射頻線圈的監(jiān)控方法及裝置、測試裝置及磁共振系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】一種射頻線圈的監(jiān)控方法及裝置、測試裝置及磁共振系統(tǒng)，所述射頻線圈的監(jiān)控方法包括：接入待測試的射頻線圈；識別所述待測試的射頻線圈的類型，所述類型與射頻線圈的編碼阻值對應(yīng)；根據(jù)所述待測試的射頻線圈的類型確定所述待測試的射頻線圈的閾值電流；在對所述待測試的射頻線圈進(jìn)行功能測試時，監(jiān)測所述待測試的射頻線圈在測試狀態(tài)下的工作電流，當(dāng)所述工作電流超過所述閾值電流，發(fā)出警報并斷開電源。本技術(shù)方案解決了現(xiàn)有技術(shù)采用同一個閾值電流對不同數(shù)目單元的射頻線圈進(jìn)行監(jiān)控所導(dǎo)致的不能最大限度地保護(hù)射頻線圈及射頻線圈測試裝置的問題。
【專利說明】射頻線圈的監(jiān)控方法及裝置、測試裝置及磁共振系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及磁共振成像【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種射頻線圈的監(jiān)控方法及裝置、測試裝置及磁共振系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]磁共振成像(MRI,Magnetic Resonance Imaging)作為核磁共振應(yīng)用的重要領(lǐng)域，由于其對人體軟組織有極好的分辨力、成像參數(shù)能提供豐富的診斷信息、對人體沒有電離輻射損傷等諸多優(yōu)點，磁共振成像系統(tǒng)已成為醫(yī)學(xué)臨床診斷的主要工具之一。射頻線圈作為磁共振系統(tǒng)中接收信號的核心部件，根據(jù)人體被測試部位的不同，被分為不同的類型:體部柔性射頻線圈、頭部射頻線圈、脊柱射頻線圈、膝蓋射頻線圈等。在射頻線圈直接接觸人體使用前，需要對射頻線圈進(jìn)行包括諸如傳輸特性、射頻線圈類型等性能測試，通過測試各個參數(shù)是否符合該類型線圈標(biāo)準(zhǔn)從而確定線圈性能的優(yōu)良，確保經(jīng)過性能測試后的射頻線圈正常使用。
[0003]由于生產(chǎn)磁共振系統(tǒng)過程中的錯誤焊接造成的射頻線圈短路或者其它不可預(yù)料的情況，在對射頻線圈進(jìn)行測試時，流過射頻線圈的電流可能超出正常工作時的測試電流(即出現(xiàn)過流現(xiàn)象)，射頻線圈測試裝置某些模塊的工作電壓可能低于或高于正常工作時的工作電壓，影響射頻線圈的正常測試，嚴(yán)重時可能損壞射頻線圈內(nèi)部的元器件和射頻線圈測試裝置。因此，在對射頻線圈測試的過程中，需要對流過射頻線圈的電流和射頻線圈測試裝置各模塊的工作電壓進(jìn)行監(jiān)控。
[0004]現(xiàn)有技術(shù)中，對射頻線圈的監(jiān)控是通過設(shè)置射頻線圈的閾值電流和射頻線圈測試裝置各模塊的閾值電壓來實現(xiàn)的。當(dāng)監(jiān)測到射頻線圈測試裝置任一模塊的工作電壓低于或高于閾值電壓和/或射頻線圈的測試電流超出閾值電流時，可立即停止對射頻線圈的測試。根據(jù)磁共振成像系統(tǒng)成像信噪比(SNR, signal-to-noise ration)的要求,現(xiàn)在的射頻線圈都是采用多單元的設(shè)計結(jié)構(gòu)，每種類型射頻線圈的單元數(shù)目差別很大。例如有的射頻線圈單元數(shù)目多達(dá)幾十個，而有的線圈僅有一個單元。然而，對于不同類型的射頻線圈，現(xiàn)有技術(shù)中的閾值電流都是采用同一個預(yù)設(shè)的固定值，這個預(yù)設(shè)的固定值一般是根據(jù)最多數(shù)目的射頻線圈單元來確定。因此，對于單元數(shù)目少的射頻線圈，在測試過程中可能已經(jīng)出現(xiàn)了過流和/或短路的情況，也不能被及時發(fā)現(xiàn)，不能最大限度地保護(hù)射頻線圈及射頻線圈測試裝置。
[0005]更多關(guān)于磁共振系統(tǒng)射頻線圈結(jié)構(gòu)的技術(shù)方案可以參考申請?zhí)枮?01210225809.5、發(fā)明名稱為一種核磁共振成像儀器的射頻線圈的中國專利申請文件。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明解決的是采用同一個閾值電流對不同數(shù)目單元的射頻線圈進(jìn)行監(jiān)控所導(dǎo)致的不能最大限度地保護(hù)射頻線圈及射頻線圈測試裝置的問題。
