測試裝置以及電子裝置的測試方法
【專利摘要】一種測試裝置及電子裝置的測試方法。所述測試裝置包括至少二個裝置轉(zhuǎn)板以及測試電路。裝置轉(zhuǎn)板分別電性連接于對應(yīng)的電子裝置以及對應(yīng)電子裝置的至少二個插槽。測試電路通過至少二組串行信號線對分別電性連接裝置轉(zhuǎn)板，其中測試電路依據(jù)電子裝置的類型而經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對提供串行信號給裝置轉(zhuǎn)板其中之一，并通過對應(yīng)的串行信號線對回傳裝置轉(zhuǎn)板其中的另一的反應(yīng)，藉以測試所述其中的一裝置轉(zhuǎn)板與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路。
【專利說明】測試裝置以及電子裝置的測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試裝置及電子裝置的測試方法，特別是涉及一種測試電子裝置之間的總線是否有斷路形成的測試裝置及電子裝置的測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]由于中央處理器(Central Processing Unit, CPU)的效能隨著技術(shù)與制程的演進而日漸提升，使得CPU可支持的電子裝置種類亦變得越來越復(fù)雜。為了確保CPU與不同類型的電子裝置之間的總線得以正常的傳輸數(shù)據(jù)，因此一般都會利用測試裝置來測試CPU和其他電子裝置之間的信號傳輸。
[0003]在利用傳統(tǒng)的測試裝置進行測試時，操作者必需將待測電子裝置的總線中的每一腳位分別以線路接出至測試夾具(治具)，并且通過測試程序控制測試夾具輸出測試信號的方式來測試總線中各個傳輸通道是否有斷路的情形發(fā)生。然而，在待測的總線腳位數(shù)量較多時，測試的進行將會變得復(fù)雜并且易于發(fā)生錯誤。舉例來說，以測試一般CPU之間的四元周邊接口(QuadPeripheral Interface,QPI)總線為例,其雙向的傳輸腳位即多達84根,操作者必需依序?qū)?4根傳輸腳位依序接出至測試夾具，此一過程即非常容易發(fā)生錯誤。
[0004]此外，在傳統(tǒng)的測試裝置中，測試夾具通常是利用燈號顯示對應(yīng)的傳輸通道是否導(dǎo)通，因此操作者必須通過查閱對應(yīng)的數(shù)據(jù)才能夠正確地判讀總線的測試結(jié)果，因此亦可能會有人為的疏忽產(chǎn)生，而使得測試結(jié)果有所誤差。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明提供一種測試裝置及電子裝置的測試方法，其可通過由兩條信號線所組成的串行信號線對提供串行信號來對電子裝置進行測試。
[0006]本發(fā)明提出一種測試裝置，其適于測試電路板上至少二個電子裝置間的總線，其中電路板包括至少二個插槽，且所述至少二電子裝置適于分別電性連接至電路板上的對應(yīng)的插槽。所述測試裝置包括至少二個裝置轉(zhuǎn)板以及測試電路。裝置轉(zhuǎn)板分別電性連接于對應(yīng)的電子裝置以及對應(yīng)電子裝置的插槽。測試電路通過至少二組串行信號線對分別電性連接裝置轉(zhuǎn)板，其中測試電路依據(jù)電子裝置的類型而經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對提供串行信號給裝置轉(zhuǎn)板其中之一，并通過對應(yīng)的串行信號線對回傳裝置轉(zhuǎn)板其中的另一的反應(yīng)，藉以測試所述其中的一裝置轉(zhuǎn)板與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路。
[0007]在本發(fā)明一實施例中，電子裝置包括至少二第一電子裝置，所述至少二第一電子裝置間藉由對應(yīng)的第一總線相互傳遞信號，并且第一總線具有多個傳輸通道，其中測試電路提供串行信號至裝置轉(zhuǎn)板其中之一，以使裝置轉(zhuǎn)板其中的另一反應(yīng)于對應(yīng)的第一總線的信號傳遞狀態(tài)而經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對輸出測試結(jié)果信號至測試電路，測試電路依據(jù)測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的第一總線中的每一傳輸通道是否有斷路。
[0008]在本發(fā)明一實施例中，測試電路更依據(jù)測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的第一總線中的相鄰傳輸通道是否有短路。
[0009]在本發(fā)明一實施例中，所述電子裝置包括第一電子裝置以及至少一個第二電子裝置，第一電子裝置與第二電子裝置藉由對應(yīng)的第二總線相互傳遞信號，并且第二總線具有多個傳輸通道，其中測試電路提供串行信號至對應(yīng)于第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板，以使對應(yīng)于第二電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板反應(yīng)于對應(yīng)的第二總線間的信號傳遞狀態(tài)而分別經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對輸出測試結(jié)果信號至測試電路，測試電路依據(jù)測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的第二總線中的每一傳輸通道是否有斷路。
[0010]在本發(fā)明一實施例中，電子裝置包括第一電子裝置以及至少一個第三電子裝置，第一電子裝置與第三電子裝置藉由對應(yīng)的第三總線相互傳遞信號，并且第三總線具有多個傳輸通道，其中測試電路提供串行信號至對應(yīng)于第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板，以使對應(yīng)于第三電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板反應(yīng)于對應(yīng)的第三總線間的信號傳遞狀態(tài)而分別經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對輸出測試結(jié)果信號至測試電路，測試電路依據(jù)測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的第三總線中的每一傳輸通道是否有斷路。
[0011]在本發(fā)明一實施例中，測試電路包括多個第一串行連接器、處理單元以及顯示模塊。處理單元電性連接所述多個第一串行連接器，用以依據(jù)電子裝置的類型而產(chǎn)生串行信號，據(jù)以控制所述裝置轉(zhuǎn)板的信號傳遞與接收。顯示模塊電性連接處理單元，用以顯示電子裝置的測試結(jié)果。
[0012]在本發(fā)明一實施例中，各個裝置轉(zhuǎn)板具有識別碼，處理單元讀取所述多個識別碼以判斷待測的電子裝置的類型與測試順序，并且據(jù)以提供對應(yīng)的串行信號與決定測試順序。
[0013]在本發(fā)明一實施例中，各個裝置轉(zhuǎn)板包括第二串行連接器、第一控制模塊、傳送模塊以及接收模塊。所述裝置轉(zhuǎn)板的第二串行連接器分別經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對電性連接至對應(yīng)的第一串行連接器。第一控制模塊電性連接第二串行連接器以接收串行信號。傳送模塊電性連接第一控制模塊，受控于第一控制模塊而提供測試信號，以使對應(yīng)的電子裝置藉由對應(yīng)的總線傳遞測試信號。接收模塊電性連接第一控制模塊，接收對應(yīng)的總線所傳遞的測試信號，并且回傳至第一控制模塊，以使第一控制模塊據(jù)以產(chǎn)生測試結(jié)果信號。
[0014]在本發(fā)明一實施例中，測試信號為脈沖信號，并且第一控制模塊依據(jù)串行信號而設(shè)定測試信號的頻率與脈沖數(shù)量。
