專利名稱：一種柔性電路板組件測試裝置及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及測試裝置，更具體地說，涉及一種柔性電路板組件測試裝置及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
Iphone極具創(chuàng)意的界面設(shè)計(jì)預(yù)示多點(diǎn)電容式觸摸屏技術(shù)將成為今后幾年消費(fèi)電子技術(shù)中的一大亮點(diǎn)，也因此，電容觸摸屏(簡稱CTP)作為人機(jī)界面的一個(gè)輸入部件，因具有多種手勢識別而深受人們的青睞。由于CTP工藝的不成熟性和直通率低，一直困擾著此制造業(yè)。其中作為CTP —個(gè)關(guān)鍵部件的FPCA (柔性電路板組件，F(xiàn)PC+Assembly，柔性線路板空板經(jīng)過SMT表面貼片元件上件裝焊的整個(gè)制程完成后的部件)的良率控制也相當(dāng)重要，CTP的特點(diǎn)又是SMT貼合加工后，難返修或返修成本極高，所以需要確保各部件在貼合前合格。 現(xiàn)有的FPC(柔性線路板)在與sensor(此處專指電容屏的IT0(Indium TinOxide，鈷錫氧化物材料)傳感器或稱功能片，有ITO Glass/ITO Film之分)綁定前，無法有效的檢測，給生產(chǎn)制造帶來困難，又加之FPC廠及SMT (貼片加工廠)特別是打樣階段，均不能對柔性電路板組件進(jìn)行功能、性能的檢測。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題在于，針對現(xiàn)有技術(shù)對FPC在與傳感器綁定前不能進(jìn)行有效的檢測的缺陷，提供一種柔性電路板組件測試裝置。本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是構(gòu)造一種柔性電路板組件測試裝置，包括一種柔性電路板組件測試裝置，用于測試柔性電路板組件，所述柔性電路板組件包括驅(qū)動芯片，該測試裝置包括微處理器、用于為所述柔性電路板組件的驅(qū)動和感應(yīng)通道提供模擬傳感器的負(fù)載模擬接口、用于與所述柔性電路板組件的驅(qū)動芯片連接的測試接口、用于與PC機(jī)通信的USB接口，所述負(fù)載模擬接口、測試接口、USB接口分別與所述微處理器連接。在本實(shí)用新型所述的柔性電路板組件測試裝置中，所述測試裝置還包括與所述微處理器分別連接的按鍵單元、指示單元。在本實(shí)用新型所述的柔性電路板組件測試裝置中，所述測試裝置還包括與所述微處理器連接的用于存儲測試程序及測試結(jié)果的存儲器。在本實(shí)用新型所述的柔性電路板組件測試裝置中，所述測試裝置還包括電源模塊，所述電源模塊為所述測試裝置的各單元提供電源。在本實(shí)用新型所述的柔性電路板組件測試裝置中，所述測試接口是I2C接口和/或SPI接口。在本實(shí)用新型所述的柔性電路板組件測試裝置中，所述指示單元由LED燈組成，用于指示測試結(jié)果。[0011]在本實(shí)用新型所述的柔性電路板組件測試裝置中，所述存儲器是E2PROM存儲器。本實(shí)用新型還提供一種柔性電路板組件測試系統(tǒng)，包括上述的柔性電路板組件測試裝置，及與上述所述測試裝置分別連接的柔性電路板組件、電源適配器、PC機(jī)。實(shí)施本實(shí)用新型的柔性電路板組件測試裝置及系統(tǒng)，具有以下有益效果通過負(fù)載模擬接口為柔性電路板組件的驅(qū)動通道和感應(yīng)通道提供模擬電容矩陣，檢測各驅(qū)動通道和感應(yīng)通道的好壞和和元器件SMT焊接、FPC電路的好壞；通過測試接口與柔性電路板組件的驅(qū)動芯片連接，該測試接口兼容I2C接口和SPI接口，能適應(yīng)不同的柔性電路板組件的測試。