[0007]為解決上述問題，本發(fā)明提供了一種射頻線圈的監(jiān)控方法，包括:接入待測試的射頻線圈；識別出所述待測射頻線圈上的編碼電阻進(jìn)而確定射頻線圈的類型識別所述待測試的射頻線圈的類型，所述類型與射頻線圈的編碼阻值對應(yīng)；根據(jù)所述待測試的射頻線圈的類型確定所述待測試的射頻線圈的閾值電流；在對所述待測試的射頻線圈進(jìn)行功能測試時，監(jiān)測所述待測試的射頻線圈在測試狀態(tài)下的工作電流，當(dāng)所述工作電流超過所述閾值電流，發(fā)出警報并斷開電源。
[0008]可選的，還包括:確定對所述待測試的射頻線圈進(jìn)行功能測試的各模塊對應(yīng)的閾值電壓。
[0009]可選的，所述確定對所述待測試的射頻線圈進(jìn)行功能測試的各模塊對應(yīng)的閾值電壓包括:將所述各模塊正常工作時的工作電壓分別減去電壓裕量，以得到分別對應(yīng)于各模塊的第一閾值電壓；將所述各模塊正常工作時的工作電壓分別加上電壓裕量，以得到分別對應(yīng)于各模塊的第二閾值電壓。
[0010]可選的，所述電壓裕量的取值范圍為0.5V至IV。
[0011]可選的，還包括:在對所述待測試的射頻線圈進(jìn)行所述功能測試時，監(jiān)測所述各模塊的工作電壓，當(dāng)任一所述模塊的工作電壓低于該模塊對應(yīng)的第一閾值電壓或高于該模塊對應(yīng)的第二閾值電壓，發(fā)出警報并斷開電源。
[0012]可選的，所述待測試的射頻線圈包括至少一個單元。
[0013]可選的，所述識別所述待測試的射頻線圈的類型包括:測量所述待測試的射頻線圈的電壓；根據(jù)所述待測試的射頻線圈的電壓確定所述待測試的射頻線圈的編碼阻值；將所述待測試的射頻線圈的編碼阻值與每種射頻線圈的編碼阻值進(jìn)行匹配，以確定所述待測試的射頻線圈的識別碼。
[0014]可選的，所述識別碼是依據(jù)每種射頻線圈的編碼阻值預(yù)先定義的。
[0015]可選的，所述根據(jù)所述待測試的射頻線圈的類型確定所述待測試的射頻線圈的閾值電流，包括:根據(jù)所述待測試的射頻線圈的類型確定所述待測試的射頻線圈的單元數(shù)目；將所述待測試的射頻線圈每個單元在正常狀態(tài)下的工作電流與所述待測試的射頻線圈的單元數(shù)目相乘，以得到所述待測試的射頻線圈在正常狀態(tài)下的工作電流；將所述待測試的射頻線圈在正常狀態(tài)下的工作電流與所述待測試的射頻線圈的電流裕量相加，以得到所述閾值電流。
[0016]可選的，所述電流裕量的取值不大于20mA。
[0017]為解決上述問題，本發(fā)明還提供了一種射頻線圈的監(jiān)控裝置，包括:連接單元，用于接入待測試的射頻線圈；識別單元，用于識別所述連接單元接入的待測試的射頻線圈的類型，所述類型與射頻線圈的編碼阻值對應(yīng)；閾值電流設(shè)置單元，用于根據(jù)所述識別單元識別的所述待測試的射頻線圈的類型確定所述待測試的射頻線圈的閾值電流；電流監(jiān)測報警單元，用于在對所述待測試的射頻線圈進(jìn)行功能測試時，監(jiān)測所述待測試的射頻線圈的測試電流，當(dāng)所述測試電流超過所述閾值電流，發(fā)出警報并斷開電源輸出。
[0018]本發(fā)明實施例還提供了一種包括上述射頻線圈的監(jiān)控裝置的射頻線圈測試裝置。
[0019]基于上述射頻線圈的監(jiān)控方法和裝置，本發(fā)明還提供了一種磁共振系統(tǒng)，所述磁共振系統(tǒng)包括射頻線圈，還包括:識別單元，用于識別接入的所述射頻線圈的類型，所述類型與射頻線圈的編碼阻值對應(yīng)；閾值電流設(shè)置單元，用于根據(jù)所述識別單元識別的所述射頻線圈的類型確定所述射頻線圈的閾值電流；電流監(jiān)測報警單元，用于在使用所述射頻線圈對人體進(jìn)行測試時，監(jiān)測所述射頻線圈的工作電流，當(dāng)所述工作電流超過所述閾值電流，發(fā)出警報并斷開電源。
[0020]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明技術(shù)方案提供的射頻線圈的監(jiān)控方法及裝置，能夠識別接入的待測試的射頻線圈類型，根據(jù)不同類型的射頻線圈設(shè)置不同的閾值電流對射頻線圈進(jìn)行監(jiān)控，避免了不同類型的射頻線圈使用同一個閾值電流造成的單元數(shù)目較少的射頻線圈已經(jīng)出現(xiàn)過流和/或短路的情況而不能被發(fā)現(xiàn)的問題，從而最大限度地保護(hù)了射頻線圈及射頻線圈測試裝置。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0021]圖1是本發(fā)明實施方式的射頻線圈的監(jiān)控方法的流程示意圖；