[0015]在本發(fā)明一實施例中，接收模塊計數(shù)所接收到的測試信號的脈沖數(shù)量，并且將計數(shù)的結(jié)果回傳至第一控制模塊，第一控制模塊比對對應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板所提供的測試信號的脈沖數(shù)量與計數(shù)的結(jié)果，并據(jù)以產(chǎn)生測試結(jié)果信號。
[0016]在本發(fā)明一實施例中，測試電路還包括協(xié)議分析模塊。協(xié)議分析模塊電性連接所述多個第一串行連接器與處理單元，用以分析對應(yīng)的總線所輸出及接收的信號，并且將分析結(jié)果回傳至處理單元。
[0017]在本發(fā)明一實施例中，各個裝置轉(zhuǎn)板還包括第二控制模塊。第二控制模塊電性連接傳送模塊、接收模塊以及第二串行連接器，用以擷取對應(yīng)的總線所輸出及接收的信號，并且經(jīng)由第二串行連接器傳遞至協(xié)議分析模塊。
[0018]本發(fā)明提出一種電子裝置的測試方法，其適于測試電路板上至少二個電子裝置間的總線，其中電路板包括至少二個插槽，所述至少二電子裝置適于分別電性連接至電路板上的對應(yīng)的插槽，所述測試方法包括:將至少二個裝置轉(zhuǎn)板分別電性連接于對應(yīng)的電子裝置以及對應(yīng)電子裝置的插槽；將裝置轉(zhuǎn)板分別與與至少二組串行信號線對相互電性連接；以及依據(jù)所述至少二電子裝置的類型，經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對提供串行信號給裝置轉(zhuǎn)板其中之一，并通過對應(yīng)的串行信號線對回傳裝置轉(zhuǎn)板其中的另一的反應(yīng)，藉以測試所述其中之一與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路。
[0019]在本發(fā)明一實施例中，電子裝置包括至少二個第一電子裝置，所述至少二個第一電子裝置藉由對應(yīng)的第一總線相互傳遞信號，并且第一總線具有多個傳輸通道，其中測試所述其中之一與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路的步驟包括:提供串行信號至所述其中的一裝置轉(zhuǎn)板；經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對從所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板接收測試結(jié)果信號，其中測試結(jié)果信號關(guān)聯(lián)于對應(yīng)的第一總線的信號傳遞狀態(tài)；以及依據(jù)測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的第一總線中的每一傳輸通道是否有斷路。
[0020]在本發(fā)明一實施例中，測試所述其中之一與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路的步驟還包括:依據(jù)測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的第一總線中的相鄰傳輸通道是否有短路。
[0021]在本發(fā)明一實施例中，電子裝置包括第一電子裝置以及至少一個第二電子裝置，第一電子裝置與第二電子裝置藉由對應(yīng)的第二總線相互傳遞信號，并且第二總線具有多個傳輸通道，其中測試所述其中之一與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路的步驟包括:提供串行信號至對應(yīng)于第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板；經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對從對應(yīng)于第二電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板接收測試結(jié)果信號，其中測試結(jié)果信號關(guān)聯(lián)于對應(yīng)的第二總線的信號傳遞狀態(tài)；以及依據(jù)測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的第二總線中的每一傳輸通道是否有斷路。
[0022]在本發(fā)明一實施例中，電子裝置包括第一電子裝置以及至少一個第三電子裝置，第一電子裝置與第三電子裝置分別藉由對應(yīng)的第三總線相互傳遞信號，并且第三總線具有多個傳輸通道，其中測試所述其中之一與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路的步驟包括:提供串行信號至對應(yīng)于第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板；經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對從對應(yīng)于第三電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板接收測試結(jié)果信號，其中測試結(jié)果信號關(guān)聯(lián)于對應(yīng)的第三總線的信號傳遞狀態(tài)；以及依據(jù)測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的第三總線中的每一傳輸通道是否有斷路。
[0023]在本發(fā)明一實施例中，電子裝置的測試方法還包括:在各這些裝置轉(zhuǎn)板上設(shè)定一識別碼。
[0024]在本發(fā)明一實施例中，在提供串行信號的步驟之前，測試方法還包括:讀取所述多個識別碼以判斷待測的電子裝置的類型與測試順序。
[0025]在本發(fā)明一實施例中，測試所述其中之一與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路的步驟包括:依據(jù)串行信號提供測試信號，其中測試信號在所述其中之一與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的總線傳遞；以及依據(jù)測試信號在總線的信號傳遞狀態(tài)產(chǎn)生測試結(jié)果信號。
[0026]在本發(fā)明一實施例中，測試信號為脈沖信號，依據(jù)測試信號在總線間的信號傳遞狀態(tài)產(chǎn)生測試結(jié)果信號的步驟包括:計數(shù)所接收到的測試信號的脈沖數(shù)量；以及比對對應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板所提供的測試信號的脈沖數(shù)量與計數(shù)的結(jié)果，并據(jù)以產(chǎn)生測試結(jié)果信號。[0027]在本發(fā)明一實施例中，電子裝置的測試方法還包括:擷取對應(yīng)的總線所輸出及接收的信號；分析所擷取的信號；以及回傳分析的結(jié)果。
[0028]基于上述，本發(fā)明實施例提出一種測試裝置及電子裝置的測試方法，所述的測試裝置可通過串行信號線對提供串行信號來測試待測的電子裝置之間的總線是否有斷路形成。由于不需要分別將對應(yīng)的線路連接至總線中每一傳輸通道，因此簡化了整體測試的架構(gòu)，進而使得測試的正確率得以有效地提升。
[0029]為使本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并結(jié)合附圖詳細說明如下。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0030]圖1為本發(fā)明一實施例的測試裝置的示意圖。
[0031]圖2為本發(fā)明一實施例的電子裝置的測試方法的步驟流程圖。
[0032]圖3為本發(fā)明另一實施例的測試裝置的示意圖。
[0033]圖4為本發(fā)明一實施例的測試CPU之間的總線傳輸?shù)牟襟E流程圖。
[0034]圖5A~5C為本發(fā)明不同實施例的測試CPU之間的總線傳輸?shù)氖疽鈭D。
[0035]圖6A為本發(fā)明一實施例的測試CPU與DI麗之間的總線傳輸?shù)牟襟E流程圖。
[0036]圖6B為本發(fā)明一實施例的分析DI麗的DRAM總線協(xié)議的步驟流程圖。
