具有背光的裝置的亮度測量方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種具有背光的裝置的亮度測量方法及系統(tǒng)，該亮度測量方法由控制裝置測量由待測裝置的背光模塊提供背光的圖例，包括：開啟待測裝置外部的均勻光源以照射待測裝置；指示提取被均勻光源照射的待測裝置的影像為基準影像并接收基準影像；辨識基準影像中待測圖例的完整圖樣；關(guān)閉均勻光源并開啟待測裝置的背光，以使背光光源照射待測裝置的圖例；指示提取背光光源照射的待測裝置的影像為對照影像并接收對照影像，對照影像的影像范圍與基準影像重疊；以及對對照影像當中與完整圖樣位置重疊的多個像素的亮度值進行計算，以獲得待測圖例的背光亮度。本發(fā)明可避免因背光照射不均勻而誤將圖例當中亮度較低的部分誤判為背景。
【專利說明】具有背光的裝置的亮度測量方法及系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種具有背光的裝置的測量方法及系統(tǒng)，且特別涉及具有背光的裝置的亮度測量方法及系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]具有背光的裝置提供背光以照射裝置上的圖例(legend)時，經(jīng)常由于背光模塊與電子裝置的圖例之間尚有線路結(jié)構(gòu)遮擋，使得背光無法平均地照射到圖例的每一個位置。如圖1的一個背光鍵盤的按鍵圖例示意圖所示，由于鍵盤內(nèi)部的電路導線可能正好通過圖例“Backspace”的左側(cè)而稍微遮蔽了后方的背光光源，因此造成“Back”四個字母的亮度稍弱于“space”五個字母。為了測量具有背光的裝置以背光照明裝置上的圖例時的效果，現(xiàn)行的測量方式會拍攝受到背光照射的圖例的影像，并根據(jù)影像中各像素的亮度值以及預(yù)定門檻值區(qū)分出屬于圖例的部分以及圖例以外的部分。
[0003]請參閱圖2所示的示意圖。圖2為對應(yīng)于圖1所示的圖例“Backspace”經(jīng)拍攝并以門檻值區(qū)分后的二值影像(b1-level image)示意圖。相較于圖1可知，經(jīng)過篩選像素亮度后所顯示的畫面當中，大部分像素都正確地對應(yīng)圖例或圖例以外的背景部分，但原本對應(yīng)第一與第二字母(Ba)的上半部的像素則因為亮度值過低，經(jīng)篩選后被判斷為圖例以外的背景。因此，當使用者根據(jù)圖2所示的像素來計算Backspace —字在背光照射下的亮度時，會不當?shù)睾雎缘粼緦儆趫D例部分但被視為是圖例以外部分的“Ba”上半部的像素。如此一來，圖例的整體亮度被高估，其中亮度不足的部分反而無法真實被反應(yīng)出來，計算出的“Backspace”整體亮度即不正確。若測量出來的亮度不正確，就會影響對待測裝置的結(jié)構(gòu)設(shè)計或背光模塊的改良。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]有鑒于現(xiàn)有測量技術(shù)的問題，本發(fā)明的目的在于提出一種具有背光的裝置的亮度測量方法及系統(tǒng)，用以正確測量出具有背光的裝置上的圖例在背光照射下呈現(xiàn)出來的亮度。