[0022]圖2是本發(fā)明實施例的射頻線圈的監(jiān)控裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0023]正如【背景技術(shù)】中所描述的，在對磁共振系統(tǒng)中的射頻線圈進(jìn)行測試時，需要對射頻線圈的工作電流和射頻線圈測試裝置各模塊的工作電壓進(jìn)行監(jiān)控，防止射頻線圈由于出現(xiàn)過流和/或短路的情況而損壞射頻線圈和射頻線圈測試裝置。對于不同類型的射頻線圈，現(xiàn)有技術(shù)都是采用相同的閾值電流對射頻線圈進(jìn)行監(jiān)控，不能最大限度地保護(hù)射頻線圈和射頻線圈測試裝置。因此，本技術(shù)方案的發(fā)明人考慮，通過識別接入的待測試的射頻線圈類型，根據(jù)待測試的射頻線圈的類型自動改變射頻線圈的閾值電流。
[0024]為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更為明顯易懂，下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明的【具體實施方式】做詳細(xì)的說明。
[0025]在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明，但是本發(fā)明還可以采用其他不同于在此描述的其它方式來實施，因此本發(fā)明不受下面公開的具體實施例的限制。
[0026]圖1是本發(fā)明實施方式的射頻線圈的監(jiān)控方法的流程示意圖。參考圖1，所述射頻線圈的監(jiān)控方法包括:
[0027]步驟Sll:接入待測試的射頻線圈；
[0028]步驟S12:識別所述待測試的射頻線圈的類型，所述類型與射頻線圈的編碼阻值對應(yīng)；
[0029]步驟S13:根據(jù)所述待測試的射頻線圈的類型確定所述待測試的射頻線圈的閾值電流；
[0030]步驟S14:在對所述待測試的射頻線圈進(jìn)行功能測試時，監(jiān)測所述待測試的射頻線圈在測試狀態(tài)下的工作電流，當(dāng)所述工作電流超過所述閾值電流，發(fā)出警報并斷開電源。
[0031]基于上述射頻線圈的監(jiān)控方法，本發(fā)明實施例還提供了一種射頻線圈的監(jiān)控裝置，請參見圖2所示的射頻線圈的監(jiān)控裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，所述射頻線圈的監(jiān)控裝置包括:
[0032]連接單元21，用于接入待測試的射頻線圈20 ；
[0033]識別單元22，用于識別所述連接單元21接入的待測試的射頻線圈20的類型，所述類型與射頻線圈的編碼阻值對應(yīng)；
[0034]閾值電流設(shè)置單元23，用于根據(jù)所述識別單元22識別的所述待測試的射頻線圈20的類型確定所述待測試的射頻線圈20的閾值電流；
[0035]電流監(jiān)測報警單元24，用于在對所述待測試的射頻線圈20進(jìn)行功能測試時，監(jiān)測所述待測試的射頻線圈20在測試狀態(tài)下的工作電流，當(dāng)所述工作電流超過所述閾值電流，發(fā)出警報并斷開電源。
[0036]為更好地對本發(fā)明的實施方式進(jìn)行理解，下面結(jié)合圖1和圖2對本發(fā)明技術(shù)方案射頻線圈的監(jiān)控方法及裝置的工作原理進(jìn)行說明。
[0037]如步驟Sll所述，接入待測試的射頻線圈。
[0038]如圖2所示，通過所述連接單元21將所述待測試的射頻線圈20與射頻線圈監(jiān)控裝置中的識別單元22連接。具體地，所述連接單元21可以為帶接頭的線纜，將所述線纜的接頭與所述識別單元22的接口連接即完成所述待測試的射頻線圈20的接入。
[0039]如步驟S12所述，識別所述待測試的射頻線圈的類型，所述類型與射頻線圈的編碼阻值對應(yīng)。
[0040]在接入所述待測試的射頻線圈20之后，可通過射頻線圈的監(jiān)控裝置的外部輸入裝置給出指令，使所述識別單元22對接入的待測試的射頻線圈20的類型進(jìn)行判斷。在本實施例中，所述外部輸入裝置可以為鍵盤，通過按鍵給出指令。在其它實施例中，所述外部輸入裝置也可以為觸摸屏，通過觸摸給出指令。識別所述待測試的射頻線圈20的類型的具體過程如下:
[0041]測量所述待測試的射頻線圈20的電壓。具體地，由所述識別單元22中的電壓測量單元給所述待測試的射頻線圈20施加一個預(yù)定電流并測量所述待測試的射頻線圈20在通所述預(yù)定電流時的電壓；
[0042]根據(jù)所述待測試的射頻線圈20的電壓確定所述待測試的射頻線圈20的編碼阻值。具體地，所述待測試的射頻線圈20連接有編碼電阻。根據(jù)歐姆公式電壓=電阻*電流，所述識別單元22中的編碼阻值確定單元可確定所述待測試的射頻線圈20的編碼阻值，所述編碼阻值為所述編碼電阻的阻值；
