專利名稱：一種可調角度塊輔助測量裝置及測量方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種測量裝置，尤其涉及一種可調角度塊輔助測量裝置及測量方法，專用于測量手表表殼的足面到耳孔之間距離。
背景技術：
在手表加工領域中，需要對表殼足頭上的足面到耳孔的距離進行測量，以便表帶能夠精確的安裝在足頭上。但由于表殼屬于精密器械，且整體尺寸較小，足面到耳孔的距離難以測量，此外，足面與表殼主體之間并非平行或垂直的關系，這種情況加劇了精確測量的困難。實際生產過程中，如果采用人工夾持表殼進行測量，會出現(xiàn)夾持不穩(wěn)的問題，以至于操作人員在測量中無法找平，難以保證測量尺寸的精確。即使研發(fā)一種專門測量足面到耳孔的距離的裝置，也只能對一種固定尺寸的表殼進行測量，對于其他尺寸的表殼無法使用；如果根據每一種表殼尺寸而制作一個測量裝置，需要制作的測量裝置的數(shù)量非常多，占用空間大且不易保管，增加了制作成本。

發(fā)明內容
本發(fā)明為了解決上述技術問題，提供一種可調角度塊輔助測量裝置及測量方法，它具有使用簡便、節(jié)省成本等優(yōu)點。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術方案。—種可調角度塊輔助測量裝置，包括基座、可調塊、銷軸、滑槽和刻度盤，所述基座包括依次固定連接的第一底塊、第一中塊和上塊；所述可調塊包括固定連接的第二底塊和第二中塊，所述第二中塊與上塊通過銷軸鉸接；所述第一中塊的側面固定有刻度盤，所述刻度盤上刻有角度，所述第二中塊的側面上刻有對齊線，對齊線能夠對準刻度盤上的刻度；所述第二中塊與滑槽的一端固定，滑槽能夠通過調節(jié)螺釘固定在第一中塊的側面。所述刻度盤上的角度為0-90°。作為本發(fā)明的進一步改進，所述可調角度塊輔助測量裝置還包括墊塊，墊塊放置在第二底塊和第二中塊的交界處，并靠在第二中塊上，表殼通過墊塊放置在可調塊上。進一步地，可調角度塊輔助測量裝置還包括第一磁鐵，所述墊塊為第二磁鐵，表殼固定在第一磁鐵和第二磁鐵之間，通過第一磁鐵和第二磁鐵的引力加強固定。所述第二磁鐵的重量為表殼重量的7-20倍，便于第二磁鐵穩(wěn)定放置，進而防止表殼移動。本發(fā)明還提供了一種可調角度塊輔助測量裝置的測量方法，工作過程為:步驟(I )，根據被測表殼足面與表殼的角度，調整可調塊的位置，調節(jié)對齊線對齊的刻度盤上的刻度，使足面與水平方向平行，旋緊調節(jié)螺釘固定可調塊；步驟(2)，選擇合適圓棒穿入被測表殼的耳孔，并把被測表殼放于可調塊上；步驟(3)，把量表表針放于圓棒頂端，并旋轉量表表圈，使其歸零；
步驟(4)，將量表放于被測表殼的足面上，讀出量表數(shù)值，減去耳孔半徑，即是要測量值。作為進一步改進，所述步驟(I)之前，還包括:將墊塊放置在可調塊上；進一步地，所述步驟(2)中，在把被測表殼放于可調塊上后，還包括將第一磁鐵與第二磁鐵吸合的步驟。本發(fā)明的有益效果:通過找平足面，能夠準確地測量足面至耳孔中心的精確距離，表帶能夠精確的安裝在足頭上；另外，本發(fā)明能夠適用于多種尺寸表殼的測量，占用空間小且容易保存，節(jié)省了制造成本。


圖1是本發(fā)明實施例1的整體結構示意圖。圖2是本發(fā)明實施例1的側面結構示意圖。圖3是本發(fā)明實施例2的側面結構示意圖。其中，1、基座；2、可調塊；3、銷軸；4、滑槽；5、刻度盤；6、第一底塊；7、第一中塊；
8、上塊；9、第二底塊；10、第二中塊；11、對齊線；12、調節(jié)螺釘；13、墊塊；14、表殼；15、圓棒，16、足面；17、第一磁鐵；18、第二磁鐵。
具體實施例方式下面結合附圖與實施例對本發(fā)明作進一步說明。實施例1:如圖1-圖2所示，一種可調角度塊輔助測量裝置，包括基座1、可調塊2、銷軸3、滑槽4和刻度盤5，所述基座I包括依次固定連接的第一底塊6、第一中塊7和上塊8 ;所述可調塊2包括固定連接的第二底塊9和第二中塊10，所述第二中塊10與上塊8通過銷軸3鉸接；所述第一中塊7的側面固定有刻度盤5，所述刻度盤5上刻有0-90°的角度，所述第二中塊10的側面上刻有對齊線11，對齊線11能夠對準刻度盤5上的刻度；所述第二中塊10與滑槽4的一端固定，滑槽4能夠通過調節(jié)螺釘12固定在第一中塊7的側面。所述可調角度塊輔助測量裝置還包括墊塊13，墊塊13放置在第二底塊9和第二中塊10的交界處，并靠在第二中塊10上，表殼14通過墊塊13放置在可調塊2上。