專利名稱：標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及標(biāo)準(zhǔn)件的檢驗領(lǐng)域，尤其涉及一種標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具。
背景技術(shù)：
在機械領(lǐng)域中，對于一些標(biāo)準(zhǔn)件，例如螺釘?shù)臋z測是經(jīng)常進行的，螺釘?shù)囊?guī)格如果不符合所需的規(guī)格，在安裝時是非常影響整個工序的，現(xiàn)在一般檢驗時，都是進行卡尺或一些常規(guī)工具進行測量，螺釘頭部外徑尺寸dk值采用游標(biāo)卡尺測量，每次須轉(zhuǎn)動頭部采取多點數(shù)值來確定結(jié)果；由于螺釘頭部厚度位置特殊，通用量具無法直接測量，而且精度不高；采用三坐標(biāo)測量，由于抽檢數(shù)量一般較多導(dǎo)致效率較低。同時抽檢數(shù)量較多，導(dǎo)致每次檢驗測量工作量很大且效率不高。平時標(biāo)準(zhǔn)件抽檢數(shù)目比較大，單個一一測量費工又費時，另 夕卜，人工測量也會產(chǎn)生誤差，因此需求一種工裝解決此類問題。

實用新型內(nèi)容為了解決背景技術(shù)中所存在的技術(shù)問題，本實用新型提出了一種標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具，提高檢驗質(zhì)量，簡化操作。本實用新型的技術(shù)解決方案是標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具，其特征在于所述檢驗工具包括檢驗板，所述檢驗板上設(shè)置檢驗區(qū)，所述檢驗區(qū)包括檢驗孔，所述檢驗孔是多個。上述檢驗區(qū)包括檢驗螺釘頭部外徑尺寸dk值的dk值檢驗區(qū)，所述dk值檢驗區(qū)包括dk值檢驗孔，所述dk值檢驗孔是多個由大到小排列的內(nèi)壁光滑的檢驗孔。上述檢驗區(qū)包括檢驗螺釘頭厚度K值的K值檢驗區(qū)，所述K值檢驗區(qū)包括K值檢驗孔，所述K值檢驗孔是多個由大到小排列的內(nèi)壁光滑的檢驗孔。上述檢驗區(qū)還包括檢驗螺釘頭部十字槽型號的M值檢驗區(qū)，所述M值檢驗區(qū)包括M值檢驗孔，所述M值檢驗孔是多個由大到小排列的內(nèi)壁設(shè)置螺紋的檢驗孔。上述檢驗區(qū)還包括90°測量區(qū)，所述90°測量區(qū)設(shè)置與螺釘側(cè)面形狀適配的測量槽，所述測量槽是多個。上述K值檢驗孔包括兩兩對應(yīng)的最大K值檢驗孔和最小K值檢驗孔,所述最大K值檢驗孔的直徑與其對應(yīng)的最小K值測量孔的差值是0. 1mm。上述dk值檢驗孔包括兩兩對應(yīng)的最大dk值檢驗孔和最小dk值檢驗孔,所述最大dk值檢驗孔與其對應(yīng)的最小dk值檢驗孔的差值是0. 3mm 0. 6mm。上述dk 值檢驗區(qū)符合 GB/T819. 2 或 GB/T818 或 HB1-206F。上述K 值檢驗區(qū)符合 GB/T819. 2 或 GB/T837 或 GB/T818 或 GB/T823。本實用新型的標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具，制作螺釘頭部通止規(guī)及螺母外形通止規(guī)進行檢驗，就如同“篩蘋果” 一樣，既能滿足檢驗要求又能提高效率；可以采用高度尺間接快速測量，一次多個，能夠很好的提高檢驗效率且保證檢驗的準(zhǔn)確性，保證了產(chǎn)品質(zhì)量。

[0014]圖I是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意具體實施方式參見圖1，本實用新型的標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具，主要針對螺釘頭部的外形尺寸檢驗，因為國標(biāo)中對螺釘頭部的相關(guān)尺寸都有明確尺寸范圍要求，如dk、K、m、十字槽槽型、90° 0+2°。針對這幾個尺寸的特征，dk、K值的檢驗，檢具的制作是按照國標(biāo)中的尺寸范圍。檢驗工具包括檢驗板1，檢驗板I上設(shè)置檢驗區(qū)，檢驗區(qū)包括檢驗孔，檢驗孔是多個。檢驗區(qū)包括檢驗螺釘頭部外徑尺寸dk值的dk值檢驗區(qū)2，dk值檢驗區(qū)包括dk值檢驗孔20，dk值檢驗孔20是多個由大到小排列的內(nèi)壁光滑的檢驗孔，可以針對十字槽沉頭螺釘、十字槽盤頭螺釘、六角螺母的頭部尺寸(dk)檢驗，dk值檢驗孔包括兩兩對應(yīng)的最大dk值檢驗孔和最小dk值檢驗孔,最大dk值檢驗孔與其對應(yīng)的最小dk值檢驗孔的差值是0. 3mm 0. 6mm,以最小值不通過，最大值通過則為合格；dk值檢驗區(qū)符合GB/T819. 