[0005]本發(fā)明實施例提供一種具有背光的裝置的亮度測量方法，由控制裝置測量由待測裝置的背光模塊提供背光的圖例(legend)，所述方法包括:開啟待測裝置外部的均勻光源以照射待測裝置；指示提取被均勻光源照射的待測裝置的影像為基準影像并接收基準影像JH只基準影像中待測圖例的完整圖樣(pattern);關(guān)閉均勻光源并開啟待測裝置的背光，以使背光光源照射待測裝置的圖例；指示提取背光光源照射的待測裝置的影像為對照影像并接收對照影像，對照影像的影像范圍與基準影像重疊；以及對對照影像當中與完整圖樣位置重疊的多個像素的亮度值進行計算，以獲得待測圖例的背光亮度。
[0006]本發(fā)明的亮度測量方法，優(yōu)選的，提取該對照影像后包括步驟:根據(jù)該完整圖樣的像素在該基準影像中的位置，辨識該對照影像中與該完整圖樣位置重疊的各個像素的亮度值。[0007]本發(fā)明的亮度測量方法，優(yōu)選的，提供該均勻光源照射該待測裝置之前，該待測裝置被固定于一測量位置，其中，提取該基準影像及該對照影像時，該待測裝置皆位于該測量位置。
[0008]本發(fā)明的亮度測量方法，優(yōu)選的，對該對照影像當中與該完整圖樣位置重疊的多個像素的亮度值進行計算的步驟，是計算所述多個像素的亮度值的平均值。
[0009]本發(fā)明的亮度測量方法，優(yōu)選的，辨識該完整圖樣的步驟中包括:根據(jù)一亮度門檻值比對該基準影像中的每一像素的亮度值；及記錄該基準影像當中亮度值大于或等于該亮度門檻值的一或多個像素的位置；其中，該基準影像當中亮度值大于或等于該亮度門檻值的一或多個像素位置的集合形成該完整圖樣。
[0010]本發(fā)明的亮度測量方法，優(yōu)選的，指示提取該基準影像之前，包括:根據(jù)一選取范圍圈選該待測裝置的一部分，該選取范圍中包括該待測圖例；其中，該基準影像及該對照影像皆為該選取范圍內(nèi)的影像。
[0011]本發(fā)明的亮度測量方法，優(yōu)選的，指示提取該基準影像之前，包括:根據(jù)一選取范圍圈選該待測裝置的一部分，該選取范圍中包括該待測圖例；其中，辨識該完整圖樣及計算該背光亮度的步驟皆為針對該選取范圍內(nèi)的像素。
[0012]此外，本發(fā)明實施例還提供一種具有背光的裝置的亮度測量系統(tǒng)，用以測量由待測裝置的背光模塊提供背光的圖例，所述系統(tǒng)包括:影像提取裝置、發(fā)光裝置及控制裝置。影像提取裝置用以提取待測裝置的影像。發(fā)光裝置用以提供均勻光源以照射待測裝置。控制裝置耦接影像提取裝置、發(fā)光裝置及待測裝置，控制發(fā)光裝置以及待測裝置的背光模塊開啟與關(guān)閉，并控制影像提取裝置在發(fā)光裝置開啟時提取待測裝置的影像為基準影像，以及發(fā)光裝置關(guān)閉且背光模塊開啟時提取待測裝置的影像為對照影像。對照影像的影像范圍與基準影像相同，控制裝置辨識基準影像中待測圖例的完整圖樣，并對對照影像當中與完整圖樣位置重疊的多個像素的亮度值進行計算，以獲得待測圖例的背光亮度。
[0013]本發(fā)明的亮度測量系統(tǒng)，優(yōu)選的，該亮度測量系統(tǒng)還包括:一暗箱裝置；及一定位結(jié)構(gòu)，設(shè)置于該暗箱裝置當中以正對該影像提取裝置，用以定位該待測裝置于一測量位置，其中，該影像提取裝置及該發(fā)光裝置設(shè)置于該暗箱裝置當中。
[0014]本發(fā)明的亮度測量系統(tǒng)，優(yōu)選的，該發(fā)光裝置包括照明設(shè)備，該照明設(shè)備設(shè)置于該定位結(jié)構(gòu)側(cè)邊或上方。
[0015]本發(fā)明的亮度測量系統(tǒng)，優(yōu)選的，該照明設(shè)備為探照燈、照明燈管，或發(fā)光二極管。
[0016]本發(fā)明的亮度測量系統(tǒng)，優(yōu)選的，該待測裝置為具有背光的鍵盤或液晶面板。