本實施例的工作過程為:步驟(I )，將墊塊13放置在可調塊2上；步驟(2)，根據足面16與表殼14的角度，調整可調塊2的位置，調節(jié)對齊線11對齊的刻度盤5上的刻度，使足面16與水平方向平行，旋緊調節(jié)螺釘12固定可調塊2 ；步驟(3)，選擇合適圓棒15穿入表殼14的耳孔，并把表殼14放于可調塊2上；步驟(4)，把量表表針放于圓棒15頂端，并旋轉量表表圈，使其歸零；步驟(5)，將量表放于表殼14的足面16上，讀出量表數(shù)值，減去耳孔半徑，即是要測量值。實施例2:如圖3所示，與實施例1不同的是，所述第二磁鐵18代替了墊塊13，不但起到了墊塊13的作用，而且與第一磁鐵17吸合，將表殼14牢固固定在第一磁鐵17和第二磁鐵18之間。本實施例的工作過程為:步驟(I )，將第二磁鐵18放置在可調塊2上；步驟(2)，根據足面16與表殼14的角度，調整可調塊2的位置，調節(jié)對齊線11對齊的刻度盤5上的刻度，使足面16與水平方向平行，旋緊調節(jié)螺釘12固定可調塊2 ；步驟(3)，選擇合適圓棒15穿入表殼14的耳孔，并把表殼14放于可調塊2上，將第一磁鐵17與第二磁鐵18吸合；步驟(4)，把量表表針放于圓棒15頂端，并旋轉量表表圈，使其歸零；步驟(5)，將量表放于表殼14的足面16上，讀出量表數(shù)值，減去耳孔半徑，即是要測量值。上述雖然結合附圖對本發(fā)明的具體實施方式
進行了描述，但并非對本發(fā)明保護范圍的限制，所屬領域技術人員應該明白，在本發(fā)明的技術方案的基礎上，本領域技術人員不需要付出創(chuàng)造性勞動即可做出的各種修改或變形仍在本發(fā)明的保護范圍以內。
權利要求
1.一種可調角度塊輔助測量裝置，其特征是，包括基座、可調塊、銷軸、滑槽和刻度盤，所述基座包括依次固定連接的第一底塊、第一中塊和上塊；所述可調塊包括固定連接的第二底塊和第二中塊，所述第二中塊與上塊通過銷軸鉸接；所述第一中塊的側面固定有刻度盤，所述刻度盤上刻有角度，所述第二中塊的側面上刻有對齊線，對齊線能夠對準刻度盤上的刻度；所述第二中塊與滑槽的一端固定，滑槽能夠通過調節(jié)螺釘固定在第一中塊的側面。
2.如權利要求1所述的可調角度塊輔助測量裝置，其特征是，所述刻度盤上的角度為0-90。。
3.如權利要求1所述的可調角度塊輔助測量裝置，其特征是，所述可調角度塊輔助測量裝置還包括墊塊，墊塊放置在第二底塊和第二中塊的交界處，并靠在第二中塊上，表殼通過墊塊放置在可調塊上。
4.如權利要求3所述的可調角度塊輔助測量裝置，其特征是，可調角度塊輔助測量裝置還包括第一磁鐵，所述墊塊為第二磁鐵，表殼固定在第一磁鐵和第二磁鐵之間。
5.如權利要求4所述的可調角度塊輔助測量裝置，其特征是，所述第二磁鐵的重量為表殼重量的7-20倍。
6.如權利要求1所述的可調角度塊輔助測量裝置的測量方法，其特征是，工作過程為: 步驟(I )，根據被測表殼足頭與表殼的角度，調整可調塊的位置，調節(jié)對齊線對齊的刻度盤上的刻度，使足面與水平方向平行，旋緊調節(jié)螺釘固定可調塊； 步驟(2)，選擇合適圓棒穿入被測表殼的耳孔，并把被測表殼放于可調塊上； 步驟(3 )，把量表表針放于圓棒頂端，并旋轉量表表圈，使其歸零； 步驟(4)，將量表放于被測表殼的足面上，讀出量表數(shù)值，減去耳孔半徑，即是要測量值。
7.如權利要求6所述的可調角度塊輔助測量裝置的測量方法，其特征是，所述步驟(I)之前，還包括:將墊塊放置在可調塊上。
8.如權利要求7所述的可調角度塊輔助測量裝置的測量方法，其特征是，可調角度塊輔助測量裝置還包括第一磁鐵，所述墊塊為第二磁鐵，所述步驟(2)中，在把被測表殼放于可調塊上后，還包括將第一磁鐵與第二磁鐵吸合的步驟。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種可調角度塊輔助測量裝置，包括基座、可調塊、銷軸、滑槽和刻度盤，所述基座包括依次固定連接的第一底塊、第一中塊和上塊；所述可調塊包括固定連接的第二底塊和第二中塊，所述第二中塊與上塊通過銷軸鉸接；所述第一中塊的側面固定有刻度盤，所述刻度盤上刻有角度，所述第二中塊的側面上刻有對齊線，對齊線能夠對準刻度盤上的刻度；所述第二中塊與滑槽的一端固定，滑槽能夠通過調節(jié)螺釘固定在第一中塊的側面。本發(fā)明還公開了一種可調角度塊輔助測量裝置的測量方法。本發(fā)明通過找平足面，能夠準確地測量足面至耳孔中心的精確距離，表帶能夠精確的安裝在足頭上，適用于多種尺寸表殼的測量，占用空間小且容易保存，節(jié)省制造成本。
文檔編號G01B5/14GK103162595SQ201310087159
公開日2013年6月19日 申請日期2013年3月18日 優(yōu)先權日2013年3月18日
發(fā)明者楊冰, 孫建光, 朱波, 彭濤, 高倩 申請人:山東東星表業(yè)有限公司