號TCK和所述模式選擇信號TMS，生成老煉模式信號和驅(qū)動指不信號run_idle_c。
[0122]所述老煉控制器2，用于根據(jù)所述時鐘信號TCK、所述老煉模式信號和所述驅(qū)動指示信號run_idle_c,生成第二老煉使能信號Bist_en和所述第二老煉時鐘信號Bist_clk ；根據(jù)所述MBIST輸出端的輸出信號Bist_end，生成所述MBIST自復位信號Bist_reset。
[0123]所述MBIST7，用于根據(jù)所述第二老煉使能信號Bist_en、所述MBIST自復位信號Bist_reset和所述第二老煉時鐘信號Bist_clk,執(zhí)行內(nèi)嵌存儲單元老煉過程。
[0124]所述輸出模塊6，用于通過所述JTAG接口的TD0接口輸出內(nèi)嵌存儲單元老煉結(jié)果。
[0125]本實施例利用JTAG接口接入到集成電路中的MBIST中，即通過JTAG接口的TAP控制器和老煉控制器向MBIST發(fā)送第二使能、MBIST自復位信號和第二老煉時鐘信號，以實現(xiàn)通過MBIST對集成電路的存儲單元進行讀寫操作，從而達到對存儲單元進行老煉的目的。本發(fā)明實施例復用了 I/O端口測試用的JTAG接口，無需重新設(shè)計老煉方案，老煉測試接口的連接更加簡單方便，簡化了集成電路老煉測試的過程，同時還降低了老煉成本。
[0126]其中，在TAP控制器處于圖4中非run_test/Idle狀態(tài)時，如圖8所示，所述MBIST輸出端的輸出信號Bist_end信號為低時，所述MBIST自復位信號Bist_reset為高；所述MBIST對集成電路的存儲單元進行讀寫操作；當所述MBIST輸出端的輸出信號Bist_end信號為高時，經(jīng)過一定延遲t，使得所述MBIST自復位信號Bist_reset為低電平。所述MBIST自復位信號Bist_reset為低的時間可自定義。老煉過程中，TAP控制器在離開run_test/Idle狀態(tài)后，MBIST的執(zhí)行完全由Bist_end控制，處于自循環(huán)狀態(tài)。利用MBIST自循環(huán)方式對存儲單元進行讀寫，直至老煉結(jié)束。其中，老煉結(jié)束條件通常是老煉時間。老煉時間的確定沒有什么精確固定的模型和萬能公式，可參照以前收集到的老煉故障及故障分析的統(tǒng)計數(shù)據(jù)來確定，或者可根據(jù)自己的實際需求自行決定老化強度和時間。
[0127]這里需要說明的是:在老煉測試之前，根據(jù)圖4的狀態(tài)機原理使得TAP控制器處于Run_test/Idle (OXC)狀態(tài)。在此狀態(tài)等待一段特定的時間，該時間長短可通過TMS信號的序列個數(shù)進行自定義。在此狀態(tài)時，控制Bist_reset為低電平，對MBIST進行初始化。
[0128]進一步地，上述實施例二中所述的老煉控制器2具體用于根據(jù)所述時鐘信號，生成所述第二老煉使能信號，并獲取所述時鐘信號為所述第二老煉時鐘信號；當所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平時，經(jīng)過預設(shè)延遲時間后生成所述MBIST自復位信號。
[0129]具體地，如圖8所示，本實施例所述的老煉控制器2接收到所述TAP控制器發(fā)送的老煉模式信號后，即生成所述第二老煉使能信號Bist_en，如圖8所示在老煉模式信號為高后所述第二老煉使能信號Bist_en即開始持續(xù)為高電平。所述老煉控制器2將接收到的所述TCK時鐘信號作為所述第二老煉時鐘信號Bist_clk。圖8所示的Bist_rest為低電平有效，即在Bist_rest為低電平時，MBIST處于復位狀態(tài)，MBIST不對集成電路中的存儲單元進行讀寫操作。Bist_rest為高電平時，MBIST運行對集成電路中的存儲單元進行讀寫操作。當所述MBIST的輸出端為低電平時，Bist_rest —直處于高電平，當所述MBIST的輸出端為高電平時，經(jīng)過預設(shè)延遲時間t后Bist_rest由高電平變?yōu)榈碗娖?。其中，延遲時間t的目的是等待MBIST運行結(jié)束，再對所述MBIST進行復位操作。
[0130]這里需要說明的是:實際上根據(jù)MBIST的設(shè)計的不同可以設(shè)計為bistjeset為高電平時有效或者bist_reset為低電平時有效。Bist_reset周期的低到高的循環(huán)變化能夠控制MBIST周期性的啟動。不管MBIST是高電平或是低電平復位，都可利用這種自循環(huán)啟動的方式，利用MBIST循環(huán)對存儲單元進行讀寫操作，從而達到對存儲單元進行老煉的目的。
