用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法
【專利摘要】一種用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，包含：一運算裝置執(zhí)行一測試程序，以產(chǎn)生一組控制指令傳送到一電源供應(yīng)器；該電源供應(yīng)器根據(jù)該組控制指令，在每一時間區(qū)間內(nèi)，產(chǎn)生一額定電壓或驟降電壓供應(yīng)給一待測裝置；該待測裝置根據(jù)該額定電壓或驟降電壓，產(chǎn)生對應(yīng)的一響應(yīng)電壓傳送至一負載仿真器；該負載仿真器量測該響應(yīng)電壓并將其傳送至該運算裝置；及該運算裝置判定該響應(yīng)電壓是否在一正常響應(yīng)電壓范圍內(nèi)，若判定結(jié)果為否，則該運算裝置將對應(yīng)的一故障信息記錄于一數(shù)據(jù)庫中。
【專利說明】用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試方法，特別是涉及一種用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法。

【背景技術(shù)】
[0002]電器產(chǎn)品在使用過程中，若有斷電、供壓不足和線路過載等問題發(fā)生時，容易造成電器組件老化、損毀或故障。有鑒于此，許多國家都已要求產(chǎn)品須通過電磁兼容性(ElectroMagnetic Compatibility)的測試,才能進入市場銷售。目前各國的電磁兼容法規(guī)都是源自國際通用法規(guī)(IEC Standard)，而在IEC61000-4-11此條法規(guī)中，其對電壓驟降(VoltageDip)提供了如下的測試規(guī)范:
[0003]■額定電壓驟降30%持續(xù)0.5AC周期，重復(fù)10次。
[0004]■每一 AC周期步驟額定電壓驟降60%持續(xù)0.5AC周期到500毫秒，重復(fù)10次。
[0005]■每一 AC周期步驟額定電壓驟降100%持續(xù)0.5AC周期到5000毫秒，重復(fù)10次。
[0006]以往對于IEC61000-4-11此法規(guī)的測試作法為將一音源光盤片放入一 DVD播放器中，當該DVD播放器讀取而動作時將產(chǎn)生隨機的音源變化進而驅(qū)動一驅(qū)動控制器(0N/OFFController)隨機來控制一單埠輸出交流電源供應(yīng)器輸出電壓的持續(xù)時間，以驅(qū)動一待測裝置動作。該待測裝置還與一用來量測該待測裝置的輸出電壓的負載仿真器電連接。當輸出電壓不在正常電壓范圍內(nèi)時，該負載仿真器會亮起紅燈，而測試者必須對其加以記錄，此種作法需購買昂貴設(shè)備，如DVD播放器、驅(qū)動控制器，且測試者要不斷盯著該負載仿真器以記錄亮燈信息，不只耗費人力，還有可能記錄錯誤。此外，由于該DVD播放器和該驅(qū)動控制器只能控制該單埠輸出交流電源供應(yīng)器什么時間輸出電壓，或者什么時間不輸出電壓，即電壓驟降百分之一百的情況，但當測試者要測試電壓驟降百分之三十或百分之六十時，只能通過測試者手動去調(diào)整該單埠輸出交流電源供應(yīng)器的輸出電壓以仿真電壓驟降的情況，實屬不便，因此，有必要尋求解決方案。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明的目的在于提供一種用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法。
[0008]本發(fā)明用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法包含:(A) —運算裝置執(zhí)行一測試程序，以產(chǎn)生一組控制指令傳送到一電連接于該運算裝置的電源供應(yīng)器；(B)該電源供應(yīng)器根據(jù)該組控制指令，在一第一時間區(qū)間內(nèi)，產(chǎn)生一額定電壓供應(yīng)給一待測裝置；(C)該待測裝置根據(jù)該額定電壓，產(chǎn)生一第一響應(yīng)電壓傳送至一與該運算裝置及待測裝置電連接的負載仿真器；(D)該負載仿真器量測該第一響應(yīng)電壓并將其傳送至該運算裝置；(E)該運算裝置判定該第一響應(yīng)電壓是否在一正常響應(yīng)電壓范圍內(nèi)，若判定結(jié)