2或GB/T818或HB1-206F，可以將需要檢測的螺釘分別通過各個大小的檢測孔直接的檢測出尺寸范圍，制作螺釘頭部通止規(guī)進行檢驗，就如同“篩蘋果” 一樣，既能滿足檢驗要求又能提高效率。檢驗螺釘頭厚度K值的K值檢驗區(qū)3，K值檢驗區(qū)3包括K值檢驗孔30，K值檢驗孔30是多個由大到小排列的內(nèi)壁光滑的檢驗孔，檢測時將螺釘放入檢測孔中，在使其剛好頭部卡住露在外面的檢測孔處放適應(yīng)螺釘，就可以直接通過測量工具測量頭部。K值檢驗孔包括兩兩對應(yīng)的最大K值檢驗孔和最小K值檢驗孔，最大K值檢驗孔的直徑與其對應(yīng)的最小K值測量孔的差值是0. Imm,以最小值不通過，最大值通過則為合格；K值檢驗區(qū)符合GB/T819. 2 或 GB/T837 或 GB/T818 或 GB/T823。檢驗螺釘頭部十字槽型號的M值檢驗區(qū)4，所述M值檢驗區(qū)4包括M值檢驗孔40，M值檢驗孔40是多個由大到小排列的內(nèi)壁設(shè)置螺紋的檢驗孔，將標(biāo)準(zhǔn)樣件螺釘旋入適應(yīng)孔中，可以直接觀察螺釘頭部十字槽型號。另外，檢驗工具還包括一個90°測量區(qū)5，90°測量區(qū)5設(shè)置與螺釘側(cè)面形狀適配的測量槽50，測量槽是多個，配合塞尺能夠合理的測量90°角。
權(quán)利要求1.標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具，其特征在于所述檢驗工具包括檢驗板，所述檢驗板上設(shè)置檢驗區(qū)，所述檢驗區(qū)包括檢驗孔，所述檢驗孔是多個。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具，其特征在于所述檢驗區(qū)包括檢驗螺釘頭部外徑尺寸dk值的dk值檢驗區(qū)，所述dk值檢驗區(qū)包括dk值檢驗孔，所述dk值檢驗孔是多個由大到小排列的內(nèi)壁光滑的檢驗孔。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具，其特征在于所述檢驗區(qū)包括檢驗螺釘頭厚度K值的K值檢驗區(qū)，所述K值檢驗區(qū)包括K值檢驗孔，所述K值檢驗孔是多個由大到小 排列的內(nèi)壁光滑的檢驗孔。
4.根據(jù)權(quán)利要求I或2或3所述的標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具，其特征在于所述檢驗區(qū)還包括檢驗螺釘頭部十字槽型號的M值檢驗區(qū)，所述M值檢驗區(qū)包括M值檢驗孔，所述M值檢驗孔是多個由大到小排列的內(nèi)壁設(shè)置螺紋的檢驗孔。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具，其特征在干所述檢驗區(qū)還包括90°測量區(qū)，所述90°測量區(qū)設(shè)置與螺釘側(cè)面形狀適配的測量槽，所述測量槽是多個。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具，其特征在于所述K值檢驗孔包括兩兩對應(yīng)的最大K值檢驗孔和最小K值檢驗孔，所述最大K值檢驗孔的直徑與其對應(yīng)的最小K值測量孔的差值是O. 1mm。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具，其特征在于所述dk值檢驗孔包括兩兩對應(yīng)的最大dk值檢驗孔和最小dk值檢驗孔,所述最大dk值檢驗孔與其對應(yīng)的最小dk值檢驗孔的差值是O. 3mm O. 6mm。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具，其特征在于所述dk值檢驗區(qū)符合GB/T819.2 或 GB/T818 或 HB1-206F。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具，其特征在于所述K值檢驗區(qū)符合GB/T819. 2 或 GB/T837 或 GB/T818 或 GB/T823。
專利摘要本實用新型提出了一種標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具，檢驗工具包括檢驗板，檢驗板上設(shè)置檢驗區(qū)，檢驗區(qū)包括檢驗孔，檢驗孔是多個。本實用新型的標(biāo)準(zhǔn)件檢驗工具，既能滿足檢驗要求又能提高效率；可以采用高度尺間接快速測量，一次多個，能夠很好的提高檢驗效率且保證檢驗的準(zhǔn)確性，保證了產(chǎn)品質(zhì)量。
文檔編號G01B5/06GK202420348SQ201120559730
公開日2012年9月5日 申請日期2011年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月28日
發(fā)明者楊興 申請人:中國航空工業(yè)集團公司第六三一研究所