專利名稱：一種等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉等離子顯示器制作エ藝技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
等離子顯示器F1DP (Plasma Display Panel)以視角廣、薄型、圖像無畸變、響應(yīng)速度快、壽命長、高發(fā)光效率、高亮度、存儲(chǔ)功能、不易受電磁干擾、易制作大尺寸屏幕等優(yōu)點(diǎn)成為繼顯像管 CRT (Cathod Ray Tube)、液晶顯示器 IXD (Liquid Crystal Display)之后的新一代顯示器，且屬于主動(dòng)發(fā)光器件，其可以與CRT —祥色彩豐富，卻比CRT更適用于大屏幕顯示，同時(shí)在顯示效果方面又大大優(yōu)于LCD，成為實(shí)現(xiàn)高清晰度大屏幕顯示的佼佼者。PDP的主要載體是特制的玻璃基板，所述玻璃基板的反面通過浮法制備有ー層錫膜。其有錫面和無錫面在外觀上沒有區(qū)別，所以很難直觀通過觀察判斷來區(qū)分兩個(gè)表面。所述玻璃基板在進(jìn)行電極燒制エ藝時(shí)如果有錫面和無錫面放置錯(cuò)誤將會(huì)發(fā)生電極紅化現(xiàn)象，造成制作的失敗。當(dāng)前在進(jìn)行PDP生產(chǎn)時(shí)并沒有有效的方法或裝置用于檢測玻璃基板的有錫面和無錫面，所以開發(fā)研制一種等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)和/或方法是PDP生產(chǎn)提高成品率、降低生產(chǎn)成本亟待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容
為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)及方法，該檢測裝置能夠快速檢測區(qū)分等離子顯示器用玻璃基板的有錫面和無錫面，從而提高了成品率、降低了生產(chǎn)成本。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案一種等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括一種等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括發(fā)射裝置，所述發(fā)射裝置向所述玻璃基板的待檢測面發(fā)射檢測信號(hào)；接收裝置，所述接收裝置用于采集所述待檢測面反射的檢測信號(hào)；處理裝置，所述處理裝置根據(jù)所述接收裝置采集的反射后檢測信號(hào)判斷區(qū)分所述玻璃基板的有錫面和無錫面。優(yōu)選的，上述系統(tǒng)中，所述發(fā)射裝置為紫外線發(fā)射器。優(yōu)選的，上述系統(tǒng)中，所述接收裝置為紫外線接收器。優(yōu)選的，上述系統(tǒng)中，所述處理裝置為可數(shù)字顯示的光電轉(zhuǎn)換器，用以將采集的反射后的檢測信號(hào)轉(zhuǎn)換為與之對(duì)應(yīng)的電信號(hào)以表征所述反射后的檢測信號(hào)的強(qiáng)度。優(yōu)選的，上述系統(tǒng)中，所述系統(tǒng)還包括與所述光電轉(zhuǎn)換器連接的處理器，所述處理器通過將所述光電轉(zhuǎn)換器將表征所述反射后的檢測信號(hào)的強(qiáng)度電信號(hào)與其存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)值比較自動(dòng)區(qū)分所述玻璃基板的有錫面、和無錫面。本發(fā)明還提供了一種等離子顯示器用玻璃基板檢測方法，該方法包括向所述玻璃基板的待檢測面發(fā)射檢測信號(hào)；采集經(jīng)過所述待檢測面反射后的檢測信號(hào)；根據(jù)采集的反射信號(hào)判斷區(qū)分所述玻璃基板的有錫面和無錫面。優(yōu)選的，上述方法中，所述檢測信號(hào)為紫外信號(hào)。