[0037]圖7為本發(fā)明一實施例的測試CPU與DIMM之間的總線傳輸?shù)牟灰鈭D。
[0038]圖8為本發(fā)明一實施例的測試CPU與PC1-E裝置之間的總線傳輸?shù)牟襟E流程圖。
[0039]圖9為本發(fā)明一實施例的測試CPU與PC1-E裝置之間的總線傳輸?shù)氖疽鈭D。
[0040]附圖符號說明
[0041]10_1 ~10_n、CPU、CPUl~CPU4、DIMMl~DlMMruPC1-El~PC1-En:電子裝置
[0042]100、300、500、700、900:測試裝置
[0043]110_1 ~110_n、310_l~310_n、510_l~510_4、710_0~710_η、910_0-910_η:裝置轉(zhuǎn)板
[0044]120、320、520、720、920:測試電路
[0045]312_1 ~312_η、512_1 ~512_4、712_0~712_η、912_0~912_η:第二串行連接器
[0046]314:第一控制模塊
[0047]314’:第二控制模塊
[0048]316:傳送模塊
[0049]318:接收模塊
[0050]322_1 ~322_η、522_1 ~522_4、722_0~722_η、922_0~922_η:第一串行連接器
[0051]324、524、724、924:處理單元
[0052]326,526,726,926:顯示模塊
[0053]328、728:協(xié)議分析模塊
[0054]BUS、C_BUSI~C_BUS12、D_BUSI~D_BUSn、P_BUSI~P_BUSn:總線
[0055]CB:電路板
[0056]PC:計算機裝置
[0057]S_SE:串行信號
[0058]S_SR、S_SRl~S_SRn:測試結(jié)果信號[0059]S_T:測試信號
[0060]SKTI?SKTn、SKTI，?SKTn\ SKTl”?SKTn，，:插槽[0061 ] WP_rWP_n:串行信號線對
[0062]S200?S210、S400?S416、S600?S604、S606?S614、S806?S816:步驟【具體實施方式】
[0063]本發(fā)明實施例提出一種測試裝置及電子裝置的測試方法，所述的測試裝置可通過由兩條信號線所組成的串行信號線對提供串行信號來測試待測的電子裝置之間的總線是否有斷路形成，而不需要分別將對應(yīng)的線路連接至總線中每一傳輸通道來分別進行測試，進而使得測試的正確率得以有效地提升。為了使本發(fā)明的內(nèi)容更容易明了，以下特舉實施例作為本發(fā)明確實能夠據(jù)以實施的范例。另外，凡可能之處，在附圖及實施方式中使用相同標號的元件/構(gòu)件/步驟代表相同或類似部分。
[0064]圖1為本發(fā)明一實施例的測試裝置的示意圖。測試裝置100可用以測試電子裝置之間的總線是否有斷路形成，并且將有問題的總線的數(shù)據(jù)顯示于屏幕上或者輸出至外部的計算機裝置，藉以使測試人員可根據(jù)所檢測到的數(shù)據(jù)進行除錯及分析。請參照圖1，測試裝置100包括裝置轉(zhuǎn)板110_1?110_η以及測試電路120。各電子裝置10_f 10_n通過專屬的裝置轉(zhuǎn)板110_fll0_n分別插設(shè)至電路板CB的插槽SKTf SKTn上，而使電子裝置10_廣10_n可藉由對應(yīng)的總線(如BUS)而相互電性連接并據(jù)以傳遞數(shù)據(jù)，其中η為正整數(shù)，且可依據(jù)設(shè)計需求而改變。測試電路120通過多組串行信號線對WP_fWP_n分別電性連接裝置轉(zhuǎn)板110_廣110_n。其中，測試電路120可依據(jù)電子裝置10_f 10_n的類型與待測順序而經(jīng)由串行信號線對WP_fWP_n提供串行信號(如串行信號S_SE)，藉以測試特定電子裝置10_fl0_n之間的總線(如總線BUS)傳輸通道是否有斷路狀況。在本實施例中，不同類型的電子裝置10_1?10_η例如為中央處理器(CPU)、存儲器模塊(Dual Inline MemoryModule，DIMM)、雙倍數(shù)據(jù)率(Double Data Rate，DDR)存儲器裝置、串行先進技術(shù)連接(Serial Advanced TechnologyAttachment, SATA)儲存裝置、周邊兀件內(nèi)連接(PeripheralComponentlnterconnect, PCI)裝置、快捷周邊元件內(nèi)連接(PCI Express, PC1-E)裝置以及串行小型計算機系統(tǒng)接口(Serial Attached SCSI，SAS)裝置等等。
[0065]舉例而言，無論待測的電子裝置10_1與10_2間的總線BUS具有多少傳輸通道，操作者僅需將測試電路120通過兩組串行信號線對WP_1與WP_2連接至裝置轉(zhuǎn)板110_1與110_2，即可測試電子裝置10_1與10_2間總線BUS中的每一個傳輸通道。總而言之，每一組串行信號線對WP_fWP_n僅包括兩條信號線，相較于傳統(tǒng)的測試裝置必須將對應(yīng)于各個傳輸通道的腳位依序接出的方式而言，本實施例的測試裝置100大幅地降低了測試的復(fù)雜度。
[0066]此外，在本實施例中，各個裝置轉(zhuǎn)板110_f 110_n之間可根據(jù)待測電子裝置10_fl0_n間的總線傳輸架構(gòu)而具有不同的電性連接組態(tài)，藉以提供總線外部的信號傳輸路徑。
[0067]圖2為本發(fā)明一實施例的電子裝置的測試方法的步驟流程圖。請同時參照圖1與圖2，在進行測試時，首先操作者可將裝置轉(zhuǎn)板110_f 110_11分別電性連接于對應(yīng)的電子裝置10_1?10_n以及對應(yīng)電子裝置10_1?10_n的插槽SKTl?SKTn(步驟S200)，亦即將裝置轉(zhuǎn)板110_1-110_η插設(shè)在待測電路板CB的對應(yīng)插槽SKTfSKTn上，再將待測電子裝置10_1~10_η插設(shè)在對應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板110_f 110_η。接著，將裝置轉(zhuǎn)板110_f 110_η分別電性連接于多組串行信號線對WP_fWP_n (步驟S210)，藉以使各個裝置轉(zhuǎn)板110_1~110_η電性連接至測試電路120，其中裝置轉(zhuǎn)板110_1-110_n分別電性連接對應(yīng)的待測電子裝置10_廣10_n。接著，測試電路120會依據(jù)電子裝置10_fl0_n的類型與待測順序，經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對(如WP_1)提供串行信號S_SE給裝置轉(zhuǎn)板其中之一(如110_1)，并通過對應(yīng)的串行信號線對(如WP_2)回傳裝置轉(zhuǎn)板其中的另一(如110_2)的反應(yīng)，藉以測試所述其中的一裝置轉(zhuǎn)板與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置(如10_1與10_2)間的總線(如總線BUS)傳輸通道是否有斷路狀況(步驟S220)。根據(jù)上述步驟，操作者可以依序地測試各個電子裝置10_1-10_η之間的總線是否有斷路的狀況。
[0068]以測試電子裝置10_1與10_2之間的總線BUS為例，測試電路120會先檢測待測電子裝置10_1與10_2的類型與待測順序以產(chǎn)生對應(yīng)的串行信號S_SE。測試電路120經(jīng)由串行信號線對WP_1將串行信號S_SE傳遞至裝置轉(zhuǎn)板110_1，以使裝置轉(zhuǎn)板110_1上的電子裝置10_1反應(yīng)于串行信號S_SE而在總線BUS中的每一傳輸通道傳遞測試的信號至電子裝置10_2。裝置轉(zhuǎn)板10_2會依據(jù)電子裝置10_2所接收到的信號而回傳測試結(jié)果信號S_SR至測試電路120，因此測試電路120可依據(jù)測試結(jié)果信號S_SR而判斷總線BUS中的每一傳輸通道是否有斷路形成。其中，測試電路120可進一步地將測試結(jié)果通過內(nèi)建或外接的顯示模塊(未繪示)顯示，或是將測試結(jié)果的數(shù)據(jù)匯出至外部的計算機裝置以進行分析。