下面將結(jié)合附圖及實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明，附圖中圖I是本實(shí)用新型柔性電路板組件測試裝置的結(jié)構(gòu)框圖；圖2是本實(shí)用新型柔性電路板組件測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；圖3是本實(shí)用新型柔性電路板組件測試系統(tǒng)的具體框圖；圖4是本實(shí)用新型柔性電路板組件測試系統(tǒng)的柔性電路板組件結(jié)構(gòu)圖；圖5是本實(shí)用新型柔性電路板組件的測試方法流程圖。
具體實(shí)施方式
為了使本實(shí)用新型的目的更加清楚明白，
以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。如圖I所示，在本實(shí)用新型的柔性電路板組件測試裝置的結(jié)構(gòu)框圖中，用于測試一柔性電路板組件，柔性電路板組件包括一驅(qū)動芯片，該測試裝置包括微處理器10、用于為柔性電路板組件的驅(qū)動通道和感應(yīng)通道提供模擬IT0SENS0R傳感器(點(diǎn)電容式觸摸屏模組)的負(fù)載模擬接口 11、用于與柔性電路板組件的驅(qū)動芯片連接的測試接口 12、用于與PC機(jī)通信的USB接口 13，負(fù)載模擬接口 11、測試接口 12、USB接口 13分別與微處理器10連接。該柔性電路板組件測試裝置還包括與微處理器10分別連接的按鍵單元14、指示單元15、存儲單元16、電源模塊17。存儲單元16用于存儲測試程序及測試結(jié)果，該存儲單元是E2PROM存儲器。電源模塊17為測試裝置的各單元提供電源。測試接口 12是I2C接口和/或SPI接口。柔性電路板組件的驅(qū)動芯片通常接口為I2C接口或SPI接口，所以在本測試裝置上，對測試接口 12采用I2C接口、SPI接口兼容性設(shè)計(jì)。為適應(yīng)柔性電路板組件引出腳有采用不同連接器或直接出PIN(引腳)之要求，測試接口可對不同的被測件柔性電路板組件之接口結(jié)構(gòu)不同，設(shè)計(jì)不同的適配器接口。通常接口信號為VDD、SCL、SDA、INT、RESET、GND 或 VDD、MOSI、MISO、SCLK、/SS、GND 六條引腳。負(fù)載模擬接口 11則為柔性電路板組件的驅(qū)動和感應(yīng)通道提供模擬IT0SENS0R傳感器的負(fù)載矩陣，用于檢測柔性電路板組件的SMT貼片好壞及電路工作情況。負(fù)載模擬接口 11與柔性電路板組件電氣連接采用測試探針治具設(shè)計(jì)，既快捷方便、也可靠耐用，而且具有很好的柔性、適應(yīng)性強(qiáng)。由于電容屏尺寸大小的不同，選配不同的驅(qū)動芯片和ITOSENSOR傳感器(點(diǎn)電容式觸摸屏模組)，其通道數(shù)也不同，接口由于各產(chǎn)品設(shè)計(jì)的差異，既有使用不同PIN腳金手指連接的，也有采用不同規(guī)格的FPC連接器的。指示單元15由LED燈組成，用于指示測試結(jié)果。USB接口用于將測試裝置與PC機(jī)通訊，進(jìn)行測試參數(shù)設(shè)置、軟件下載及檢測數(shù)據(jù)通訊，可將測試結(jié)果傳送到PC機(jī)界面顯示，可直觀了解柔性電路板組件的測試結(jié)果，并判斷其好壞及故障原因分析。在通過USB接口與PC機(jī)連接設(shè)置好相關(guān)測試參數(shù)時(shí)，可斷開測試裝置與PC機(jī)的連接，即脫機(jī)檢測，通過LED燈指示測試結(jié)果，合格或者不合格。在本實(shí)施例中，微處理器10采用Cortex_M0，32位ARM芯片，具有I2C、SPI、USB多接口及JATG調(diào)試接口?？沙浞掷迷撔酒膬?nèi)部資源，實(shí)現(xiàn)對柔性電路板組件的測試應(yīng)用。針對柔性電路板組件上采用不同的驅(qū)動芯片，僅需要修改不同的接口協(xié)議參數(shù)，即可滿足不同驅(qū)動芯片的需要，實(shí)現(xiàn)更廣的柔性應(yīng)用。 