[0043]將所述待測試的射頻線圈20的編碼阻值與每種射頻線圈的編碼阻值進(jìn)行匹配，以確定所述待測試的射頻線圈20的識別碼。具體地，所述識別單元22中的匹配單元預(yù)先定義了每種射頻線圈的識別碼以及每種射頻線圈的編碼阻值與所述識別碼的關(guān)系。通過將所述待測試的射頻線圈20的編碼阻值與每種射頻線圈的編碼阻值進(jìn)行比較，確定所述待測試的射頻線圈20的識別碼，即能知道所述待測試的射頻線圈20的類型。
[0044]如步驟S13所述，根據(jù)所述待測試的射頻線圈的類型確定所述待測試的射頻線圈的閾值電流。
[0045]根據(jù)所述待測試的射頻線圈20的類型確定所述待測試的射頻線圈20的單元數(shù)目。具體地，由所述閾值電流設(shè)置單元23中的單元數(shù)確定單元從所述識別單元22中的匹配單元獲取所述待測試的射頻線圈20的識別碼，然后根據(jù)預(yù)先儲存的射頻線圈的識別碼與射頻線圈的單元數(shù)目的對應(yīng)關(guān)系，輸出對應(yīng)所述待測試的射頻線圈20的識別碼的單元數(shù)目；
[0046]將所述待測試的射頻線圈20每個單元在正常狀態(tài)下的工作電流與所述待測試的射頻線圈20的單元數(shù)目相乘，以得到所述待測試的射頻線圈20在正常狀態(tài)下的工作電流。具體地，由所述閾值電流設(shè)置單元23中的線圈電流確定單元將所述待測試的射頻線圈20每個單元在正常狀態(tài)下的工作電流與從所述單元數(shù)確定單元獲取的所述待測試的射頻線圈20的單元數(shù)目相乘，輸出所述待測試的射頻線圈20在正常狀態(tài)下的工作電流；
[0047]將所述待測試的射頻線圈20在正常狀態(tài)下的工作電流與所述待測試的射頻線圈20的電流裕量相加，以得到所述閾值電流。具體地，由所述閾值電流設(shè)置單元23中的疊加單元將所述線圈電流確定單元輸出的所述待測試的射頻線圈在正常狀態(tài)下的工作電流與所述待測試的射頻線圈20的電流裕量相加，以確定所述閾值電流。
[0048]假定每個射頻線圈單元在正常狀態(tài)下的工作電流為10mA，在本實施例中，所述待測試的射頻線圈20的識別碼為“6A”，所述識別碼“6A”對應(yīng)的射頻線圈的單元數(shù)目為30，即所述待測試的射頻線圈20有30個射頻線圈單元，設(shè)置所述待測試的射頻線圈20的電流裕量為15mA，則所述待測試的射頻線圈20的閾值電流為:30*10mA+15mA=315mA ;又例如，所述待測試的射頻線圈20的識別碼為“6B”，所述識別碼“6B”對應(yīng)的射頻線圈的單元數(shù)目為1，即所述待測試的射頻線圈20只有I個射頻線圈單元，設(shè)置所述待測試的射頻線圈20的電流裕量為15mA，則所述待測試的射頻線圈20的閾值電流為:l*10mA+15mA=25mA。所述電流裕量通常不大于20mA，在本實施例中，電流裕量為15mA，本【技術(shù)領(lǐng)域】技術(shù)人員知曉，在其他實施例中也可以為不大于20mA的其他值，具體根據(jù)所述各線圈在正常工作時的電流大小和具體電路確定。
[0049]進(jìn)一步，在某些情況下，比如生產(chǎn)時出現(xiàn)焊接錯誤，導(dǎo)致射頻線圈中的一些單元出現(xiàn)了短路，或在另一些情況下，例如給對射頻線圈進(jìn)行功能測試的射頻線圈測試裝置中的各模塊供電的電源模塊出現(xiàn)異常，在對射頻線圈進(jìn)行測試時，所述進(jìn)行功能測試的各模塊的工作電壓可能低于或高于正常時的工作電壓。所以，需要閾值電壓設(shè)置單元對射頻線圈進(jìn)行功能測試的射頻線圈測試裝置中的各模塊設(shè)置一個對應(yīng)的第一閾值電壓和第二閾值電壓。具體地，所述閾值電壓設(shè)置單元包括第一設(shè)置單元和第二設(shè)置單元。所述第一設(shè)置單元用于將所述各模塊正常工作時的工作電壓分別減去電壓裕量，以得到第一閾值電壓；所述第二設(shè)置單元用于將所述各模塊正常工作時的工作電壓分別加上電壓裕量，以得到第二閾值電壓。
[0050]所述進(jìn)行功能測試的各模塊正常工作時的工作電壓不一樣，例如，射頻線圈測試裝置中的控制模塊的工作電壓一般為5V，射頻線圈測試裝置中的射頻放大器模塊的工作電壓一般為10V，因此所述各模塊的電壓裕量也不一樣。在實際應(yīng)用中，所述各模塊正常工作時由于受外部環(huán)境(例如溫度)等因素的影響，所述各模塊正常工作時的電壓也會產(chǎn)生微小波動。因此，所述電壓裕量可根據(jù)所述各模塊正常工作時的電壓大小和具體電路確定。在本實施例中，所述電壓裕量的取值范圍為0.5V至IV，對于正常工作時工作電壓較大的模塊，所述電壓裕量可取較大值，對于正常工作時工作電壓較小的模塊，所述電壓裕量可取較小值。例如，所述控制模塊的電壓裕量可為0.5V,相應(yīng)地,所述控制模塊的第一閾值電壓為