從上述技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明所提供的等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)包 括發(fā)射裝置，所述發(fā)射裝置向所述玻璃基板的待檢測面發(fā)射檢測信號(hào)；接收裝置，所述接收裝置用于采集所述待檢測面反射的檢測信號(hào)；處理裝置，所述處理裝置根據(jù)所述接收裝置采集的反射檢測信號(hào)判斷區(qū)分所述玻璃基板的有錫面和無錫面。本發(fā)明所述檢測系統(tǒng)在對(duì)待測玻璃基板進(jìn)行檢測時(shí)，由發(fā)射裝置發(fā)射一定強(qiáng)度的檢測信號(hào)，經(jīng)過所述待檢測面反射后被所述接收裝置采集，由于所述玻璃基板有錫面和無錫面對(duì)檢測信號(hào)的反射率不同，即反射后檢測信號(hào)的強(qiáng)度不同，所以處理裝置可以根據(jù)所述接收裝置采集的檢測信號(hào)的強(qiáng)度判斷所述待檢測面為有錫面還是無錫面，從而區(qū)分出所述玻璃基板的有錫面和無錫面。因此，所述檢測系統(tǒng)可以簡單快速的檢測所述玻璃基板，區(qū)分其有錫面和無錫面，避免了由于玻璃基板有錫面和無錫面放置錯(cuò)誤導(dǎo)致的電極紅化現(xiàn)象，從而提高了 PDP進(jìn)行電極燒制時(shí)的成品率，降低了生產(chǎn)成本。


為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I為本發(fā)明實(shí)施例所述等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明實(shí)施例所述等離子顯示器用玻璃基板檢測方法的方法流程示意圖。
具體實(shí)施例方式正如背景技術(shù)部分所述，等離子顯示器用玻璃基板的有錫面和無錫面在外觀上沒有區(qū)別，所以很難直觀通過觀察判斷來區(qū)分兩個(gè)表面。當(dāng)前在進(jìn)行PDP生產(chǎn)時(shí)并沒有有效的方法或裝置用于檢測玻璃基板的有錫面和無錫面，所以開發(fā)研制一種等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)和/或方法是PDP生產(chǎn)提高成品率、降低生產(chǎn)成本亟待解決的問題。而通過在所述玻璃基板上做標(biāo)記雖然可便于分辨所述基板有錫面和無錫面，但是要保證所述基板生產(chǎn)成本、表面的整潔等，該方法的實(shí)現(xiàn)增加玻璃基板生產(chǎn)エ藝，降低生產(chǎn)效率，從而增加玻璃基板的使用成本。所以，現(xiàn)有PDP技術(shù)在進(jìn)行PDP生產(chǎn)時(shí)一般不采用上述做標(biāo)記的方法，而只通過簡單的生產(chǎn)管理，即將浮法制造后的玻璃基板進(jìn)行統(tǒng)ー的擺放，如將有錫面統(tǒng)一朝上放置或統(tǒng)一朝下放置。但是，一方面，由于操作問題，并不能保證所有基板都按照管理方法正確擺放；另ー方面，浮法生產(chǎn)的玻璃基板客戶使用階段的品質(zhì)檢驗(yàn)后也不能保證檢驗(yàn)后的玻璃基板的按照管理方法正確擺放。在對(duì)玻璃基板進(jìn)行電極燒制吋，如果所述玻璃基板的有錫面和無錫面擺放不正確將會(huì)導(dǎo)致電極紅化現(xiàn)象，從而導(dǎo)致制作失敗，且此時(shí)的玻璃基板已經(jīng)不能在進(jìn)行返修處理，只能報(bào)廢，導(dǎo)致成品率不高，且浪費(fèi)了玻璃基板，造成生產(chǎn)成本過高。所以，開發(fā)研制ー種等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)和/或方法是PDP生產(chǎn)中提高成品率、降低生產(chǎn)成本亟待解決的問題。
發(fā)明人研究發(fā)現(xiàn)，等離子顯示器用玻璃基板其有錫面和無錫面兩個(gè)表面對(duì)光線的反射率是不同的。即當(dāng)一定強(qiáng)度的光線入射后，由于有錫面和無錫面的反射率不同，接收到的反射后的光線的強(qiáng)度值不同。所以，利用一定強(qiáng)度的光檢測線號(hào)入射其中ー個(gè)表面(待檢測面)，然后根據(jù)反射后的光檢測信號(hào)的強(qiáng)度判斷所述待檢測面是有錫面還是無錫面。