專利名稱：用于無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的測試方法及測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種用于無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的測試方法及測試裝置。
背景技術(shù)：
通過使用射頻信號，已經(jīng)廣泛地使用射頻識別(RFID)標(biāo)簽芯片來自動識別對象。為了使用RFID標(biāo)簽芯片來自動識別對象，首先將RFID標(biāo)簽粘附到待識別的對象上，并且RFID讀取器與所述對象的RFID標(biāo)簽進(jìn)行無線通信而不需要與RFID標(biāo)簽進(jìn)行視線或者物理接觸。由于這種RFID技術(shù)的廣泛使用，可大大降低相關(guān)的自動識別技術(shù)諸如條形碼及光學(xué) 特征識別技術(shù)的缺點。其中所述標(biāo)簽芯片采用EPC協(xié)議，詢問機(jī)向一個或一個以上的標(biāo)簽發(fā)送信息，發(fā)送方式是采用脈沖間隔編碼(PIE)格式的雙旁帶振幅移位鍵控(DSB-ASK)、單邊帶振幅移位鍵控(SSB-ASK)或反向振幅移位鍵控(PR-ASK)調(diào)制射頻載波信號。標(biāo)簽通過相同的調(diào)制射頻載波接收功率。詢問機(jī)通過發(fā)送未調(diào)制射頻載波和傾聽反向散射回答接收從標(biāo)簽發(fā)來的信息。標(biāo)簽通過反向散射調(diào)制射頻載波的振幅和/或相位，傳達(dá)信息。用于對詢問機(jī)命令作出響應(yīng)的編碼格式或是FMO或是miller-modulate的副載波。詢問和標(biāo)簽之間的通彳目線路為半雙工，也就是不應(yīng)要求標(biāo)簽在反向散射的同時解調(diào)詢問機(jī)。標(biāo)簽不應(yīng)利用全雙工通信對強制命令或任選命令作出響應(yīng)。在沒有外部時鐘的標(biāo)簽芯片中，詢問機(jī)向標(biāo)簽芯片發(fā)送指令，由于標(biāo)簽芯片沒有外部時鐘，標(biāo)簽芯片響應(yīng)時間不確定，芯片時鐘脈寬不固定，導(dǎo)致芯片時鐘的周期不確定?，F(xiàn)有技術(shù)中的測試機(jī)通常采用在固定周期內(nèi)采樣一個點的方法來對無時鐘電路的標(biāo)簽芯片進(jìn)行測試，由于所述標(biāo)簽芯片采用EPC協(xié)議，后續(xù)數(shù)據(jù)的周期以幀頭的第一個電平的時間長度Tl為基準(zhǔn)周期，以在一個周期內(nèi)高電平或低電平為1，電平跳轉(zhuǎn)為0 ;或是以在一個周期內(nèi)高電平或低電平為0，電平跳轉(zhuǎn)為I。用于對詢問機(jī)命令作出響應(yīng)的編碼格式為FMO前同步碼的副載波，其波形圖如圖I所示。由于芯片時鐘的周期不確定，測試機(jī)在固定周期內(nèi)采樣到的電平可能已經(jīng)發(fā)生跳轉(zhuǎn)，進(jìn)而使得采樣到的數(shù)據(jù)出錯，不滿足標(biāo)簽芯片的測試要求。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種用于無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的測試方法及測試裝置，以在標(biāo)簽芯片的測試過程中減少誤差，提聞精度。本發(fā)明的技術(shù)解決方案是一種用于無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的測試方法，其特征在于，包括一測試機(jī)在一固定頻率下對一無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的幀頭進(jìn)行采樣，獲取所述幀頭的電平數(shù)據(jù)；
根據(jù)所述電平數(shù)據(jù)獲得所述幀頭的第一個電平連續(xù)出現(xiàn)的時長；所述測試機(jī)以所述時長為周期對所述標(biāo)簽芯片的后續(xù)幀進(jìn)行采樣，獲得后續(xù)幀的電平數(shù)據(jù)。作為優(yōu)選所述固定頻率為1KHZ-50MHZ。本發(fā)明還提供一種用于無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的測試裝置，包括第一采樣單元，以一固定頻率對一無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的幀頭進(jìn)行采樣，獲取所述幀頭的電平數(shù)據(jù)；處理單元，處理第一采樣單元得到的所述幀頭的電平數(shù)據(jù)以計算第一個電平連續(xù)出現(xiàn)的時長；第二采樣單元，以第一個電平連續(xù)出現(xiàn)的時長為周期對所述標(biāo)簽芯片的后續(xù)幀數(shù) 據(jù)進(jìn)行采樣，獲得后續(xù)幀的電平數(shù)據(jù)。