專利名稱：測試和測量儀器中的時域測量的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般涉及測試和測量儀器中的時域測量。
背景技術(shù)：
射頻(RF)傳輸在當今的無線連接世界中變得越來越普遍。例如，蜂窩電話使用在全球正迅速增加，高速數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)正在擴展，并且家庭無線網(wǎng)絡(luò)和廣域網(wǎng)正變得普遍。在這些和其它類似進步中，現(xiàn)在越發(fā)至關(guān)重要的是，測試和測量儀器提供有用特征和接口，使得正發(fā)生情況的準確描繪能夠被構(gòu)成并且提供給現(xiàn)場人員、如測試工程師和其他合格技術(shù)人
員ORF載波信號能夠基于載波的幅度、頻率或相位的變化通過各種方式來傳送信息。 管理部門通常分配將要供不同目的使用的射頻范圍。因此，準許某些裝置僅在預(yù)定帶之內(nèi)進行操作。這類限制產(chǎn)生用于適配這些限制并且遵守公認通信標準的更為復雜且有效的方法。例如，許多現(xiàn)代傳輸系統(tǒng)使用跳頻和相位調(diào)制以符合通信標準，并且提供爭用類似資源的不同裝置之間的改進功能性和互通。由于這些信號的復雜性質(zhì)，難以或者不可能使用常規(guī)技術(shù)對這些信號的某些方面進行準確測量。雖然一些實時譜分析器(RTSA)擅長測量頻域中的RF信號的一般性，但是它們?nèi)狈Ω囟ǖ臏y量能力，特別是在時域中。解調(diào)和數(shù)據(jù)解碼能力以及在某種程度上有限單通道測量在某些RTSA中是可用的，但是這類儀器缺乏了解迅速擴大和多層面技術(shù)領(lǐng)域中的RF信號總量所需的測量功能性的豐富性。在隨機突發(fā)長度，跳頻算法、相位調(diào)制、信號失真和RF信號的其它要求高的特性存在的情況下_(特別在時域中)測量RF信號的現(xiàn)有方法是不足的。因此，難以或者不可能診斷信號傳輸中的問題或者對信號進行全面測量。

發(fā)明內(nèi)容
主題發(fā)明的實施例提供用于測量射頻(RF)信號的時域特性的測量技術(shù)。主題設(shè)備、系統(tǒng)和方法對RF信號進行接收、數(shù)字化和下變頻，以便從數(shù)字化RF信號來產(chǎn)生I (同相)和Q(正交)基帶分量信息。一個或多個基于IQ的時域軌跡使用I和Q基帶分量信息來生成。這類基于IQ的時域軌跡包括例如頻率對時間軌跡、相位對時間軌跡、幅度(即功率對時間)軌跡、I對時間軌跡和/或Q對時間軌跡。在一些示例實施例中，測試和測量儀器的測量部分產(chǎn)生與基于IQ的時域軌跡的屬性對應(yīng)的測量值，例如基于IQ的時域軌跡的頻率、基于IQ的時域軌跡的脈沖寬度、基于 IQ的時域軌跡與另一個信號之間的延遲、基于IQ的時域軌跡的上升和下降時間以及能夠?qū)r域波形進行的各種其它適當測量。例如，測量部分可產(chǎn)生頻率對時間軌跡中的跳頻的頻率，并且在測試和測量儀器的顯示單元上顯示測量值，或者以其它方式向外部計算機或存儲器裝置傳送測量值。一般來說，測量對應(yīng)于信號的特性，并且在所獲取記錄的開始或者在記錄的多個位置對整體時域記錄來進行。能夠一次一個地或者按照任何組合來進行測CN 102419389 A
說明書
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量。能夠?qū)⒏鞣N測量值應(yīng)用于基于IQ的時域軌跡，正如下面更全面描述。


圖1示出按照本發(fā)明的一個示例實施例的測試和測量儀器的框圖，其中包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)、數(shù)字下變頻器、包括軌跡生成部分和測量部分的控制器以及顯示單元。圖2A-2B示出按照本發(fā)明的一個示例實施例、包括諸如頻率對時間軌跡之類的各種所接收或所得出信號和軌跡的簡化顯示。圖3示出按照本發(fā)明的一個示例實施例、包括諸如相位對時間軌跡之類的各種所接收或所得出信號和軌跡的簡化顯示。圖4示出按照本發(fā)明的一個示例實施例、包括諸如功率對時間軌跡之類的各種所接收或所得出信號和軌跡的簡化顯示。圖5是示出按照本發(fā)明的一些實施例、用于測量基于IQ的時域軌跡的技術(shù)的流程圖。