[0131]基于上述內(nèi)容可知，本實施例四提供的集成電路的老煉方法，包括如下步驟:
[0132]步驟301、所述接收模塊通過所述JTAG接口中的TCK接口 31接收所述時鐘信號TCK ;通過所述JTAG接口中的TMS接口 32接收所述模式選擇信號TMS ;在所述JTAG接口中的測試輸出數(shù)據(jù)TDO接口的信號接收側(cè)34獲取所述MBIST輸出端的輸出信號BIST_end。
[0133]步驟302、所述TAP控制器I根據(jù)所述時鐘信號TCK和所述模式選擇信號TMS，生成老煉模式信號和驅(qū)動指示信號run_idle_c。
[0134]其中，本實施例中所述TAP控制根據(jù)所述時鐘信號TCK和所述模式選擇信號TMS，生成老煉模式信號的實現(xiàn)原理同上述實施例三中描述的相關(guān)內(nèi)容，此處不再贅述。另外，所述TAP控制器與所述TCK信號同步工作，并響應TMS信號。在TCK信號和TMS信號的控制下，TAP控制器以選擇輸出不同的狀態(tài)。如圖4所示，當所述TAP控制器處于Run/Test_idle狀態(tài)時,所述TAP控制器生成所述驅(qū)動指示信號run_idle_c有效。
[0135]步驟303、所述老煉控制器2根據(jù)所述時鐘信號TCK、所述老煉模式信號和所述驅(qū)動指示信號run_idle_c,生成第二老煉使能信號Bist_en和所述第二老煉時鐘信號Bist_elk。
[0136]這里需要說明的是:在老煉測試之前，根據(jù)圖4的狀態(tài)機原理使得TAP控制器處于Run_test/Idle (OXC)狀態(tài)。在此狀態(tài)等待一段特定的時間，該時間長短可通過TMS信號的序列個數(shù)進行自定義。在此狀態(tài)時，控制Bist_reset為低電平，對MBIST進行初始化。
[0137]步驟304、所述老煉控制器2根據(jù)所述MBIST輸出端的輸出信號，生成所述MBIST
自復位信號。
[0138]步驟305、所述MBIST根據(jù)所述第二老煉使能信號Bist_en、所述MBIST自復位信號Bist_reset和所述第二老煉時鐘信號Bist_clk,執(zhí)行內(nèi)嵌存儲單元老煉過程。
[0139]步驟306、所述輸出模塊6通過所述JTAG接口的TDO接口輸出內(nèi)嵌存儲單元老煉結(jié)果。
[0140]這里需要說明的是:上述各步驟具體實現(xiàn)原理和實現(xiàn)過程可參見上述方法步驟之前本實施例四中描述地相關(guān)內(nèi)容，此處不再贅述。
[0141 ] 本實施例四利用JTAG接口接入到集成電路中的MBIST中，即通過JTAG接口的TAP控制器和老煉控制器向MBIST發(fā)送第二使能、MBIST自復位信號和第二老煉時鐘信號，以實現(xiàn)通過MBIST對集成電路的存儲單元進行讀寫操作，從而達到對存儲單元進行老煉的目的。本發(fā)明實施例復用了 I/O端口測試用的JTAG接口，無需重新設(shè)計老煉方案，老煉測試接口的連接更加簡單方便，簡化了集成電路老煉測試的過程，同時還降低了老煉成本。
[0142]如圖9所示，本發(fā)明實施例五提供的集成電路的老煉方法的原理圖。如圖9所示，本實施例五的老煉對象為集成電路的邏輯功能電路以及存儲單元，即采用本實施例五提供的所述老煉方法可實現(xiàn)邏輯功能電路和存儲單元的同時老煉。如圖9所示，本實施例五中所述的老煉裝置包括:接收模塊、TAP控制器1、老煉控制器2、模式選擇器5、輸出選擇模塊8以及輸出模塊6。其中，
[0143]所述接收模塊，用于通過所述JTAG接口中的TCK接口 31接收所述時鐘信號；通過所述JTAG接口中的TMS接口 32接收所述模式選擇信號；通過所述JTAG接口中的TDI接口33接收所述老煉數(shù)據(jù)；在所述JTAG接口中的TDO接口的信號接收側(cè)34獲取所述MBIST輸出端的輸出信號。
[0144]所述TAP控制器1，用于根據(jù)所述時鐘信號TCK和所述模式選擇信號TMS，生成老煉模式信號、狀態(tài)控制信號(如圖9中所示的Shift_dr_c或Paurse_dr_c)以及驅(qū)動指示信號 run_idle_c。
[0145]所述老煉控制器2、用于根據(jù)所述時鐘信號TCK、所述老煉模式信號TMS以及所述狀態(tài)控制信號(如圖9中所示的Shift_dr_c或Paurse_dr_c),生成老煉控制信號Burnin_mode、第一老煉使能信號Scan_en和第一老煉時鐘信號Scan_clk ;根據(jù)所述時鐘信號TCK、所述老煉模式信號TMS和所述驅(qū)動指示信號run_idle_c,生成第二老煉使能信號Bist_en和所述第二老煉時鐘信號Bist_clk。