基于上述研究，本發(fā)明提供了一種等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括發(fā)射裝置，所述發(fā)射裝置向所述玻璃基板的待檢測面發(fā)射檢測信號(hào)；接收裝置，所述接收裝置用于采集所述待檢測面反射的檢測信號(hào)；處理裝置，所述處理裝置根據(jù)所述接收裝置采集的反射檢測信號(hào)判斷區(qū)分所述玻璃基板的有錫面和無錫面。本發(fā)明所述等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)通過一個(gè)發(fā)射裝置發(fā)射檢測信號(hào)，然后通過接收裝置采集經(jīng)過所述待檢測玻璃基板表面反射后的檢測信號(hào)，處理裝置根據(jù)采集的反射后的檢測信號(hào)強(qiáng)度判斷區(qū)分所述玻璃基板的有錫面和無錫面。如上述所述玻璃基板的有錫面和無錫面的反射率是不同的，一定強(qiáng)度的檢測信號(hào)入射后，兩個(gè)表面反射的檢測信號(hào)的強(qiáng)度是兩個(gè)不同的定值，對(duì)于一定型號(hào)的玻璃基板，根據(jù)反射后的檢測信號(hào)的強(qiáng)度便可區(qū)分待檢測玻璃基板的有錫面和無錫面，即如所述待檢測面反射后的信號(hào)的強(qiáng)度與該待檢測玻璃基板理論反射強(qiáng)度相符，則所述待檢測面為有錫面，否則，則所述待檢測面為無錫面?？梢?，所述檢測系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)簡單，能夠快速區(qū)分待檢測玻璃基板的有錫面和無錫面，避免了 PDP生產(chǎn)時(shí)由于玻璃基板有錫面和無錫面放置錯(cuò)誤導(dǎo)致的生產(chǎn)失敗，提高了成品率；同時(shí)降低了玻璃基板由于制作失敗的消耗，降低了生產(chǎn)成本；且所述系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)簡單，檢測成本較低。本發(fā)明還提供了一種等離子顯示器用玻璃基板檢測方法，該方法包括向所述玻璃基板的待檢測面發(fā)射檢測信號(hào)；采集經(jīng)過所述待檢測面反射后的檢測信號(hào)；根據(jù)采集的反射信號(hào)判斷區(qū)分所述玻璃基板的有錫面和無錫面。本發(fā)明所述等離子顯示器用玻璃基板檢測方法利用一定強(qiáng)度的檢測信號(hào)入射所述玻璃基板的ー個(gè)表面(待檢測面)，根據(jù)反射后的檢測信號(hào)判斷所述待檢測面是有錫面還是無錫面，可以快速區(qū)分玻璃基板的有錫面和無錫面，提高了 PDP生產(chǎn)的成品率，降低了成本；同時(shí)，實(shí)現(xiàn)方式簡單，檢測成本較低。以上是本申請(qǐng)的核心思想，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明，但是本發(fā)明還可以采用其他不同于在此描述的其它方式來實(shí)施，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不違背本發(fā)明內(nèi)涵的情況下做類似推廣，因此本發(fā)明不受下面公開的具體實(shí)施例的限制。其次，本發(fā)明結(jié)合示意圖進(jìn)行詳細(xì)描述，在詳述本發(fā)明實(shí)施例時(shí)，為便于說明，表示裝置件結(jié)構(gòu)的剖面圖會(huì)不依一般比例作局部放大，而且所述示意圖只是示例，其在此不應(yīng)限制本發(fā)明保護(hù)的范圍。此外，在實(shí)際制作中應(yīng)包含長度、寬度及高度的三維空間尺寸。實(shí)施例一基于上述思想，本實(shí)施例提供了一種 等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)，參考圖1，所述檢測系統(tǒng)包括紫外線發(fā)射器I、紫外線接收器3、光電轉(zhuǎn)換器4。其中，所述光電轉(zhuǎn)換器4可數(shù)字顯示。所述等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)在進(jìn)行剝離基板檢測區(qū)分其有錫面和無錫面時(shí)，首先通過所述紫外線發(fā)射器I向待檢測的玻璃基板的待檢測面發(fā)射一定強(qiáng)度的紫外線檢測信號(hào)，然后通過紫外線接收器3采集經(jīng)過所述待檢測面反射后的檢測信號(hào)，并將所采集的反射后的檢測信號(hào)傳送給所述光電轉(zhuǎn)換器4，所述光電轉(zhuǎn)換器4根據(jù)所述反射后的檢測信號(hào)將其轉(zhuǎn)換為與之對(duì)應(yīng)的電信號(hào)并顯示，通過所述電信號(hào)來表征所述檢測信號(hào)的強(qiáng)度值。