具體實施例方式圖1示出按照本發(fā)明的一個示例實施例的測試和測量儀器100的框圖，其中包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC) 108、數(shù)字下變頻器115、包括軌跡生成部分145和測量部分147的控制器 140以及顯示單元150。測試和測量儀器100能夠是數(shù)字示波器、實時譜分析器(RTSA)或其它適當測量裝置。為了簡潔和一致起見(而非限制)，測試和測量儀器在本文中將一般稱作示波器。示波器100可具有適合與本文所述的各個實施例配合使用的諸如輸入端子110之類的多個通道或輸入。雖然示波器可具有單個輸入端子110，但是所述的發(fā)明方面同樣可適用于具有四個輸入或者任何數(shù)量的輸入的示波器。雖然示波器100的組件示為直接相互耦合，但是應(yīng)當理解，示波器100能夠包括各種其它電路或軟件組件、輸入、輸出和/或接口， 它們不一定被示出，而是設(shè)置在示波器100的所示組件之間或者以其它方式與其關(guān)聯(lián)。在輸入端子110接收被測電信號、優(yōu)選地為RF信號。能夠?qū)F信號轉(zhuǎn)換成模擬中頻(IF)信號，模擬中頻信號在由ADC 108數(shù)字化之前經(jīng)過濾波。但是，本文將一般提及 "RF信號”或“多個RF信號”，并且應(yīng)當理解，這種提及能夠包括一個或多個RF信號或者從 RF信號所得出的一個或多個IF信號。ADC 108構(gòu)造成將被測RF信號數(shù)字化。數(shù)字下變頻器115操作地耦合到ADC 108， 接收數(shù)字化RF信號，并且從數(shù)字化RF信號來產(chǎn)生I (同相)和Q(正交)基帶分量數(shù)據(jù)或信號。更具體來說，混頻器120將正弦和余弦與數(shù)字化RF信號進行數(shù)值相乘，由此生成包含原始RF信號中存在的全部信息的I和Q分量信息。此后，能夠使用抽選濾波器125對信號分量數(shù)據(jù)進行抽選，抽選濾波器125對與信號關(guān)聯(lián)的噪聲和樣本進行數(shù)字濾波并且減少其數(shù)量。獲取存儲器130操作地耦合到數(shù)字下變頻器115，并且配置成獲取和存儲與RF信號關(guān)聯(lián)的數(shù)字化I和Q基帶分量信息的一個或多個記錄135。換言之，獲取存儲器130能夠從數(shù)字下變頻器115接收I和Q基帶分量信息，并且將它存儲。在一些實施例中，由ADC 108 所輸出的數(shù)字化數(shù)據(jù)可首先直接存儲到存儲器、如存儲器130，并且然后由下變頻器115來訪問，以便產(chǎn)生I和Q基帶分量信息。示波器的各輸入端子110能夠使其關(guān)聯(lián)其中存儲分量信息的獲取存儲器130的不同部分或者不同記錄135。獲取存儲器130能夠是任何種類的存儲器。例如，獲取存儲器130能夠是易失性存儲器、非易失性存儲器、動態(tài)隨機存取存儲器、靜態(tài)存儲器等等?？刂破?40操作地耦合到獲取存儲器130，并且接收I和Q分量信息。控制器140 還耦合到顯示單元150，處理被測信號，并且產(chǎn)生對應(yīng)波形、軌跡和/或測量供由顯示單元 150顯示。作為對顯示軌跡和測量的替代或補充，控制器140能夠經(jīng)由諸如總線或?qū)Ь€之類的導體將軌跡和測量傳送給外部裝置160。除了其它可能性之外，外部裝置160還能夠包括例如與測試和測量儀器分離的計算機或者外部存儲器裝置。控制器140能夠包括軌跡生成部分145和測量部分147。軌跡生成部分145使用 I和Q基帶分量信息來生成一個或多個基于IQ的時域軌跡。例如，在下變頻之后，軌跡生成部分145能夠通過計算⑴除以I)的反正切、即ARCTAMQ/I)，來生成相位。