如圖2所示，在本實(shí)用新型的柔性電路板組件測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖中，包括柔性電路板組件測試裝置100，及與柔性電路板組件測試裝置100分別連接的柔性電路板組件200、電源適配器300、PC機(jī)400。測試系統(tǒng)中的柔性電路板組件測試裝置100與被測物柔性電路板組件200連接；測試系統(tǒng)通過電源適配器300連接外部電源，為測試系統(tǒng)提供工作所需的電源；測試系統(tǒng)與PC機(jī)400連接，進(jìn)行測試參數(shù)設(shè)置、軟件下載及檢測數(shù)據(jù)通訊，可將測試結(jié)果傳送到PC機(jī)界面顯示，可直觀了解柔性電路板組件的測試結(jié)果，并判斷其好壞及故障原因分析。如圖3所示，在本實(shí)用新型本實(shí)用新型柔性電路板組件測試系統(tǒng)的具體框圖中，包括柔性電路板組件測試裝置100，及與柔性電路板組件測試裝置100分別連接的柔性電路板組件200、電源適配器300、PC機(jī)400。柔性電路板組件測試裝置100的具體結(jié)構(gòu)如對圖I的描述，在此不再累贅。負(fù)載模擬接口 11與被測物柔性電路板組件200連接，為柔性電路板組件的驅(qū)動和感應(yīng)通道提供模擬傳感器的負(fù)載矩陣，用于檢測柔性電路板組件的SMT貼片好壞及電路工作情況；負(fù)載模擬接口 11與柔性電路板組件電氣連接可采用測試探針治具設(shè)計(jì)，既快捷方便、也可靠耐用，而且具有很好的柔性、適應(yīng)性強(qiáng)。由于電容屏尺寸大小的不同，選配不同的驅(qū)動芯片和傳感器(點(diǎn)電容式觸摸屏模組)，其通道數(shù)也不同，接口由于各產(chǎn)品設(shè)計(jì)的差異，既有使用不同PIN腳金手指連接的，也有采用不同規(guī)格的FPC連接器的。測試接口 12與被測物柔性電路板組件200連接，測試接口 12是I2C接口和/或SPI接口。柔性電路板組件的驅(qū)動芯片通常接口為I2C接口或SPI接口，所以在本測試系統(tǒng)上，對測試接口 12采用I2C接口、SPI接口兼容性設(shè)計(jì)。為適應(yīng)柔性電路板組件引出腳有采用不同連接器或直接出PIN (引腳)之要求，測試接口可對不同的被測件柔性電路板組件之接口結(jié)構(gòu)不同，設(shè)計(jì)不同的適配器接口。通常接口信號為VDD、SCL、SDA、INT、RESET、GND或VDD、M0SI、MIS0、SCLK、/SS、GND 六條引腳。如圖4所示，是本實(shí)用新型柔性電路板組件測試系統(tǒng)的柔性電路板組件200結(jié)構(gòu)圖，包括驅(qū)動芯片及外圍元件201，及與驅(qū)動芯片及外圍元件201分別連接的驅(qū)動通道202、感應(yīng)通道203、接口模塊204。柔性電路板組件200通過驅(qū)動通道202及感應(yīng)通道203與柔性電路板組件測試裝置100的負(fù)載模擬接口 11連接，接收柔性電路板組件測試裝置提供的模擬ITO SENSOR傳感器(點(diǎn)電容式觸摸屏模組)的負(fù)載矩陣，用于檢測柔性電路板組件的SMT貼片好壞及電路工作情況。柔性電路板組件200通過接口模塊204與柔性電路板組件測試裝置100的測試接口 12連接。如圖5所示，在本實(shí)用新型柔性電路板組件的測試方法流程圖中，使用如圖3所示的柔性電路板組件測試系統(tǒng)，具體步驟如下SI、對柔性電路板組件測試系統(tǒng)上電初始化；S2、柔性電路板組件測試系統(tǒng)自檢；S3、對柔性電路板組件測試系統(tǒng)配置設(shè)置參數(shù)；S4、對被測件柔性電路板組件加電；S5、通過按鍵單元啟動測試；S6、柔性電路板組件測試系統(tǒng)的微處理器判斷測試結(jié)果；S7、柔性電路板組件測試系統(tǒng)輸出測試結(jié)果。在具體實(shí)施過程中，測試結(jié)果可通過PC機(jī)顯示，也可以通過柔性電路板組件測試系統(tǒng)的指示單元顯示，通過指示單元的LED燈指示測試結(jié)果,如紅光LED燈表示測試合格，綠光LED表不測試不合格。