專利名稱：主板接口負(fù)載能力測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及接口負(fù)載測試領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種可同時(shí)測試同一接口多路電壓的主板接口負(fù)載能力測試裝置。
背景技術(shù)：
主板或整機(jī)設(shè)備(以下簡稱主機(jī)設(shè)備)與外部設(shè)備可以通過不同的連接接口進(jìn)行通信，比如PCI接口、PCIe接口、USB接口等。主機(jī)設(shè)備在出廠前，都必須進(jìn)行接口負(fù)載能力測試，即測試接口能否驅(qū)動(dòng)其支持的最大功耗的負(fù)載，以確保主機(jī)設(shè)備與外部設(shè)備連接時(shí)， 能正常給外部設(shè)備供電。現(xiàn)有的測試方法是選擇電子負(fù)載儀或?qū)嶋H的外部設(shè)備來測試，比如說網(wǎng)卡、視頻卡、U盤、移動(dòng)硬盤等。其中電子負(fù)載儀在設(shè)定和使用上相當(dāng)復(fù)雜，不易操作使用。因此通常的做法是將實(shí)際的外部設(shè)備連接至主機(jī)設(shè)備上，直接測試主機(jī)設(shè)備接口的驅(qū)動(dòng)能力。由于不同的處理器平臺(tái)，即使同一種接口，其驅(qū)動(dòng)能力也有可能會(huì)不同；且不同的外部設(shè)備，其功耗不同，也不一定能夠達(dá)到所測接口的最大功耗。因此需要購買市面上不同電壓和功耗的設(shè)備，在測試時(shí)需要安裝驅(qū)動(dòng)并測試其性能，測試過程復(fù)雜，并且發(fā)現(xiàn)問題后要進(jìn)行對(duì)比驗(yàn)證，以確定是購買的外部設(shè)備的問題還是主機(jī)設(shè)備設(shè)計(jì)的問題，測試效率低， 測試結(jié)果不準(zhǔn)確。再者，隨著主機(jī)設(shè)備接口的增多，要購買的設(shè)備會(huì)增多，使其測試過程更加繁瑣。目前，PCI接口、PCIe接口均可提供多種電壓，比如，PCI接口能夠同時(shí)提供4種電壓(+12V，-12V，5V，3. 3V)，采用上述方法測量時(shí)，測試人員不能快速并準(zhǔn)確地定位是哪一路電壓驅(qū)動(dòng)能力不夠，測試過程不可見。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題在于，針對(duì)現(xiàn)有的主板接口負(fù)載能力測試裝置的測試過程復(fù)雜、測試效率低、測試成本高、測試過程不可見以及測試結(jié)果不準(zhǔn)確等缺陷，提供一種測試過程簡單、測試效率高，測試成本低，測試過程可見以及測試結(jié)果準(zhǔn)確的主板接口負(fù)載能力測試裝置。本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是構(gòu)造一種主板接口負(fù)載能力測試裝置，其中包括測試接口、通過額定負(fù)載與所述測試接口連接的測試模塊、對(duì)所述測試模塊中的輸入進(jìn)行選擇測試的選擇模塊、根據(jù)所述測試模塊的輸出的測試數(shù)據(jù)對(duì)顯示模塊進(jìn)行驅(qū)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)模塊、用于顯示所述測試數(shù)據(jù)的顯示模塊以及給所述主板接口負(fù)載能力測試裝置供電的供電模塊；所述選擇模塊與所述測試模塊連接，所述測試模塊與所述驅(qū)動(dòng)模塊連接，所述驅(qū)動(dòng)模塊與所述顯示模塊連接；所述供電模塊分別與所述測試模塊、所述驅(qū)動(dòng)模塊以及所述顯示模塊連接。在本實(shí)用新型所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置中，所述測試接口包括可提供 3. 3V、5V、12V以及-12V電壓的PCI接口、可提供3. 3V以及12V電壓的PCIe接口以及可提供5V電壓的USB接口。在本實(shí)用新型所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置中，所述測試模塊為型號(hào) ADC0809的模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片包括8個(gè)模擬信號(hào)輸入端口 IN0-IN7、8個(gè)數(shù)字信號(hào)輸出端口 D0-D7以及通道選擇端口 ADDA、ADDB以及ADDC，其中7個(gè)所述模擬信號(hào)輸入端口分別與PCI接口的3. 