軌跡生成部分 145還能夠通過計算相位相對時間的導數(shù)、即d/dt (相位)，來生成頻率。相位和頻率用于分別繪制相位對時間和頻率對時間軌跡。另外，軌跡生成部分145能夠生成幅度(即，功率對時間)軌跡，它例如能夠通過取I的平方與Q的平方相加的平方根(例如SQRT(r2+Q~2)) 來生成。下面將更詳細地進一步描述各種軌跡。測量部分147產(chǎn)生基于IQ的時域軌跡的至少一個可測量方面的測量值。例如，如果基于IQ的時域軌跡是頻率對時間軌跡，則測量部分147能夠通過測量頻率對時間軌跡中的跳頻的頻率來產(chǎn)生測量值，由此確定信號的頻率調(diào)制跳速方面(frequency modulated hop rate aspect)。作為另一個示例，測量部分147能夠測量頻率對時間軌跡的脈沖寬度， 由此確定信號的頻率調(diào)制跳周期方面(frequency modulated hop duration aspect)。一般來說，測量對應(yīng)于信號的特性，并且在諸如獲取存儲器130的記錄135之類的所獲取記錄的開始或者在所獲取記錄的多個位置對整體時域記錄來進行。能夠一次一個地或者按照任何組合來進行測量。還能夠?qū)︻l率對時間軌跡來進行諸如下面進一步描述等的其它測量值。實際上，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可能已知的各種其它適當測量能夠適用于基于IQ的時域軌跡。另外，測量部分147能夠產(chǎn)生I和Q基帶分量信息的單獨軌跡的至少一個可測量方面的測量值。換言之，能夠直接對I基帶分量信息的軌跡或者對Q基帶分量信息的軌跡進行測量。顯示單元150適合在顯示單元的同一窗口中顯示一個或多個基于IQ的時域軌跡連同(即，彼此靠近或者彼此重疊)頻域軌跡，例如RF信號的譜和/或RF信號的譜圖。諸如RF信號的譜和譜圖之類的頻域軌跡通過對I和Q數(shù)據(jù)應(yīng)用快速傅立葉變換(FFT)算法來產(chǎn)生。當生成基于IQ的時域軌跡的測量值時，還能夠在顯示單元的同一顯示中在便于示波器的用戶查看的位置顯示測量值。換言之，基于IQ的時域軌跡、基于IQ的頻域軌跡和測量值能夠在實質(zhì)占用顯示單元150的整個顯示的單個窗口中彼此靠近顯示。本文提到頻域，但是應(yīng)當理解，它們指的是頻域測量和/或軌跡，這是本領(lǐng)域的技術(shù)人員理解的。例如，RF信號的譜(spectrum)是在頻域之內(nèi)，并且通常包括具有表示頻率范圍的水平軸以及表示給定頻率的幅度或信號功率的垂直軸的圖表。另外，RF信號的譜圖 (spectrogram)被認為是在頻域之內(nèi)，并且通常包括具有表示頻率范圍的水平軸、表示時間
6的垂直軸以及由軌跡的變化顏色所表示的幅度的圖表。相反，時域包括不同類型的測量和/或軌跡。例如，頻率對時間測量和/或軌跡被理解為是在時域而不是頻域之內(nèi)，并且被理解為具有表示時間的水平軸以及表示頻率的垂直軸。頻率對時間測量具有比譜圖更優(yōu)良的時域分辨率。與頻率對時間相似，功率對時間軌跡示出信號的功率如何隨時間而變化，并且被理解為是在時域之內(nèi)；水平軸表示時間，以及垂直軸表示功率-通常是以對數(shù)標度-而不是線性標度的電壓。另外，相位對時間測量和/或軌跡作為時間的函數(shù)來顯示，并且被理解為是在時域之內(nèi)；水平軸表示時間，以及垂直軸表示相位值的范圍。本文中提到基于IQ的時域軌跡，它們指的是從I和Q分量信息或數(shù)據(jù)所得出的信號和/或軌跡，但其處于時域之內(nèi)，與頻域形成對照。ADC 108、數(shù)字下變頻器115、包括軌跡生成和測量部分的控制器140以及顯示單元150中的任一個可存在于硬件、軟件、固件或者它們的任何組合中或者使用它們來實現(xiàn)。圖2A-2B示出按照本發(fā)明的一個示例實施例、包括諸如頻率對時間軌跡225之類的各種所接收或所得出信號和軌跡的簡化顯示200。如圖2A所示，顯示200的上部包括示例控制信號220和頻率對時間軌跡225。