專利名稱：一種測量精密緊固件p值的量規(guī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種檢測緊固件尺寸的量規(guī)，尤其一種檢測高端精密緊固件沉頭標(biāo)準(zhǔn)沉入深度P值的量規(guī)。
背景技術(shù)：
高端精密緊固件的沉頭螺栓、沉頭螺釘、沉頭鉚釘在各行各業(yè)運(yùn)用非常廣泛，隨著航天航空緊固件對(duì)沉頭埋入深度要求越來越嚴(yán)，要求測量標(biāo)準(zhǔn)沉入深度P值；我們設(shè)計(jì)了一種高效硬質(zhì)合金P值量規(guī)測量工裝，將標(biāo)準(zhǔn)中理想狀態(tài)D2尺 寸轉(zhuǎn)化成實(shí)際尺寸，非常便捷的用高度尺直接進(jìn)行測量P尺寸，從而獲得準(zhǔn)確的沉入深度尺寸P值；在使用中，沉頭與量規(guī)接觸不是一個(gè)面而是一個(gè)圓，是線接觸，這樣測量結(jié)果不受沉頭角度的影響，測量效率高、使用非常方便、測量的準(zhǔn)確度也較高，滿足生產(chǎn)現(xiàn)場和檢測要求。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的問題是提供一種測量精密緊固件P值的量規(guī)，能夠高效的對(duì)高端精密緊固件沉頭的埋入深度P值進(jìn)行精確測量。為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是一種測量精密緊固件P值的量規(guī)，包括量規(guī)套筒和硬質(zhì)合金鑲件，所述量規(guī)套筒的上端面開有一用于放入硬質(zhì)合金鑲件的空腔，其下端面開有一用于放入待測零件桿部的圓柱形通孔，空腔與圓柱形通孔貫通形成一內(nèi)平面；所述硬質(zhì)合金鑲件的上端面開有一用于放入待測零件沉頭的圓柱形通孔，其下端面開有一用于放入待測零件桿部的圓柱形通孔，兩個(gè)圓柱形通孔相貫通；所述硬質(zhì)合金鑲件上端面上的圓柱形通孔直徑尺寸為理想的D2標(biāo)準(zhǔn)尺寸；所述硬質(zhì)合金鑲件鑲嵌在量規(guī)套筒的空腔內(nèi)。進(jìn)一步的，所述量規(guī)套筒下端面上的圓柱形通孔中心軸線與硬質(zhì)合金鑲件下端面上的圓柱形通孔中心軸線共線，這樣可以使待測零件桿部順利通過。進(jìn)一步的，所述量規(guī)套筒的圓柱形通孔中心軸線與其上端面、內(nèi)平面、下端面垂直；所述量規(guī)套筒的上端面、內(nèi)平面、下端面要平整光滑。進(jìn)一步的，為使測量準(zhǔn)確，所述硬質(zhì)合金鑲件上端面上的圓柱形通孔中心軸線與其下端面上的圓柱形通孔中心軸線共線；所述硬質(zhì)合金鑲件上的圓柱形通孔中心軸線要與其上端面、下端面均垂直；所述硬質(zhì)合金鑲件的上端面與下端面要平整光滑。本實(shí)用新型具有的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是采用上述技術(shù)方案，測量準(zhǔn)確、簡單易行、效率高、不易磨損、成本低，具有很好的推廣價(jià)值。

圖I是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖圖2是量規(guī)套筒的結(jié)構(gòu)示意圖圖3是硬質(zhì)合金鑲件的結(jié)構(gòu)示意圖[0012]圖4是待測零件示意圖圖中I、量規(guī)套筒2、硬質(zhì)合金鑲件 3、待測零件11、圓柱形通孔 12、空腔13、內(nèi)平面21、圓柱形通孔 22、圓柱形通孔 23、圓形棱線31、待測零件錐面 32、待測件桿部具體實(shí)施方式
如圖I所示，本實(shí)用新型是一種測量精密緊固件P值的量規(guī)，包括量規(guī)套筒I和硬質(zhì)合金鑲件2 ;如圖2所示，量規(guī)套筒I的上端面開有一用于放入硬質(zhì)合金鑲件2的空腔12，其下端面開有一用于放入待測零件桿部32的圓柱形通孔11，空腔12與圓柱形通孔11貫通形成以內(nèi)平面13 ;如圖3所示，所述硬質(zhì)合金鑲件2的上端面開有一用于放入待測零件沉頭的圓柱形通孔22，其下端面開有一用于放入待測零件桿部32的圓柱形通孔21，兩個(gè)圓柱形通孔相貫通；硬質(zhì)合金鑲件2上端面上的圓柱形通孔22直徑尺寸為理想的D2標(biāo)準(zhǔn)尺寸，保證了所測P值的精確性；所述硬質(zhì)合金鑲件2鑲嵌在量規(guī)套筒I的空腔12內(nèi)。量規(guī)套筒I下端面上的圓柱形通孔11中心軸線與硬質(zhì)合金鑲件2下端面上的圓柱形通孔21中心軸線共線，這樣可以使待測零件桿部32從硬質(zhì)合金件2的圓柱形通孔21到量規(guī)套筒I的圓柱形通孔11順利的穿過。