果為否，則該運算裝置將一第一故障信息記錄于一數(shù)據(jù)庫中；(F)該電源供應(yīng)器根據(jù)該組控制指令，在一第二時間區(qū)間內(nèi)，產(chǎn)生一驟降電壓供應(yīng)給該待測裝置，其中該驟降電壓小于該額定電壓；(G)該待測裝置根據(jù)該驟降電壓，產(chǎn)生一第二響應(yīng)電壓傳送至該負載仿真器；(H)該負載仿真器量測該第二響應(yīng)電壓并將其傳送至該運算裝置；以及(I)該運算裝置判定該第二響應(yīng)電壓是否在該正常響應(yīng)電壓范圍內(nèi)，若判定結(jié)果為否，則該運算裝置將一第二故障信息記錄于該數(shù)據(jù)庫中。
[0009]本發(fā)明的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，該負載仿真器為一包括一可變電阻的數(shù)字電表。
[0010]本發(fā)明的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，該電源供應(yīng)器及負載仿真器皆包含一通用接口總線接口卡，用于做為該運算裝置與該電源供應(yīng)器及負載仿真器間的數(shù)據(jù)傳輸接口卡。
[0011]本發(fā)明的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，該運算裝置為一包括一處理器及一存儲該測試程序的存儲器的計算機。
[0012]本發(fā)明的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法還包含，在該(D)步驟中，一與該運算裝置及待測裝置電連接的示波器量測對應(yīng)于該第一響應(yīng)電壓的一第一響應(yīng)電壓波形，并將所量測到的第一響應(yīng)電壓波形傳送至該運算裝置，繼而該運算裝置將該第一響應(yīng)電壓波形記錄于該數(shù)據(jù)庫中。
[0013]本發(fā)明的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，該示波器包括一通用接口總線接口卡，用于做為該運算裝置與示波器間的數(shù)據(jù)傳輸接口卡。
[0014]本發(fā)明的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法還包含，在該(H)步驟中，該示波器量測對應(yīng)于該第二響應(yīng)電壓的一第二響應(yīng)電壓波形，并將所量測到的第二響應(yīng)電壓波形傳送至該運算裝置，繼而該運算裝置將該第二響應(yīng)電壓波形記錄于該數(shù)據(jù)庫中。
[0015]本發(fā)明的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，該額定電壓及該驟降電壓間的差值與該額定電壓的比值為30%。
[0016]本發(fā)明的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，該額定電壓及該驟降電壓間的差值與該額定電壓的比值為60%。
[0017]本發(fā)明的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，該額定電壓及該驟降電壓間的差值與該額定電壓的比值為100%。
[0018]本發(fā)明的有益效果在于:通過該運算裝置產(chǎn)生該組控制指令使得該電源供應(yīng)器在該第一時間區(qū)間內(nèi)，產(chǎn)生該額定電壓且在該第二時間區(qū)間內(nèi)，產(chǎn)生該驟降電壓，而不需手動調(diào)整。此外，本發(fā)明還通過該運算裝置將該第一故障信息及第二故障信息記錄于該數(shù)據(jù)庫來達成自動記錄的目的。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0019]圖1是一系統(tǒng)架構(gòu)圖，說明用來實施本發(fā)明用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法的較佳實施例的測試系統(tǒng)；
[0020]圖2是一流程圖，說明本發(fā)明用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法的較佳實施例；
[0021]圖3是一流程圖，說明一第一測試階段的一第一測試周期的詳細步驟；