[0017]本發(fā)明的有益效果在于，綜上所述，本發(fā)明實施例所提供的具有背光的裝置的亮度測量方法及系統(tǒng)，可正確測量出待測裝置的圖例受背光照射時的亮度，避免因背光照射不均勻而誤將圖例當中亮度較低的部分誤判為背景，造成亮度評估結(jié)果錯誤。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0018]圖1:公知背光鍵盤部分圖例示意圖；
[0019]圖2:對應(yīng)圖1的圖例二值化影像示意圖；
[0020]圖3:本發(fā)明的一種具有背光的裝置的亮度測量系統(tǒng)實施例的方框圖；
[0021]圖4:本發(fā)明的一種具有背光的裝置的亮度測量系統(tǒng)實施例的示意圖；[0022]圖5:本發(fā)明的一種具有背光的裝置的亮度測量方法實施例的流程圖；
[0023]圖6A:本發(fā)明的一個基準影像實施例的示意圖 '及
[0024]圖6B:本發(fā)明的一個對照影像實施例的示意圖。
[0025]其中，附圖標記說明如下:
[0026]30亮度測量系統(tǒng)
[0027]300控制裝置
[0028]302影像提取裝置
[0029]304發(fā)光裝置
[0030]3040 探照燈
[0031]3042 照明燈管
[0032]3044 發(fā)光二極管
[0033]306暗箱裝置
[0034]308定位結(jié)構(gòu)
[0035]32待測裝置
[0036]320背光模塊
[0037]60基準影像
[0038]600,600’ 待測圖例
[0039]602完整圖樣
[0040]62對照影像
[0041]620,622 像素
[0042]624,626 像素區(qū)域
[0043]S501-S517 流程步驟
【具體實施方式】
[0044](系統(tǒng)實施例)
[0045]圖3繪示了本發(fā)明提供的一種具有背光的裝置的亮度測量系統(tǒng)實施例的方框圖。所述的亮度測量系統(tǒng)30包括控制裝置300、影像提取裝置302及發(fā)光裝置304。具有背光的待測裝置32則包括背光模塊320。控制裝置300耦接并控制影像提取裝置302與發(fā)光裝置304。待測裝置32也可耦接于控制裝置300以便由控制裝置300控制背光模塊320的開啟或關(guān)閉。
[0046]控制裝置300例如可為電腦或其他電子裝置，通過網(wǎng)絡(luò)有線或無線地連接于前述的各項裝置并傳送指令及接收數(shù)據(jù)。影像提取裝置302例如可為CXD或CMOS相機，提取待測裝置32的影像后，傳送到控制裝置300進行處理。發(fā)光裝置304例如可為探照燈、照明燈管或發(fā)光二極管，用以發(fā)出均勻光源以照射待測裝置32。待測裝置32例如可為電子裝置所搭配的鍵盤，或如平板電腦、智能型手機等裝置適用的液晶面板。所述的待測裝置32表面具有代表文字、數(shù)字、符號或操作功能的圖例，所述圖例可透光，并且在光源照射下相較于待測裝置32的其他部分顯現(xiàn)出較高的亮度(brightness)。
[0047]控制裝置300控制影像提取裝置302在發(fā)光裝置304被開啟而提供均勻光源照射待測裝置32的情況下，提取待測裝置32的影像為基準影像，以及發(fā)光裝置304關(guān)閉但背光模塊320開啟的情況下，提取待測裝置32的影像為對照影像?？刂蒲b置300根據(jù)基準影像與對照影像，計算出待測裝置32上的待測圖例通過背光模塊320提供光源時所顯現(xiàn)的亮度。