雖然在顯示200的上部示出，但是應(yīng)當理解，信號和軌跡能夠位于顯示的任何區(qū)域中。另外， 雖然信號220稱作“控制”信號，但是在一些實施例中，這個信號可以是由測試和測量儀器所接收或生成的任何信號、如時域信號。示波器的多個端子110能夠用于同時接收諸如RF 信號和控制信號220之類的各種信號，并且諸如頻率對時間軌跡225之類的軌跡能夠從與所接收信號關(guān)聯(lián)的信息來得出。在一些實施例中，控制信號220能夠指示頻率的轉(zhuǎn)變，并且頻率對時間軌跡225反映這些轉(zhuǎn)變。在一些實施例中，不需要信號和/或軌跡之間的因果關(guān)系；例如，測量能夠在時域信號(即，與控制信號220無關(guān))與頻率對時間軌跡225之間進行。(圖1的)測量部分147能夠產(chǎn)生與頻率對時間軌跡關(guān)聯(lián)的一個或多個測量值 230。例如，測量部分147能夠產(chǎn)生頻率對時間軌跡中的跳頻的頻率測量值，并且在顯示200 上顯示測量值。測量部分147能夠產(chǎn)生作為示例如圖2B所示的各種附加測量值230，例如頻率對時間軌跡的脈沖的脈沖寬度、控制信號與頻率對時間軌跡之間的延遲、頻率對時間軌跡的脈沖或部分的上升時間、頻率對時間軌跡的脈沖或部分的下降時間、頻率對時間軌跡的過沖條件、頻率對時間軌跡的轉(zhuǎn)換速率等等。實際上，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可能已知的各種其它適當測量能夠適用于頻率對時間軌跡。另外，控制器140能夠經(jīng)由諸如總線或?qū)Ь€之類的導體將測量值230傳送給外部裝置160。此外，頻域中的譜圖285和/或譜四0能夠連同時域中的頻率對時間軌跡一起 (即，彼此靠近或者彼此重疊)以及連同控制信號和測量值一起在實質(zhì)占用顯示單元150的整個顯示200的單個窗口 200中顯示。換言之，譜圖285和譜290沒有在與其它信號和軌跡分離的顯示中顯示，否則這將使得難以將信號之間的信息進行相關(guān)。相反，來自頻域中的譜圖285和/或譜四0的信息能夠在同一顯示中與來自時域軌跡的信息、如頻率對時間軌跡225和測量值230相關(guān)或關(guān)聯(lián)。在一些實施例中，測量部分147能夠響應(yīng)用戶進行的選擇而自動產(chǎn)生頻率對時間軌跡的多個測量值，并且在顯示200上自動顯示測量值230，供用戶進一步分析。例如，能夠
7響應(yīng)用戶輸入而通過自動測量頻率對時間軌跡中的跳頻的頻率以及頻率對時間軌跡中的脈沖寬度，并且顯示這類測量值以使得用戶能夠觀察它們，來自動確定頻率調(diào)制跳速和跳周期。諸如相對于控制信號的延遲之類的其它測量也能夠自動確定和顯示。應(yīng)當理解，以上所述的測量技術(shù)和值的任一個均能夠由示波器100自動測量和顯示。圖3示出按照本發(fā)明的一個示例實施例、包括諸如相位對時間軌跡325之類的各種所接收或所得出信號和軌跡的簡化顯示300。如圖3所示，顯示300的上部包括控制信號320和相位對時間軌跡325。雖然在顯示300的上部示出，但是應(yīng)當理解，信號和軌跡能夠位于顯示的任何區(qū)域中。另外，雖然信號320稱作“控制”信號，但是在一些實施例中，這個信號可以是由測試和測量儀器所接收或生成的任何信號、如時域信號。示波器的多個端子110能夠用于同時接收諸如RF信號和控制信號320之類的各種信號，并且諸如相位對時間軌跡325之類的軌跡能夠從與所接收信號關(guān)聯(lián)的信息來得出?？刂菩盘?20能夠指示相位的轉(zhuǎn)變或者RF信號的另外某種特性。在一些實施例中，不需要信號和/或軌跡之間的因果關(guān)系；例如，測量能夠在時域信號(即，與控制信號 320無關(guān))與相位對時間軌跡325之間進行。(圖1的)測量部分147能夠產(chǎn)生與相位對時間軌跡關(guān)聯(lián)的一個或多個測量值 330。例如，測量部分147能夠產(chǎn)生測量值330，測量值330與上述測量值230相似或者以其它方式與其對應(yīng)，但應(yīng)用于相位對時間軌跡325。