[0022]圖4是一流程圖，說明一第二測試階段的一第一測試周期的詳細步驟；及
[0023]圖5是一流程圖，說明一第三測試階段的一第一測試周期的詳細步驟。

【具體實施方式】
[0024]下面結(jié)合附圖及實施例對本發(fā)明進行詳細說明。
[0025]請參閱圖1，本發(fā)明用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法的一較佳實施例以一測試系統(tǒng)來實施。該測試系統(tǒng)包含一運算裝置1、一電源供應(yīng)器2、一負載仿真器3、一不波器4及一數(shù)據(jù)庫5。
[0026]該運算裝置I執(zhí)行一測試程序13，以產(chǎn)生一組控制指令傳送到與該運算裝置I電連接的該電源供應(yīng)器2。在本較佳實施例中，該運算裝置I為一計算機，并包括一處理器11及一存儲該測試程序13的存儲器12。
[0027]該電源供應(yīng)器2包括一用于進行其與該運算裝置I間數(shù)據(jù)傳輸?shù)耐ㄓ媒涌诳偩€(General Purpose Interface Bus,以下簡稱GPIB)接口卡21,且該電源供應(yīng)器2根據(jù)該組控制指令，在每一時間區(qū)間內(nèi)，產(chǎn)生一額定電壓或驟降電壓供應(yīng)給該待測裝置9。該待測裝置9再根據(jù)該額定電壓或驟降電壓，產(chǎn)生對應(yīng)的一響應(yīng)電壓。在本較佳實施例中，該電源供應(yīng)器2為一多埠輸出交流電源供應(yīng)器，可同時提供多個待測裝置9該額定電壓或驟降電壓。
[0028]該負載仿真器3與該運算裝置I及待測裝置9電連接，并包括一用于進行與該運算裝置I間數(shù)據(jù)傳輸?shù)腉PIB接口卡31，且該負載仿真器3用于量測該待測裝置9在每一時間區(qū)間所對應(yīng)的該響應(yīng)電壓，并將其傳送至該運算裝置1，在本較佳實施例中，該負載仿真器3為一包括一可變電阻(圖未不)的數(shù)字電表。
[0029]該示波器4與該運算裝置I及待測裝置9電連接，并包括一用于做為與該運算裝置I間數(shù)據(jù)傳輸?shù)腉PIB接口卡41，且該示波器4用于量測該待測裝置9在每一時間區(qū)間所對應(yīng)的一響應(yīng)電壓波形，并將其傳送至該運算裝置I。
[0030]該運算裝置I還用于判定該待測裝置9在每一時間區(qū)間所對應(yīng)的該響應(yīng)電壓是否在一正常響應(yīng)電壓范圍內(nèi)，若判定結(jié)果為否，則該運算裝置I將對應(yīng)的一故障信息記錄于該數(shù)據(jù)庫5中。其中對應(yīng)的該故障信息包括在每一時間區(qū)間該電源供應(yīng)器2所供應(yīng)的該額定電壓或驟降電壓、該負載仿真器3量測到對應(yīng)的該響應(yīng)電壓、該示波器4量測到對應(yīng)的該響應(yīng)電壓波形及該運算裝置I對應(yīng)的一判定故障結(jié)果。在本較佳實施例中，該運算裝置I也會記錄該待測裝置9在每一時間區(qū)間所對應(yīng)的該響應(yīng)電壓在該正常響應(yīng)電壓范圍內(nèi)的一通過信息于該數(shù)據(jù)庫5中。其中該通過信息包括在每一時間區(qū)間該電源供應(yīng)器2所供應(yīng)的該額定電壓或驟降電壓、該負載仿真器3量測到的對應(yīng)的該響應(yīng)電壓、該示波器4量測到的對應(yīng)的該響應(yīng)電壓波形及該運算裝置I對應(yīng)的一判定通過結(jié)果。其中，該正常響應(yīng)電壓范圍為例如，若該待測裝置9的輸出電壓為24伏特,則該正常響應(yīng)電壓范圍即為24伏特的正負10% (即21.6伏特?26.4伏特)。然而，所述的24伏特僅是舉例而已，在本發(fā)明其他實施例中，該正常響應(yīng)電壓范圍可依不同待測裝置9變動，并不以本實施例為限。
[0031 ] 該數(shù)據(jù)庫5用于儲存每一時間區(qū)間該電源供應(yīng)器2所供應(yīng)的該額定電壓或驟降電壓、該負載仿真器3量測到的對應(yīng)的該響應(yīng)電壓、該示波器4量測到的對應(yīng)的該響應(yīng)電壓波形及該運算裝置I判定的對應(yīng)的該判定故障結(jié)果或判定通過結(jié)果。
[0032]在本較佳實施例中，該待測裝置9的數(shù)目為一。然而，由于該電源供應(yīng)器2為一多埠輸出交流電源供應(yīng)器，因此，在本發(fā)明其他實施例中，也可為多個待測裝置9，并依待測裝置9的數(shù)量對應(yīng)增加該負載仿真器3的數(shù)量。
