專利名稱：探針卡的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種探針卡，且特別是有關(guān)于一種用于測試卷帶式芯片封裝的探針卡。
背景技術(shù)：
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的改良，使得液晶顯示器具有低的消耗電功率、薄型量輕、分辨率高、色彩飽和度高、壽命長等優(yōu)點，因而廣泛地應(yīng)用在筆記型計算機或桌上型計算機的液晶屏幕及液晶電視等與生活息息相關(guān)的電子產(chǎn)品。其中，顯示器的驅(qū)動芯片(integratedcircuit, IC)更是液晶顯示器不可或缺的重要組件。因應(yīng)液晶顯示裝置驅(qū)動芯片各種應(yīng)用的需求，一般是采用卷帶式封裝技術(shù)進行 芯片封裝，其中包括有薄膜覆晶(Chip On Film, C0F)封裝、卷帶承載封裝(Tape CarrierPackage, TCP)等。卷帶式封裝將半導(dǎo)體芯片電性連接于表面形成有配線構(gòu)造的可撓性薄膜基材上，其中配線構(gòu)造包含輸入端引腳及輸出端引腳，這些引腳的內(nèi)端電性連接芯片的電性端點(例如凸塊)，其外端向外延伸并形成有測試墊，以供電性測試之用。目前對于卷帶式封裝的測試多使用懸臂式探針卡。圖IA是現(xiàn)有懸臂式探針卡的示意圖。圖IB是圖IA中A部分的放大示意圖。請同時參考圖IA與圖1B,探針卡10包括多個懸臂探針11，用于測試的卷帶式封裝20位在懸臂探針11之下，且懸臂探針11與卷帶式封裝20的測試墊21接觸，以藉此測試卷帶式封裝20。在此，懸臂探針11斜向延伸并以一環(huán)狀固定座12排列固定住，使懸臂探針11的尖端向中央集中并位于一共平面。環(huán)狀固定座12設(shè)置于一電路板P上，且所述多個懸臂探針11的一端電性連接至該電路板P。環(huán)狀固定座12及電路板P皆具有一窗口，可供觀測懸臂探針11的尖端及測試墊21的位置。透過該窗口進行對位作業(yè)后，懸臂探針11的尖端即可正確探觸卷帶式封裝20的測試墊21。然而，懸臂探針11為人工擺針方式設(shè)置，其尖端無法密集排列，實難以因應(yīng)測試墊21間距(pitch)日益縮小的趨勢，再者，懸臂探針11為斜向延伸設(shè)置，在實際操作時易產(chǎn)生探針隨懸臂彎曲變形，也會發(fā)生橫向位移(滑針)，因而容易造成探觸不穩(wěn)定。為改善懸臂式探針卡的限制，因此有垂直式探針卡的設(shè)計。垂直式探針卡將多排探針垂直與密集地固設(shè)于探針卡的一探針頭，以匹配高密度(fine pitch)的電路測試。垂直式探針卡雖能解決上述懸臂式探針卡的缺點，然而其探針頭并無設(shè)置窗口，視覺遮蔽下無法以CCD攝影機觀測到垂直探針的探觸位置，因此無法準確對位。因此，如何改善上述探針卡的相關(guān)缺點，便值得相關(guān)人員予以進一步探究。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種探針卡，其具有較佳的穩(wěn)定度與較容易的制作工藝。本發(fā)明的一實施例提出一種探針卡，適于與一卷帶封裝組件的多個測試墊接觸。探針卡包括一電路板、一探針固定座以及多個片狀探針。探針固定座配置于電路板上。探針固定座具有一透光窗口以及多個探針組裝槽。透光窗口未被電路板遮蔽，且探針組裝槽相鄰排列于透光窗口的至少二相對側(cè)之外。各片狀探針分別組裝于其中一探針組裝槽內(nèi)，且至少部分片狀探針延伸至透光窗口上方。各片狀探針包括一組裝部、一垂直探測部與一水平延伸部。組裝部具有一水平底座及一弧形支撐。水平底座設(shè)置于對應(yīng)的探針組裝槽內(nèi)，弧形支撐連接于水平底座鄰近透光窗口的一端上。垂直探測部適于與測試墊接觸。水平延伸部連接弧形支撐并向透光窗口方向延伸而與垂直探測部連接。在本發(fā)明的一實施例中，上述的探針組裝槽的延伸方向垂直透光窗口的二相對偵牝且各探針組裝槽的長度大于各水平底座的長度。