[0069]為了更進一步地說明本發(fā)明實施例的測試裝置的架構(gòu)，圖3為本發(fā)明另一實施例的測試裝置的示意圖。請參照圖3，測試裝置300包括裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n以及測試電路320。其中，各待測電子裝置10_f 10_n通過專屬的裝置轉(zhuǎn)板310_廣310_11分別插設(shè)至待測電路板CB的對應(yīng)插槽SKTfSKTn上，而使電子裝置10_f 10_n可藉由對應(yīng)的總線而相互電性連接并據(jù)以傳遞數(shù)據(jù)，并且裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n分別包括第二串行連接器312_廣312_η、第一控制模塊、第二控制模塊、傳送模塊以及接收模塊。由于各個裝置轉(zhuǎn)板310_廣310_η的結(jié)構(gòu)大致相同，為便于說明，在此以裝置轉(zhuǎn)板310_1為例，其中裝置轉(zhuǎn)板310_1包括第二串行連接器312_1、第一控制模塊314、第二控制模塊314’、傳送模塊316以及接收模塊318。
[0070]在裝置轉(zhuǎn)板310_1中，第一控制模塊314電性連接第二串行連接器312_1。傳送模塊316與接收模塊318電性連接第一控制模塊314與對應(yīng)的電子裝置10_1。第二控制模塊314’電性連接第二串行連接器312_1、傳送模塊316以及接收模塊318。其中，第一控制模塊314經(jīng)由第二串行連接器312_1接收來自測試電路320的串行信號S_SE，并且據(jù)以控制傳送模塊316與接收模塊318的運作。傳送模塊316受控于第一控制模塊314而提供測試信號S_T，以使電子裝置10_1藉由特定的總線(如總線BUS)傳遞測試信號S_T給其它對應(yīng)的待測電子裝置(如電子裝置10_2~10_n)。接收模塊318接收其它對應(yīng)的待測電子裝置(如電子裝置10_2~10_n)通過特定的總線(如總線BUS)所傳遞的測試信號S_T’，并且回傳至第一控制模塊314，以使第一控制模塊314據(jù)以產(chǎn)生測試結(jié)果信號。
[0071]在測試電路320中，處理單元324電性連接第一串行連接器322_1~322_η。顯示模塊326與協(xié)議分析模塊328分別電性連接處理單元324。其中，各個第一串行連接器322_1-322_η分別經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對WP_f WP_n電性連接裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n的第二串行連接器312_f 312_n。其中，處理單元324用以依據(jù)電子裝置10_f 10_n的類型與待測順序而產(chǎn)生串行信號S_SE，據(jù)以控制裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n的信號傳遞與接收。顯示模塊326受控于處理單元324，用以顯示電子裝置10_f 10_n的測試結(jié)果。此外，處理單元324亦可將測試結(jié)果的相關(guān)數(shù)據(jù)匯出至外部的計算機裝置PC，以便于操作者可分析對應(yīng)的總線傳輸狀態(tài)。
[0072]詳細而言，操作者可預(yù)先在各個裝置轉(zhuǎn)板310_f310_n上設(shè)定對應(yīng)的識別碼，其中所設(shè)定的識別碼會分別對應(yīng)于各個裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n上的電子裝置10_f 10_n的類型。在進行測試時，處理單元324會讀取各個裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n上的識別碼以判斷待測的電子裝置的類型與待測順序，并據(jù)以提供對應(yīng)的串行信號S_SE。其中，第一控制模塊314會根據(jù)串行信號S_SE而得知處理單元324所檢測到的電子裝置10_1的類型、測試信號S_SE的種類(如直流信號或脈沖信號)、測試信號S_SE的設(shè)定值(如頻率或脈沖數(shù)量)以及測試順序，因此第一控制模塊314可適時控制傳送模塊316提供相應(yīng)的測試信號S_T至電子裝置10_1。換言之，傳送模塊316所提供的測試信號S_T可為直流信號或脈沖信號，并且第一控制模塊314可依據(jù)串行信號S_SE而設(shè)定測試信號S_T的頻率與脈沖數(shù)量。
[0073]此外，根據(jù)待測的電子裝置的類型不同，處理單元324可設(shè)定各個裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n產(chǎn)生相應(yīng)的測試結(jié)果信號S_SR的方式。例如比對對應(yīng)的傳送模塊與接收模塊所輸出與接收的測試信號以產(chǎn)生測試結(jié)果信號，或者比對對應(yīng)的傳送模塊與接收模塊所輸出與接收的測試信號在一定期間內(nèi)的脈沖數(shù)量以產(chǎn)生測試結(jié)果信號(此部分于后述實施例中會進一步說明)。
[0074]在應(yīng)用上,處理單元324可利用微控制器(Micro Controller Unit, MCU)與復(fù)雜可編程邏輯裝置(Complex Programmable Logic Device, CPLD)來實現(xiàn)。其中，微控制器MCU可進行較高階的信號處理程序，而復(fù)雜可編程邏輯裝置CPLD可進行較低階的邏輯運算并且提供多個傳輸端口與各個第一串行連接器322_廣322_11相互連接，但本發(fā)明不僅限于此。
[0075]另一方面，由于測試電路320可利用較少的線路與裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n進行連接，使得測試電路320可保有較大的設(shè)計空間彈性。因此，測試裝置300可進一步地分別在裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n與測試電路320中加入第二控制模塊(如第二控制模塊314’ )與協(xié)議分析模塊328，藉以對特定電子裝置的總線協(xié)議進行分析與除錯。
[0076]具體而言，第二控制模塊314’可用以擷取總線BUS所輸出及接收的信號，并且經(jīng)由第二串行連接器3121回傳至協(xié)議分析模塊328。協(xié)議分析模塊328在分析第二控制模塊314’所擷取的總線BUS所輸出及接收的信號后，將分析結(jié)果回傳至處理單元324。因此，處理單元324可將相關(guān)的分析結(jié)果數(shù)據(jù)輸出至外部的計算機裝置PC以令操作者能夠進一步地進行驗證及除錯(debug)。
[0077]值得注意的是，分析電子裝置的總線協(xié)議的功能為設(shè)計選擇，設(shè)計者可依據(jù)需求而決定是否加入。換言之，在其他實施例中，裝置轉(zhuǎn)板310_1?310_η可不包括第二控制模塊，而測試電路320可不包括協(xié)議分析模塊328。無論裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n與測試電路320是否分別包括第二控制模塊與協(xié)議分析模塊328，皆不會影響測試裝置有關(guān)于測試對應(yīng)的總線是否有斷路狀況的功能。
[0078]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例，以下分別就CPU與CPU、CPU與DMM以及CPU與PCIE裝置之間的總線傳輸測試為例來說明測試裝置的測試架構(gòu)及電子裝置的測試方法，但本發(fā)明不僅以此為限。此外，在下述實施例中，為了使附圖清晰，各個裝置轉(zhuǎn)板中僅繪示出對應(yīng)的第二串行連接器與電子裝置，然而下述任一實施例所述的裝置轉(zhuǎn)板的架構(gòu)實質(zhì)上皆可參照圖3實施例所述。
[0079]圖4為本發(fā)明一實施例的測試CPU之間的總線傳輸?shù)牟襟E流程圖。在本實施例中，(PU之間可藉由例如四元周邊接口(QPI)總線來相互傳遞信號。