[0048]本實施例中，影像提取裝置302還可被設(shè)置在暗室中提取影像，以避免提取基準影像與對照影像時受到環(huán)境光源的影響而降低數(shù)據(jù)正確性。
[0049]請參照圖4所繪示本實施例的示意圖以說明亮度測量系統(tǒng)30的架構(gòu)配置。本實施例的亮度測量系統(tǒng)30還可包括暗箱裝置306以及定位結(jié)構(gòu)308。影像提取裝置302、發(fā)光裝置304與定位結(jié)構(gòu)308皆設(shè)置在暗箱裝置306內(nèi)。其中，影像提取裝置302可設(shè)置于暗箱裝置306內(nèi)的上方并使鏡頭朝下。定位結(jié)構(gòu)308則可設(shè)置在暗箱裝置306的下方并正對著影像提取裝置302的鏡頭，用以將待測裝置32定位在固定的測量位置以利影像的提取。發(fā)光裝置304設(shè)置于定位結(jié)構(gòu)308的上方，以便從待測裝置32的外部照射待測裝置32的表面。發(fā)光裝置304可以如圖4所示為可發(fā)出均勻光源的照明設(shè)備，設(shè)置在定位結(jié)構(gòu)308側(cè)邊或上方，以便均勻地發(fā)出光源照射待測裝置32。所述的發(fā)光裝置304例如可為圖4所示的探照燈3040、照明燈管3042或發(fā)光二極管3044的其中一種或其任意組合。此處并不限制發(fā)光裝置304的數(shù)量，發(fā)光裝置304的設(shè)置位置亦不限于圖4所示。
[0050]暗箱裝置306可被開啟以將待測裝置32根據(jù)定位結(jié)構(gòu)308的設(shè)置而擺置于暗箱裝置306內(nèi)的測量位置，并與供電單元(圖未示)電連接以便提供啟動背光模塊所需的電力。暗箱裝置306關(guān)閉后可隔絕除發(fā)光裝置304及背光模塊之外的環(huán)境光。
[0051]回到圖3，控制裝置300于暗箱裝置關(guān)閉后，可控制發(fā)光裝置304開啟以均勻照射待測裝置32，并控制影像提取裝置302提取待測裝置32的影像為基準影像以及接收基準影像。此時待測裝置32的背光模塊320未開啟。由于均勻光源照射在待測裝置32上時，可以使得亮度較高的待測圖例被清楚地呈現(xiàn)，如同使用者在光線充足的地方可以清楚看見鍵盤上每一個字母的圖樣。因此，控制裝置300接收到基準影像時，可利用明顯的亮度差異而辨識出影像中待測圖例的完整圖樣。
[0052]控制裝置300接著將發(fā)光裝置304關(guān)閉，改控制供電單元供電給待測裝置32以開啟背光模塊320，以便從待測裝置32內(nèi)部向外照射待測裝置32上的待測圖例?？刂蒲b置300指示影像提取裝置302此時再提取待測裝置32的影像為對照影像，并接收拍攝到的對照影像。由于待測裝置32仍然通過定位結(jié)構(gòu)的定位而擺置于相同的測量位置，因此控制裝置300所接收到的基準影像與對照影像的影像范圍重疊且一致。
[0053]由于待測圖例位于待測裝置32的表面，因此被提取的基準影像與對照影像都會在相同的位置包括待測圖例的圖樣?？刂蒲b置300可先辨識基準影像中的待測圖例的完整圖樣。被提取的基準影像與對照影像中的每一個像素都有其對應(yīng)的亮度值，所述的亮度值單位為燭光每平方公尺(cd/m2)，又稱尼特(nit)。如前所述，在均勻明亮的光源下，待測裝置32的待測圖例部分與待測圖例以外部分(以下簡稱背景部分)的亮度差異明顯，因此拍攝成基準影像后，對應(yīng)于待測圖例的像素的亮度值也會明顯高于對應(yīng)于背景部分的像素的亮度值。此外，由于待測圖例與背景部分通常都以對比強烈的兩色區(qū)分(例如白色圖例與黑色背景)，故同一色所對應(yīng)的像素的亮度值也會十分接近，例如對應(yīng)于待測圖例的像素的亮度值都接近15尼特(nits)，而背景部分的像素亮度值都接近O尼特。上述亮度值僅為例示，實際上提取到基準影像時，待測圖例與背景部分的亮度值的差異大小會受到發(fā)光裝置304的光強度影響而不同。