在本發(fā)明的一實施例中，上述的片狀探針區(qū)分為多個群組，每一群組中的片狀探針的水平底座錯位設(shè)置于對應(yīng)的探針組裝槽內(nèi)，以使相應(yīng)的垂直探測部的尖端適位于同一平面上并排列于至少二列上，且此至少二列平行透光窗口的二相對側(cè)。在本發(fā)明的一實施例中，上述的群組分別沿透光窗口的二相對側(cè)重復(fù)設(shè)置。在本發(fā)明的一實施例中，上述的各群組包含至少一第一片狀探針及一第二片狀探 針。第一片狀探針及第二片狀探針的垂直探測部位于透光窗口上方并且分別排列于第一列及第二列，其中第二列較第一列遠離透光窗口的中心。在本發(fā)明的一實施例中，上述的各水平延伸部具有至少一槽孔，以增加各片狀探針的彈性。在本發(fā)明的一實施例中，更包括一強化板，配置于電路板上。探針固定座與強化板分別配置于電路板的二相對表面上。在本發(fā)明的一實施例中，上述的強化板未遮蔽透光窗口。在本發(fā)明的一實施例中，上述的各片狀探針的厚度介于O. 015毫米與O. 027毫米之間?；谏鲜觯诒景l(fā)明的上述實施例中，探針卡藉由長度大于片狀探針的水平底座的探針組裝槽，使插置于其中的片狀探針可調(diào)整位置而彼此呈水平錯位配置，以適應(yīng)卷帶的測試墊的各種排列方式，增加彈性配置探針的可行性，有效地降低探針卡制作或維修的成本及困難度。并且，探針的垂直探測部可避免懸臂式探針變形及橫向滑移的問題，在測試時具有較佳的穩(wěn)定性。再者，探針固定座及電路板設(shè)置有透光窗口，而上述片狀探針延伸至透光窗口的上方，使CCD攝影機可觀測到探針及待測卷帶封裝組件的測試墊的相應(yīng)位置，而在探觸測試之前能達到確實對位的效果。為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合所附圖式作詳細說明如下。


圖IA是現(xiàn)有懸臂式探針卡的示意圖。圖IB是圖IA中A部分的放大示意圖。圖2是依照本發(fā)明一實施例的一種探針卡的示意圖。圖3是圖2的探針卡對卷帶封裝組件進行測試的示意圖。圖4是圖3的探針卡與卷帶封裝組件的局部放大圖。圖5是圖2的探針卡的局部放大圖。
具體實施例方式圖2是依照本發(fā)明一實施例的一種探針卡的示意圖。圖3是圖2的探針卡對卷帶封裝組件進行測試的示意圖。圖4是圖3的探針卡與卷帶封裝組件的局部放大圖，在此將圖4中探針卡沿透光窗口的中心繪制其剖面，并將卷帶封裝組件的局部以俯視視角繪示，以能清楚辨識探針卡的片狀探針與卷帶封裝組件的測試墊之間的相對位置。請同時參考圖2至圖4，探針卡100包括一電路板110、一探針固定座120、多個片狀探針130以及一強化板140，其中探針固定座120配置于電路板110的一表面上，而強化板140配置在電路板110背對探針固定座120的另一表面上。在本實施例中，探針卡100適于與一卷帶封裝組件200的多個測試墊210接觸，以對卷帶封裝組件200進行相關(guān)的電性測試。圖5是圖2的探針卡的局部放大圖，在此并將片狀探針的其中之一移離探針組裝槽，以清楚辨識兩者之間的配置關(guān)系。請同時參考圖3至圖5，在本實施例中，探針固定座120還具有一透光窗口 122，其例如是在探針固定座120上的一開孔中嵌合一透光板而制 成。再者，電路板110亦具有一開口 112以對應(yīng)此透光窗口 122，而強化板140實質(zhì)上為一 環(huán)狀構(gòu)件，其用以增加電路板110結(jié)構(gòu)強度以避免電路板110翹曲，強化板140亦具有一開 口(圖未繪示)對應(yīng)透光窗口 122。據(jù)此，由于透光窗口 122并未被電路板110及強化板140所遮蔽，故而當探針卡100對卷帶封裝組件200進行測試時，光源300所產(chǎn)生的光線可透過透光窗口 122傳遞，使CXD攝影機可辨識探針130及待測卷帶封裝組件200的測試墊210的位置，進行對位后再將探針130接觸相應(yīng)的測試墊210以進行電性測試。此外，探針固定座120還具有多個探針組裝槽124，而這些探針組裝槽124相鄰地排列在透光窗口 122的二相對側(cè)之外(圖4及圖5僅繪示其中一側(cè)作為代表)。各個片狀探針130分別對應(yīng)地組裝于探針組裝槽124內(nèi)，且部分片狀探針130延伸至透光窗口 122的上方，以使光線能照射到部分片狀探針130與卷帶封裝組件200的測試墊210，讓CXD攝影機可觀測到兩者的相應(yīng)位置進行對位。