[0080]請參照圖4，首先，在測試進行前，操作者可先在裝置轉(zhuǎn)板上設(shè)定對應(yīng)的識別碼(步驟S400)。在開始進行測試時，首先將裝置轉(zhuǎn)板(如110_fll0_n)分別電性連接于對應(yīng)的電子裝置(如10_1?10_n)以及對應(yīng)電子裝置的插槽(如SKTfSKTn)(步驟S401)，亦即將裝置轉(zhuǎn)板插設(shè)在待測電路板(如CB)的對應(yīng)插槽并且將電子裝置分別插設(shè)在對應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板上。接著，將裝置轉(zhuǎn)板電性連接于多組串行信號線對(如WP_fWP_n)(步驟S402)，藉以使各個裝置轉(zhuǎn)板電性連接至測試電路，使得測試電路的處理單元分別讀取各個裝置轉(zhuǎn)板上的識別碼以判斷待測的電子裝置的類型與待測順序(步驟S404)。
[0081]在本實施例中，處理單元會依據(jù)所讀取的識別碼而判斷待測的電子裝置為所對應(yīng)的總線為CPU與CPU之間的總線，因此依照待測順序提供對應(yīng)的串行信號至所述其中的一裝置轉(zhuǎn)板(在此以傳送端稱之)(步驟S406 )。其中，對應(yīng)接收到串行信號的裝置轉(zhuǎn)板會依據(jù)串行信號而提供測試信號(步驟S408)，其中該測試信號會在傳送端的CPU與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板上的CPU之間的總線傳遞。
[0082]接收到測試信號的CPU所對應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板(在此以接收端稱之)會依據(jù)測試信號在對應(yīng)的總線的信號傳遞狀態(tài)產(chǎn)生測試結(jié)果信號(步驟S410)，其中所述的信號傳遞狀態(tài)即為測試信號在總線中的每一傳輸通道的傳遞狀態(tài)。
[0083]在接收端產(chǎn)生對應(yīng)的測試結(jié)果信號后，處理單元會經(jīng)由對應(yīng)于接收端的串行信號線對接收測試結(jié)果信號(步驟S412)，并且據(jù)以判斷對應(yīng)的總線中的每一傳輸通道是否有斷路狀況(步驟S414)。
[0084]換言之，在測試電路提供串行信號至所述其中的一裝置轉(zhuǎn)板后，所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板會反應(yīng)于對應(yīng)的總線的信號傳遞狀態(tài)而經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對輸出測試結(jié)果信號至測試電路。測試電路此時會依據(jù)測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的總線中的每一傳輸通道是否有斷路。
[0085]另外，處理單元亦可根據(jù)測試結(jié)果信號來判斷對應(yīng)的總線中相鄰的傳輸通道是否有短路(步驟S416)。其中，步驟S414與S416可依據(jù)設(shè)計為同時進行或依序進行，或者單獨進行步驟S414或步驟S416，本實施例所示的方法流程僅為一示例，本發(fā)明不以此為限。
[0086]接著，處理單元可依序地將串行信號提供至每一裝置載板以作為傳送端，并且令其余的裝置載板做為對應(yīng)的接收端以依序地測試多個CPU之間的總線。換言之，在步驟S416之后，測試方法可重新回到步驟S408以選取另一裝置轉(zhuǎn)板作為傳送端，直到處理單元判斷各個CPU之間的總線傳輸皆測試完成。
[0087]為了更具體地說明CPU之間的總線的測試方法，圖5A?5C為本發(fā)明不同實施例的測試CPU之間的總線傳輸?shù)氖疽鈭D。其中，圖5A表示測試裝置500測試2個CPU間的總線的測試架構(gòu)，圖5B與5C則是分別表示測試裝置500測試不同CPU規(guī)格的4個CPU間的總線的測試架構(gòu)。[0088]請參照圖5A，測試裝置500包括裝置轉(zhuǎn)板510_1與510_2以及測試電路520。裝置轉(zhuǎn)板510_1與510_2分別包括對應(yīng)的第二串行轉(zhuǎn)接器5121與512_2，測試電路520包括第一串行轉(zhuǎn)接器522_廣522_4、處理單元524以及顯示模塊526，其中CPUl與CPU2之間藉由總線C_BUS1與C_BUS2互相傳遞信號。此外，裝置轉(zhuǎn)板510_1與510_2和測試電路520中的各個構(gòu)件的功能請參照上述實施例，于此不再贅述。
[0089]在本實施例中，裝置轉(zhuǎn)板510_1與510_2分別電性連接于待測的CPUl與CPU2，并且裝置轉(zhuǎn)板510_1與510_2分別插設(shè)在電路板CB的對應(yīng)的插槽SKTl與SKT2上，以使待測的CPUl與CPU2經(jīng)由對應(yīng)的總線C_BUS1與C_BUS2以及電路板CB上的對應(yīng)的路由線路而相互電性連接。
[0090]根據(jù)上述步驟，在裝置轉(zhuǎn)板510_1與510_2分別通過對應(yīng)的串行信號線對WP_1與WP_2電性連接至測試電路520后，測試電路520的處理單元524會先讀取裝置轉(zhuǎn)板510_1與510_2上的識別碼以判斷待測的電子裝置為CPUl與CPU2，且測試順序先為CPUl至CPU2，再為CPU2至CPUl。接著，處理單元524會先將串行信號S_SE提供至裝置轉(zhuǎn)板510_1以作為傳送端，使得裝置轉(zhuǎn)板510_2反應(yīng)于在總線C_BUS1傳遞的測試信號而產(chǎn)生并輸出測試結(jié)果信號S_SR至處理單元524。處理單元524即可依據(jù)此測試結(jié)果信號S_SR判斷CPUl至CPU2的總線C_BUS1間是否有斷路或短路形成。
[0091]在CPUl至CPU2的測試完成后，處理單元524會改以將串行信號S_SE提供至裝置轉(zhuǎn)板510_2以作為傳送端，使得裝置轉(zhuǎn)板510_1反應(yīng)于總線C_BUS2的信號傳遞而輸出對應(yīng)的測試結(jié)果信號S_SR至處理單元524。處理單元524依據(jù)測試結(jié)果信號S_SR判斷CPU2至CPUl的總線C_BUS2是否有斷路或短路狀況。
[0092]請參照圖5B，在4個CPU (CPUK CPU2、CPU3及CPU4)的架構(gòu)下，裝置轉(zhuǎn)板510_510_4分別電性連接待測的CPU1~CPU4，并且裝置轉(zhuǎn)板510_1~510_4分別插設(shè)在電路板CB的插槽SKT1~SKT4上。在本實施例中，電路板CB可在各個插槽SKT1~SKT4之間配設(shè)有對應(yīng)的路由線路，使得待測的CPUfCPM經(jīng)由對應(yīng)的總線以及電路板CB上的對應(yīng)的路由線路而兩兩相互電性連接，例如CPUl電性連接CPU2與CPU3，CPU2電性連接CPU4，CPU3電性連接CPU4。
[0093]在本實施例的4CPU的架構(gòu)下，測試電路520仍可藉由前述的測試方式，依序測試兩相鄰CPU之間的總線C_BUSf C_BUS8，故與前述相同或相似的部分于此不再贅述。
[0094]請參照圖5C，本實施例與前述圖5B實施例不同之處在于CPU的規(guī)格不同而使(PU在主機板上的總線連接方式不相同。因此，在本實施例中，電路板CB可在各個插槽SKT1~SKT4之間配設(shè)有對應(yīng)的路由線路，使得待測的CPU1~CPU4經(jīng)由對應(yīng)的總線C_BUS1~C_BUS8以及電路板CB上對應(yīng)的路由線路而分別電性連接至其余3個CPU，例如CPUl電性連接 CPU2CPU4，CPU2 電性連接 CPU1、CPU3、CPU4, CPU3 電性連接 CPU1、CPU2、CPU4, CPU4 電性連接CPUf CPU3。根據(jù)圖5B與圖5C的實施例，測試裝置500可有效地測試任一規(guī)格的4CPU架構(gòu)在電子裝置中實際的傳輸運作。
[0095]在本實施例的4CPU的架構(gòu)下，其測試方式相較于前述圖5B實施例，僅是增加了測試CPUl與CPU4之間的總線C_BUS9與C_BUS10，以及CPU2與CPU3之間的總線C_BUS11與C_BUS12，其余的測試方式 集架構(gòu)皆與前述實施例大致相同，故于此不再贅述。
[0096]圖6A為本發(fā)明一實施例的測試CPU與DI麗之間的總線傳輸?shù)牟襟E流程圖。圖7為本發(fā)明一實施例的測試CPU與DIMM之間的總線傳輸?shù)氖疽鈭D。