[0146]所述模式選擇器5，用于當所述老煉控制信號Burninjnode為有效信號時，獲取所述老煉需求信號中的所述老煉數(shù)據(jù)。[0147]例如，所述老煉控制信號為高電平，即Burnin_mode=l時，獲取所述老煉需求信號中的所述老煉數(shù)據(jù)。
[0148]所述老煉鏈4，用于根據(jù)所述第一老煉使能信號Scan_en、第一老煉時鐘信號Scan_clk和所述老煉數(shù)據(jù)Burnin_si,對所述集成電路的邏輯功能單元進行老煉。
[0149]所述MBIST7，用于根據(jù)所述第二老煉使能信號Bist_en、所述MBIST自復位信號Bist_reset和所述第二老煉時鐘信號Bist_clk,對所述集成電路的內(nèi)嵌存儲單元進行老煉。
[0150]所述輸出選擇模塊8，用于根據(jù)預設(shè)的輸出策略，生成老煉結(jié)果輸出控制信號。
[0151]所述輸出模塊6，用于當所述輸出控制信號為第一控制信號時，通過所述JTAG接口中的TD0接口輸出邏輯功能單元老煉結(jié)果；當所述輸出控制信號為第二控制信號時，通過所述JTAG接口中的TD0接口輸出內(nèi)嵌存儲單元老煉結(jié)果。
[0152]具體地，如圖9所示，當所述輸出控制信號Output_mode=l時，通過所述JTAG接口中的TD0接口輸出邏輯功能老煉結(jié)果；當所述輸出控制信號0utput_mode=0時，通過所述JTAG接口中的TD0接口輸出內(nèi)嵌存儲單元老煉結(jié)果。當所述輸出控制信號Outputjnode為高電平(即Output_mode=l)時，TD0接口 5輸出邏輯功能老煉結(jié)果；當所述輸出控制信號Output_mode為低電平(即0utput_mode=0)時,TD0接口 5輸出內(nèi)嵌存儲單元老煉結(jié)果。當然，本發(fā)明實施例所述TD0接口輸出邏輯功能老煉結(jié)果和內(nèi)嵌存儲單元老煉結(jié)果的方式不僅限于上述實現(xiàn)方式，還可通過預先設(shè)定，如設(shè)定時間等，在約定的時間內(nèi)輸出相應的老煉結(jié)果。
[0153]本發(fā)明實施例利用JTAG接口可實現(xiàn)邏輯單元和存儲單元的同時老煉，由于復用了 I/O端口測試用的JTAG接口，無需重新設(shè)計老煉方案，老煉測試接口的連接更加簡單方便，簡化了集成電路老煉測試的過程，同時還降低了老煉成本。
[0154]這里需要說明的是:上述各步驟具體實現(xiàn)原理和實現(xiàn)過程可參見實施例三和實施例四中描述地相關(guān)內(nèi)容，此處不再贅述。
[0155]需要說明的是:對于前述的各方法實施例，為了簡單描述，故將其都表述為一系列的動作組合，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應該知悉，本發(fā)明并不受所描述的動作順序的限制，因為依據(jù)本發(fā)明，某些步驟可以采用其他順序或者同時進行。其次，本領(lǐng)域技術(shù)人員也應該知悉，說明書中所描述的實施例均屬于優(yōu)選實施例，所涉及的動作和模塊并不一定是本發(fā)明所必須的。
[0156]在上述實施例中，對各個實施例的描述都各有側(cè)重，某個實施例中沒有詳述的部分，可以參見其他實施例的相關(guān)描述。
[0157]最后應說明的是:以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對其限制；盡管參照前述實施例對本發(fā)明進行了詳細的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應當理解:其依然可以對前述各實施例所記載的技術(shù)方案進行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實施例技術(shù)方案的精神和范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種集成電路的老煉方法，其特征在于，包括: 通過聯(lián)合測試行動小組JTAG接口接收老煉需求信號； 根據(jù)所述老煉需求信號，采用預設(shè)的信號生成規(guī)則生成集成電路中的老煉單元進行老煉所需的老煉信號； 將所述老煉信號傳輸至所述集成電路中的老煉單元，以使所述老煉單元根據(jù)所述老煉信號，執(zhí)行所述集成電路的老煉過程。