3V管腳、PCI接口的5V管腳、PCI接口的12V管腳、PCI接口的-12V管腳、PCIe接口的3. 3V管腳、PCIe接口的12V管腳以及USB接口的5V管腳一一連接，所述數(shù)字信號(hào)輸出端口與所述驅(qū)動(dòng)模塊連接，所述通道選擇端口與所述選擇模塊連接。在本實(shí)用新型所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置中，所述測試模塊為型號(hào) ADC0809的模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片包括8個(gè)模擬信號(hào)輸入端口 IN0-IN7、8個(gè)數(shù)字信號(hào)輸出端口 D0-D7以及通道選擇端口 ADDA、ADDB以及ADDC，其中4個(gè)所述模擬信號(hào)輸入端口分別與PCI接口和PCIe接口的3. 3V管腳、PCI接口和USB接口的5V管腳、PCI接口和 PCIe接口的12V管腳以及PCI接口的-12V管腳一一連接，所述額定負(fù)載為可調(diào)電阻，所述數(shù)字信號(hào)輸出端口與所述驅(qū)動(dòng)模塊連接，所述通道選擇端口與所述選擇模塊連接。在本實(shí)用新型所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置中，所述選擇模塊為地址鎖存器，所述地址鎖存器包括接收采樣信號(hào)的采樣信號(hào)接收端口、將所述采樣信號(hào)發(fā)送給所述通道選擇端口的采樣信號(hào)發(fā)送端口以及接收鎖存信號(hào)的鎖存信號(hào)接收端口。在本實(shí)用新型所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置中，所述主板接口負(fù)載能力測試裝置還包括用于根據(jù)所述模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生所述鎖存信號(hào)的觸發(fā)器。在本實(shí)用新型所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置中，所述驅(qū)動(dòng)模塊為單片機(jī)、用于給所述單片機(jī)復(fù)位的復(fù)位電路以及用于給所述單片機(jī)提供工作信號(hào)脈沖的晶振電路；所述單片機(jī)的輸入與所述數(shù)字信號(hào)輸出端口連接，所述單片機(jī)的輸出與所述顯示模塊連接。在本實(shí)用新型所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置中，所述主板接口負(fù)載能力測試裝置還包括用于檢測所述測試接口的工作狀態(tài)發(fā)出采樣信號(hào)的檢測模塊，所述檢測模塊分別與所有的測試接口以及選擇模塊連接。在本實(shí)用新型所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置中，所述選擇模塊為地址鎖存器，所述地址鎖存器包括接收所述采樣信號(hào)的采樣信號(hào)接收端口、將所述采樣信號(hào)發(fā)送給所述測試模塊的采樣信號(hào)發(fā)送端口以及接收鎖存信號(hào)的鎖存信號(hào)接收端口。在本實(shí)用新型所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置中，所述主板接口負(fù)載能力測試裝置還包括用于根據(jù)所述測試模塊的時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生所述鎖存信號(hào)的觸發(fā)器。實(shí)施本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置，具有以下有益效果測試過程簡單、測試效率高，測試成本低，測試過程可見以及測試結(jié)果準(zhǔn)確，避免了現(xiàn)有的主板接口負(fù)載能力測試裝置的測試過程復(fù)雜、測試效率低、測試成本高、測試過程不可見以及測試結(jié)果不準(zhǔn)確等缺陷。