[0033]參閱圖2，對應(yīng)于本發(fā)明的系統(tǒng)，本發(fā)明用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法的較佳實施例為根據(jù)IEC61000-4-11此條法規(guī)的規(guī)范來進行下列步驟。
[0034]如步驟60所示，該運算裝置I執(zhí)行該測試程序13，以產(chǎn)生該組控制指令傳送到該電源供應(yīng)器2。
[0035]接著，如步驟61所示，該測試系統(tǒng)執(zhí)行一第一測試階段。
[0036]其中，如步驟610所示，該測試系統(tǒng)進行該第一測試階段的一第一測試周期。
[0037]參閱圖3，進一步描述步驟610的詳細流程，如步驟701所示，該電源供應(yīng)器2根據(jù)該組控制指令，在一第一時間區(qū)間內(nèi)，產(chǎn)生一額定電壓供應(yīng)給該待測裝置9。接著，如步驟702所示，該待測裝置9根據(jù)該額定電壓，產(chǎn)生一第一響應(yīng)電壓傳送至該負載仿真器3及示波器4。接著，如步驟703所示，該負載仿真器3量測該第一響應(yīng)電壓且該示波器4量測對應(yīng)于該第一響應(yīng)電壓的一第一響應(yīng)電壓波形，并分別將所量測到的該第一響應(yīng)電壓和第一響應(yīng)電壓波形傳送至該運算裝置I。
[0038]如步驟704所示，該運算裝置I判定該第一響應(yīng)電壓是否在一正常響應(yīng)電壓范圍內(nèi)；若是，則繼續(xù)進行步驟705的處理；否則，繼續(xù)進行步驟706的處理。
[0039]如步驟705所示，該運算裝置I將一第一通過信息記錄于該數(shù)據(jù)庫5中，其中該第一通過信息包括在該第一時間區(qū)間該電源供應(yīng)器2所供應(yīng)的該額定電壓、該負載仿真器3量測到的該第一響應(yīng)電壓、該示波器4量測到的該第一響應(yīng)電壓波形及該運算裝置I對應(yīng)的一第一判定通過結(jié)果。
[0040]如步驟706所示，該運算裝置I將一第一故障信息記錄于該數(shù)據(jù)庫5中，其中該第一故障信息包括在該第一時間區(qū)間該電源供應(yīng)器2所供應(yīng)的該額定電壓、該負載仿真器3量測到的該第一響應(yīng)電壓、該示波器4量測到的該第一響應(yīng)電壓波形及該運算裝置I對應(yīng)的一第一判定故障結(jié)果。
[0041]如步驟707所示，該電源供應(yīng)器2根據(jù)該組控制指令，在一第二時間區(qū)間內(nèi)，產(chǎn)生一驟降電壓供應(yīng)給該待測裝置9，其中該驟降電壓小于該額定電壓。接著，如步驟708所示，該待測裝置9根據(jù)該驟降電壓，產(chǎn)生一第二響應(yīng)電壓傳送至該負載仿真器3及示波器4。接著，如步驟709所示，該負載仿真器3量測該第二響應(yīng)電壓且該示波器4量測對應(yīng)于該第二響應(yīng)電壓的一第二響應(yīng)電壓波形，并分別將所量測到的該第二響應(yīng)電壓和第二響應(yīng)電壓波形傳送至該運算裝置I。
[0042]如步驟710所示，該運算裝置I判定該第二響應(yīng)電壓是否在一正常響應(yīng)電壓范圍內(nèi)；若是，則繼續(xù)進行步驟711的處理；否則，繼續(xù)進行步驟712的處理。
[0043]如步驟711所示，該運算裝置I將一第二通過信息記錄于該數(shù)據(jù)庫5中，其中該第二通過信息包括在該第二時間區(qū)間該電源供應(yīng)器2所供應(yīng)的該驟降電壓、該負載仿真器3量測到的該第二響應(yīng)電壓、該示波器4量測到的該第二響應(yīng)電壓波形及該運算裝置I對應(yīng)的一第二判定通過結(jié)果。
[0044]如步驟712所示，該運算裝置I將一第二故障信息記錄于該數(shù)據(jù)庫5中，其中該第二故障信息包括在該第二時間區(qū)間該電源供應(yīng)器2所供應(yīng)的該驟降電壓、該負載仿真器3量測到的該第二響應(yīng)電壓、該示波器4量測到的該第二響應(yīng)電壓波形及該運算裝置I對應(yīng)的一第二判定故障結(jié)果。