[0054]控制裝置300可根據(jù)一個預(yù)設(shè)或可調(diào)整的亮度門檻值比對基準影像中的每一像素的亮度值，進行類似二值化(b1-level thresholding)的程序,將等于或大于亮度門濫值的像素辨識為對應(yīng)于待測圖例的像素。例如，假設(shè)亮度門檻值為10尼特，則可將所有亮度為10尼特以上的像素辨識為屬于待測圖例的像素，而背景部分的亮度因為遠低于10尼特，因此也不容易產(chǎn)生誤判的情況。所有對應(yīng)于待測圖例的像素的位置的集合就形成待測圖例的完整圖樣。由于圖例與背景部分的像素亮度值可明確區(qū)隔，因此辨識出來的完整圖樣可正確地對應(yīng)到待測圖例在待測裝置32上的真實外型與輪廓。上述的亮度門檻值的數(shù)值僅為例示說明而非用于限制本實施例。
[0055]辨識出待測圖例的完整圖樣后，控制裝置300即可根據(jù)完整圖樣在基準影像中的位置，對應(yīng)地選取對照影像當中相同位置的多個像素，對被選取的多個像素的亮度值做計算，以產(chǎn)生所述待測圖例的背光亮度。具體而言，計算出的背光亮度可為被選取的多個像素的亮度值的平均值。
[0056]由于控制裝置300根據(jù)正確對應(yīng)待測圖例的外型及輪廓的完整圖樣來選取像素以計算背光亮度，即使因背光模塊320無法均勻提供背光，使得對照影像中有部分對應(yīng)于測待圖例的像素亮度過低，亦不致于因此而錯誤地漏掉應(yīng)被計算的像素而造成待測圖例的背光亮度被高估。
[0057]此外，由于待測裝置32的表面可能同時包括多個圖例，控制裝置300在控制影像提取裝置302提取基準影像前，可以先提供一選取范圍圈選待測裝置32，以選取多個圖例的其中之一為待測圖例。例如通過控制裝置300的顯示器(圖未示)顯示影像提取單元302的影像感測器(圖未示)感測到的待測裝置32的畫面，并且允許使用者通過顯示器的畫面決定一個包含了待測圖例的畫面的選取范圍?？刂蒲b置302可以只針對被決定的選取范圍內(nèi)的畫面控制影像提取裝置302提取影像，或提取整個待測裝置32的影像但僅對選取范圍內(nèi)的像素進行辨識及計算的程序，以減少運算量并獲得被指定測量的圖例的背光亮度。
[0058](方法實施例)
[0059]請參閱圖5，圖5繪示了本發(fā)明提供的一種具有背光的裝置的亮度測量方法實施例的流程圖。本實施例的亮度測量方法可通過前述實施例的亮度測量系統(tǒng)30加以實施，故請一并參照圖3及圖4以利說明。
[0060]開始進行測量之前，可提供如圖4所示的亮度測量系統(tǒng)30的各項裝置(S501)，以便將待測裝置32固定在暗箱裝置306的測量位置以正對影像提取裝置302的鏡頭(S503)。接著，控制裝置300可控制設(shè)置在待測裝置32外部的發(fā)光裝置304開啟，發(fā)出均勻光源照射在待測裝置32的表面(S505)，此時待測裝置32的背光模塊320并未開啟?？刂蒲b置300指示影像提取裝置302提取被均勻光源照射的待測裝置32的影像為基準影像，并且接收影像提取裝置302提取到的基準影像畫面(S507)，基準影像的畫面中會顯示出待測圖例的圖樣。