測量值330能夠在顯示300上顯示或者經(jīng)由諸如總線或?qū)Ь€之類的導體傳送給外部裝置160。實際上，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可能已知的各種其它適當測量能夠適用于相位對時間軌跡。此外，頻域中的譜圖385和/或譜390能夠連同時域中的相位對時間軌跡325 — 起(即，彼此靠近或者彼此重疊)以及連同控制信號320和測量值330 —起在實質(zhì)占用顯示單元150的整個顯示300的單個窗口 300中顯示。換言之，譜圖385和譜390沒有在與其它信號和軌跡分離的顯示中顯示，否則這將使得難以將信號之間的信息進行相關(guān)。相反， 來自頻域中的譜圖385和/或譜390的信息能夠在同一顯示中與來自時域軌跡的信息、如相位對時間軌跡325和測量值330相關(guān)或關(guān)聯(lián)。在一些實施例中，測量部分147能夠響應(yīng)用戶進行的選擇而自動產(chǎn)生相位對時間軌跡的多個測量值，并且在顯示300上自動顯示測量值330，供用戶進一步分析。例如，電路的相位調(diào)制輸出與控制輸入之間的延遲能夠通過測量控制信號320與相位對時間軌跡325 之間的延遲來確定。這些測量還能夠自動確定和顯示。應(yīng)當理解，以上所述的測量技術(shù)和值的任一個均能夠用于測量相位對時間軌跡的特性，由示波器100自動測量和/或顯示。圖4示出按照本發(fā)明的一個示例實施例、包括諸如功率對時間軌跡425之類的各種所接收或所得出信號和軌跡的簡化顯示400。如圖4所示，顯示400的上部包括控制信號420和幅度(S卩，功率對時間)軌跡 425。雖然在顯示400的上部示出，但是應(yīng)當理解，信號和軌跡能夠位于顯示的任何區(qū)域中。 另外，雖然信號420稱作“控制”信號，但是在一些實施例中，這個信號可以是由測試和測量儀器所接收或生成的任何信號、如時域信號。示波器的多個端子110能夠用于同時接收諸如RF信號和控制信號420之類的各種信號，并且諸如功率對時間軌跡425之類的軌跡能夠從與所接收信號關(guān)聯(lián)的信息來得出。
控制信號420能夠指示功率的轉(zhuǎn)變或者RF信號的另外某種特性。在一些實施例中，不需要信號和/或軌跡之間的因果關(guān)系；例如，測量能夠在時域信號(即，與控制信號 420無關(guān))與功率對時間軌跡325之間進行。(圖1的)測量部分147產(chǎn)生與功率對時間軌跡關(guān)聯(lián)的一個或多個測量值430。例如，測量部分147能夠產(chǎn)生測量值430，測量值430與上述測量值230相似或者以其它方式與其對應(yīng)，但應(yīng)用于功率對時間軌跡。測量值430能夠在顯示400上顯示或者經(jīng)由諸如總線或?qū)Ь€之類的導體傳送給外部裝置160。實際上，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可能已知的各種其它適當測量能夠適用于功率對時間軌跡。此外，頻域中的譜圖485和/或譜490能夠連同時域中的功率對時間軌跡425 — 起以及連同控制信號420和測量值430 —起在實質(zhì)占用顯示單元150的整個顯示400的單個窗口 400中顯示。換言之，譜圖485和譜490沒有在與其它信號分離的顯示中顯示，否則這將使得難以將信號之間的信息進行相關(guān)。相反，來自頻域中的譜圖485和/或譜490的信息能夠在同一顯示中與來自時域軌跡的信息、如功率對時間軌跡425和測量值430相關(guān)或關(guān)聯(lián)。在一些實施例中，測量部分147能夠響應(yīng)用戶進行的選擇而自動產(chǎn)生功率對時間軌跡的多個測量值，并且在顯示400上自動顯示測量值430，供用戶進一步分析。這些測量還能夠自動確定和顯示。應(yīng)當理解，以上所述的測量技術(shù)和值的任一個均能夠用于測量功率對時間軌跡的特性，由示波器100自動測量和/或顯示。圖5是示出按照本發(fā)明的一些實施例、用于測量基于IQ的時域軌跡的技術(shù)的流程圖。