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述老煉單元為所述集成電路的邏輯功能單元中的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈，和/或所述集成電路中的MBIST ； 相應地，所述老煉單元根據(jù)所述老煉信號，執(zhí)行所述集成電路的老煉過程，具體為: 所述老煉鏈根據(jù)所述老煉信號，對所述集成電路的邏輯功能單元進行老煉，和/或 所述MBIST根據(jù)所述老煉信號，對所述集成電路的內(nèi)嵌存儲單元進行老煉。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，當所述老煉單元為所述集成電路的邏輯功能單元中的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈時，所述老煉需求信號包括:時鐘信號、模式選擇信號以及老煉數(shù)據(jù)； 相應地，所述通過JTAG接口接收老煉需求信號，包括: 通過所述JTAG接口中的測試時鐘TCK接口接收所述時鐘信號； 通過所述JTAG接口中的測試模式選擇信號TMS接口接收所述模式選擇信號； 通過所述JTAG接口中的測試輸 入數(shù)據(jù)TDI接口接收所述老煉數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述老煉信號包括:第一老煉使能信號、第一老煉時鐘信號、老煉控制信號以及所述老煉數(shù)據(jù)； 相應地，所述根據(jù)所述老煉需求信號，采用預設(shè)的信號生成規(guī)則生成集成電路中的老煉單元進行老煉所需的老煉信號，包括: 當所述時鐘信號為有效電平時，生成持續(xù)為有效電平的老煉模式信號； 當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的掃描控制信號；當所述模式選擇信號為第二選擇時序信號時，生成電平為有效電平的暫?？刂菩盘?； 將所述掃描控制信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號，以及所述暫停控制信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第一老煉時鐘信號； 當所述掃描控制信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第一老煉使能信號有效； 當所述老煉模式信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述老煉控制信號有效； 當所述老煉控制信號為有效電平時，獲取所述老煉需求信號中的所述老煉數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，當所述老煉單元為所述集成電路中的對內(nèi)嵌存儲單元進行存儲自測的MBIST時，所述老煉需求信號包括:時鐘信號、模式選擇信號以及MBIST輸出端的輸出信號； 相應地，所述通過JTAG接口接收老煉需求信號，包括: 通過所述JTAG接口中的TCK接口接收所述時鐘信號； 通過所述JTAG接口中的TMS接口接收所述模式選擇信號； 在所述JTAG接口中的測試輸出數(shù)據(jù)TDO接口的信號接收側(cè)獲取所述MBIST輸出端的輸出信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述老煉信號包括:第二老煉使能信號、第二老煉時鐘信號以及MBIST自復位信號；相應地，所述根據(jù)所述老煉需求信號，采用預設(shè)的信號生成規(guī)則生成集成電路中的老煉單元進行老煉所需的老煉信號，包括:當所述時鐘信號為有效電平時，生成持續(xù)為有效電平的老煉模式信號；當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的驅(qū)動指示信號；當所述驅(qū)動指示信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第二老煉使能信號有效；將所述驅(qū)動指示信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第二老煉時鐘信號；當所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平時，在所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平的起始時刻后延遲預設(shè)時間，生成所述MBIST自復位信號。
