專(zhuān)利名稱(chēng)：四腳磁性探頭的殘余奧氏體含量檢測(cè)傳感器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及鐵磁性材料的殘余奧氏體，更具體地說(shuō)是一種適應(yīng)于鐵磁性材料的殘余奧氏體含量檢測(cè)的四腳磁性探頭傳感器。
背景技術(shù)：
奧氏體是鐵的一種相，另一種常見(jiàn)相是馬氏體。殘余奧氏體是指發(fā)生馬氏體轉(zhuǎn)變后，還有少量未發(fā)生轉(zhuǎn)變的奧氏體。或者說(shuō)，殘余奧氏體是淬火未能轉(zhuǎn)變成馬氏體而保留到室溫的奧氏體；殘余奧氏體對(duì)材料的機(jī)械性能、物理性能、工藝性能都有重要的影響。適量的殘余奧氏體可提高韌性，抗接觸疲勞及低溫韌性，減少組織應(yīng)力和淬火變形。但過(guò)量的殘余奧氏體會(huì)降低硬度、耐磨性。特別對(duì)一些尺寸、穩(wěn)定性要求甚高的零件，量具和軸承，殘余奧氏體的存在會(huì)影響精度和壽命。因此檢測(cè)殘余奧氏體含量對(duì)保證鐵工件質(zhì)量具有極為重要的意義。然而傳統(tǒng)意義上的殘余奧氏體的檢測(cè)存在檢測(cè)難度大，檢測(cè)周期長(zhǎng)以及檢測(cè)成本較高的缺點(diǎn)和測(cè)試方法不方便。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于提供一種四腳磁性探頭的殘余奧氏體含量檢測(cè)傳感器。其具有檢測(cè)難度低，縮短了檢測(cè)周期，從而延長(zhǎng)設(shè)備的實(shí)際使用壽命，大大降低了耗材成本，而且測(cè)試方法簡(jiǎn)便、同時(shí)保證了低成本優(yōu)勢(shì)的特點(diǎn)；本發(fā)明的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn):一種四腳磁性探頭的殘余奧氏體含量檢測(cè)傳感器，其特征在于:包括，用于殘余奧氏體含量檢測(cè)的四個(gè)磁性探腳，兩組繞在探腳上用來(lái)傳遞信號(hào)的繞線(xiàn)圈，以及帶有航空插頭接合部的圓基座，和一個(gè)用來(lái)引出繞線(xiàn)的圓通孔；兩組繞線(xiàn)圈分別為磁化線(xiàn)圈和檢測(cè)線(xiàn)圈，磁化線(xiàn)圈可以提供一個(gè)磁化信號(hào)磁場(chǎng)，檢測(cè)線(xiàn)圈會(huì)產(chǎn)生一個(gè)相應(yīng)的檢測(cè)信號(hào)磁場(chǎng)，通過(guò)兩個(gè)磁場(chǎng)信號(hào)的數(shù)據(jù)處理，可以測(cè)量鐵磁性材料殘余奧氏體含量。四個(gè)探腳均勻陣列在圓基座上，其中任意兩個(gè)相對(duì)稱(chēng)的探腳為一組，另外兩個(gè)探腳為另一組，同一組的兩個(gè)探腳用一根銅導(dǎo)線(xiàn)分別繞上相同匝數(shù)，四個(gè)探腳就對(duì)應(yīng)兩組繞線(xiàn)圈，其中一組作為磁化線(xiàn)圈，另一組作為檢測(cè)線(xiàn)圈。當(dāng)磁化線(xiàn)圈通入信號(hào)電流后，會(huì)產(chǎn)生交變磁化信號(hào)磁場(chǎng)，把探腳放置在被檢測(cè)的材料上，就能夠在檢測(cè)線(xiàn)圈上產(chǎn)生相應(yīng)的檢測(cè)信號(hào)磁場(chǎng)，繞上繞線(xiàn)圈的探腳生長(zhǎng)在圓基座上，圓基座后續(xù)部分帶有航空插頭接合部，航空插頭接合部外表面是螺紋結(jié)構(gòu)(螺絲結(jié)構(gòu))，也就是說(shuō)所述帶有航空插頭接合部的圓基座可以擰在標(biāo)準(zhǔn)的航空插頭(螺母結(jié)構(gòu))上，在圓基座中心處設(shè)計(jì)了一個(gè)小的圓通孔，用來(lái)引出繞線(xiàn)，進(jìn)而既可以輸入磁化信號(hào)，又可以輸出材料的檢測(cè)信號(hào)；本發(fā)明有益效果為，所述四腳磁性探頭的殘余奧氏體含量檢測(cè)傳感器利用鐵磁性材料中奧氏體與馬氏體磁特性的不同，實(shí)現(xiàn)了通過(guò)對(duì)檢測(cè)信號(hào)的表征分析，將鐵磁性材料中的殘余奧氏體含量檢測(cè)出來(lái)。這不僅降低了檢測(cè)的難度，縮短了檢測(cè)周期，從而延長(zhǎng)了設(shè)備的實(shí)際使用壽命；而且由于對(duì)材料沒(méi)有損傷而降低了耗材成本，成本較低。

下面根據(jù)附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明；附圖1是本發(fā)明的二維側(cè)視圖；附圖2是本發(fā)明的二維俯視圖；圖中:1、四腳磁性探頭的殘余奧氏體含量檢測(cè)傳感器；2、磁性探腳；3、繞線(xiàn)圈；4、圓基座；5、航空插頭接合部；6、螺紋結(jié)構(gòu)；7、圓通孔。
具體實(shí)施方式