該技術(shù)開始于505，其中在諸如示波器之類的測試和測量儀器的端子處接收RF信號。 在510，ADC用于將RF信號數(shù)字化。該流程然后進入515，其中對數(shù)字化信號下變頻，以便產(chǎn)生I和Q基帶分量信息或數(shù)據(jù)。在520，生成使用IQ基帶分量信息的時域軌跡。然后，該流程能沿若干路徑的任一個繼續(xù)進行，例如進行到525，其中測量基于IQ的時域軌跡的頻率， 進行到530，其中測量基于IQ的時域軌跡的脈沖的脈沖寬度，進行到535，其中測量基于IQ 的時域軌跡的脈沖的上升時間，或者進行到M0，其中測量基于IQ的時域軌跡的其它值。其它值能夠包括以上參照圖1-4所述的測量值的任一個，并且為了簡潔起見而將不重復。然后，該流程進入545和/或550，其中測量值在示波器的顯示單元150上顯示以供用戶觀察和分析，和/或傳送給(圖1的)外部裝置160以供進一步處理或分析。雖然描述了具體實施例，但是大家會理解，本發(fā)明的原理并不局限于那些實施例。 例如，雖然上述實施例描述波形的不同性質(zhì)，但是上述性質(zhì)不是趨向于統(tǒng)計的、例如與抖動測量關(guān)聯(lián)的性質(zhì)；但是，所公開的實施例并不局限于非統(tǒng)計性質(zhì)，而是能夠擴展到抖動測量等等或者其它類型的統(tǒng)計測量。例如，能夠?qū)缃y(tǒng)計、直方圖等測量執(zhí)行進一步分析。例如最小數(shù)、最大數(shù)、平均數(shù)、平均值、標準差等等統(tǒng)計值能夠應(yīng)用于測量。應(yīng)當理解，其它分析類型能夠包括測量值的趨勢圖表、直方圖等等。在一些實施例中，從包括軟盤、光盤、固定磁盤、易失性存儲器、非易失性存儲器、 隨機存取存儲器、只讀存儲器或閃速存儲器的集合所得到的產(chǎn)品包括具有關(guān)聯(lián)指令的機器可訪問介質(zhì)，關(guān)聯(lián)指令在測試和測量裝置中運行時使機器執(zhí)行本文所公開的本發(fā)明的各個實施例的步驟?？蛇M行其它變更和修改，而沒有背離以下權(quán)利要求書所提出的本發(fā)明的原理。
權(quán)利要求
1.一種測試和測量儀器，包括 輸入端子，接收被測電信號；模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)，將被測信號數(shù)字化；數(shù)字下變頻器，從數(shù)字化信號來產(chǎn)生I (同相)和Q (正交)基帶分量信息； 軌跡生成部分，使用所述I和Q基帶分量信息來生成一個或多個基于IQ的時域軌跡；以及測量部分，產(chǎn)生與所述一個或多個基于IQ的時域軌跡的屬性對應(yīng)的一個或多個測量值。
2.如權(quán)利要求1所述的測試和測量儀器，其中所述一個或多個基于IQ的時域軌跡包括頻率對時間軌跡；以及所述測量部分配置成測量所述頻率對時間軌跡中的跳頻的頻率，由此確定所述被測信號的頻率調(diào)制跳速方面。
3.如權(quán)利要求1所述的測試和測量儀器，其中所述一個或多個基于IQ的時域軌跡包括頻率對時間軌跡；以及所述測量部分配置成測量所述頻率對時間軌跡的脈沖寬度，由此確定所述被測信號的頻率調(diào)制跳周期方面。
4.如權(quán)利要求1所述的測試和測量儀器，其中，所述輸入端子包括第一輸入端子，并且所述測試和測量儀器還包括第二輸入端子，接收第二信號。
5.如權(quán)利要求4所述的測試和測量儀器，其中所述一個或多個基于IQ的時域軌跡包括頻率對時間軌跡；以及所述測量部分配置成測量所述第二信號與所述頻率對時間軌跡之間的延遲。
6.如權(quán)利要求1所述的測試和測量儀器，其中所述一個或多個基于IQ的時域軌跡包括相位對時間軌跡；以及所述測量部分配置成產(chǎn)生與所述相位對時間軌跡的屬性對應(yīng)的一個或多個測量值。
7.如權(quán)利要求1所述的測試和測量儀器，其中所述一個或多個基于IQ的時域軌跡包括功率對時間軌跡；以及所述測量部分配置成產(chǎn)生與所述功率對時間軌跡的屬性對應(yīng)的一個或多個測量值。