為使測量更加準(zhǔn)確，如圖2、圖3所示，量規(guī)套筒I的圓柱形通孔11中心軸線與其上端面、內(nèi)平面13、下端面垂直，其上端面、內(nèi)平面13、下端面要平整光滑；硬質(zhì)合金鑲件2上端面上的圓柱形通孔22中心軸線與其下端面上的圓柱形通孔21中心軸線共線，且此圓柱形通孔中心軸線要與其上端面、下端面均垂直，硬質(zhì)合金鑲件2的上端面與下端面要平整光滑，這樣保證了量規(guī)套筒與硬質(zhì)合金鑲件結(jié)合面與待測零件中心軸線的垂直度要求，同時(shí)保證了硬質(zhì)合金鑲件2的上端面與其通孔相貫通部分是標(biāo)準(zhǔn)的圓形棱線23，使待測零件錐面31與硬質(zhì)合金鑲件2的接觸時(shí)為線接觸；當(dāng)圓形棱線23磨損后，將硬質(zhì)合金鑲件2的上端面進(jìn)行平面磨平返修，保證硬質(zhì)合金鑲件2與待測零件錐面31的接觸始終是圓形棱線23接觸，量規(guī)就可以繼續(xù)使用了，這樣既保證了尺寸的測量精度，又節(jié)約了成本。本實(shí)用新型是先將量規(guī)套筒I找平放置，然后將硬質(zhì)合金鑲件2放入量規(guī)套筒I的空腔12內(nèi)，最后將待測零件桿部32由硬質(zhì)合金鑲件2的圓柱形通孔22、圓柱形通孔21向下依次安放，進(jìn)一步通過量規(guī)套筒I的圓柱形通孔11，直到待測零件錐面31與圓形棱線23接觸，此時(shí)，待測零件3放入待測位置完畢，以硬質(zhì)合金鑲件2的上端面為基準(zhǔn)面可以對(duì)沉頭埋入深度P值進(jìn)行測量驗(yàn)證了。以上對(duì)本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例進(jìn)行了詳細(xì)說明，但所述內(nèi)容僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，不能被認(rèn)為用于限定本實(shí)用新型的實(shí)施范圍。凡依本實(shí)用新型申請(qǐng)范圍所作的均等變化與改進(jìn)等，均應(yīng)仍歸屬于本實(shí)用新型的專利涵蓋范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種測量精密緊固件P值的量規(guī)，其特征在于包括量規(guī)套筒和硬質(zhì)合金鑲件，所述量規(guī)套筒的上端面開有一用于放入硬質(zhì)合金鑲件的空腔，其下端面開有一用于放入待測零件桿部的圓柱形通孔，空腔與圓柱形通孔貫通形成一內(nèi)平面；所述的硬質(zhì)合金鑲件的上端面開有一用于放入待測零件沉頭的圓柱形通孔，其下端面開有一用于放入待測零件桿部的圓柱形通孔，兩個(gè)圓柱形通孔相貫通；所述硬質(zhì)合金鑲件上端面上的圓柱形通孔直徑尺寸為理想的D2標(biāo)準(zhǔn)尺寸；所述硬質(zhì)合金鑲件鑲嵌在量規(guī)套筒的空腔內(nèi)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的測量精密緊固件P值的量規(guī)，其特征在于所述量規(guī)套筒下端面上的圓柱形通孔中心軸線與硬質(zhì)合金鑲件下端面上的圓柱形通孔中心軸線共線。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的測量精密緊固件P值的量規(guī)，其特征在于所述量規(guī)套筒的圓柱形通孔中心軸線與其上端面、內(nèi)平面、下端面垂直；所述量規(guī)套筒的上端面、內(nèi)平面、下端面要平整光滑。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的測量精密緊固件P值的量規(guī)，其特征在于所述硬質(zhì)合金鑲件上端面上的圓柱形通孔中心軸線與其下端面上的圓柱形通孔中心軸線共線；所述硬質(zhì)合金鑲件上的圓柱形通孔中心軸線要與其上端面、下端面均垂直；所述硬質(zhì)合金鑲件的上端面與下端面要平整光滑。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種測量精密緊固件P值的量規(guī)，包括量規(guī)套筒和硬質(zhì)合金鑲件，所述量規(guī)套筒上端面開有一用于放入硬質(zhì)合金鑲件的空腔，其下端面開有一用于放入待測零件桿部的圓柱形通孔，空腔與圓柱形通孔貫通；所述硬質(zhì)合金鑲件上端面開有一用于放入待測零件沉頭的圓柱形通孔，其下端面開有一用于放入待測零件桿部的圓柱形通孔，兩個(gè)圓柱形通孔相貫通；所述硬質(zhì)合金鑲件鑲嵌在量規(guī)套筒的空腔內(nèi)。本實(shí)用新型具有的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是采用上述技術(shù)方案，測量準(zhǔn)確、簡單易行、效率高、不易磨損、成本低，具有很好的推廣價(jià)值。
文檔編號(hào)G01B5/18GK202582451SQ20122023675
公開日2012年12月5日 申請(qǐng)日期2012年5月23日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月23日
發(fā)明者陳慧萍, 馬玲, 張曉斌, 陳娟, 徐昊 申請(qǐng)人:航天精工有限公司