測試完一個(gè)柔性電路板組件后，在步驟S4中更換被測件柔性電路板組件，并對新?lián)Q上的被測件柔性電路板組件加電，再執(zhí)行以后步驟。以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種柔性電路板組件測試裝置，用于測試柔性電路板組件，所述柔性電路板組件包括一驅(qū)動芯片，其特征在于，該測試裝置包括微處理器(10)、用于為所述柔性電路板組件的驅(qū)動和感應(yīng)通道提供模擬傳感器的負(fù)載模擬接口(11)、用于與所述柔性電路板組件的驅(qū)動芯片連接的測試接口(12)、用于與PC機(jī)通信的USB接口(13)，所述負(fù)載模擬接口(11)、測試接口(12)、USB接口(13)分別與所述微處理器(10)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的柔性電路板組件測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括與所述微處理器(10)分別連接的按鍵單元(14)、指示單元(15)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的柔性電路板組件測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括與所述微處理器(10)連接的用于存儲測試程序及測試結(jié)果的存儲器(16)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的柔性電路板組件測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括電源模塊(17)，所述電源模塊(17)為所述測試裝置的各單元提供電源。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的柔性電路板組件測試裝置，其特征在于，所述測試接口(12)是I2C接口和/或SPI接口。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的柔性電路板組件測試裝置，其特征在于，所述指示單元(15)由LED燈組成，用于指示測試結(jié)果。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的柔性電路板組件測試裝置，其特征在于，所述存儲器(16)是E2PROM存儲器。
8.—種柔性電路板組件測試系統(tǒng)，其特征在于，包括如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的柔性電路板組件測試裝置，及與所述測試裝置分別連接的柔性電路板組件、電源適配器、PC機(jī)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及柔性電路板組件測試裝置，用于測試柔性電路板組件，柔性電路板組件包括驅(qū)動芯片，該測試裝置包括微處理器、用于為柔性電路板組件的驅(qū)動和感應(yīng)通道提供模擬傳感器的負(fù)載模擬接口、用于與柔性電路板組件的驅(qū)動芯片連接的測試接口、用于與PC機(jī)通信的USB接口，負(fù)載模擬接口、測試接口、USB接口分別與微處理器連接。本實(shí)用新型還涉及柔性電路板組件測試系統(tǒng)。本實(shí)用新型的柔性電路板組件測試裝置，通過負(fù)載模擬接口為柔性電路板組件的驅(qū)動和感應(yīng)通道提供模擬電容矩陣，檢測各驅(qū)動通道和感應(yīng)通道的好壞和元器件SMT焊接、FPC電路的好壞，該測試接口兼容I2C接口和SPI接口，能適應(yīng)不同的柔性電路板組件的測試。
文檔編號G01R31/28GK202600083SQ20122018662
公開日2012年12月12日 申請日期2012年4月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月27日
發(fā)明者鄒超 申請人:深圳市瑞思科科技有限公司