下面將結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明，附圖中圖1是本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置的第一優(yōu)選實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置的第二優(yōu)選實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是PCI測試接ロ的管腳示意圖；圖4是PCIe測試接ロ的管腳示意圖；圖5是USB測試接ロ的管腳示意圖；圖6是本實(shí)用新型的主板接ロ負(fù)載能力測試裝置的優(yōu)選實(shí)施例的具體電路圖；圖7是本實(shí)用新型的主板接ロ負(fù)載能力測試裝置的第三優(yōu)選實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意 圖；圖8是本實(shí)用新型的主板接ロ負(fù)載能力測試裝置的第四優(yōu)選實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意 圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合圖示，對(duì)本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例作詳細(xì)介紹。在圖1所示的本實(shí)用新型的主板接ロ負(fù)載能力測試裝置的第一優(yōu)選實(shí)施例的結(jié) 構(gòu)示意圖中，所述主板接ロ負(fù)載能力測試裝置包括測試接ロ 1、測試模塊2、選擇模塊3、驅(qū) 動(dòng)模塊4、顯示模塊5以及供電模塊6，測試模塊2通過額定負(fù)載與測試接ロ 1連接，選擇模 塊3用于對(duì)測試模塊2中的輸入進(jìn)行選擇測試，驅(qū)動(dòng)模塊4用于根據(jù)測試模塊2的輸出的 測試數(shù)據(jù)對(duì)顯示模塊5進(jìn)行驅(qū)動(dòng)，顯示模塊5用于顯示測試數(shù)據(jù)，供電模塊6用于給主板接 ロ負(fù)載能力測試裝置供電。選擇模塊3與測試模塊2連接，測試模塊2與驅(qū)動(dòng)模塊4連接， 驅(qū)動(dòng)模塊4與顯示模塊5連接，供電模塊6分別與測試模塊2、驅(qū)動(dòng)模塊4以及顯示模塊5 連接。本實(shí)用新型的主板接ロ負(fù)載能力測試裝置的測試接ロ 1按照標(biāo)準(zhǔn)接ロ規(guī)范設(shè)計(jì)， 用干與主機(jī)設(shè)備對(duì)應(yīng)的接ロ插接，對(duì)其進(jìn)行驅(qū)動(dòng)能力測試；每個(gè)測試接ロ 1通過相應(yīng)的額 定負(fù)載與相應(yīng)的主機(jī)設(shè)備接ロ連接(在進(jìn)行測試之前，利用公式額定負(fù)載=被測電壓值/ 額定電流值計(jì)算額定負(fù)載值，調(diào)節(jié)好額定負(fù)載后再上電測試)，針對(duì)主機(jī)設(shè)備接ロ不同的額 定功率設(shè)定額定負(fù)載的大小，通過測試接ロ 1從主機(jī)設(shè)備的對(duì)應(yīng)接ロ獲取電壓和電流，為 額定負(fù)載提供電壓和電流，模擬真實(shí)的外部設(shè)備的使用狀態(tài)。該測試模塊2由于具有至少 兩個(gè)測試管腳，因此通過對(duì)不同的額定負(fù)載可以對(duì)ー個(gè)測試接ロ 1的多種工作電壓進(jìn)行同 時(shí)測試。本實(shí)用新型的主板接ロ負(fù)載能力測試裝置還可通過選擇模塊3選擇相應(yīng)的測試接 ロ 1進(jìn)行接ロ的負(fù)載能力測試，選擇模塊3接收到某個(gè)測試接ロ 1開始工作的指令后，使測 試模塊2對(duì)該測試接ロ 1進(jìn)行相應(yīng)的接ロ負(fù)載能力測試，測試模塊2對(duì)輸入的模擬信號(hào)進(jìn) 行模擬數(shù)字轉(zhuǎn)化后將相應(yīng)的測試數(shù)據(jù)的數(shù)字信號(hào)輸出到驅(qū)動(dòng)模塊4，驅(qū)動(dòng)模塊4根據(jù)該數(shù) 字信號(hào)驅(qū)動(dòng)顯示模塊5進(jìn)行測試數(shù)據(jù)的顯示。這樣使得對(duì)同一測試接ロ 1的測試過程簡 単、測試效率高、測試成本低，同時(shí)由于本主板接ロ負(fù)載能力測試裝置通過供電模塊6単獨(dú) 供電，避免了原有的接ロ負(fù)載能力測試裝置由于使用接ロ取電影響測試結(jié)果的缺陷，使得 測試結(jié)果更加準(zhǔn)確。作為本實(shí)用新型的主板接ロ負(fù)載能力測試裝置的優(yōu)選實(shí)施例，測試接ロ 1包括可 提供3. 3V、5V、12V以及-12V電壓的PCI接ロ(如圖3所示)，可提供3. 3V以及12V電壓 的PCIe接ロ(如圖4所示)以及可提供5V電壓的USB接ロ(如圖5所示)。