在此并未限定透光窗口 122或開口 112的大小，以及片狀探針130朝向透光窗口122的延伸量，其可依據(jù)光源300、透光窗口 122、卷帶封裝組件200的測試墊210與片狀探針130的相關(guān)配置而予以適當?shù)卣{(diào)整。此外，本實施例亦未限定片狀探針130配置在透光窗口 122旁的位置，于另一未繪示的實施例中，片狀探針130亦可環(huán)繞地配置在透光窗口 122的四周，其端賴卷帶封裝組件200的測試墊210配置而定。請再參考圖4及圖5，在本實施例中，片狀探針130包括一組裝部132、一垂直探測部134以及一水平延伸部136。組裝部132具有一水平底座132a及一弧形支撐132b，其中片狀探針130以水平底座132a插持固定于對應(yīng)的探針組裝槽124內(nèi)，而弧形支撐132b連接于水平底座132a鄰近透光窗口 122的一端上。水平延伸部136連接弧形支撐132b并朝向透光窗口 122方向延伸。垂直探測部134的基部連接水平延伸部136，而其尖端則適于與卷帶封裝組件200的測試墊210接觸。換句話說，在本實施例中，片狀探針130的水平延伸部136是從組裝部132水平橫向延伸，而垂直探測部134則是基于水平延伸部136而朝上垂直延伸。此外，水平延伸部136具有一槽孔136a，用以增加片狀探針130的彈性以緩沖垂直探測部134與測試墊210接觸時的壓力。如此一來，當片狀探針130與卷帶封裝組件200的測試墊210接觸時，上述組裝部132的弧形支撐132b與水平延伸部136便能作為垂直探測部134抵壓于測試墊210時的緩沖結(jié)構(gòu)。此外， 在本實施例中，片狀探針130的厚度介于O. 015毫米與O. 027毫米之間，而其較佳的厚度為O. 02±0. 002毫米。詳細而言，在本實施例中，探針組裝槽124的延伸方向彼此平行且垂直于透光窗口 122的二相對側(cè)，而各探針組裝槽124的長度大于水平底座132a的長度。如此，片狀探針130的水平底座132a便能在探針組裝槽124的延伸方向上插置在不同位置，以讓片狀探針130依據(jù)對應(yīng)的測試墊210而調(diào)整位置。另外，片狀探針130通常區(qū)分成多個群組，且這些群組分別沿透光窗口的二相對側(cè)重復(fù)設(shè)置。請參考圖5，片狀探針130在此僅繪示出兩個群組130AU30B為例。在每一群組中，片狀探針130的水平底座132a錯位地插持固定于對應(yīng)的探針組裝槽124內(nèi)，亦即每一群組中的多個片狀探針130與透光窗口 122的中心線之間具有不同直線距離，而呈不對齊的排列。上述的配置方式使每一群組的片狀探針130的垂直探測部134尖端適位于同一平面上并排列成至少二列，此至少二列平行透光窗口 122的二相對側(cè)。舉例來說，群組130A的片狀探針130A1與另一群組130B的片狀探針130B1皆延伸至透光窗口 122內(nèi)，使兩者的垂直探測部134皆位于透光窗口 122上方并且排列在第一列Rl。相對地，群組130A的片狀探針130A2與另一群組130B的片狀探針130B2亦延伸至透光窗口 122內(nèi)，使兩者的垂直探測部134位于透光窗口 122上方并且排列在第二列R2，其中第二列R2較第一列Rl遠離透光窗口 122的中心。于本實施例中，共有位于第一列Rl及第二列R2的垂直探測部134位于透光窗口 122上方，然而在本發(fā)明中并未限制每一群組中垂直探測部134位于透光窗口122上方的片狀探針130的數(shù)量，位于一側(cè)的片狀探針130僅需至少二列的垂直探測部134位于透光窗口 122上方，使光線能透過透光窗口 122照射到，讓C⑶攝影機可捕捉到該二列的垂直探測部134及卷帶封裝組件200的測試墊210的相應(yīng)位置，以于探觸之前先確實對位。更具體而言，CCD攝影機僅需補捉到該二列中各一個垂直探測部134及對應(yīng)的二個測試墊210的相應(yīng)位置，即可進行對位。在此并未限制探針組裝槽124的長度、群組的數(shù)量與群組內(nèi)片狀探針的數(shù)量。