4.5V，第二閾值電壓為5.5V ;所述射頻放大器模塊的電壓裕量可為IV，相應(yīng)地，所述射頻放大器模塊的第一閾值電壓為9V,第二閾值電壓為11V。
[0051]如步驟S14所述，在對所述待測試的射頻線圈進(jìn)行功能測試時，監(jiān)測所述待測試的射頻線圈在測試狀態(tài)下的工作電流，當(dāng)所述工作電流超過所述閾值電流，發(fā)出警報并斷開電源。
[0052]在設(shè)置好所述待測試的射頻線圈20的閾值電流和對所述待測試的射頻線圈20進(jìn)行功能測試的各模塊對應(yīng)的閾值電壓之后，將所述待測試的射頻線圈20與射頻線圈測試裝置連接，同時，將本發(fā)明技術(shù)方案提供的所述射頻線圈監(jiān)控裝置與所述射頻線圈測試裝置連接。具體地，所述待測試的射頻線圈20與所述射頻線圈測試裝置的連接方式可參考所述待測試的射頻線圈20與所述射頻線圈監(jiān)控裝置的連接方式，使用帶接頭的線纜進(jìn)行連接。在本實施例中，所述射頻線圈監(jiān)控裝置可獨自存在，也可以集成于所述射頻線圈測試裝置的內(nèi)部。不論所述射頻線圈監(jiān)控裝置采用哪種存在形式，本領(lǐng)域技術(shù)人員知曉，所述射頻線圈監(jiān)控裝置都可以通過線圈接口與所述射頻線圈測試裝置連接。
[0053]所述射頻線圈測試裝置包括電源模塊、選通模塊、狀態(tài)切換模塊、控制模塊、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等。所述電源模塊用于給線圈測試裝置中的其它模塊提供不同的工作電壓，所述選通模塊用于實現(xiàn)對需要測試的射頻線圈的通道進(jìn)行選通，所述狀態(tài)切換模塊用于實現(xiàn)對需要測試的射頻線圈的通道狀態(tài)進(jìn)行切換，所述控制模塊用于通過程序控制所述選通模塊和所述狀態(tài)切換模塊的工作及顯示參數(shù)值和狀態(tài)指示燈，所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀與所述選通模塊連接，用于配合所述選通模塊和所述狀態(tài)切換模塊，實現(xiàn)對需要測試的射頻線圈通道在不同狀態(tài)下的傳輸特性參數(shù)測試。對所述待測試的射頻線圈20進(jìn)行功能測試包括對所述待測試的射頻線圈20進(jìn)行調(diào)諧狀態(tài)和失諧狀態(tài)切換，所述調(diào)諧狀態(tài)為射頻線圈單元工作時的狀態(tài)，所述失諧狀態(tài)為射頻線圈單元未工作時的狀態(tài)。
[0054]當(dāng)使用所述射頻線圈測試裝置對所述待測試的射頻線圈20進(jìn)行所述功能測試時，所述電流監(jiān)測報警單元24和所述電壓監(jiān)測報警單元將會對流過所述待測試的射頻線圈20的工作電流和對所述待測試的射頻線圈20進(jìn)行功能測試的各模塊的工作電壓進(jìn)行監(jiān)控。若所述工作電流超過所述閾值電流和/或任一所述模塊的工作電壓低于該模塊對應(yīng)的第一閾值電壓或高于該模塊對應(yīng)的第二閾值電壓，則發(fā)出警報并斷開電源。具體地，所述警報可以是聲音形式的警示，也可以圖像或文字形式的警示，還可以是通過簡單的LED燈顯示警示，所述斷開電源的方式可以是手動斷開，也可以是自動斷開。
[0055]本發(fā)明實施例還提供了一種射頻線圈測試裝置，所述射頻線圈測試裝置包括如圖2所示的射頻線圈的監(jiān)控裝置。
[0056]當(dāng)射頻線圈應(yīng)用于磁共振系統(tǒng)中對人體進(jìn)行測試時，同樣需要對射頻線圈的工作電流及磁共振系統(tǒng)中用于成像的各模塊進(jìn)行監(jiān)控。因此，基于上述射頻線圈的監(jiān)控方法和裝置，本發(fā)明實施例還提供了一種磁共振系統(tǒng)，所述磁共振系統(tǒng)包括射頻線圈，還包括:識別單元，用于識別接入的所述射頻線圈的類型，所述類型與射頻線圈的編碼阻值對應(yīng)；閾值電流設(shè)置單元，用于根據(jù)所述識別單元識別的所述射頻線圈的類型確定所述射頻線圈的閾值電流；電流監(jiān)測報警單元，用于在使用所述射頻線圈對人體進(jìn)行測試時，監(jiān)測所述射頻線圈的工作電流，當(dāng)所述工作電流超過所述閾值電流，發(fā)出警報并斷開電源。
[0057]所述磁共振系統(tǒng)還包括閾值電壓設(shè)置單元，用于確定在使用所述射頻線圈對人體進(jìn)行測試時用于成像的各模塊對應(yīng)的閾值電壓。具體的，所述閾值電壓設(shè)置單元包括:第一設(shè)置單元，用于將所述各模塊正常工作時的工作電壓分別減去電壓裕量，以得到分別對應(yīng)于各模塊的第一閾值電壓；第二設(shè)置單元，用于將所述各模塊正常工作時的工作電壓分別加上電壓裕量，以得到分別對應(yīng)于各模塊的第二閾值電壓。所述電壓裕量的取值范圍為