如圖3_5所 示，本實(shí)用新型可以測試PCI接ロ、PCIe接ロ以及USB接ロ在各種電壓下的實(shí)際帶負(fù)載的能力，實(shí)時(shí)模擬客戶可能用到的負(fù)載環(huán)境，一個(gè)測試裝置可以替代大部分不同接口的測試設(shè)備，節(jié)約了用戶的設(shè)備成本。在圖1所示的本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置的第一優(yōu)選實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖中，測試模塊2為型號(hào)ADC0809的模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片包括8個(gè)模擬信號(hào)輸入端口 IN0-IN7、8個(gè)數(shù)字信號(hào)輸出端口 D0-D7以及通道選擇端口 ADDA、ADDB以及ADDC， 其中4個(gè)所述模擬信號(hào)輸入端口分別與PCI接口和PCIe接口的3. 3V管腳、PCI接口和USB 接口的5V管腳、PCI接口和PCIe接口的12V管腳以及PCI接口的-12V管腳一一連接，額定負(fù)載為可調(diào)電阻，數(shù)字信號(hào)輸出端口與驅(qū)動(dòng)模塊4連接，通道選擇端口與選擇模塊3連接。本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置只使用了 4個(gè)模擬信號(hào)輸入端，分別對(duì)應(yīng)4種不同電壓類型的測試接口 1(3. 3V、5V、12V以及-12V)，同時(shí)額定負(fù)載為可調(diào)電阻。這樣在測試不同的主機(jī)設(shè)備的接口時(shí)，通過改變可調(diào)電阻可以對(duì)額定負(fù)載進(jìn)行調(diào)整。表1為一優(yōu)選實(shí)施例中不同測試接口的各路被測電壓值下的額定電流值表1各路被測電壓值下的額定電流值
各路被測電壓值下的額定電流值(即最大電流值)接口電壓PCIPCIe X16PCIe X8PCIe X4PCIe X1USB12V0. 5A4. 4A2. IA2. IA0. 5A/5V5A////0. 5A3.3V7. 6A3A3A3A3A/-12V0. IA/////“/”表示對(duì)應(yīng)接口無此電壓，即不存在對(duì)應(yīng)的額定電流。從表1中可以看出4個(gè)模擬信號(hào)輸入端口的設(shè)置可以滿足同時(shí)測試任一主機(jī)設(shè)備接口的所有的工作電壓，當(dāng)需要更換被測試的主機(jī)設(shè)備接口時(shí)，只需要根據(jù)上表對(duì)可調(diào)電阻(即額定負(fù)載)進(jìn)行調(diào)整即可。作為本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置的優(yōu)選實(shí)施例，測試模塊2為型號(hào) ADC0809的模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片包括8個(gè)模擬信號(hào)輸入端口 IN0-IN7、8個(gè)數(shù)字信號(hào)輸出端口 D0-D7以及通道選擇端口 ADDA、ADDB以及ADDC，其中7個(gè)模擬信號(hào)輸入端口分別與PCI接口的3. 3V管腳、PCI接口的5V管腳、PCI接口的12V管腳、PCI接口的-12V管腳、 PCIe接口的3. 3V管腳、PCIe接口的12V管腳以及USB接口的5V管腳一一連接，數(shù)字信號(hào)輸出端口與驅(qū)動(dòng)模塊4連接，通道選擇端口與選擇模塊3連接。本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置也可以將模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片通過可調(diào)電阻與測試接口 1連接起來，7個(gè)模擬信號(hào)輸入端分別檢測不同主機(jī)設(shè)備接口在不同電壓下的工作狀態(tài)，與上述實(shí)施例的不同，這里針對(duì)最常用的3種主機(jī)設(shè)備接口的7種不同電壓設(shè)置好相應(yīng)的額定負(fù)載，檢測時(shí)對(duì)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的所有模擬信號(hào)輸入端進(jìn)行輪流采樣，從而獲取被測試的主機(jī)設(shè)備接口的工作狀態(tài)和負(fù)載能力。這樣的設(shè)置簡單方便，在測試同一主機(jī)的不同主機(jī)設(shè)備接口時(shí)，不需要對(duì)額定負(fù)載進(jìn)行調(diào)整即可使用于3種主機(jī)設(shè)備接口上(其中PCI接口具有4種工作電壓，PCIe接口具有2種工作電壓，USB接口具有1種工作電壓)。在圖1所示的本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置的第一優(yōu)選實(shí)施例的結(jié)