[0061]控制裝置300可根據(jù)基準影像的多個像素的亮度值來辨識待測圖例的完整圖樣(S509)。請一并參閱圖6A所例示的基準影像示意圖。為了方便理解，圖6A中一并標示出基準影像中每一像素的亮度值。具體來說，由于在待測裝置32表面的圖例的亮度通常會均勻且明顯地大于背景部分的亮度，因此當控制裝置300接收到基準影像60時，對應(yīng)于待測圖例600的像素的亮度值也會明顯大于背景部分的像素的亮度值。控制裝置300可根據(jù)一個預(yù)定或可調(diào)整的亮度門檻值比對基準影像60的每個像素，并將亮度值等于或大于亮度門檻值的像素的位置及亮度值加以記錄。
[0062]以圖6A為例，所述的亮度門檻值可為5尼特(在其他例子當中也可以是5尼特以下)。當基準影像當中亮度值等于或大于亮度門檻值的像素都被記錄后，被記錄的多個像素的位置集合起來就形成了所述待測圖例600的完整圖樣。在圖6A的示意圖當中，共有30個像素被記錄為對應(yīng)于待測圖例600的像素，所述像素的位置的集合即形成待測圖例600的完整圖樣602。
[0063]回到圖5?？刂蒲b置300提取完基準影像后可關(guān)閉發(fā)光裝置304，并且控制待測裝置32的背光模塊320開啟(S511)，以便從待測裝置32內(nèi)部向外照射表面的圖例。控制裝置300此時再控制影像提取裝置302提取受到背光照射的待測裝置32的影像為對照影像，并傳送到控制裝置300進行運算處理(S513)。請參閱圖6B所繪示對應(yīng)于圖6A的對照影像示意圖。圖6B同樣標示出對照影像中各像素的亮度值。由于背光模塊320提供的背光無法均勻地照射在待測裝置32的每個位置，故對照影像62當中對應(yīng)于待測圖例600’的部分像素的亮度會降低，甚至無法顯現(xiàn)亮度。以圖6B所示的像素為例，位于第一行第八列的像素620以及第八行第一列的像素622亮度為0，因此以對照影像62的畫面來判斷，像素620與622屬于背景部分。但再參照圖6A的相同位置的像素，即可發(fā)現(xiàn)像素620與622實際上是對應(yīng)到待測圖例600的像素。
[0064]因此，為了正確判斷對應(yīng)于待測圖例600的所有像素，控制裝置300依據(jù)從基準影像60中辨識出來的完整圖樣602的像素，選取出對照影像62當中位置相同的多個像素，亦即圖6B的像素區(qū)域624中的像素，并且根據(jù)像素區(qū)域624當中的多個像素的亮度值進行計算(S515)，以產(chǎn)生待測圖例600’的背光亮度(S517)。所述的背光亮度可為像素區(qū)域624中各像素的亮度值的平均。計算出來的背光亮度即為待測圖例600’在背光模塊320提供背光的情況下的整體平均亮度。
[0065]通過基準影像60 (圖6A)辨識出待測圖例600的完整圖樣602而得到完整的外型與輪廓，再依照完整圖樣602中所對應(yīng)的像素的數(shù)量及位置，計算對照影像62 (圖6B)中的像素的亮度值，可正確測量出所述待測圖例在不均勻的背光照射下所呈現(xiàn)的真正亮度信息。例如以圖6A及圖6B所示為例，對照影像62當中應(yīng)該被用來計算待測圖例600’的背光亮度的像素是像素區(qū)域624當中的30個像素，計算出來的亮度值平均為6.87尼特。