0.5V 至 IV。
[0058]進(jìn)一步，所述磁共振系統(tǒng)還包括電壓監(jiān)測報警單元，用于在使用所述射頻線圈對人體進(jìn)行測試時，監(jiān)測所述各模塊的工作電壓，當(dāng)任一所述模塊的工作電壓低于該模塊對應(yīng)的第一閾值電壓或高于該模塊對應(yīng)的第二閾值電壓，發(fā)出警報并斷開電源。
[0059]進(jìn)一步，所述識別單元包括:電壓測量單元，用于測量所述射頻線圈的電壓；編碼阻值確定單元，用于根據(jù)所述電壓測量單元測量的所述射頻線圈的電壓確定所述射頻線圈的編碼阻值；匹配單元，用于將所述編碼阻值確定單元確定的所述射頻線圈的編碼阻值與每種射頻線圈的編碼阻值進(jìn)行匹配，以確定所述射頻線圈的識別碼。具體的，所述識別碼是依據(jù)每種射頻線圈的編碼阻值預(yù)先定義的。
[0060]進(jìn)一步，所述閾值電流設(shè)置單元包括:單元數(shù)確定單元，用于根據(jù)所述識別單元識別的所述射頻線圈的類型確定所述射頻線圈的單元數(shù)目；線圈電流確定單元，用于將所述射頻線圈每個單元在正常狀態(tài)下的工作電流與所述單元數(shù)確定單元所確定的所述射頻線圈的單元數(shù)目相乘，以得到所述射頻線圈在正常狀態(tài)下的工作電流；疊加單元，用于將所述線圈電流確定單元確定的所述射頻線圈在正常狀態(tài)下的工作電流與所述射頻線圈的電流裕量相加，以得到所述閾值電流。具體的，所述電流裕量的取值不大于20mA。
[0061]需要說明的是，所述識別單元、所述閾值電流設(shè)置單元和所述電流監(jiān)測報警單元的具體實現(xiàn)方式與前所述射頻線圈的監(jiān)控裝置實現(xiàn)方式相同，在此不再贅述。
[0062]綜上所述，本發(fā)明技術(shù)方案提供的射頻線圈的監(jiān)控方法及裝置，能夠識別接入的待測試的射頻線圈類型，根據(jù)不同類型的射頻線圈設(shè)置不同的閾值電流對射頻線圈進(jìn)行監(jiān)控，避免了不同類型的射頻線圈使用同一個閾值電流造成的單元數(shù)目較少的射頻線圈已經(jīng)出現(xiàn)過流和/或短路的情況而不能被發(fā)現(xiàn)的問題，從而最大限度地保護(hù)了射頻線圈及射頻線圈測試裝置。
[0063]本發(fā)明雖然已以較佳實施例公開如上，但其并不是用來限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，都可以利用上述揭示的方法和技術(shù)內(nèi)容對本發(fā)明技術(shù)方案做出可能的變動和修改，因此，凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化及修飾，均屬于本發(fā)明技術(shù)方案的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種射頻線圈的監(jiān)控方法，其特征在于，包括: 接入待測試的射頻線圈； 識別所述待測試的射頻線圈的類型，所述類型與射頻線圈的編碼阻值對應(yīng)； 根據(jù)所述待測試的射頻線圈的類型確定所述待測試的射頻線圈的閾值電流； 在對所述待測試的射頻線圈進(jìn)行功能測試時，監(jiān)測所述待測試的射頻線圈在測試狀態(tài)下的工作電流，當(dāng)所述工作電流超過所述閾值電流，發(fā)出警報并斷開電源。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻線圈的監(jiān)控方法，其特征在于，還包括:確定對所述待測試的射頻線圈進(jìn)行功能測試的各模塊對應(yīng)的閾值電壓。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的射頻線圈的監(jiān)控方法，其特征在于，所述確定對所述待測試的射頻線圈進(jìn)行功能測試的各模塊對應(yīng)的閾值電壓包括: 將所述各模塊正常工作時的工作電壓分別減去電壓裕量，以得到分別對應(yīng)于各模塊的第一閾值電壓； 將所述各模塊正常工作時的工作電壓分別加上電壓裕量，以得到分別對應(yīng)于各模塊的第二閾值電壓。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的射頻線圈的監(jiān)控方法，其特征在于，所述電壓裕量的取值范圍為0.5V至IV。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的射頻線圈的監(jiān)控方法，其特征在于，還包括:在對所述待測試的射頻線圈進(jìn)行所述功能測試時，監(jiān)測所述各模塊的工作電壓，當(dāng)任一所述模塊的工作電壓低于該模塊對應(yīng)的第一·閾值電壓或高于該模塊對應(yīng)的第二閾值電壓，發(fā)出警報并斷開電源。