7構(gòu)示意圖中，所述選擇模塊3為地址鎖存器，地址鎖存器包括接收輪流采樣信號(hào)的采樣信號(hào)接收端口、將輪流采樣信號(hào)發(fā)送給通道選擇端口的采樣信號(hào)發(fā)送端口以及接收鎖存信號(hào)的鎖存信號(hào)接收端口。本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置的地址鎖存器接收采樣信號(hào)對(duì)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的模擬信號(hào)輸入端口進(jìn)行輪流采樣，該采樣信號(hào)可以從驅(qū)動(dòng)模塊4獲得，也可以從外部電路獲得(圖中未示出)。當(dāng)?shù)刂锋i存器沒有接收到鎖存信號(hào)時(shí)，采樣信號(hào)發(fā)送端口發(fā)送采樣信號(hào)接收端口接收的采樣信號(hào)；當(dāng)?shù)刂锋i存器接收到鎖存信號(hào)時(shí)，采樣信號(hào)發(fā)送端口根據(jù)當(dāng)前的輪流采樣信號(hào)將地址進(jìn)行鎖定存儲(chǔ)，該地址經(jīng)譯碼后選定相應(yīng)的模擬信號(hào)輸入端口輸入信號(hào)至模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片。這樣的設(shè)置保證了模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片對(duì)各種電壓下的各種主機(jī)設(shè)備端口都可以進(jìn)行穩(wěn)定的測試。在圖2所示的本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置的第二優(yōu)選實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖中，主板接口負(fù)載能力測試裝置還包括用于根據(jù)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生鎖存信號(hào)的觸發(fā)器7。由于鎖存信號(hào)決定了選擇模塊3輪流采樣的頻率，這個(gè)頻率應(yīng)該是和模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的工作時(shí)鐘脈沖相應(yīng)的，因此采用觸發(fā)器7根據(jù)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生鎖存信號(hào)以保證各種電壓下的各種主機(jī)設(shè)備端口輪流采樣的正常進(jìn)行。作為本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置的優(yōu)選實(shí)施例，驅(qū)動(dòng)模塊4為單片機(jī)、用于給單片機(jī)復(fù)位的復(fù)位電路以及用于給單片機(jī)提供工作信號(hào)脈沖的晶振電路；單片機(jī)的輸入與數(shù)字信號(hào)輸出端口連接，單片機(jī)的輸出與顯示模塊5連接。本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置通過單片機(jī)實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)換后的數(shù)字信號(hào)在顯示模塊5上的顯示，其中驅(qū)動(dòng)模塊4還包括復(fù)位電路以及晶振電路，復(fù)位電路可以在單片機(jī)啟動(dòng)或出現(xiàn)異常時(shí)對(duì)單片機(jī)進(jìn)行復(fù)位操作。晶振電路為單片機(jī)正常工作提供了工作信號(hào)脈沖。在圖7所示的本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置的第三優(yōu)選實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖中，主板接口負(fù)載能力測試裝置還包括用于檢測所述測試接口 1的工作狀態(tài)發(fā)出采樣信號(hào)的檢測模塊8，檢測模塊8分別與測試接口 1以及選擇模塊3連接。