專利名稱:圓度誤差可視化測量儀的制作方法
技術(shù)領域:
本實用新型涉及一種測量儀,尤其涉及一種圓度誤差可視化測量儀。
背景技術(shù):
軸類零件在眾多領域中有廣泛應用,且多數(shù)為產(chǎn)品中的核心部件,對產(chǎn)品性能具有舉足輕重的作用。對軸類零件圓度誤差測量就顯得尤為重要。傳統(tǒng)的手工檢測手段檢測效率低,手工處理的方法費時,人為誤差大,精度差。而精密測量設備三坐標測量儀價格昂貴,測量的成本高。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的在于提供了一種圓度誤差可視化測量儀,該測量儀可實時顯示零件輪廓軌跡、最小二乘圓軌跡,隨著輪廓軌跡的逐漸形成,最小二乘圓的圓心及半徑也在相應變化,采集一周可得出圓度誤差值。本實用新型是這樣來實現(xiàn)的,它包括光學分度頭、被測工件、電感式測微儀、信號調(diào)理箱、采集卡、計算機,其特征是光學分度頭的兩頂尖間放置有被測工件,電感式測微儀置于被測工件橫截面上,電感式測微儀連接信號調(diào)理箱,信號調(diào)理箱連接采集卡,采集卡連接計算機。本實用新型的技術(shù)效果是結(jié)構(gòu)簡單,效率高、成本低,性價比高、操作方便。
圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。在圖中,1、光學分度頭2、被測工件3、電感式測微儀4、信號調(diào)理箱5、采集卡 6、計算機。
具體實施方式
如圖1所示,本實用新型是這樣來實現(xiàn)的,光學分度頭1的兩頂尖間放置有被測工件2,電感式測微儀3置于被測工件2橫截面上,電感式測微儀3連接信號調(diào)理箱4,信號調(diào)理箱4連接采集卡5,采集卡5連接計算機6。通過采用半徑測量法在光學分度頭1上用電感式測微儀3測量圓度誤差,并對測量數(shù)據(jù)進行最小二乘法計算,求得圓度誤差值。測量時,將被測工件2頂在光學分度頭1的兩頂尖間,將電感式測微儀3置于被測量橫截面上, 測量其半徑的變化量△ r,利用光學分度頭1將被測圓周等分成36個測量點,當每轉(zhuǎn)過一個 θ =10°時,讀出該點相對于某一半徑RO的偏差值ΔΓ,由此測得所有數(shù)據(jù)Ari。
權(quán)利要求1. 一種圓度誤差可視化測量儀,它包括光學分度頭、被測工件、電感式測微儀、信號調(diào)理箱、采集卡、計算機,其特征是光學分度頭的兩頂尖間放置有被測工件,電感式測微儀置于被測工件橫截面上,電感式測微儀連接信號調(diào)理箱,信號調(diào)理箱連接采集卡,采集卡連接計算機。
專利摘要一種圓度誤差可視化測量儀,光學分度頭的兩頂尖間放置有被測工件,電感式測微儀置于被測工件橫截面上,電感式測微儀連接信號調(diào)理箱,信號調(diào)理箱連接采集卡,采集卡連接計算機。本實用新型的技術(shù)效果是結(jié)構(gòu)簡單,效率高、成本低,性價比高、操作方便。
文檔編號G01B11/24GK202216673SQ20112026431
公開日2012年5月9日 申請日期2011年7月25日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月25日
發(fā)明者萬文, 熊震宇 申請人:南昌航空大學