8.如權(quán)利要求1所述的測試和測量儀器，還包括 顯示單元，接收和顯示所述測量值。
9.如權(quán)利要求1所述的測試和測量儀器，還包括控制器，包括所述軌跡生成部分和所述測量部分，其中所述控制器配置成將所述一個或多個測量值傳送給外部裝置。
10.一種在測試和測量儀器中用于測量時域軌跡的方法，所述方法包括 在所述測試和測量儀器的端子接收被測電信號；使用模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)將被測信號數(shù)字化；對數(shù)字化信號進行下變頻，以便產(chǎn)生I (同相)和Q(正交)基帶分量信息； 使用所述I和Q基帶分量信息來生成一個或多個基于IQ的時域軌跡；以及自動產(chǎn)生所述一個或多個基于IQ的時域軌跡的多個測量值。
11.如權(quán)利要求10所述的方法，還包括在顯示單元上顯示所述一個或多個基于IQ的時域軌跡的所述多個測量值。
12.如權(quán)利要求10所述的方法，還包括 將所述多個測量值傳送給外部裝置。
13.如權(quán)利要求10所述的方法，其中生成所述一個或多個基于IQ的時域軌跡包括生成頻率對時間軌跡。
14.如權(quán)利要求13所述的方法，其中，自動產(chǎn)生所述一個或多個基于IQ的時域軌跡的所述多個測量值包括通過測量所述頻率對時間軌跡中的跳頻的頻率，來確定頻率調(diào)制跳速；以及在顯示單元上顯示與所述頻率調(diào)制跳速對應(yīng)的測量值。
15.如權(quán)利要求13所述的方法，其中，自動產(chǎn)生所述一個或多個基于IQ的時域軌跡的所述多個測量值還包括通過測量所述頻率對時間軌跡的脈沖寬度，來確定頻率調(diào)制跳周期；以及在所述顯示單元上顯示與所述頻率調(diào)制跳周期對應(yīng)的測量值。
16.如權(quán)利要求10所述的方法，其中，所述端子包括第一端子，所述方法還包括 在所述測試和測量儀器的第二端子接收第二信號。
17.如權(quán)利要求16所述的方法，其中生成所述一個或多個基于IQ的時域軌跡包括生成頻率對時間軌跡；以及自動產(chǎn)生所述一個或多個基于IQ的時域軌跡的所述多個測量值包括 測量所述第二信號與所述頻率對時間軌跡之間的延遲；以及在顯示單元上顯示延遲測量。
18.如權(quán)利要求10所述的方法，其中生成所述一個或多個基于IQ的時域軌跡包括生成相位對時間軌跡；以及自動產(chǎn)生所述測量值包括產(chǎn)生與所述相位對時間軌跡的屬性對應(yīng)的多個測量值。
19.如權(quán)利要求10所述的方法，其中生成所述一個或多個基于IQ的時域軌跡包括生成功率對時間軌跡；以及自動產(chǎn)生所述測量值包括產(chǎn)生與所述功率對時間軌跡的屬性對應(yīng)的多個測量值。
20.從包括軟盤、光盤、固定磁盤、易失性存儲器、非易失性存儲器、隨機存取存儲器、只讀存儲器或閃速存儲器的集合所得到的產(chǎn)品包括具有關(guān)聯(lián)指令的機器可訪問介質(zhì)，所述關(guān)聯(lián)指令在測試和測量裝置中運行時使機器執(zhí)行如權(quán)利要求10所述的步驟。
全文摘要
本發(fā)明的名稱為測試和測量儀器中的時域測量。測試和測量儀器及方法用于接收射頻(RF)信號，使用模數(shù)轉(zhuǎn)換器將RF信號數(shù)字化，對數(shù)字化信號進行下變頻以產(chǎn)生I(同相)和Q(正交)基帶分量信息，使用I和Q基帶分量信息來生成一個或多個基于IQ的時域軌跡，以及測量和顯示基于IQ的時域軌跡的各種測量值。基于IQ的時域測量值能夠自動生成和顯示和/或傳送給外部裝置。
文檔編號G01R21/133GK102419389SQ201110239040
公開日2012年4月18日 申請日期2011年8月11日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月13日
發(fā)明者G·J·沃爾多, K·P·多比恩斯 申請人:特克特朗尼克公司