選擇模塊3為地址鎖存器，地址鎖存器包括接收采樣信號(hào)的采樣信號(hào)接收端口、將采樣信號(hào)發(fā)送給所述測試模塊2的采樣信號(hào)發(fā)送端口以及接收鎖存信號(hào)的鎖存信號(hào)接收端口。本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置還設(shè)置有檢測模塊8，通過檢測模塊8 可以檢測測試接口 1的工作狀態(tài)，如檢測到某個(gè)測試接口 1在某個(gè)電壓下開始工作，即發(fā)出采樣信號(hào)給選擇模塊3，選擇模塊3根據(jù)該采樣信號(hào)對(duì)開始工作的模擬信號(hào)輸入端口進(jìn)行采樣。當(dāng)鎖存信號(hào)接收端口沒有接收到鎖存信號(hào)時(shí)，采樣信號(hào)發(fā)送端口發(fā)送采樣信號(hào)接收端口接收的采樣信號(hào)；當(dāng)鎖存信號(hào)接收端口接收到鎖存信號(hào)時(shí)，采樣信號(hào)發(fā)送端口根據(jù)當(dāng)前的采樣信號(hào)將地址進(jìn)行鎖定存儲(chǔ)，該地址經(jīng)譯碼后選定相應(yīng)的模擬信號(hào)輸入端口輸入信號(hào)至模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片。這樣的設(shè)置實(shí)現(xiàn)了對(duì)主機(jī)設(shè)備接口的全自動(dòng)檢測以及自動(dòng)進(jìn)行負(fù)載能力測試。在圖8所示的本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置的第四優(yōu)選實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖中，主板接口負(fù)載能力測試裝置還包括用于根據(jù)所述測試模塊2的時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生所述鎖存信號(hào)的觸發(fā)器7。[0048]由于鎖存信號(hào)決定了選擇模塊3采樣的頻率，這個(gè)頻率應(yīng)該是和模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的工作時(shí)鐘脈沖相應(yīng)的，因此采用觸發(fā)器7根據(jù)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生鎖存信號(hào)以保證各種電壓下的各種主機(jī)設(shè)備端口采樣的正常進(jìn)行。下面通過圖6所示的本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置的優(yōu)選實(shí)施例的具體電路圖說明本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置的具體電路結(jié)構(gòu)。在圖6中，所述主板接口負(fù)載能力測試裝置包括測試模塊2、選擇模塊3、驅(qū)動(dòng)模塊 4、顯示模塊5以及觸發(fā)器7，其中測試模塊2為型號(hào)ADC0809的模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片，選擇模塊3 為型號(hào)74LS373的地址鎖存器，驅(qū)動(dòng)模塊4為型號(hào)8051的單片機(jī)，顯示模塊5為IXD (液晶顯示器)。其中模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片包括8個(gè)模擬信號(hào)輸入端口 IN0-IN7，8個(gè)數(shù)字信號(hào)輸出端口 D0-D7以及通道選擇端口 ADDA、ADDB以及ADDC，其中4個(gè)模擬信號(hào)輸入端口分別與PCI接口和PCIe接口的3. 3V管腳、PCI接口和USB接口的5V管腳、PCI接口和PCIe接口的12V 管腳以及PCI接口的-12V管腳一一連接，額定負(fù)載R2、R3、R4以及R5為可調(diào)電阻。數(shù)字信號(hào)輸出端口與單片機(jī)的輸入連接，通道選擇端口與地址鎖存器連接，單片機(jī)的輸出與IXD 連接。下面以本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置測試PCI接口為例說明本主板接口負(fù)載能力測試裝置的工作過程。1)根據(jù)表1分別將可調(diào)電阻調(diào)整到PCI接口的12V、3. 