7.根據(jù)權(quán)利要求1~6中任一所述的方法，其特征在于，所述將所述老煉信號傳輸至所述集成電路中的老煉單元，以使所述老煉單元根據(jù)所述老煉信號，執(zhí)行老煉過程之后，還包括:通過所述JTAG接口中的TDO接口輸出老煉結(jié)果。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述 的方法，其特征在于，當所述老煉單元包括:所述集成電路中邏輯功能單元的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈，以及所述集成電路中的MBIST時，所述老煉需求信號包括:時鐘信號、模式選擇信號、老煉數(shù)據(jù)以及MBIST輸出端的輸出信號；相應地，所述通過JTAG接口接收老煉需求信號，包括:通過所述JTAG接口中的TCK接口接收所述時鐘信號；通過所述JTAG接口中的TMS接口接收所述模式選擇信號；通過所述JTAG接口中的TDI接口接收所述老煉數(shù)據(jù)；在所述JTAG接口中的TDO接口的信號接收側(cè)獲取所述MBIST輸出端的輸出信號。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述老煉信號包括:第一老煉信號和第二老煉信號，其中，所述第一老煉信號包括:第一老煉使能信號、第一老煉時鐘信號、老煉控制信號以及所述老煉數(shù)據(jù)，所述第二老煉信號包括:第二老煉使能信號、第二老煉時鐘信號以及MBIST自復位信號；相應地，所述根據(jù)所述老煉需求信號，采用預設(shè)的信號生成規(guī)則生成集成電路中的老煉單元進行老煉所需的老煉信號，包括:當所述時鐘信號為有效電平時，生成持續(xù)為有效電平的老煉模式信號；當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的掃描控制信號；當所述模式選擇信號為第二選擇時序信號時，生成電平為有效電平的暫?？刂菩盘?；將所述掃描控制信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號，以及所述暫停控制信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第一老煉時鐘信號；當所述掃描控制信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第一老煉使能信號有效；當所述老煉模式信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述老煉控制信號有效；當所述老煉控制信號為有效電平時，獲取所述老煉需求信號中的所述老煉數(shù)據(jù)；當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的驅(qū)動指示信號； 當所述驅(qū)動指示信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第二老煉使能信號有效； 將所述驅(qū)動指示信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第二老煉時鐘信號； 當所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平時，在所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平的起始時刻后延遲預設(shè)時間，生成所述MBIST自復位信號。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述將所述老煉信號傳輸至所述集成電路中的老煉單元，以使所述老煉單元根據(jù)所述老煉信號，執(zhí)行所述集成電路的老煉過程，包括: 將所述第一老煉信號傳輸至所述老煉鏈，以使所述老煉鏈根據(jù)所述第一老煉信號，對所述集成電路的邏輯功能單元進行老煉； 將所述第二老煉信號傳輸至所述MBIST，以使所述MBIST根據(jù)所述第二老煉信號，對所述集成電路的內(nèi)嵌存儲單元進行老煉。