[0066]若僅依照圖6B的對照影像62的像素所呈現(xiàn)的畫面，直接計算待測圖例600’的背光亮度，假設(shè)以5尼特為門檻值來判定對應(yīng)于待測圖例600’的像素，則只有像素區(qū)域626中的15個像素被用來計算背光亮度。其他因背光不均勻而造成亮度過低的像素，則被視為是背景部分而忽略。根據(jù)像素區(qū)域626中的15個像素的亮度值計算出來的背光亮度有11.73尼特，與前述的6.87尼特產(chǎn)生極大的誤差，明顯地高估了待測圖例600’的亮度。即使以“亮度值超過O尼特”為門檻值(亦即只要亮度不是O即視為是待測圖例所對應(yīng)的像素)，相較于圖6A的基準影像60中的完整圖樣602，對照影像62當中仍然損失了實際上屬于待測圖例600’ 一部分的像素620及622，計算出來的亮度平均值為7.36尼特，與正確的背光亮度仍存有將近0.5尼特的誤差。
[0067]但這些被忽略不計的像素(即像素區(qū)域624與像素區(qū)域626不重疊的部分，或另一例中的像素620及622)，實際上應(yīng)該被表現(xiàn)在背光亮度當中，以便反應(yīng)出待測圖例600’因背光的不均勻而亮度不足的現(xiàn)象。因此，利用本實施例的測量方法取得的背光亮度，才能正確評估待測圖例在背光模塊照射時的實際亮度，進而提供使用者改良背光模塊320或待測裝置32的結(jié)構(gòu)設(shè)計所需要的正確信息。
[0068]補充說明一點，待測裝置32的表面可能包括多個圖例，因此在步驟S507之前，控制裝置300可先根據(jù)一圈選范圍所選取的待測裝置32的一部分，決定圈選范圍中所包括的圖例為待測圖例。在步驟S507及S513中提取待測裝置32的影像時，也可分別僅提取圈選范圍中的影像為基準影像與對照影像，或是對整個待測裝置32提取影像后，僅分別針對圈選范圍中的像素進行辨識與運算。
[0069](實施例的可能功效)
[0070]根據(jù)本發(fā)明實施例，上述的具有背光的裝置的亮度測量方法及系統(tǒng)先取得待測圖例的完整外型與輪廓，再據(jù)以計算待測圖例在背光照射下的正確背光亮度，避免圖例中亮度過低的部分被錯誤地排除而高估待測圖例的背光亮度。
[0071]同時，以正確對應(yīng)待測圖例的外型、輪廓的完整圖樣為計算亮度的基準，可從影像中獲得所有對應(yīng)于圖例的像素，藉以客觀地計算圖例的亮度，也解決了現(xiàn)有作法當中直接以受到背光照射的圖例的影像來判斷背光亮度，反造成背光越不均勻，計算出的背光亮度可能越大的不合理情況。
[0072]此外，根據(jù)本發(fā)明實施例，上述的亮度測量方法及系統(tǒng)可對包括有多個圖例的待測裝置當中的任一個圖例進行測量，以獲得待測裝置上每一個圖例個別的背光亮度。藉此有助于后續(xù)對待測裝置的圖例、背光模塊或裝置結(jié)構(gòu)之間的位置配置的分析。
[0073]以上所述僅為本發(fā)明的實施例，其并非用以局限本發(fā)明的專利范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種具有背光的裝置的亮度測量方法，由一控制裝置測量由一待測裝置的背光模塊提供背光的圖例，其特征在于該方法包括步驟: 開啟該待測裝置外部的一均勻光源以照射該待測裝置； 指示提取被該均勻光源照射的該待測裝置的影像為一基準影像并接收該基準影像； 辨識該基準影像中一待測圖例的一完整圖樣； 關(guān)閉該均勻光源并開啟該待測裝置的該背光，以使該背光照射該待測裝置； 指示提取該背光光源照射的該待測裝置的影像為一對照影像并接收該對照影像，該對照影像的影像范圍與該基準影像重疊；及 對該對照影像當中與該完整圖樣位置重疊的多個像素的亮度值進行計算，以獲得該圖例的一背光亮度。