[0097]請先參照圖7，測試裝置700包括裝置轉(zhuǎn)板710_0-710_η以及測試電路720。裝置轉(zhuǎn)板710_0-710_η分別包括對應(yīng)的第二串行轉(zhuǎn)接器712_0-712_η，測試電路720包括第一串行轉(zhuǎn)接器722_0-722_η、處理單元724、顯示模塊726以及協(xié)議分析模塊728，其中CPU與DI^fDIMMn之間分別藉由對應(yīng)的總線D_BUS1~D_BUSn互相傳遞信號。此外，裝置轉(zhuǎn)板710_0-710_η和測試電路720中的各個構(gòu)件的功能請參照上述實施例，于此不再贅述。
[0098]在本實施例中，裝置轉(zhuǎn)板710_0-710_η分別電性連接于待測的CPU與DI麗l~DIMMn，并且裝置轉(zhuǎn)板710_0分別插設(shè)在電路板CB的對應(yīng)的插槽SKTl與SKTr~SKTn’上，以使待測的CPU與DIMMl~DIMMn經(jīng)由對應(yīng)的總線D_BUSl~D_BUSn以及電路板CB上的對應(yīng)的路由線路而相互電性連接。
[0099]請同時參照圖6A與圖7，在圖6A中，其步驟S400至S404皆于前述圖4實施例相同，故于此不再贅述。在處理單元724進行步驟S404之后，處理單元724會依據(jù)所讀取的識別碼而判斷待測的電子裝置所對應(yīng)的總線為CPU與DIMM之間的總線D_BUSfD_BUSn，因此提供對應(yīng)的串行信號S_SE至對應(yīng)于CPU的裝置轉(zhuǎn)板710_0 (步驟S606)。接著，裝置轉(zhuǎn)板710_0會依據(jù)串行信號S_SE而提供測試信號S_T(步驟S608)，其中測試信號會在CPU與DIMMl~DIMMn之間的總線D_BUSl~D_BUSn傳遞。
[0100]接收到測試信號S_T的DI^fDIMMn所對應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板710_l~710_n會依據(jù)測試信號S_T在對應(yīng)的總線D_BUSfD_BUSn的信號傳遞狀態(tài)，而分別產(chǎn)生對應(yīng)的測試結(jié)果信號S_SRrS_SRn (步驟S610)，其中所述的信號傳遞狀態(tài)即為測試信號S_T在總線D_BUS1~D_BUSn中的每一傳輸通道的傳遞狀態(tài)。
[0101]在各個裝置轉(zhuǎn)板710_1~710_n分別產(chǎn)生對應(yīng)的測試結(jié)果信號S_SRl~S_SRn后，處理單元724會經(jīng)由對應(yīng)的串行信·號線WP_fWP_n依序從裝置轉(zhuǎn)板710_廣710η接收測試結(jié)果信號S_SRfS_SRn (步驟S612)，并且據(jù)以判斷對應(yīng)的總線D_BUSl~D_BUSn中的每一傳輸通道是否有斷路狀況(步驟S614)。
[0102]換言之，在測試電路720提供串行信號S_SE至對應(yīng)于CPU的裝置轉(zhuǎn)板710_0后，DI^fDIMMn的裝置轉(zhuǎn)板710_l~710_n會依序反應(yīng)于對應(yīng)的總線D_BUSl~D_BUSn間的信號傳遞狀態(tài)而分別經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對WP_f WP_n輸出測試結(jié)果信號S_SRf S_SRn至測試電路720。測試電路720依據(jù)測試結(jié)果信號S_SRf S_SRn判斷總線D_BUSl~D_BUSn中的每一傳輸通道是否有斷路狀況。
[0103]圖6B為本發(fā)明一實施例的分析DIMM的DRAM總線協(xié)議的步驟流程圖。在本實施例中，測試裝置700可進一步地藉由協(xié)議分析模塊728來分析DMMfDIMMn中的多個DRAM(未繪示)的總線協(xié)議。
[0104]請同時參照圖6B與圖7，首先，裝置轉(zhuǎn)板710_f 710_n會擷取對應(yīng)于待測DRAM的總線D_BUSf D_BUSn輸出及接收的信號(步驟S600)，此時總線D_BUS1~D_BUSn所傳輸?shù)男盘枮榉螪RAM總線協(xié)議的信號。接著，裝置轉(zhuǎn)板710_f710_n會將所擷取的信號經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對WP_fWP_n而輸出至測試電路720的協(xié)議分析模塊728，以令協(xié)議分析模塊728分析裝置轉(zhuǎn)板710_f 710_n所擷取的信號(步驟S602)。在分析完成后，協(xié)議分析模塊728可將分析的結(jié)果回傳至處理單元724的微控制器MCU (步驟S604)。微控制器MCU可進一步地將相關(guān)的分析結(jié)果數(shù)據(jù)匯出至外部的計算機裝置PC，以便于操作者進行驗證及偵錯(debug)ο
[0105]圖8為本發(fā)明一實施例的測試CPU與PC1-E裝置之間的總線傳輸?shù)牟襟E流程圖。圖9為本發(fā)明一實施例的測試CPU與PC1-E裝置之間的總線傳輸?shù)氖疽鈭D。
[0106]請先參照圖9，測試裝置900包括裝置轉(zhuǎn)板910_0-910_η以及測試電路920。裝置轉(zhuǎn)板910_0-910_η分別包括對應(yīng)的第二串行轉(zhuǎn)接器912_0-912_η，測試電路920包括第一串行轉(zhuǎn)接器922_0-922_η、處理單元924以及顯示模塊926，其中CPU與PC1-E裝置(后述各個PC1-E裝置以PC1-EfPC1-En表示)之間藉由對應(yīng)的總線P_BUS1~P_BUSn互相傳遞信號。此外，裝置轉(zhuǎn)板910_0-910_η和測試電路920中的各個構(gòu)件的功能請參照上述實施例，于此不再贅述。
[0107]在本實施例中，裝置轉(zhuǎn)板910_0-910_η分別電性連接于待測的CPU與PC1-Ef PC1-En，并且裝置轉(zhuǎn)板910_0分別插設(shè)在電路板CB的對應(yīng)的插槽SKTl與SKT1”~SKTn’ ’上，以使待測的CPU與PC1-El~PC1-En經(jīng)由對應(yīng)的總線P_BUSl~P_BUSn以及電路板CB上的對應(yīng)的路由線路而相互電性連接。
[0108]請同時參照圖8與圖9，在圖8中，其步驟S400至S404皆于前述圖4實施例相同，故于此不再贅述。在處理單元924進行步驟S404之后，處理單元924會依據(jù)所讀取的識別碼而判斷待測的電子裝置所對應(yīng)的總線為CPU與PC1-E裝置之間的總線P_BUSfP_BUSn(即PC1-E總線)。
[0109]在本實施例中，由于PC1-E的總線規(guī)格中，其傳輸路徑上具有電容，使得直流的測試信號無法正確的在PC1-E總線傳遞。因此，當處理單元924檢測到所測試的總線為PC1-E總線時，其會提供對應(yīng)的串行信號S_SE至對應(yīng)于CPU的裝置轉(zhuǎn)板910_0 (步驟S806)，以使裝置轉(zhuǎn)板910_0依據(jù)串行信號S_SE而提供為脈沖信號的測試信號S_T (步驟S808)，其中測試信號會在CPU與PC1-EfPC1-En之間的總線P_BUSl~P_BUSn傳遞。
[0110]接收到測試信號S_T的PC1-EfPC1-En所對應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板910_f 910_n會依據(jù)測試信號S_T在對應(yīng)的總線P_BUSf P_BUSn的信號傳遞狀態(tài)，而分別產(chǎn)生對應(yīng)的測試結(jié)果信
(步驟S610)。
[0111]更進一步地說，在步驟S610中，各個裝置轉(zhuǎn)板910_1、10_η會計數(shù)所接收到的測試信號S_T的脈沖數(shù)量(步驟S810)，并且比對裝置轉(zhuǎn)板910_0所提供的測試信號S_T的脈沖數(shù)量與對應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板910_l、10_n的計數(shù)結(jié)果，據(jù)以產(chǎn)生測試結(jié)果信號S_SRfS_SRn (步驟S812)。藉由此一比對總線間傳送及接收信號的脈沖數(shù)量的方式，裝置轉(zhuǎn)板910_910_η所產(chǎn)生的測試結(jié)果信號S_SRf S_SRn即不會受到傳輸路徑上的電容所影響。
