專利名稱：集成電路管腳接觸狀態(tài)檢測裝置的制作方法
技術(shù)領域：
本實用新型涉及一種測試技術(shù)，尤其涉及一種集成電路管腳接觸狀態(tài)的檢測技術(shù)。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的燒錄器在進行脫機燒錄時，通過燒錄器上的觸發(fā)按鈕啟動燒錄，燒錄器完成一顆集成電路燒錄校驗后，通過LED燈或LCD液晶體顯示屏等顯示裝置來顯示燒錄校驗結(jié)果，在下一顆集成電路進行燒錄校驗之前，顯示裝置所顯示的狀態(tài)會保持不變，由于啟動燒錄的觸發(fā)按鈕在長時間使用后有所老化、或是按鈕力度不夠等種種原因，燒錄器沒有接受到觸發(fā)信號，而操作人員誤認為燒錄器已經(jīng)進行了燒錄，這樣很容易造成把未燒錄過的集成電路放入合格品中，引起混料。為了避免該現(xiàn)象的發(fā)生，燒錄器需要檢測待燒錄集成電路管腳與燒錄器的連接情況，從而避免混料的現(xiàn)象發(fā)生。

實用新型內(nèi)容本實用新型針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，提出一種集成電路管腳接觸狀態(tài)檢測裝置，該裝置所需電路器件規(guī)模少、結(jié)構(gòu)簡單、性能可靠。集成電路管腳接觸狀態(tài)檢測裝置，包括鎖緊座和分壓電阻電路；所述鎖緊座包括支架和接觸墊，所述接觸墊固定在支架上，所述接觸墊上的各接觸點連接待燒錄集成電路的管腳；所述分壓電阻電路包括第一電阻和第二電阻，第一電阻與第二電阻串聯(lián)，第一電阻的另一端連接電源VDD1、第二電阻的另一端接地；所述第二電阻的兩端分別連接接觸墊的兩個接觸點；\[0008]第一電阻和第二電阻的連接點為待燒錄集成電路與鎖緊座的接觸狀態(tài)檢測點，所述檢測點的電平變化用于指示所述待燒錄集成電路和所述鎖緊座的接觸狀態(tài)。進一步，所述接觸墊的第一接觸點連接待燒錄集成電路的接地腳，所述的第一接觸點連接第二電阻的接地端，所述接觸墊的第二接觸點連接待燒錄集成電路的輸入輸出腳，第二接觸點為所述的檢測點。進一步，所述接觸墊的第二接觸點可以為多個。進一步，所述檢測點連接顯示裝置，所述顯示裝置顯示檢測點的電平或者集成電路管腳接觸狀態(tài)。本實用新型實現(xiàn)了一種集成電路管腳接觸狀態(tài)檢測裝置，通過檢測集成電路與鎖緊座的接觸情況，能夠有效避免混料現(xiàn)象的發(fā)生。整個檢測過程簡單、快捷，且檢測結(jié)果直觀可見。

圖1為本實用新型提出的集成電路管腳接觸狀態(tài)檢測裝置示意圖。體實施方式
以下結(jié)合附圖對本實用新型作進一步詳細說明。如圖1所示為本實用新型提出的集成電路管腳接觸狀態(tài)檢測裝置示意圖，其中， 集成電路管腳接觸狀態(tài)檢測裝置包括鎖緊座1、分壓電阻電路2和顯示裝置4。所述鎖緊座1包括支架11和接觸墊12，所述接觸墊12固定在支架11上，所述接觸墊12上的各接觸點連接待燒錄集成電路3的管腳31。待燒錄集成電路3本身至少應具備電源腳VDD、輸入輸出腳I/O以及接地腳GND三種管腳，并且該待燒錄集成電路3內(nèi)部的輸入輸出腳I/O和電源腳VDD之間連接有二極管32，電源腳VDD和接地腳GND之間連接有等效電阻33 (采用等效電阻33來表示電源腳VDD對接地腳GND的漏電通路)。所述分壓電阻電路2包括第一電阻21和第二電阻22，第一電阻21與第二電阻22 串聯(lián)，其中第一電阻21的另一端連接電源VDD1、第二電阻22的另一端接地；所述第二電阻 22的兩端分別連接所述接觸墊12的兩個接觸點；第一電阻21和第二電阻22的連接點C為待燒錄集成電路3與鎖緊座1的接觸狀態(tài)檢測點，所述檢測點的電平變化用于指示所述待燒錄集成電路3和所述鎖緊座1的接觸狀態(tài)。