[0045]參閱圖2與圖3，其中，如步驟611?619所示，該測試系統(tǒng)進行該第一測試階段的一第二測試周期、一第三測試周期、一第四測試周期、一第五測試周期、一第六測試周期、一第七測試周期、一第八測試周期、一第九測試周期直到一第十測試周期，其中該第二測試周期到該第十測試周期其詳細流程類似于該第一測試階段的該第一測試周期，即執(zhí)行步驟701?712，所以于此不再重述。值得一提的是，在本較佳實施例中，該第一測試階段的每一第二時間區(qū)間皆為0.5AC周期，而該電源供應(yīng)器2所提供的電壓的頻率為50Hz，因此，該第一測試階段的每一第二時間區(qū)間即為10毫秒。然而，所述的50Hz僅用于本較佳實施例而已，在其他實施例中，可依該電源供應(yīng)器2實際提供的電壓頻率變動，并不以此為限。此夕卜，該第一測試階段的每一額定電壓及每一驟降電壓間的差值與每一額定電壓的比值皆為30%。
[0046]接著，如步驟62所示，該測試系統(tǒng)執(zhí)行一第二測試階段。
[0047]其中，如步驟620所示，該測試系統(tǒng)進行該第二測試階段的一第一測試周期。
[0048]參閱圖4，進一步描述步驟620的詳細流程，如步驟713所示，該電源供應(yīng)器2根據(jù)該組控制指令，在一第一時間區(qū)間內(nèi)，產(chǎn)生一額定電壓供應(yīng)給該待測裝置9。接著，如步驟714所示，該待測裝置9根據(jù)該額定電壓，產(chǎn)生一第一響應(yīng)電壓傳送至該負載仿真器3及示波器4。接著，如步驟715所示，該負載仿真器3量測該第一響應(yīng)電壓且該示波器4量測對應(yīng)于該第一響應(yīng)電壓的一第一響應(yīng)電壓波形，并分別將所量測到的該第一響應(yīng)電壓和第一響應(yīng)電壓波形傳送至該運算裝置I。
[0049]如步驟716所示，該運算裝置I判定該第一響應(yīng)電壓是否在一正常響應(yīng)電壓范圍內(nèi)；若是，則繼續(xù)進行步驟717的處理；否則，繼續(xù)進行步驟718的處理。
[0050]如步驟717所示，該運算裝置I將一第一通過信息記錄于該數(shù)據(jù)庫5中，其中該第一通過信息包括在該第一時間區(qū)間該電源供應(yīng)器2所供應(yīng)的該額定電壓、該負載仿真器3量測到的該第一響應(yīng)電壓、該示波器4量測到的該第一響應(yīng)電壓波形及該運算裝置I對應(yīng)的一第一判定通過結(jié)果。
[0051]如步驟718所示，該運算裝置I將一第一故障信息記錄于該數(shù)據(jù)庫5中，其中該第一故障信息包括在該第一時間區(qū)間該電源供應(yīng)器2所供應(yīng)的該額定電壓、該負載仿真器3量測到的該第一響應(yīng)電壓、該示波器4量測到的該第一響應(yīng)電壓波形及該運算裝置I對應(yīng)的一第一判定故障結(jié)果。
[0052]如步驟719所示，該電源供應(yīng)器2根據(jù)該組控制指令，在一第二時間區(qū)間內(nèi)，產(chǎn)生一驟降電壓供應(yīng)給該待測裝置9，其中該驟降電壓小于該額定電壓。接著，如步驟720所示，該待測裝置9根據(jù)該驟降電壓，產(chǎn)生一第二響應(yīng)電壓傳送至該負載仿真器3及示波器4。接著，如步驟721所示，該負載仿真器3量測該第二響應(yīng)電壓且該示波器4量測對應(yīng)于該第二響應(yīng)電壓的一第二響應(yīng)電壓波形，并分別將所量測到的該第二響應(yīng)電壓和第二響應(yīng)電壓波形傳送至該運算裝置I。
[0053]如步驟722所示，該運算裝置I判定該第二響應(yīng)電壓是否在一正常響應(yīng)電壓范圍內(nèi)；若是，則繼續(xù)進行步驟723的處理；否則，繼續(xù)進行步驟724的處理。
[0054]如步驟723所示，該運算裝置I將一第二通過信息記錄于該數(shù)據(jù)庫5中，其中該第二通過信息包括在該第二時間區(qū)間該電源供應(yīng)器2所供應(yīng)的該驟降電壓、該負載仿真器3量測到的該第二響應(yīng)電壓、該示波器4量測到的該第二響應(yīng)電壓波形及該運算裝置I對應(yīng)的一第二判定通過結(jié)果。
[0055]如步驟724所示，該運算裝置I將一第二故障信息記錄于該數(shù)據(jù)庫5中，其中該第二故障信息包括在該第二時間區(qū)間該電源供應(yīng)器2所供應(yīng)的該驟降電壓、該負載仿真器3量測到的該第二響應(yīng)電壓、該示波器4量測到的該第二響應(yīng)電壓波形及該運算裝置I對應(yīng)的一第二判定故障結(jié)果。