[0112]在各個裝置轉(zhuǎn)板910_1~910_n分別產(chǎn)生對應(yīng)的測試結(jié)果信號S_SRl~S_SRn后，處理單元924會經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線WP_f WP_n依序從裝置轉(zhuǎn)板910_f 910_n接收測試結(jié)果信號S_SRfS_SRn (步驟S814)，并且據(jù)以判斷對應(yīng)的總線P_BUSl~P_BUSn中的每一傳輸通道是否有斷路狀況(步驟S816)。
[0113]換言之，在此所提及的CPU和PC1-E裝置間的總線傳輸測試與前述的CPU和DI麗間的總線傳輸測試大致相同。兩者間的差異僅在于CPU和PC1-E裝置間的總線的測試結(jié)果信號藉由計數(shù)脈沖形式的測試信號在傳送端與接收端的脈沖數(shù)量，并加以比對方式而產(chǎn)生。
[0114]然而，此一脈沖形式的測試信號以及步驟S810與S812所提及的產(chǎn)生測試結(jié)果信號的方法亦可適用于CPU與CPU間以及CPU與DMM間的總線測試，本發(fā)明不以此為限。
[0115]此外，當測試信號設(shè)定為脈沖信號時，操作者可依據(jù)測試的考慮，藉由設(shè)定處理單元而調(diào)整測試信號的頻率與脈沖數(shù)量。舉例來說，操作者可藉由調(diào)整測試信號的頻率與一定期間內(nèi)的脈沖數(shù)量而控制對應(yīng)的總線測試的次數(shù)(一個脈沖的測試信號對應(yīng)產(chǎn)生一次測試結(jié)果信號)。因此，所述的測試裝置可更進一步地提升了測試的操作彈性以及測試的效率。
[0116]上述所述的各個實施例不僅限于單獨實施，在另一實施例中，操作者可同時將對應(yīng)于多個CPU、多個DIMM以及多個PC1-E裝置的裝置轉(zhuǎn)板通過對應(yīng)的串行信號線對全部或部分的電性連接至測試電路來進行測試，本發(fā)明不以此為限。
[0117]綜上所述，本發(fā)明實施例提出一種測試裝置及電子裝置的測試方法，所述的測試裝置可通過串行信號線對提供串行信號來測試待測的電子裝置之間的總線是否有斷路形成。由于不需要分別將對應(yīng)的線路連接至總線中每一傳輸通道，因此簡化了整體測試的架構(gòu)，進而使得測試的正確率得以有效地提升。此外，根據(jù)所述的測試裝置，操作者可通過可調(diào)頻率與可調(diào)脈沖數(shù)量的測試信號來對電子裝置間的總線進行測試，因此可有效地提升測試裝置的操作彈性以及測試效率。
[0118]雖然本發(fā)明已以實施例揭示如上，然其并非用以限定本發(fā)明，本領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前提下，可作若干的更動與潤飾，故本發(fā)明的保護范圍是以本發(fā)明的權(quán)利要求為準。
【權(quán)利要求】
1.一種測試裝置，適于測試一電路板上至少二電子裝置間的一總線，其中該電路板包括至少二插槽，這些電子裝置適于分別電性連接至該電路板上的對應(yīng)的插槽，該測試裝置包括: 至少二裝置轉(zhuǎn)板，分別電性連接于對應(yīng)的這些電子裝置以及對應(yīng)這些電子裝置的插槽；以及 一測試電路，通過至少二組串行信號線對分別電性連接這些裝置轉(zhuǎn)板，其中該測試電路依據(jù)這些電子裝置的類型而經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對提供一串行信號給這些裝置轉(zhuǎn)板其中之一，并通過對應(yīng)的串行信號線對回傳這些裝置轉(zhuǎn)板其中的另一的反應(yīng)，藉以測試該其中之一與該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的該總線是否有斷路。
2.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其中這些電子裝置包括至少二個第一電子裝置，這些第一電子裝置間藉由一對應(yīng)的第一總線相互傳遞信號，并且該第一總線具有多個傳輸通道，其中該測試電路提供該串行信號至該其中的一裝置轉(zhuǎn)板，以使該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板反應(yīng)于對應(yīng)的該第一總線的信號傳遞狀態(tài)而經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對輸出一測試結(jié)果信號至該測試電路，該測試電路依據(jù)該測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的該第一總線中的每一這些傳輸通道是否有斷路。
3.如權(quán)利要求2所述的測試裝置，其中該測試電路還依據(jù)該測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的該第一總線中的相鄰這些傳輸通道是否有短路。
4.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其中這些電子裝置包括一第一電子裝置以及至少一第二電子裝置，該第一電子裝置與該第二電子裝置藉由一對應(yīng)的第二總線相互傳遞信號，并且該第二總線具有多個傳輸通道，其中該測試電路提供該串行信號至對應(yīng)于該第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板，以使對應(yīng)于該第二電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板反應(yīng)于對應(yīng)的該第二總線間的信號傳遞狀態(tài)而經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對輸出一測試結(jié)果信號至該測試電路，該測試電路依據(jù)該測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的該第二總線中的每一這些傳輸通道是否有斷路。
5.如權(quán)利要求4所述的測試裝置，其中這些電子裝置包括一第一電子裝置以及至少一第三電子裝置，該第一電子裝置與該第三電子裝置藉由一對應(yīng)的第三總線相互傳遞信號，并且該第三總線具有多個傳輸通道，其中該測試電路提供該串行信號至對應(yīng)于該第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板，以使對應(yīng)于該第三電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板反應(yīng)于對應(yīng)的該第三總線間的信號傳遞狀態(tài)而經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對輸出一測試結(jié)果信號至該測試電路，該測試電路依據(jù)該測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的該第三總線中的每一這些傳輸通道是否有斷路。
6.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其中該測試電路包括: 至少二個第一串行連接器； 一處理單元，電性連接這些第一串行連接器，用以依據(jù)這些電子裝置的類型而產(chǎn)生該串行信號，據(jù)以控制這些裝置轉(zhuǎn)板的信號傳遞與接收；以及 一顯示模塊，電性連接該處理單元，用以顯示這些電子裝置的測試結(jié)果。
7.如權(quán)利要求6所述的測試裝置，其中各這些裝置轉(zhuǎn)板具有一識別碼，該處理單元讀取這些識別碼以判斷待測的這些電子裝置的類型與測試順序，并且據(jù)以提供對應(yīng)的該串行信號與決定測試順序。
