專利名稱：一種脈沖編碼調(diào)制器測(cè)試架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種PCM(脈沖編碼調(diào)制器)測(cè)試
背景技術(shù)PCM(脈沖編碼調(diào)制器)測(cè)試架是一種用于固定PCM方便測(cè)試功能的裝置。PCM測(cè)試結(jié)構(gòu)種類繁多，如氣壓、連桿、鈕扣等，而不同的產(chǎn)品PCM測(cè)試架不同，一種PCM的種類決定一種類型的PCM測(cè)試架，因此，為了配合每個(gè)產(chǎn)品的PCM結(jié)構(gòu)，每個(gè)工廠都需要配備與之相適配的PCM測(cè)試架，PCM測(cè)試架的數(shù)量龐大，PCM測(cè)試架使用壽命短，單個(gè)PCM測(cè)試架所用的壓克力膠用量大，PCM測(cè)試架更改頻繁，且每個(gè)測(cè)試架的至少由10個(gè)不同結(jié)構(gòu)的零件組成，每個(gè)壓克力膠零件的結(jié)構(gòu)及形狀均不一致，給制作帶來(lái)了一定的難度，PCM測(cè)試架的制作煩瑣，制作的人工成本很高，PCM測(cè)試架的第二次利用率底。同時(shí)，PCM測(cè)試架的體積大、 形狀不一致，使得在實(shí)際應(yīng)該用當(dāng)中對(duì)PCM測(cè)試架的擺放及保存帶來(lái)了很多不便。由于PCM 測(cè)試架是所用工廠必不可少的生產(chǎn)裝置，PCM測(cè)試架性能及使用的方便性將會(huì)直接影響到生產(chǎn)效率，對(duì)于PCM測(cè)試架的性能制作及成本也是有必要去研究及改善的
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的就是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足而提供一種PCM測(cè)試架，既能適合各種筆記本電池PCM測(cè)試，又能減少壓克力膠的使用量，同時(shí)其體積小，擺放保存方便。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，提供一種脈沖編碼調(diào)制器測(cè)試架，包括有測(cè)試底座和設(shè)置在測(cè)試底座上的測(cè)試面板，所述測(cè)試底座為上面開口的矩形金屬殼體，測(cè)試底座上設(shè)有電源接口、通訊接口和模擬接口在所述測(cè)試底座上還設(shè)有數(shù)據(jù)傳輸接口，所述測(cè)試底座的邊緣向內(nèi)彎折形成支承測(cè)試面板的支承部。所述測(cè)試底座的邊緣向內(nèi)彎折形成支承測(cè)試面板的支承部。所述支承部上開設(shè)有螺孔，測(cè)試面板通過(guò)螺絲與支承部的螺孔螺紋連接。所述測(cè)試面板為壓克力材料。所述測(cè)試底座上設(shè)有四個(gè)腳墊，腳墊與測(cè)試底座一體沖壓成型。本實(shí)用新型有益效果在于本實(shí)用新型提供的PCM測(cè)試架，包括有測(cè)試底座和設(shè)置在測(cè)試底座上的測(cè)試面板，所述測(cè)試底座為上面開口的矩形金屬殼體，測(cè)試底座上設(shè)有電源接口、通訊接口和模擬接口，本實(shí)用新型將測(cè)試底座做成適合各種筆記本電池PCM測(cè)試的底座，固定了測(cè)試架引線的接口及電源接口，使每個(gè)PIN標(biāo)準(zhǔn)化，即所用的PCM測(cè)試架的引線排序都是一致，提高了 PCM測(cè)試架的使用率，該測(cè)試底座為矩形金屬殼體，減少了對(duì)壓克力膠的使用量，且由于測(cè)試底座為矩形結(jié)構(gòu)，制作簡(jiǎn)單容易，同時(shí)對(duì)PCM測(cè)試架的擺放保存方便。

[0010]圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型測(cè)試底座的俯視圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說(shuō)明，見(jiàn)圖1 2所示，本實(shí)用新型的PCM 測(cè)試架包括有測(cè)試底座1和設(shè)置在測(cè)試底座1上的測(cè)試面板2，測(cè)試面板2為壓克力材料。其中，測(cè)試底座1為上面開口的矩形金屬殼體，于本實(shí)施例中，其尺寸為 220X 180X40mm(長(zhǎng)X寬X高)，即適合于210X 150mm以內(nèi)所有的PCM測(cè)試測(cè)。試底座的邊緣向內(nèi)彎折形成支承測(cè)試面板2的支承部15，支承部15上開設(shè)有螺孔16，測(cè)試面板2 通過(guò)螺絲3與支承部15的螺孔16螺紋連接，兩螺絲3相對(duì)設(shè)置在支承部15上。測(cè)試底座1上設(shè)有電源接口 11、數(shù)據(jù)傳輸接口 14、通訊接口 12和模擬接口 13，電源接口 11、數(shù)據(jù)傳輸接口 14、通訊接口 12和模擬接口 13位于測(cè)試底座1的同一側(cè)面，使得所用的PCM測(cè)試架的引線排序都是一致的，使每個(gè)PIN標(biāo)準(zhǔn)化。將測(cè)試底座做成適合各種筆記本電池PCM測(cè)試的底座，固定了測(cè)試架引線的接口及電源接口，使每個(gè)PIN標(biāo)準(zhǔn)化，即所用的PCM測(cè)試架的引線排序都是一致，提高了 PCM測(cè)試架的使用率，該測(cè)試底座為矩形金屬殼體，且由于測(cè)試底座為矩形結(jié)構(gòu)，制作簡(jiǎn)單容易， 同時(shí)對(duì)PCM測(cè)試架的擺放保存方便。
權(quán)利要求1.一種脈沖編碼調(diào)制器測(cè)試架，包括有測(cè)試底座和設(shè)置在測(cè)試底座上的測(cè)試面板，其特征在于所述測(cè)試底座為上面開口的矩形金屬殼體，測(cè)試底座上設(shè)有電源接口、通訊接口和模擬接口在所述測(cè)試底座上還設(shè)有數(shù)據(jù)傳輸接口，所述測(cè)試底座的邊緣向內(nèi)彎折形成支承測(cè)試面板的支承部。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的脈沖編碼調(diào)制器測(cè)試架，其特征在于所述支承部上開設(shè)有螺孔，測(cè)試面板通過(guò)螺絲與支承部的螺孔螺紋連接。
專利摘要本實(shí)用新型涉及測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種脈沖編碼調(diào)制器測(cè)試架，包括有測(cè)試底座和設(shè)置在測(cè)試底座上的測(cè)試面板，所述測(cè)試底座為上面開口的矩形金屬殼體，測(cè)試底座上設(shè)有電源接口、通訊接口和模擬接口，本實(shí)用新型將測(cè)試底座做成適合各種筆記本電池PCM測(cè)試的底座，固定了測(cè)試架引線的接口及電源接口，使每個(gè)PIN標(biāo)準(zhǔn)化，即所用的PCM測(cè)試架的引線排序都是一致，提高了PCM測(cè)試架的使用率，該測(cè)試底座為矩形金屬殼體，減少了對(duì)壓克力膠的使用量，且由于測(cè)試底座為矩形結(jié)構(gòu)，制作簡(jiǎn)單容易，對(duì)PCM測(cè)試架的擺放保存方便。
文檔編號(hào)G01R1/04GK202102015SQ201120128908
公開日2012年1月4日 申請(qǐng)日期2011年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月28日
發(fā)明者奉平, 蔣濤 申請(qǐng)人:東莞市海拓偉電子科技有限公司