11.根據(jù)權(quán)利要求8~10中任一所述的方法，其特征在于，所述將所述老煉信號傳輸至所述集成電路中的老煉單元，以使所述老煉單元根據(jù)所述老煉信號，執(zhí)行所述集成電路老煉過程之后，還包括: 根據(jù)預設(shè)的輸出策略，生成老煉結(jié)果輸出控制信號； 當所述輸出控制信號為第一控`制信號時，通過所述JTAG接口中的TDO接口輸出邏輯功能單元老煉結(jié)果； 當所述輸出控制信號為第二控制信號時，通過所述JTAG接口中的TDO接口輸出內(nèi)嵌存儲單元老煉結(jié)果。
12.一種老煉裝置，其特征在于，包括: 接收模塊，用于通過JTAG接口接收老煉需求信號； 生成模塊，用于根據(jù)所述老煉需求信號，采用預設(shè)的信號生成規(guī)則生成集成電路中的老煉單元進行老煉所需的老煉信號； 傳輸模塊，用于將所述老煉信號傳輸至集成電路中的老煉單元，以使所述老煉單元根據(jù)所述老煉信號，執(zhí)行所述集成電路的老煉過程。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的老煉裝置，其特征在于，當所述老煉單元為所述集成電路的邏輯功能單元中的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈時，所述老煉需求信號包括:時鐘信號、模式選擇信號以及老煉數(shù)據(jù)； 相應地，所述接收模塊，具體用于通過所述JTAG接口中的TCK接口接收所述時鐘信號；通過所述JTAG接口中的TMS接口接收所述模式選擇信號；通過所述JTAG接口中的TDI接口接收所述老煉數(shù)據(jù)。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的老煉裝置，其特征在于，所述老煉信號包括:第一老煉使能信號、第一老煉時鐘信號、老煉控制信號以及所述老煉數(shù)據(jù)；相應地，所述生成模塊，包括: 測試訪問端口 TAP控制器，用于當所述時鐘信號為有效電平時，生成持續(xù)為有效電平的老煉模式信號；當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的掃描控制信號；當所述模式選擇信號為第二選擇時序信號時，生成電平為有效電平的暫停控制信號；老煉控制器，用于將所述掃描控制信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號，以及所述暫?？刂菩盘枮橛行щ娖降某掷m(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第一老煉時鐘信號；當所述掃描控制信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第一老煉使能信號有效；當所述老煉模式信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述老煉控制信號有效；模式選擇器，用于當所述老煉控制信號為有效電平時，獲取所述老煉需求信號中的所述老煉數(shù)據(jù)。
15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的老煉裝置，其特征在于，當所述老煉單元為所述集成電路中的存儲內(nèi)建自測單元MBIST時，所述老煉需求信號包括:時鐘信號、模式選擇信號以及MBIST輸出端的輸出信號；相應地，所述接收模塊，具體用于通過所述JTAG接口中的TCK接口接收所述時鐘信號；通過所述JTAG接口中的TMS接口接收所述模式選擇信號；在所述JTAG接口中的TDO接口的信號接收側(cè)獲取所述MBIST輸出端的輸出信號。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的老煉裝置，其特征在于，所述老煉信號包括:第二老煉使能信號、第二老煉時鐘信號以及MBIST自復位信號；相應地，所述生成模塊，包括:TAP控制器，用于當所述時鐘信號為有效電平時，生成持續(xù)為有效電平的老煉模式信號；當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的驅(qū)動指示信號；老煉控制器，用于當所述驅(qū)動指示信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第二老煉使能信號有效；將所述驅(qū)動指示信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第二老煉時鐘信號；當所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平時，在所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平的起始時刻后延遲預設(shè)時間，生成所述MBIST自復位信號。