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻線圈的監(jiān)控方法，其特征在于，所述待測試的射頻線圈包括至少一個單元。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻線圈的監(jiān)控方法，其特征在于，所述識別所述待測試的射頻線圈的類型包括: 測量所述待測試的射頻線圈的電壓； 根據(jù)所述待測試的射頻線圈的電壓確定所述待測試的射頻線圈的編碼阻值； 將所述待測試的射頻線圈的編碼阻值與每種射頻線圈的編碼阻值進(jìn)行匹配，以確定所述待測試的射頻線圈的識別碼。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的射頻線圈的監(jiān)控方法，其特征在于，所述識別碼是依據(jù)每種射頻線圈的編碼阻值預(yù)先定義的。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻線圈的監(jiān)控方法，其特征在于，所述根據(jù)所述待測試的射頻線圈的類型確定所述待測試的射頻線圈的閾值電流，包括: 根據(jù)所述待測試的射頻線圈的類型確定所述待測試的射頻線圈的單元數(shù)目； 將所述待測試的射頻線圈每個單元在正常狀態(tài)下的工作電流與所述待測試的射頻線圈的單元數(shù)目相乘，以得到所述待測試的射頻線圈在正常狀態(tài)下的工作電流； 將所述待測試的射頻線圈在正常狀態(tài)下的工作電流與所述待測試的射頻線圈的電流裕量相加，以得到所述閾值電流。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的射頻線圈的監(jiān)控方法，其特征在于，所述電流裕量的取值不大于20mA。
11.一種射頻線圈的監(jiān)控裝置，其特征在于，包括: 連接單元，用于接入待測試的射頻線圈； 識別單元，用于識別所述連接單元接入的待測試的射頻線圈的類型，所述類型與射頻線圈的編碼阻值對應(yīng)； 閾值電流設(shè)置單元，用于根據(jù)所述識別單元識別的所述待測試的射頻線圈的類型確定所述待測試的射頻線圈的閾值電流； 電流監(jiān)測報警單元，用于在對所述待測試的射頻線圈進(jìn)行功能測試時，監(jiān)測所述待測試的射頻線圈在測試狀態(tài)下的工作電流，當(dāng)所述工作電流超過所述閾值電流，發(fā)出警報并斷開電源。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的射頻線圈的監(jiān)控裝置，其特征在于，還包括:閾值電壓設(shè)置單元，用于確定對所述待測試的射頻線圈進(jìn)行功能測試的各模塊對應(yīng)的閾值電壓。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的射頻線圈的監(jiān)控裝置，其特征在于，所述閾值電壓設(shè)置單元包括: 第一設(shè)置單元，用于將所述各模塊正常工作時的工作電壓分別減去電壓裕量，以得到分別對應(yīng)于各模塊的第一閾值電壓； 第二設(shè)置單元，用于將所述各模塊正常工作時的工作電壓分別加上電壓裕量，以得到分別對應(yīng)于各模塊的第二閾值電壓。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的射頻線圈的監(jiān)控裝置，其特征在于，所述電壓裕量的取值范圍為0.5V至IV。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的射頻線圈的監(jiān)控裝置，其特征在于，還包括:電壓監(jiān)測報警單元，用于在對所述待測試的射頻線圈進(jìn)行所述功能測試時，監(jiān)測所述各模塊的工作電壓，當(dāng)任一所述模塊的工作電壓低于該模塊對應(yīng)的第一閾值電壓或高于該模塊對應(yīng)的第二閾值電壓，發(fā)出警報并斷開電源。
16.根據(jù)權(quán)利要求11所述的射頻線圈的監(jiān)控裝置，其特征在于，所述待測試的射頻線圈包括至少一個單元。
17.根據(jù)權(quán)利要求11所述的射頻線圈的監(jiān)控裝置，其特征在于，所述識別單元包括: 電壓測量單元，用于測量所述待測試的射頻線圈的電壓； 編碼阻值確定單元，用于根據(jù)所述電壓測量單元測量的所述待測試的射頻線圈的電壓確定所述待測試的射頻線圈的編碼阻值； 匹配單元，用于將所述編碼阻值確定單元確定的所述待測試的射頻線圈的編碼阻值與每種射頻線圈的編碼阻值進(jìn)行匹配，以確定所述待測試的射頻線圈的識別碼。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的射頻線圈的監(jiān)控裝置，其特征在于，所述識別碼是依據(jù)每種射頻線圈的編碼阻值預(yù)先定義的。