8.如權(quán)利要求6所述的測試裝置，其中各這些裝置轉(zhuǎn)板包括: 一第二串行連接器，其中這些裝置轉(zhuǎn)板的第二串行連接器分別經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對電性連接至對應(yīng)的第一串行連接器； 一第一控制模塊，電性連接該第二串行連接器以接收該串行信號； 一傳送模塊，電性連接該第一控制模塊，受控于該第一控制模塊而提供一測試信號，以使對應(yīng)的電子裝置藉由對應(yīng)的總線傳遞該測試信號；以及 一接收模塊，電性連接該第一控制模塊，接收對應(yīng)的總線所傳遞的該測試信號，并且回傳至該第一控制模塊，以使該第一控制模塊據(jù)以產(chǎn)生一測試結(jié)果信號。
9.如權(quán)利要求8所述的測試裝置，其中該測試信號為脈沖信號，并且該第一控制模塊依據(jù)該串行信號而設(shè)定該測試信號的頻率與脈沖數(shù)量。
10.如權(quán)利要求9所述的測試裝置，其中該接收模塊計數(shù)所接收到的該測試信號的脈沖數(shù)量，并且將計數(shù)的結(jié)果回傳至該第一控制模塊，該第一控制模塊比對對應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板所提供的該測試信號的脈沖數(shù)量與計數(shù)的結(jié)果，并據(jù)以產(chǎn)生該測試結(jié)果信號。
11.如權(quán)利要求8所述的測試裝置，其中該測試電路還包括: 一協(xié)議分析模塊，電性連接這些第一串行連接器與該處理單元，用以分析對應(yīng)的總線所輸出及接收的信號，并且將分析結(jié)果回傳至該處理單元。
12.如權(quán)利要求11所述的測試裝置，其中各這些裝置轉(zhuǎn)板還包括: 一第二控制模塊，電性連接該傳送模塊、該接收模塊以及該第二串行連接器，用以擷取對應(yīng)的總線所輸出及接收的信號，并且經(jīng)由該第二串行連接器傳遞至該協(xié)議分析模塊。
13.一種電子裝置的測試方法，適于測試一電路板上至少二電子裝置間的一總線，其中該電路板包括至少二插·槽，這些電子裝置適于分別電性連接至該電路板上的對應(yīng)的插槽，該測試方法包括: 將至少二個裝置轉(zhuǎn)板分別電性連接于對應(yīng)的這些電子裝置以及對應(yīng)這些電子裝置的插槽； 將這些裝置轉(zhuǎn)板電性連接于至少二串行信號線對；以及 依據(jù)這些電子裝置的類型，經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對提供一串行信號給這些裝置轉(zhuǎn)板其中之一，并通過對應(yīng)的串行信號線對回傳這些裝置轉(zhuǎn)板其中的另一的反應(yīng)，藉以測試該其中之一與該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的該總線是否有斷路。
14.如權(quán)利要求13所述的電子裝置的測試方法，其中這些電子裝置包括至少二個第一電子裝置，這些第一電子裝置藉由一對應(yīng)的第一總線相互傳遞信號，并且該第一總線具有多個傳輸通道，其中測試該其中之一與該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的該總線是否有斷路的步驟包括: 提供該串行信號至該其中的一裝置轉(zhuǎn)板； 經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對從該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板接收一測試結(jié)果信號，其中該測試結(jié)果信號關(guān)聯(lián)于對應(yīng)的該第一總線的信號傳遞狀態(tài)；以及 依據(jù)該測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的該第一總線中的每一這些傳輸通道是否有斷路。
15.如權(quán)利要求14所述的電子裝置的測試方法，其中測試該其中之一與該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的該總線是否有斷路的步驟還包括: 依據(jù)該測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的該第一總線中的相鄰這些傳輸通道是否有短路。
16.如權(quán)利要求13所述的電子裝置的測試方法，其中這些電子裝置包括一第一電子裝置以及至少一第二電子裝置，該第一電子裝置與該第二電子裝置藉由一對應(yīng)的第二總線相互傳遞信號，并且該第二總線具有多個傳輸通道，其中測試該其中之一與該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的該總線是否有斷路的步驟包括: 提供該串行信號至對應(yīng)于該第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板； 經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對從對應(yīng)于該第二電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板接收一測試結(jié)果信號，其中該測試結(jié)果信號關(guān)聯(lián)于對應(yīng)的該第二總線的信號傳遞狀態(tài)；以及 依據(jù)該測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的該第二總線中的每一這些傳輸通道是否有斷路。
17.如權(quán)利要求16所述的電子裝置的測試方法，其中這些電子裝置包括一第一電子裝置以及至少一第三電子裝置，該第一電子裝置與該第三電子裝置藉由一對應(yīng)的第三總線相互傳遞信號，并且該第三總線具有多個傳輸通道，其中提供該串行信號，并據(jù)以測試這些電子裝置所對應(yīng)的總線是否有斷路的步驟包括: 提供該串行信號至對應(yīng)于該第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板； 經(jīng)由對應(yīng)的串行信號線對從對應(yīng)于該第三電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板接收一測試結(jié)果信號，其中該測試結(jié)果信號關(guān)聯(lián)于對應(yīng)的該第三總線的信號傳遞狀態(tài)；以及 依據(jù)該測試結(jié)果信號判斷對應(yīng)的該第三總線中的每一這些傳輸通道是否有斷路。
18.如權(quán)利要求13所述的電子裝置的測試方法，還包括: 在各這些裝置轉(zhuǎn)板上設(shè)定一識別碼。
19.如權(quán)利要求18所述的電子裝置的測試方法，其中在提供該串行信號的步驟之前，該測試方法還包括: 讀取這些識別碼以判斷待測的這些電子裝置的類型與測試順序。
20.如權(quán)利要求13所述的電子裝置的測試方法，其中測試該其中之一與該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的該總線是否有斷路的步驟包括: 依據(jù)該串行信號提供一測試信號，其中該測試信號在該其中之一與該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對應(yīng)的電子裝置間的該總線傳遞；以及 依據(jù)該測試信號在該總線的信號傳遞狀態(tài)產(chǎn)生一測試結(jié)果信號。
21.如權(quán)利要求20所述的電子裝置的測試方法，其中該測試信號為脈沖信號，依據(jù)該測試信號在該總線間的信號傳遞狀態(tài)產(chǎn)生該測試結(jié)果信號的步驟包括: 計數(shù)所接收到的該測試信號的脈沖數(shù)量；以及 比對對應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板所提供的該測試信號的脈沖數(shù)量與計數(shù)的結(jié)果，并據(jù)以產(chǎn)生該測試結(jié)果信號。
22.如權(quán)利要求13所述的電子裝置的測試方法，還包括: 擷取對應(yīng)的總線所輸出及接收的信號； 分析所擷取的信號；以及 回傳分析的結(jié)果。
【文檔編號】G01R31/02GK103852681SQ201210568473
【公開日】2014年6月11日 申請日期:2012年12月24日 優(yōu)先權(quán)日:2012年12月6日
【發(fā)明者】駱文華, 陳冠翰, 廖誌圣 申請人:緯創(chuàng)資通股份有限公司