[0056]如步驟725所示，該測試程序13將該第二時間區(qū)間增加一固定周期。
[0057]如步驟726所示，該測試程序13判定該第二時間區(qū)間是否大于一預(yù)設(shè)時間；若是，則繼續(xù)進行步驟727的處理；否則，繼續(xù)進行步驟713的處理。
[0058]如步驟727所示，該測試程序13將該第二時間區(qū)間初始化為一初始時間。
[0059]參閱圖2與圖4，其中，如步驟621?629所示，該測試系統(tǒng)進行該第二測試階段的一第二測試周期、一第三測試周期、一第四測試周期、一第五測試周期、一第六測試周期、一第七測試周期、一第八測試周期、一第九測試周期直到一第十測試周期，其中該第二測試周期到該第十測試周期其詳細流程類似于該第二測試階段的該第一測試周期，即執(zhí)行步驟713?727，所以于此不再重述。其中每一測試周期皆具有多個測試子周期，從步驟713?724即為一測試子周期，每一測試周期中第一次進行步驟713?724即為一第一測試子周期，第二次進行步驟713?724即為一第二測試子周期，依此類推。在本較佳實施例中，該第二測試階段的每一第一測試子周期的第二時間區(qū)間皆為0.5AC周期(即10毫秒)，而該第二測試階段的每一固定周期皆為0.5AC周期、每一預(yù)設(shè)時間皆為500毫秒且每一初始時間皆為0.5AC周期，因此，該第二測試階段的每一測試周期皆具有50個測試子周期(每一第一測試子周期的第二時間區(qū)間皆為10毫秒、每一第二測試子周期的第二時間區(qū)間皆為20毫秒、每一第三測試子周期的第二時間區(qū)間皆為30毫秒、每一第五十測試子周期的第二時間區(qū)間皆為500毫秒)，此外，該第二測試階段的每一額定電壓及每一驟降電壓間的差值與每一額定電壓的比值皆為60%。
[0060]接著，如步驟63所示，該測試系統(tǒng)執(zhí)行一第三測試階段。
[0061]其中，如步驟630所示，該測試系統(tǒng)進行該第三測試階段的一第一測試周期。
[0062]參閱圖5，進一步描述步驟630的詳細流程，如步驟728所示，該電源供應(yīng)器2根據(jù)該組控制指令，在一第一時間區(qū)間內(nèi)，產(chǎn)生一額定電壓供應(yīng)給該待測裝置9。接著，如步驟729所示，該待測裝置9根據(jù)該額定電壓，產(chǎn)生一第一響應(yīng)電壓傳送至該負載仿真器3及示波器4。接著，如步驟730所示，該負載仿真器3量測該第一響應(yīng)電壓且該示波器4量測對應(yīng)于該第一響應(yīng)電壓的一第一響應(yīng)電壓波形，并分別將所量測到的該第一響應(yīng)電壓和第一響應(yīng)電壓波形傳送至該運算裝置I。
[0063]如步驟731所示，該運算裝置I判定該第一響應(yīng)電壓是否在一正常響應(yīng)電壓范圍內(nèi)；若是，則繼續(xù)進行步驟732的處理；否則，繼續(xù)進行步驟733的處理。
[0064]如步驟732所示，該運算裝置I將一第一通過信息記錄于該數(shù)據(jù)庫5中，其中該第一通過信息包括在該第一時間區(qū)間該電源供應(yīng)器2所供應(yīng)的該額定電壓、該負載仿真器3量測到的該第一響應(yīng)電壓、該示波器4量測到的該第一響應(yīng)電壓波形及該運算裝置I對應(yīng)的一第一判定通過結(jié)果。
[0065]如步驟733所示，該運算裝置I將一第一故障信息記錄于該數(shù)據(jù)庫5中，其中該第一故障信息包括在該第一時間區(qū)間該電源供應(yīng)器2所供應(yīng)的該額定電壓、該負載仿真器3量測到的該第一響應(yīng)電壓、該示波器4量測到的該第一響應(yīng)電壓波形及該運算裝置I對應(yīng)的一第一判定故障結(jié)果。
[0066]如步驟734所示，該電源供應(yīng)器2根據(jù)該組控制指令，在一第二時間區(qū)間內(nèi)，產(chǎn)生一驟降電壓供應(yīng)給該待測裝置9，其中該驟降電壓小于該額定電壓。接著，如步驟735所示，該待測裝置9根據(jù)該驟降電壓，產(chǎn)生一第二響應(yīng)電壓傳送至該負載仿真器3及示波器4。接著，如步驟736所示，該負載仿真器3量測該第二響應(yīng)電壓且該示波器4量測對應(yīng)于該第二響應(yīng)電壓的一第二響應(yīng)電壓波形，并分別將所量測到的該第二響應(yīng)電壓和第二響應(yīng)電壓波形傳送至該運算裝置I。