19.根據(jù)權(quán)利要求11所述的射頻線圈的監(jiān)控裝置，其特征在于，所述閾值電流設(shè)置單元包括: 單元數(shù)確定單元，用于根據(jù)所述識別單元識別的所述待測試的射頻線圈的類型確定所述待測試的射頻線圈的單元數(shù)目； 線圈電流確定單元，用于將所述待測試的射頻線圈每個單元在正常狀態(tài)下的工作電流與所述單元數(shù)確定單元所確定的所述待測試的射頻線圈的單元數(shù)目相乘，以得到所述待測試的射頻線圈在正常狀態(tài)下的工作電流； 疊加單元，用于將所述線圈電流確定單元確定的所述待測試的射頻線圈在正常狀態(tài)下的工作電流與所述待測試的射頻線圈的電流裕量相加，以得到所述閾值電流。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的射頻線圈的監(jiān)控裝置，其特征在于，所述電流裕量的取值不大于20mA。
21.一種射頻線圈測試裝置，其特征在于，包括權(quán)利要求11至20任一項所述的射頻線圈的監(jiān)控裝置。
22.一種磁共振系統(tǒng)，包括射頻線圈，其特征在于，還包括: 識別單元，用于識別接入的所述射頻線圈的類型，所述類型與射頻線圈的編碼阻值對應(yīng)； 閾值電流設(shè)置單元，用于根據(jù)所述識別單元識別的所述射頻線圈的類型確定所述射頻線圈的閾值電流； 電流監(jiān)測報警單元，用于在使用所述射頻線圈對人體進(jìn)行測試時，監(jiān)測所述射頻線圈的工作電流，當(dāng)所述工作電流超過所述閾值電流，發(fā)出警報并斷開電源。
23.根據(jù)權(quán)利要求22所述的磁共振系統(tǒng)，其特征在于，還包括:閾值電壓設(shè)置單元，用于確定在使用所述射頻線圈對人體進(jìn)行測試時用于成像的各模塊對應(yīng)的閾值電壓。
24.根據(jù)權(quán)利要求23所述的磁共振系統(tǒng)，其特征在于，所述閾值電壓設(shè)置單元包括: 第一設(shè)置單元，用于將所述各模塊正常工作時的工作電壓分別減去電壓裕量，以得到分別對應(yīng)于各模塊的第一閾值電壓； 第二設(shè)置單元，用于將所述各模 塊正常工作時的工作電壓分別加上電壓裕量，以得到分別對應(yīng)于各模塊的第二閾值電壓。
25.根據(jù)權(quán)利要求24所述的磁共振系統(tǒng)，其特征在于，所述電壓裕量的取值范圍為0.5V 至 IV。
26.根據(jù)權(quán)利要求24所述的磁共振系統(tǒng)，其特征在于，還包括:電壓監(jiān)測報警單元，用于在使用所述射頻線圈對人體進(jìn)行測試時，監(jiān)測所述各模塊的工作電壓，當(dāng)任一所述模塊的工作電壓低于該模塊對應(yīng)的第一閾值電壓或高于該模塊對應(yīng)的第二閾值電壓，發(fā)出警報并斷開電源。
27.根據(jù)權(quán)利要求22所述的磁共振系統(tǒng)，其特征在于，所述射頻線圈包括至少一個單J Li ο
28.根據(jù)權(quán)利要求22所述的磁共振系統(tǒng)，其特征在于，所述識別單元包括: 電壓測量單元，用于測量所述射頻線圈的電壓； 編碼阻值確定單元，用于根據(jù)所述電壓測量單元測量的所述射頻線圈的電壓確定所述射頻線圈的編碼阻值； 匹配單元，用于將所述編碼阻值確定單元確定的所述射頻線圈的編碼阻值與每種射頻線圈的編碼阻值進(jìn)行匹配，以確定所述射頻線圈的識別碼。
29.根據(jù)權(quán)利要求28所述的磁共振系統(tǒng)，其特征在于，所述識別碼是依據(jù)每種射頻線圈的編碼阻值預(yù)先定義的。
30.根據(jù)權(quán)利要求22所述的磁共振系統(tǒng)，其特征在于，所述閾值電流設(shè)置單元包括: 單元數(shù)確定單元，用于根據(jù)所述識別單元識別的所述射頻線圈的類型確定所述射頻線圈的單元數(shù)目； 線圈電流確定單元，用于將所述射頻線圈每個單元在正常狀態(tài)下的工作電流與所述單元數(shù)確定單元所確定的所述射頻線圈的單元數(shù)目相乘，以得到所述射頻線圈在正常狀態(tài)下的工作電流； 疊加單元，用于將所述線圈電流確定單元確定的所述射頻線圈在正常狀態(tài)下的工作電流與所述射頻線圈的電流裕量相加，以得到所述閾值電流。
31.根據(jù)權(quán)利要求30所述的磁共振系統(tǒng)，其特征在于，所述電流裕量的取值不大于20mAo·
【文檔編號】G01R33/36GK103852743SQ201210496521
【公開日】2014年6月11日 申請日期:2012年11月28日 優(yōu)先權(quán)日:2012年11月28日
【發(fā)明者】陽昭衡 申請人:上海聯(lián)影醫(yī)療科技有限公司