如上述，等離子顯示器用玻璃基板的有錫面與無錫面的反射率是不同的，特別的，有錫面與無錫面其對(duì)紫外線的反射率差值較大，通過一定強(qiáng)度的紫外線檢測信號(hào)對(duì)待檢測的玻璃基板進(jìn)行照射，反射后的檢測信號(hào)強(qiáng)度為兩個(gè)相差較大的定值。所以，根據(jù)反射后的檢測信號(hào)的強(qiáng)度即可區(qū)分所述玻璃基板的有錫面和無錫面，即將反射后的檢測信號(hào)強(qiáng)度分別與所述基板有錫面和無錫面理論上的反射后的標(biāo)準(zhǔn)值比較，如果與有錫面的標(biāo)準(zhǔn)值近似相等則為有錫面，如果與無錫面的標(biāo)準(zhǔn)值相同則為無錫面。在實(shí)際操作中，只需進(jìn)行一次比較即可，如與有錫面的標(biāo)準(zhǔn)值比較，相同則所述待檢測面為有錫面，否則為無錫面。所述檢測系統(tǒng)還包括與所述光電轉(zhuǎn)換器連接的處理器。所述處理器內(nèi)部存儲(chǔ)有上述標(biāo)準(zhǔn)值，能夠?qū)⒈碚魉龇瓷浜蟮臋z測信號(hào)的強(qiáng)度電信號(hào)與其存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)值比較自動(dòng)區(qū)分所述玻璃基板的有錫面和無錫面，從而提高了檢測效率。通過上述論述可知，本發(fā)明技術(shù)方案所述等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)能夠快速區(qū)分待檢測玻璃基板的有錫面和無錫面，避免了 PDP生產(chǎn)時(shí)由于玻璃基板有錫面和無錫面放置錯(cuò)誤導(dǎo)致的生產(chǎn)失敗，提高了成品率；同時(shí)降低了玻璃基板由于制作失敗的消耗，降低了生產(chǎn)成本；且所述系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)簡單，檢測成本較低。實(shí)施例ニ基于上述思想，本實(shí)施例提供了ー種離子顯示器用玻璃基板檢測方法，參考圖2，該方法包括步驟Sll :向所述玻璃基板的待檢測面發(fā)射檢測信號(hào)。鑒于所述玻璃基板的有錫面和無錫面對(duì)光信號(hào)的反射率不同，特別的是對(duì)紫外線反射率有明顯的差異。所以，本實(shí)施例優(yōu)選的采用紫外線作為檢測信號(hào)，在實(shí)際檢測過程中，可通過ー個(gè)紫外線發(fā)射器向待檢測的玻璃基板的待檢測面發(fā)射一定強(qiáng)度的紫外線檢測信號(hào)。步驟S12 :采集經(jīng)過所述待檢測面反射后的檢測信號(hào)。與上述紫外線發(fā)射器對(duì)應(yīng)的，在本步驟中，采用ー紫外線接收器采集經(jīng)過所述待檢測面反射厚度的檢測信號(hào)。
步驟S13 :根據(jù)采集的反射信號(hào)判斷區(qū)分所述玻璃基板的有錫面和無錫面?？赏ㄟ^一光電轉(zhuǎn)換器接收上述采集的反射后的檢測信號(hào)，將其轉(zhuǎn)換為與之對(duì)應(yīng)的電信號(hào)以表征所述檢測信號(hào)的強(qiáng)度，根據(jù)所述檢測信號(hào)的強(qiáng)度大小判讀區(qū)分所述玻璃基板的有錫面和無錫面。具體的判斷區(qū)分方法與實(shí)施例一中相同。同樣，可采用ー個(gè)處理器進(jìn)行自動(dòng)判斷，以提聞檢測效率。本實(shí)施例所述等離子顯示器用玻璃基板檢測方法利用一定強(qiáng)度的檢測信號(hào)入射所述玻璃基板的ー個(gè)表面(待檢測面)，根據(jù)反射后的檢測信號(hào)判斷所述待檢測面為有錫面還是無錫面，可以快速區(qū)分玻璃基板的有錫面和無錫面，提高了 PDP生產(chǎn)的成品率，降低了成本；同時(shí)，實(shí)現(xiàn)方式簡單，檢 測成本較低。