[0067]如步驟737所示，該運算裝置I判定該第二響應(yīng)電壓是否在一正常響應(yīng)電壓范圍內(nèi)；若是，則繼續(xù)進行步驟738的處理；否則，繼續(xù)進行步驟739的處理。
[0068]如步驟738所示，該運算裝置I將一第二通過信息記錄于該數(shù)據(jù)庫5中，其中該第二通過信息包括在該第二時間區(qū)間該電源供應(yīng)器2所供應(yīng)的該驟降電壓、該負載仿真器3量測到的該第二響應(yīng)電壓、該示波器4量測到的該第二響應(yīng)電壓波形及該運算裝置I對應(yīng)的一第二判定通過結(jié)果。
[0069]如步驟739所示，該運算裝置I將一第二故障信息記錄于該數(shù)據(jù)庫5中，其中該第二故障信息包括在該第二時間區(qū)間該電源供應(yīng)器2所供應(yīng)的該驟降電壓、該負載仿真器3量測到的該第二響應(yīng)電壓、該示波器4量測到的該第二響應(yīng)電壓波形及該運算裝置I對應(yīng)的一第二判定故障結(jié)果。
[0070]如步驟740所示，該測試程序13將該第二時間區(qū)間增加一固定周期。
[0071]如步驟741所示，該測試程序13判定該第二時間區(qū)間是否大于一預(yù)設(shè)時間；若是，則繼續(xù)進行步驟742的處理；否則，繼續(xù)進行步驟728的處理。
[0072]如步驟742所示，該測試程序13將該第二時間區(qū)間初始化為一初始時間。
[0073]參閱圖2與圖5，其中，如步驟631?639所示，該測試系統(tǒng)進行該第三測試階段的一第二測試周期、一第三測試周期、一第四測試周期、一第五測試周期、一第六測試周期、一第七測試周期、一第八測試周期、一第九測試周期直到一第十測試周期，其中該第二測試周期到該第十測試周期其詳細流程類似于該第三測試階段的該第一測試周期，即執(zhí)行步驟728?742，所以于此不再重述。其中每一測試周期皆具有多個測試子周期，從步驟728?739即為一測試子周期，每一測試周期中第一次進行步驟728?739即為一第一測試子周期，第二次進行步驟728?739即為一第二測試子周期，依此類推，在本較佳實施例中，該第三測試階段的每一第一測試子周期的第二時間區(qū)間皆為0.5AC周期(即10毫秒)，而該第三測試階段的每一固定周期皆為0.5AC周期、每一預(yù)設(shè)時間皆為5000毫秒且每一初始時間皆為0.5AC周期，因此，該第三測試階段的每一測試周期皆具有500個測試子周期(每一第一測試子周期的第二時間區(qū)間皆為10毫秒、每一第二測試子周期的第二時間區(qū)間皆為20毫秒、每一第三測試子周期的第二時間區(qū)間皆為30毫秒、每一第五百測試子周期的第二時間區(qū)間皆為5000毫秒)。此外，該第三測試階段的每一額定電壓及每一驟降電壓間的差值與每一額定電壓的比值皆為100%。
[0074]其中，每一測試階段中的正常響應(yīng)電壓范圍為例如該待測裝置9的輸出電壓為24伏特，則該正常響應(yīng)電壓范圍即為24伏特的正負10% (即21.6伏特?26.4伏特)。然而，所述的24伏特僅是舉例而已，在本發(fā)明其他實施例中，可依不同待測裝置9變動，并不以本實施例為限。此外，于本較佳實施例中每一測試階段的第一時間區(qū)間皆為3秒，但不以此為限。值得一提的是，由于IEC61000-4-11此條法規(guī)并無規(guī)定要先測試驟降30%的額定電壓或驟降60%的額定電壓或驟降100%的額定電壓，因此，該第一測試階段、該第二測試階段及該第三測試階段的測試順序可以視需求而變動，并不以本實施例為限。
[0075]綜上所述，本發(fā)明用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法是通過該運算裝置I產(chǎn)生該組控制指令使得該電源供應(yīng)器2在每一時間區(qū)間產(chǎn)生該額定電壓或驟降電壓供應(yīng)給該待測裝置9以達成自動調(diào)整的效果，并通過該運算裝置I判定每一響應(yīng)電壓是否在該正常響應(yīng)電壓范圍內(nèi)，且將每一故障信息或通過信息記錄于該數(shù)據(jù)庫5中，來達成自動記錄的目的，所以確實能達成本發(fā)明的目的。