17.根據(jù)權(quán)利要求12~16中任一所述的老煉裝置，其特征在于，還包括:輸出模塊，用于通過所述JTAG接口中的TDO接口輸出老煉結(jié)果。
18.根據(jù)權(quán)利要求12所述的老煉裝置，其特征在于，當所述老煉單元包括:所述集成電路中邏輯功能單元的寄存器串聯(lián)組成的老煉鏈，以及所述集成電路中的MBIST時，所述老煉需求信號包括:時鐘信號、模式選擇信號、老煉數(shù)據(jù)以及MBIST輸出端的輸出信號；相應地，所述接收模塊，具體用于通過所述JTAG接口中的TCK接口接收所述時鐘信號；通過所述JTAG接口中的TMS接口接收所述模式選擇信號；通過所述JTAG接口中的TDI接口接收所述老煉數(shù)據(jù)；在所述JTAG接口中的TDO接口的信號接收側(cè)獲取所述MBIST輸出端的輸出信號。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的老煉裝置，其特征在于，所述老煉信號包括:第一老煉信號和第二老煉信號，其中，所述第一老煉信號包括:第一老煉使能信號、第一老煉時鐘信號、老煉控制信號以及所述老煉數(shù)據(jù)，所述第二老煉信號包括:第二老煉使能信號、第二老煉時鐘信號以及MBIST自復位信號；相應地，所述生成模塊，包括:TAP控制器，用于當所述時鐘信號為有效電平時，生成持續(xù)為有效電平的老煉模式信號；當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的掃描控制信號；當所述模式選擇信號為第二選擇時序信號時，生成電平為有效電平的暫?？刂菩盘枺划斔瞿Ｊ竭x擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的驅(qū)動指示信號；老煉控制器，用于將所述掃描控制信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號，以及所述暫?？刂菩盘枮橛行щ娖降某掷m(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第一老煉時鐘信號；當所述掃描控制信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第一老煉使能信號有效；當所述老煉模式信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述老煉控制信號有效；當所述驅(qū)動指示信號為有效電平時，生成電平為有效電平的所述第二老煉使能信號有效；將所述驅(qū)動指示信號為有效電平的持續(xù)時鐘內(nèi)的所述時鐘信號作為所述第二老煉時鐘信號；當所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平時，在所述MBIST輸出端的輸出信號為有效電平的起始時刻后延遲預設(shè)時間，生成所述MBIST自復位信號； 模式選擇器，用于當所述模式選擇信號為第一選擇時序信號時，生成電平為有效電平的驅(qū)動指示信號。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的老煉裝置，其特征在于，所述傳輸模塊，具體用于將所述第一老煉信號傳輸至所述老煉鏈，以使所述老煉鏈根據(jù)所述第一老煉信號，對所述集成電路的邏輯功能單元進行老煉；將所述第二老煉信號傳輸至所述MBIST，以使所述MBIST根據(jù)所述第二老煉信號，對所述集成電路的內(nèi)嵌存儲單元進行老煉。
21.根據(jù)權(quán)利要求18~20中任一所述的老煉裝置，其特征在于，還包括: 輸出選擇模塊，用于根據(jù)預設(shè)的輸出策略，生成老煉結(jié)果輸出控制信號； 輸出模塊，用于當所述輸出控制信號為第一控制信號時，通過所述JTAG接口中的TDO接口輸出邏輯功能單元老煉結(jié)果；當所述輸出控制信號為第二控制信號時，通過所述JTAG接口中的TDO接口輸出內(nèi)嵌 存儲單元老煉結(jié)果。
【文檔編號】G01R31/28GK103698689SQ201310728263
【公開日】2014年4月2日 申請日期:2013年12月25日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月25日
【發(fā)明者】齊子初, 高國重, 胡偉武 申請人:龍芯中科技術(shù)有限公司