需要說明的是，本發(fā)明實(shí)施例中才用紫外線作為檢測信號(hào)以實(shí)現(xiàn)區(qū)分所述玻璃幾班的有錫面和無錫面的實(shí)現(xiàn)方式只是本發(fā)明技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的優(yōu)選實(shí)施方式，并不是唯一實(shí)現(xiàn)方式，也可以采用其他檢測信號(hào)根據(jù)反射后的信號(hào)強(qiáng)度的大小來判斷區(qū)分所述玻璃基板的有錫面和無錫面的其他實(shí)現(xiàn)方式。對(duì)所公開的實(shí)施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會(huì)被限制于本文所示的這些實(shí)施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。
權(quán)利要求
1.一種等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)，其特征在于，包括 發(fā)射裝置，所述發(fā)射裝置向所述玻璃基板的待檢測面發(fā)射檢測信號(hào)； 接收裝置，所述接收裝置用于采集所述待檢測面反射的檢測信號(hào)； 處理裝置，所述處理裝置根據(jù)所述接收裝置采集的反射后檢測信號(hào)判斷區(qū)分所述玻璃基板的有錫面和無錫面。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述發(fā)射裝置為紫外線發(fā)射器。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述接收裝置為紫外線接收器。
4.根據(jù)權(quán)利要求所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述處理裝置為可數(shù)字顯示的光電轉(zhuǎn)換器，用以將采集的反射后的檢測信號(hào)轉(zhuǎn)換為與之對(duì)應(yīng)的電信號(hào)以表征所述反射后的檢測信號(hào)的強(qiáng)度。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括 與所述光電轉(zhuǎn)換器連接的處理器，所述處理器通過將所述光電轉(zhuǎn)換器將表征所述反射后的檢測信號(hào)的強(qiáng)度電信號(hào)與其存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)值比較自動(dòng)區(qū)分所述玻璃基板的有錫面和無錫面。
6.一種等離子顯示器用玻璃基板檢測方法，其特征在于，包括 向所述玻璃基板的待檢測面發(fā)射檢測信號(hào)； 采集經(jīng)過所述待檢測面反射后的檢測信號(hào)； 根據(jù)采集的反射信號(hào)判斷區(qū)分所述玻璃基板的有錫面和無錫面。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述檢測信號(hào)為紫外信號(hào)。
全文摘要
本發(fā)明所提供的等離子顯示器用玻璃基板檢測系統(tǒng)包括發(fā)射裝置，所述發(fā)射裝置向所述玻璃基板的待檢測面發(fā)射檢測信號(hào)；接收裝置，所述接收裝置用于采集所述待檢測面反射的檢測信號(hào)；處理裝置，所述處理裝置根據(jù)所述接收裝置采集的反射檢測信號(hào)判斷區(qū)分所述玻璃基板的有錫面和無錫面。由于所述玻璃基板有錫面和無錫面對(duì)檢測信號(hào)的反射率不同，所以可以根據(jù)采集的檢測信號(hào)的強(qiáng)度區(qū)分有錫面和無錫面，從而區(qū)分出所述玻璃基板的有錫面和無錫面。因此，所述檢測系統(tǒng)可以簡單快速的檢測所述玻璃基板，區(qū)分其有錫面和無錫面，避免了由于玻璃基板有錫面和無錫面放置錯(cuò)誤導(dǎo)致的電極紅化現(xiàn)象，從而提高了PDP進(jìn)行電極燒制時(shí)的成品率，降低了生產(chǎn)成本。
文檔編號(hào)G01N21/55GK102636460SQ20121010888
公開日2012年8月15日 申請(qǐng)日期2012年4月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月13日
發(fā)明者趙之明 申請(qǐng)人:安徽鑫昊等離子顯示器件有限公司