[0076]以上所述者，僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，當不能以此限定本發(fā)明實施的范圍，即凡依本發(fā)明權(quán)利要求書及說明書內(nèi)容所作的簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發(fā)明專利的范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，其特征在于，包含下列步驟: (A)—運算裝置執(zhí)行一測試程序，以產(chǎn)生一組控制指令傳送到一電連接于該運算裝置的電源供應(yīng)器； (B)該電源供應(yīng)器根據(jù)該組控制指令，在一第一時間區(qū)間內(nèi)，產(chǎn)生一額定電壓供應(yīng)給一待測裝置； (C)該待測裝置根據(jù)該額定電壓，產(chǎn)生一第一響應(yīng)電壓傳送至一與該運算裝置及待測裝置電連接的負載仿真器； (D)該負載仿真器量測該第一響應(yīng)電壓并將其傳送至該運算裝置； (E)該運算裝置判定該第一響應(yīng)電壓是否在一正常響應(yīng)電壓范圍內(nèi)，若判定結(jié)果為否，則該運算裝置將一第一故障信息記錄于一數(shù)據(jù)庫中； (F)該電源供應(yīng)器根據(jù)該組控制指令，在一第二時間區(qū)間內(nèi)，產(chǎn)生一驟降電壓供應(yīng)給該待測裝置，其中該驟降電壓小于該額定電壓； (G)該待測裝置根據(jù)該驟降電壓，產(chǎn)生一第二響應(yīng)電壓傳送至該負載仿真器； (H)該負載仿真器量測該第二響應(yīng)電壓并將其傳送至該運算裝置；以及 (I)該運算裝置判定該第二響應(yīng)電壓是否在該正常響應(yīng)電壓范圍內(nèi)，若判定結(jié)果為否，則該運算裝置將一第二故障信息記錄于該數(shù)據(jù)庫中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，其特征在于:該負載仿真器為一包括一可變電阻的數(shù)字電表。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，其特征在于:該電源供應(yīng)器及負載仿真器皆包含一通用接口總線接口卡，用于做為該運算裝置與該電源供應(yīng)器及負載仿真器間的數(shù)據(jù)傳輸接口卡。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，其特征在于:該運算裝置為一包括一處理器及一存儲該測試程序的存儲器的計算機。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，其特征在于:該方法還包含，在該(D)步驟中，一與該運算裝置及待測裝置電連接的示波器量測對應(yīng)于該第一響應(yīng)電壓的一第一響應(yīng)電壓波形，并將所量測到的第一響應(yīng)電壓波形傳送至該運算裝置，繼而該運算裝置將該第一響應(yīng)電壓波形記錄于該數(shù)據(jù)庫中。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，其特征在于:該示波器包括一通用接口總線接口卡，用于做為該運算裝置與示波器間的數(shù)據(jù)傳輸接口卡。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，其特征在于:該方法還包含，在該(H)步驟中，該示波器量測對應(yīng)于該第二響應(yīng)電壓的一第二響應(yīng)電壓波形，并將所量測到的第二響應(yīng)電壓波形傳送至該運算裝置，繼而該運算裝置將該第二響應(yīng)電壓波形記錄于該數(shù)據(jù)庫中。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，其特征在于:該額定電壓及該驟降電壓間的差值與該額定電壓的比值為30%。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，其特征在于:該額定電壓及該驟降電壓間的差值與該額定電壓的比值為60%。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，其特征在于:該額定電壓及該驟降電壓間的差值與該額定電壓的比值為100%。
【文檔編號】G01R31/00GK104133088SQ201310159029
【公開日】2014年11月5日 申請日期:2013年5月2日 優(yōu)先權(quán)日:2013年5月2日
【發(fā)明者】林顯圳, 唐永強 申請人:冠捷投資有限公司