2.如權(quán)利要求1所述的亮度測量方法，其特征在于提取該對照影像后包括步驟: 根據(jù)該完整圖樣的像素在該基準影像中的位置，辨識該對照影像中與該完整圖樣位置重疊的各個像素的亮度值。
3.如權(quán)利要求1所述的亮度測量方法，其特征在于提供該均勻光源照射該待測裝置之前，該待測裝置被固定于一測量位置，其中，提取該基準影像及該對照影像時，該待測裝置皆位于該測量位置。
4.如權(quán)利要求1所述的亮度測量方法，其特征在于對該對照影像當中與該完整圖樣位置重疊的多個像素的亮度值進行計算的步驟，是計算所述多個像素的亮度值的平均值。
5.如權(quán)利要求1所述的亮度測量方法，其特征在于辨識該完整圖樣的步驟中包括步驟: 根據(jù)一亮度門檻值比對該基準影像中的每一像素的亮度值；及 記錄該基準影像當中亮度值大于或等于該亮度門檻值的一或多個像素的位置； 其中，該基準影像當中亮度值大于或等于該亮度門檻值的一或多個像素位置的集合形成該完整圖樣。
6.如權(quán)利要求1所述的亮度測量方法，其特征在于指示提取該基準影像之前，包括步驟: 根據(jù)一選取范圍圈選該待測裝置的一部分，該選取范圍中包括該待測圖例； 其中，該基準影像及該對照影像皆為該選取范圍內(nèi)的影像。
7.如權(quán)利要求1所述的亮度測量方法，其特征在于指示提取該基準影像之前，包括步驟: 根據(jù)一選取范圍圈選該待測裝置的一部分，該選取范圍中包括該待測圖例； 其中，辨識該完整圖樣及計算該背光亮度的步驟皆為針對該選取范圍內(nèi)的像素。
8.一種具有背光的裝置的亮度測量系統(tǒng)，用以測量由一待測裝置的背光模塊提供背光的圖例，其特征在于，該亮度測量系統(tǒng)包括: 一影像提取裝置，用以提取該待測裝置的影像； 一發(fā)光裝置，用以提供一均勻光源以照射該待測裝置；及 一控制裝置，耦接該影像提取裝置、該發(fā)光裝置及被測量的該待測裝置，控制該發(fā)光裝置以及該待測裝置的一背光模塊的開啟與關(guān)閉，并控制該影像提取裝置在該發(fā)光裝置開啟時，提取該待測裝置的影像為一基準影像，以及該發(fā)光裝置關(guān)閉且該背光模塊開啟時，提取該待測裝置的影像為一對照影像， 其中，該對照影像的影像范圍與該基準影像重疊，該控制裝置辨識該基準影像中一待測圖例的一完整圖樣，并對該對照影像當中與該完整圖樣位置重疊的多個像素的亮度值進行計算，以獲得該待測圖例的一背光亮度。
9.如權(quán)利要求8所述的亮度測量系統(tǒng)，其特征在于，該亮度測量系統(tǒng)還包括: 一暗箱裝置；及 一定位結(jié)構(gòu)，設(shè)置于該暗箱裝置當中以正對該影像提取裝置，用以定位該待測裝置于一測量位置， 其中，該影像提取裝置及該發(fā)光裝置設(shè)置于該暗箱裝置當中。
10.如權(quán)利要求9所述的亮度測量系統(tǒng)，其特征在于該發(fā)光裝置包括照明設(shè)備，該照明設(shè)備設(shè)置于該定位結(jié)構(gòu)側(cè)邊或上方。
11.如權(quán)利要求 10所述的亮度測量系統(tǒng)，其特征在于該照明設(shè)備為探照燈、照明燈管，或發(fā)光二極管。
12.如權(quán)利要求8所述的亮度測量系統(tǒng)，其特征在于該待測裝置為具有背光的鍵盤或液晶面板。
【文檔編號】G01J1/10GK103925992SQ201310016556
【公開日】2014年7月16日 申請日期:2013年1月16日 優(yōu)先權(quán)日:2013年1月16日
【發(fā)明者】吳進發(fā) 申請人:光寶電子(廣州)有限公司, 光寶科技股份有限公司