綜上所述，在本發(fā)明的上述實施例中，利用長度大于片狀探針的水平底座的探針組裝槽，使插置于其中的片狀探針可調(diào)整位置而彼此呈水平錯位配置，以適應(yīng)卷帶的測試墊的各種排列方式，增加彈性配置探針的可行性，有效地降低探針卡制作或維修的成本及困難度。并且，探針的垂直探測部可避免懸臂式探針變形及橫向滑移的問題，在測試時具有較佳的穩(wěn)定度。再者，探針固定座及電路板設(shè)置有透光窗口，使光源的光線能照射到待測組件，而讓CXD攝影機可觀測到探針及待測卷帶封裝組件的測試墊的相應(yīng)位置，以在探觸測試之前能達到確實對位的效果。雖然本發(fā)明已以實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當可作些許的更動與潤飾，故本發(fā)明的保護范圍當視后附的權(quán)利要求所界定者為準。
權(quán)利要求
1.一種探針卡，適于與一卷帶封裝組件的多個測試墊接觸，該探針卡包括 一電路板； 一探針固定座，配置于該電路板上，該探針固定座具有一透光窗口以及多個探針組裝槽，該透光窗口未被該電路板遮蔽，且所述多個探針組裝槽相鄰排列于該透光窗口的至少二相對側(cè)之外； 多個片狀探針，各該片狀探針分別組裝于其中一探針組裝槽內(nèi)，且至少部分所述多個片狀探針延伸至該透光窗口上方，而各該片狀探針包括 一組裝部，具有一水平底座及一弧形支撐，該水平底座設(shè)置于對應(yīng)的探針組裝槽內(nèi)，該弧形支撐連接于該水平底座鄰近該透光窗口的一端上； 一垂直探測部，適于與所述多個測試墊接觸；以及 一水平延伸部，連接該弧形支撐并向該透光窗口方向延伸而與該垂直探測部連接。
2.如權(quán)利要求I所述的探針卡，其特征在于，所述多個探針組裝槽的延伸方向垂直該透光窗口的該二相對側(cè)，且各該探針組裝槽的長度大于各該水平底座的長度。
3.如權(quán)利要求2所述的探針卡，其特征在于，所述多個片狀探針區(qū)分為多個群組，每一群組中的所述多個片狀探針的水平底座錯位設(shè)置于對應(yīng)的所述多個探針組裝槽內(nèi)，以使相應(yīng)的所述多個垂直探測部的尖端適位于同一平面上并排列于至少二列上，該至少二列平行該透光窗口的該二相對側(cè)。
4.如權(quán)利要求3所述的探針卡，其特征在于，所述多個群組分別沿該透光窗口的該二相對側(cè)重復(fù)設(shè)置。
5.如權(quán)利要求4所述的探針卡，其特征在于，各該群組包含至少一第一片狀探針及一第二片狀探針，所述多個第一片狀探針及所述多個第二片狀探針的垂直探測部位于該透光窗口上方并且分別排列于一第一列及一第二列，其中該第二列較該第一列遠離該透光窗口的中心。
6.如權(quán)利要求I所述的探針卡，其特征在于，各該水平延伸部具有至少一槽孔，以增加各該片狀探針的彈性。
7.如權(quán)利要求I所述的探針卡，其特征在于，更包括一強化板，其中該強化板配置于該電路板上，且該探針固定座與該強化板分別配置于該電路板的二相對表面上。
8.如權(quán)利要求7所述的探針卡，其特征在于，該強化板未遮蔽該透光窗口。
9.如權(quán)利要求I所述的探針卡，其特征在于，各該片狀探針的厚度介于O.015毫米與O.027暈米之間。
全文摘要
一種探針卡，適于與卷帶封裝組件的測試墊接觸。探針卡包括電路板、多個片狀探針與配置在電路板上的探針固定座。探針固定座具有透光窗口與探針組裝槽。透光窗口并未被電路板遮蔽，且探針組裝槽排列于透光窗口至少二相對側(cè)外。片狀探針組裝在探針組裝槽內(nèi)，且部分片狀探針延伸至透光窗口上方。片狀探針包括組裝部、垂直探測部與水平延伸部。組裝部具有水平底座及弧形支撐。水平底座設(shè)置于探針組裝槽內(nèi)，弧形支撐連接水平底座鄰近透光窗口的一端上。垂直探測部適于與測試墊接觸。水平延伸部連接弧形支撐并向透光窗口方向延伸而與垂直探測部連接。
文檔編號G01R1/067GK102879616SQ20111027066
公開日2013年1月16日 申請日期2011年9月2日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月12日
發(fā)明者田何鈞 申請人:南茂科技股份有限公司