3V和5V電壓對(duì)應(yīng)的電阻值為24歐、0. 43歐和1歐；2)測試裝置的PCI接口和被測主板的PCI接口連接；3)供電模塊6連接電源給主板接口負(fù)載能力測試裝置供電；4)打開被測主板的電源，進(jìn)入操作系統(tǒng)；5)在顯示模塊5上顯示PCI接口 12V、3. 3V和5V電壓對(duì)應(yīng)的測量值；6)根據(jù)顯示模塊5上顯示的測量值判斷12V、3.3V和5V電壓供電是否符合 (12V士5%、3. 3V±5%、5V±5%)標(biāo)準(zhǔn)，即是否能夠驅(qū)動(dòng)其額定功率最大的負(fù)載。若電壓顯示低于標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍，則說明對(duì)應(yīng)電壓的驅(qū)動(dòng)電流太小，驅(qū)動(dòng)能力達(dá)不到額定電流下的功率。若電壓顯示等于或高于標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍，則說明對(duì)應(yīng)電壓的驅(qū)動(dòng)電流足夠大，能夠驅(qū)動(dòng)其額定最大功率負(fù)載。本實(shí)用新型的主板接口負(fù)載能力測試裝置可以測試到不同主機(jī)設(shè)備接口的多個(gè)電壓的不同負(fù)載，實(shí)時(shí)的模擬客戶可能用到的負(fù)載環(huán)境。直觀的電壓顯示，幫助測試人員準(zhǔn)確把握測試接口的帶負(fù)載能力，提高測試效率。本主板接口負(fù)載能力測試裝置可替代大部分不同接口的測試設(shè)備，節(jié)約公司的成本。外加供電方式，無需從被測試接口處取電，增加測試準(zhǔn)確性。以上所述僅為本實(shí)用新型的實(shí)施例，并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍，凡是利用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種主板接口負(fù)載能力測試裝置，其特征在于，包括測試接口(1)、通過額定負(fù)載與所述測試接口(1)連接的測試模塊(2)、對(duì)所述測試模塊(2)中的輸入進(jìn)行選擇測試的選擇模塊(3)、根據(jù)所述測試模塊(2)的輸出的測試數(shù)據(jù)對(duì)顯示模塊(5)進(jìn)行驅(qū)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)模塊(4)、用于顯示所述測試數(shù)據(jù)的顯示模塊(5)以及給所述主板接口負(fù)載能力測試裝置供電的供電模塊(6)；所述選擇模塊(3)與所述測試模塊(2)連接，所述測試模塊(2)與所述驅(qū)動(dòng)模塊(4) 連接，所述驅(qū)動(dòng)模塊(4)與所述顯示模塊(5)連接；所述供電模塊(6)分別與所述測試模塊(2)、所述驅(qū)動(dòng)模塊(4)以及所述顯示模塊(5)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置，其特征在于，所述測試接口(1) 包括可提供3. 3V、5V、12V以及-12V電壓的PCI接口、可提供3. 3V以及12V電壓的PCIe接口和可提供5V電壓的USB接口。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置，其特征在于，所述測試模塊(2) 為型號(hào)ADC0809的模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片包括8個(gè)模擬信號(hào)輸入端口 IN0-IN7、 8個(gè)數(shù)字信號(hào)輸出端口 D0-D7以及通道選擇端口 ADDA、ADDB以及ADDC，其中7個(gè)所述模擬信號(hào)輸入端口分別與PCI接口的3. 3V管腳、PCI接口的5V管腳、PCI接口的12V管腳、PCI 接口的-12V管腳、PCIe接口的3. 3V管腳、PCIe接口的12V管腳以及USB接口的5V管腳一一連接，所述數(shù)字信號(hào)輸出端口與所述驅(qū)動(dòng)模塊(4)連接，所述通道選擇端口與所述選擇模塊⑶連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置，其特征在于，所述測試模塊(2) 為型號(hào)ADC0809的模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片包括8個(gè)模擬信號(hào)輸入端口 IN0-IN7、8 個(gè)數(shù)字信號(hào)輸出端口 D0-D7以及通道選擇端口 ADDA、ADDB以及ADDC，其中4個(gè)所述模擬信號(hào)輸入端口分別與PCI接口和PCIe接口的3. 