作為優(yōu)選所述采樣單元的固定頻率為1KHZ-50MHZ。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的測試方法首先一測試機(jī)在一固定頻率下對一無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的幀頭進(jìn)行采樣，獲取所述幀頭的電平數(shù)據(jù)，采樣頻率高可以減少由于標(biāo)簽芯片響應(yīng)時間不確定以及幀頭周期不確定帶來的測試偏差；根據(jù)所述電平數(shù)據(jù)獲得第一個電平連續(xù)出現(xiàn)的時長，由于標(biāo)簽芯片采用EPC協(xié)議，根據(jù)幀頭原理所述標(biāo)簽芯片以幀頭第一電平時間長為基準(zhǔn)周期；然后所述測試機(jī)以所述時長為周期對所述標(biāo)簽芯片的后續(xù)幀數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣，獲得后續(xù)幀電平數(shù)據(jù)。采用上述方法測試機(jī)得到的數(shù)據(jù)誤差小，精度高。


圖I是標(biāo)簽芯片采用EPC協(xié)議時對詢問機(jī)命令作出響應(yīng)的編碼格式為FMO前同步碼的副載波的波形圖；圖2是本發(fā)明一具體實施例的測試方法的流程圖；圖3是本發(fā)明已具體實施例的測試裝置的示意圖。
具體實施例方式本發(fā)明下面將結(jié)合附圖作進(jìn)一步詳述在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明。但是本發(fā)明能夠以很多不同于在此描述的其它方式來實施，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不違背本發(fā)明內(nèi)涵的情況下做類似推廣，因此本發(fā)明不受下面公開的具體實施的限制。其次，本發(fā)明利用示意圖進(jìn)行詳細(xì)描述，在詳述本發(fā)明實施例時，為便于說明，表示器件結(jié)構(gòu)的剖面圖會不依一般比例作局部放大，而且所述示意圖只是實例，其在此不應(yīng)限制本發(fā)明保護(hù)的范圍。此外，在實際制作中應(yīng)包含長度、寬度及深度的三維空間尺寸。圖2示出了本發(fā)明一具體實施例的測試方法的流程圖。請參閱圖2所示，在本實施例中，一種用于無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的測試方法，包括一測試機(jī)在一固定頻率下對一無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的幀頭進(jìn)行采樣，獲取所述幀頭的電平數(shù)據(jù)，所述固定頻率為1KHZ-50MHZ，即在一個固定周期內(nèi)采樣n個點，采樣頻率高，區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)中測試機(jī)在固定周期內(nèi)采樣一個點的方法，可以減少由于標(biāo)簽芯片響應(yīng)時間不確定以及幀頭周期不確定帶來的測試偏差；根據(jù)所述電平數(shù)據(jù)獲得所述幀頭的第一個電平連續(xù)出現(xiàn)的時長，由于本發(fā)明的標(biāo)簽芯片采用EPC協(xié)議，用于對詢問機(jī)命令作出響應(yīng)的編碼格式為FMO前同步碼的副載波，其幀頭的第一個電平為高電平或低電平，以所述高電平或低電平的時間為第一時間長，所述標(biāo)簽芯片內(nèi)的數(shù)據(jù)周期以第一時間長為基準(zhǔn)；所述測試機(jī)以所述時長為 周期對所述標(biāo)簽芯片的后續(xù)幀進(jìn)行采樣，獲得后續(xù)幀的電平數(shù)據(jù)。本發(fā)明還提供一種用于無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的測試裝置，包括第一采樣單元11，以一固定頻率對一無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的幀頭進(jìn)行采樣，獲取所述幀頭的電平數(shù)據(jù)，所述第一采樣單元11的固定頻率為1KHZ-50MHZ ；處理單元12，處理第一采樣單元11得到的所述幀頭的電平數(shù)據(jù)以計算第一個電平連續(xù)出現(xiàn)的時長；第二采樣單元13，以第一個電平連續(xù)出現(xiàn)的時長為周期對所述標(biāo)簽芯片的后續(xù)幀數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣，獲得后續(xù)幀的電平數(shù)據(jù)。