所述接觸墊12的第一接觸點A連接待燒錄集成電路3的接地腳GND，所述的第一接觸點A連接第二電阻22的接地端，所述接觸墊12的第二接觸點B連接待燒錄集成電路 3的輸入輸出腳1/0，第二接觸點B為所述的檢測點。所述接觸墊12的第二接觸點可以為多個。所述第一接觸點、第二接觸點的位置不局限于如圖所示，可以隨待燒錄集成電路3的輸入輸出腳I/O和接地腳GND變化而改變。所述檢測點連接顯示裝置4，所述顯示裝置4顯示所述檢測點的電平或者集成電路管腳接觸狀態(tài)。所述集成電路管腳接觸狀態(tài)檢測裝置是通過所述檢測點的電平變化來判斷待燒錄集成電路3與鎖緊座1的接觸情況將鎖緊座1打開，這時待燒錄集成電路3的管腳31未與接觸墊12上的各接觸點接觸，A、B兩點沒有待燒錄集成電路3接入，則所述檢測點的電平為V。= (R22/ (R21+R22))*VDD1 ；將待燒錄集成電路3放入鎖緊座1，這時待燒錄集成電路3的管腳31與接觸墊12 上的各接觸點接觸，A、B兩點接入了待燒錄集成電路3，A、B兩點并入了二極管32和等效電阻33，則所述檢測點的電平為Vci = (R22/(R21+R22+R22R21/R33))*VDD1, Vci電平比Vc電平??；通過所述檢測點的電平變化可以判斷待燒錄集成電路3與鎖緊座1是否有接觸， 高電平表示未接觸，低電平表示有接觸，整個判斷過程簡單快捷且直觀。上面結(jié)合附圖對本實用新型的實施方式作了詳細說明，但是本實用新型并不限于上述實施方式，在所屬技術(shù)領域普通技術(shù)人員所具備的知識范圍內(nèi)，還可以在不脫離本發(fā)明宗旨的前提下作出各種變化。
權(quán)利要求1.集成電路管腳接觸狀態(tài)檢測裝置，其特征在于包括鎖緊座和分壓電阻電路；所述鎖緊座包括支架和接觸墊，所述接觸墊固定在支架上，所述接觸墊上的各接觸點連接待燒錄集成電路的管腳；所述分壓電阻電路包括第一電阻和第二電阻，第一電阻與第二電阻串聯(lián)，第一電阻的另一端連接電源VDD1、第二電阻的另一端接地；所述第二電阻的兩端分別連接接觸墊的兩個接觸點；第一電阻和第二電阻的連接點為待燒錄集成電路與鎖緊座的接觸狀態(tài)檢測點，所述檢測點的電平變化用于指示所述待燒錄集成電路和所述鎖緊座的接觸狀態(tài)。
2.如權(quán)利要求1所述集成電路管腳接觸狀態(tài)檢測裝置，其特征在于所述接觸墊的第一接觸點連接待燒錄集成電路的接地腳，所述的第一接觸點連接第二電阻的接地端，所述接觸墊的第二接觸點連接待燒錄集成電路的輸入輸出腳，第二接觸點為所述的檢測點。
3.如權(quán)利要求1所述集成電路管腳接觸狀態(tài)檢測裝置，其特征在于所述接觸墊的第二接觸點可以為多個。
4.如權(quán)利要求1所述集成電路管腳接觸狀態(tài)檢測裝置，其特征在于所述檢測點連接顯示裝置，所述顯示裝置顯示檢測點的電平或者集成電路管腳接觸狀態(tài)。
專利摘要本實用新型提供了一種集成電路管腳接觸狀態(tài)檢測裝置，包括鎖緊座和分壓電阻電路；所述鎖緊座包括支架和接觸墊，所述接觸墊固定在支架上，所述接觸墊上的各接觸點連接待燒錄集成電路的管腳；所述分壓電阻電路包括第一電阻和第二電阻，第一電阻與第二電阻串聯(lián)，第一電阻的另一端連接電源VDD1、第二電阻的另一端接地；所述第二電阻的兩端分別連接接觸墊的兩個接觸點；第一電阻和第二電阻的連接點為待燒錄集成電路與鎖緊座的接觸狀態(tài)檢測點，所述檢測點的電平變化用于指示所述待燒錄集成電路和所述鎖緊座的接觸狀態(tài)。本實用新型通過檢測集成電路與鎖緊座的接觸情況，能夠有效避免混料現(xiàn)象的發(fā)生，整個檢測過程簡單、快捷，且檢測結(jié)果直觀可見。
文檔編號G01R31/02GK202217026SQ201120352828
公開日2012年5月9日 申請日期2011年9月20日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月20日
發(fā)明者樓俊偉, 魏建中 申請人:杭州士蘭微電子股份有限公司