請(qǐng)參照?qǐng)D1、2所示，圖1為本發(fā)明二維側(cè)視圖；圖2是本發(fā)明的二維俯視圖。所述四腳磁性探頭的殘余奧氏體含量檢測(cè)傳感器I包括磁性探腳2、繞線(xiàn)圈3、帶有航空插頭接合部的圓基座4、航空插頭接合部5、螺紋結(jié)構(gòu)6以及圓通孔7。其中繞線(xiàn)圈3繞在磁性探腳2上用于產(chǎn)生磁化信號(hào)和檢測(cè)信號(hào)；磁性探腳2生長(zhǎng)在圓基座4上，圓基座4后續(xù)部分帶有航空插頭接合部5，航空插頭接合部5外表面是螺紋結(jié)構(gòu)6，能夠擰在標(biāo)準(zhǔn)的航空插頭上；在圓基座4中心處設(shè)計(jì)了一個(gè)小的圓通孔7，可以將繞線(xiàn)圈3的繞線(xiàn)引出，也就可以將磁化信號(hào)導(dǎo)入，并將產(chǎn)生的檢測(cè)信號(hào)引出；所述四腳磁性探頭的殘余奧氏體含量檢測(cè)傳感器I利用鐵磁性材料殘余奧氏體與馬氏體之間的磁特性的不同，在繞線(xiàn)圈3中利用通入的信號(hào)電流產(chǎn)生磁化信號(hào)，將磁性探腳2與被測(cè)材料相接觸，對(duì)材料進(jìn)行磁化，再通過(guò)繞線(xiàn)圈3將材料中的殘余奧氏體檢測(cè)信號(hào)傳導(dǎo)出來(lái)，通過(guò)對(duì)檢測(cè)信號(hào)的表征分析，實(shí)現(xiàn)了鐵磁性材料中的奧氏體含量的無(wú)損、高效檢測(cè)；上述四腳磁性探頭的殘余奧氏體含量檢測(cè)傳感器實(shí)現(xiàn)了鐵磁性材料中的奧氏體含量的檢測(cè)，測(cè)量精度高，測(cè)試方法簡(jiǎn)便、靈活，能達(dá)到被測(cè)鐵磁性材料物體的任何部位，而且能夠進(jìn)行材料的無(wú)損測(cè)量，更可以對(duì)材料進(jìn)行分層測(cè)試。
權(quán)利要求1.一種四腳磁性探頭的殘余奧氏體含量檢測(cè)傳感器，其特征在于:包括， 用于殘余奧氏體含量檢測(cè)的四個(gè)磁性探腳，兩組繞在探腳上用來(lái)傳遞信號(hào)的繞線(xiàn)圈，以及帶有航空插頭接合部的圓基座，和一個(gè)用來(lái)引出繞線(xiàn)的圓通孔；兩組繞線(xiàn)圈分別為磁化線(xiàn)圈和檢測(cè)線(xiàn)圈，磁化線(xiàn)圈可以提供一個(gè)磁化信號(hào)磁場(chǎng)，檢測(cè)線(xiàn)圈會(huì)產(chǎn)生一個(gè)相應(yīng)的檢測(cè)信號(hào)磁場(chǎng)，通過(guò)兩個(gè)磁場(chǎng)信號(hào)的數(shù)據(jù)處理，可以測(cè)量鐵磁性材料殘余奧氏體含量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的四腳磁性探頭的殘余奧氏體含量檢測(cè)傳感器，其特征在于兩組繞線(xiàn)圈中，每一組都以相同的匝數(shù)繞在兩個(gè)相對(duì)稱(chēng)的探腳上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的四腳磁性探頭的殘余奧氏體含量檢測(cè)傳感器，其特征是在探腳繞線(xiàn)時(shí)，可以選擇: (1)、其中任意兩個(gè)相對(duì)稱(chēng)的探腳為一組，另外兩個(gè)探腳為一組來(lái)進(jìn)行繞線(xiàn)； (2)、僅使用四個(gè)探腳中的任意相對(duì)稱(chēng)的兩個(gè)，一個(gè)探腳為一組來(lái)進(jìn)行繞線(xiàn)。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)一種四腳磁性探頭的殘余奧氏體含量檢測(cè)傳感器，包括用于殘余奧氏體含量檢測(cè)的四個(gè)磁性探腳，兩組傳遞信號(hào)的繞線(xiàn)圈，以及帶有航空插頭接合部的圓基座，還有一個(gè)用來(lái)引出繞線(xiàn)的圓通孔。圓基座能夠擰在航空插頭上，圓通孔引出的線(xiàn)圈繞線(xiàn)上所帶有的磁化信號(hào)和檢測(cè)信號(hào)可以形成關(guān)系曲線(xiàn)，能夠反映鐵磁性材料的殘余奧氏體含量。上述四腳磁性探頭的殘余奧氏體含量檢測(cè)傳感器，實(shí)現(xiàn)了殘余奧氏體含量的檢測(cè)，測(cè)試精度高，測(cè)量難度低，檢測(cè)周期短，測(cè)試方法簡(jiǎn)便、靈活，能達(dá)到被測(cè)鐵磁性材料物體的任何部位，而且能夠進(jìn)行材料的無(wú)損測(cè)量，更可以對(duì)材料進(jìn)行分層測(cè)試。
文檔編號(hào)G01N27/72GK202939156SQ20122051655
公開(kāi)日2013年5月15日 申請(qǐng)日期2012年10月10日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月10日
發(fā)明者殷春浩 申請(qǐng)人:無(wú)錫強(qiáng)力環(huán)?？萍加邢薰?br>