綜上所述，本發(fā)明的測試方法首先一測試機(jī)在一固定頻率下對一無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的幀頭進(jìn)行采樣，獲取所述幀頭的電平數(shù)據(jù)，采樣頻率高可以減少由于標(biāo)簽芯片響應(yīng)時間不確定以及幀頭周期不確定帶來的測試偏差；根據(jù)所述電平數(shù)據(jù)獲得第一個電平連續(xù)出現(xiàn)的時長，由于標(biāo)簽芯片采用EPC協(xié)議，根據(jù)幀頭原理所述標(biāo)簽芯片以幀頭第一電平時間長為基準(zhǔn)周期；然后所述測試機(jī)以所述時長為周期對所述標(biāo)簽芯片的后續(xù)幀數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣，獲得后續(xù)幀電平數(shù)據(jù)。采用上述方法測試機(jī)得到的數(shù)據(jù)誤差小，精度高。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，凡依本發(fā)明權(quán)利要求范圍所做的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明權(quán)利要求的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種用于無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的測試方法，其特征在于，包括 一測試機(jī)在一固定頻率下對一無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的幀頭進(jìn)行采樣，獲取所述幀頭的電平數(shù)據(jù)； 根據(jù)所述電平數(shù)據(jù)獲得所述幀頭的第一個電平連續(xù)出現(xiàn)的時長； 所述測試機(jī)以所述時長為周期對所述標(biāo)簽芯片的后續(xù)幀進(jìn)行采樣，獲得后續(xù)幀的電平數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的測試方法，其特征在于所述固定頻率為1KHZ-50MHZ。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的測試裝置，其特征在于包括 第一采樣單元，以一固定頻率對一無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的幀頭進(jìn)行采樣，獲取所述幀頭的電平數(shù)據(jù)； 處理單元，處理第一采樣單元得到的所述幀頭的電平數(shù)據(jù)以計算第一個電平連續(xù)出現(xiàn)的時長； 第二采樣單元，以第一個電平連續(xù)出現(xiàn)的時長為周期對所述標(biāo)簽芯片的后續(xù)幀進(jìn)行采樣，獲得后續(xù)幀的電平數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的測試裝置，其特征在于所述采樣單元的固定頻率為1KHZ-50MHZ。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的測試方法及測試裝置，該方法包括一測試機(jī)在一固定頻率下對一無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的幀頭進(jìn)行采樣，獲取所述幀頭的電平數(shù)據(jù)；根據(jù)所述電平數(shù)據(jù)獲得所述幀頭的第一個電平連續(xù)出現(xiàn)的時長；所述測試機(jī)以所述時長為周期對所述標(biāo)簽芯片的后續(xù)幀進(jìn)行采樣，獲得后續(xù)幀的電平數(shù)據(jù)。本發(fā)明測試機(jī)在一固定頻率下對一無時鐘電路的標(biāo)簽芯片的幀頭進(jìn)行采樣，獲得幀頭中第一個電平連續(xù)出現(xiàn)的時長，由于標(biāo)簽芯片采用EPC協(xié)議，后續(xù)數(shù)據(jù)的周期以幀頭的第一個電平的時長為基準(zhǔn)周期，所以以所述時長為周期對所述標(biāo)簽芯片的后續(xù)幀數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣得到的數(shù)據(jù)誤差小，精度高。
文檔編號G01R31/28GK102721917SQ201210236898
公開日2012年10月10日 申請日期2012年7月9日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月9日
發(fā)明者劉遠(yuǎn)華, 吳勇佳, 張映, 湯雪飛, 邵嘉陽 申請人:上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司