3V管腳、PCI接口和USB接口的5V管腳、PCI 接口和PCIe接口的12V管腳以及PCI接口的-12V管腳一一連接，所述額定負(fù)載為可調(diào)電阻，所述數(shù)字信號(hào)輸出端口與所述驅(qū)動(dòng)模塊(4)連接，所述通道選擇端口與所述選擇模塊 ⑶連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置，其特征在于，所述選擇模塊(3)為地址鎖存器，所述地址鎖存器包括接收采樣信號(hào)的采樣信號(hào)接收端口、將所述采樣信號(hào)發(fā)送給所述通道選擇端口的采樣信號(hào)發(fā)送端口以及接收鎖存信號(hào)的鎖存信號(hào)接收端口。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置，其特征在于，所述主板接口負(fù)載能力測試裝置還包括用于根據(jù)所述模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片的時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生所述鎖存信號(hào)的觸發(fā)器⑵。
7.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)模塊(4)為單片機(jī)、用于給所述單片機(jī)復(fù)位的復(fù)位電路以及用于給所述單片機(jī)提供工作信號(hào)脈沖的晶振電路；所述單片機(jī)的輸入與所述數(shù)字信號(hào)輸出端口連接，所述單片機(jī)的輸出與所述顯示模塊(5)連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置，其特征在于，所述主板接口負(fù)載能力測試裝置還包括用于檢測所述測試接口(1)的工作狀態(tài)發(fā)出采樣信號(hào)的檢測模塊 (8)，所述檢測模塊(8)分別與所有的測試接口(1)以及所述選擇模塊(3)連接。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置，其特征在于，所述選擇模塊(3)為地址鎖存器，所述地址鎖存器包括接收所述采樣信號(hào)的采樣信號(hào)接收端口、將所述采樣信號(hào)發(fā)送給所述測試模塊(2)的采樣信號(hào)發(fā)送端口以及接收鎖存信號(hào)的鎖存信號(hào)接收端
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的主板接口負(fù)載能力測試裝置，其特征在于，所述主板接口負(fù)載能力測試裝置還包括用于根據(jù)所述測試模塊(2)的時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生所述鎖存信號(hào)的觸發(fā)器⑵。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種主板接口負(fù)載能力測試裝置，其中包括測試接口、通過額定負(fù)載與測試接口連接的測試模塊、對(duì)測試模塊中的輸入進(jìn)行選擇測試的選擇模塊、根據(jù)測試模塊的輸出的測試數(shù)據(jù)對(duì)顯示模塊進(jìn)行驅(qū)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)模塊、用于顯示測試數(shù)據(jù)的顯示模塊以及給主板接口負(fù)載能力測試裝置供電的供電模塊；選擇模塊與測試模塊連接，測試模塊與驅(qū)動(dòng)模塊連接，驅(qū)動(dòng)模塊與顯示模塊連接，供電模塊分別與測試模塊、驅(qū)動(dòng)模塊以及顯示模塊連接。本實(shí)用新型測試過程簡單、測試效率高，測試成本低，測試過程可見以及測試結(jié)果準(zhǔn)確，避免了現(xiàn)有的主板接口負(fù)載能力測試裝置的測試過程復(fù)雜、測試效率低、測試成本高、測試過程不可見以及測試結(jié)果不準(zhǔn)確等缺陷。
文檔編號(hào)G01R31/28GK202256605SQ20112031815
公開日2012年5月30日 申請日期2011年8月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月29日
發(fā)明者王玲 申請人:北京市研祥興業(yè)國際智能科技有限公司, 深圳市研祥軟件技術(shù)有限公司, 研祥智能科技股份有限公司