專利名稱：高頻線材測試機的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及高頻測試領(lǐng)域技術(shù)，尤其是指一種高頻線材測試機。
背景技術(shù)：
目前國內(nèi)外市場上對高頻信號的線材作高頻特性的檢測還沒有一種專門的測試儀器，特別是在頻率比較高(幾百MHZ)的范圍，由于有很高的技術(shù)瓶頸，傳統(tǒng)的測試方法必須借助于價格昂貴的掃頻儀、頻普儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀測試。掃頻儀是用于測量包括增益和衰減特性、幅頻特性、相頻特性等在內(nèi)的傳輸特性的儀器。掃頻儀的工作過程中能產(chǎn)生頻率隨時間作均勻變化、等幅的正弦信號作為被測網(wǎng)絡(luò)的測試信號，當?shù)确鶔哳l信號加于被測網(wǎng)絡(luò)或系統(tǒng)時，網(wǎng)絡(luò)或系統(tǒng)的輸出幅度將按自身的幅頻特性變化，從而能夠測出被測網(wǎng)絡(luò)或系統(tǒng)的幅頻特性。頻普儀的工作原理是針對不同的頻率信號而有相對應(yīng)的濾波器與檢知器，再經(jīng)由同頻的多工掃描器將信號傳送到液晶顯示儀器上進行顯示。網(wǎng)絡(luò)分析儀是通過測定網(wǎng)絡(luò)的反射參數(shù)和傳輸參數(shù)，從而對網(wǎng)絡(luò)中元器件特性的全部參數(shù)進行全面描述的測量儀器，用于實現(xiàn)對線性網(wǎng)絡(luò)的頻率特性測量。該網(wǎng)絡(luò)分析儀能夠完成反射、傳輸兩種基本測量，從而確定幾乎所有的網(wǎng)絡(luò)特性，S參數(shù)是其中最基本的特性。但是，由于掃頻儀、頻普儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀不是專用于高頻信號線材的測試，所以存在測試速度慢、接口不方便等缺點；而且掃頻儀、頻普儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀不但笨重、體積也大， 每次進行測試時均需將這些設(shè)備搬來搬去，操作非常費時費力。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明針對現(xiàn)有技術(shù)存在之缺失，其主要目的是提供一種高頻線材測試機，其將掃頻儀、頻普儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的功能結(jié)合在一起，專門用于各種高頻信號的線材測試，具有頻率工作范圍高、寬，頻率調(diào)整速度快、測試速度快、測試接口多的特點，從而克服傳統(tǒng)技術(shù)的不足。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下之技術(shù)方案
一種高頻線材測試機，包括一用于完成計算的ARM9主控CPU、一用于完成測試過程中各種信號切換的邏輯控制芯片、一高頻信號發(fā)送模組和一高頻信號接收模組；
所述ARM9主控CPU上分別電性連接有一掉電不丟失數(shù)據(jù)的FLASH存儲器、一用于存取程序使用中過程變量的RAM存儲器、一用于掃描外部鍵盤輸入的面板按鍵掃描模塊和一用于顯示高頻線材測試結(jié)果的顯示模塊；
所述高頻信號發(fā)送模組包括依次電性連接的一用于發(fā)出基點頻率信號的有源晶振、一產(chǎn)生多點頻率信號的直接數(shù)字頻率合成芯片、一進行頻率擴展的倍頻電路、一將頻率信號放大的高頻放大電路和用于連接在被測線材一端的多個發(fā)送端口；
所述高頻信號接收模組包括依次電性連接的用于連接在被測線材另一端的多個接收端口、一完成對拾取的信號選頻放大的高頻接收電路、一 AC/DC轉(zhuǎn)換電路、一 A/D轉(zhuǎn)換電路和一實現(xiàn)兩個不同的時鐘域間的數(shù)據(jù)緩沖的先進先出數(shù)據(jù)緩存器；
所述邏輯控制芯片分別與上述ARM9主控CPU、直接數(shù)字頻率合成芯片、倍頻電路、A/D 轉(zhuǎn)換電路和先進先出數(shù)據(jù)緩存器電性連接。當對被測線材進行測試時，在ARM9主控CPU設(shè)定的掃頻時間內(nèi)，按照設(shè)定的頻率范圍，由有源晶振發(fā)出基點頻率信號，再由直接數(shù)字頻率合成芯片產(chǎn)生多個頻率點信號，經(jīng)倍頻電路擴展頻率、高頻放大電路放大信號強弱，最終發(fā)送端口對被測線材的一端發(fā)出高頻測試信號，對被測線材進行掃頻，被測線材的另一端由高頻接收電路及接收端口配合接收這些頻率點信號，經(jīng)AC/DC轉(zhuǎn)換將交流信號轉(zhuǎn)為直流信號，再經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換后通過先進先出數(shù)據(jù)存儲器將數(shù)字掃頻信息送入到中央處理器中，中央處理器根據(jù)功率衰減的情況判斷被測線材在設(shè)定的頻率范圍內(nèi)以及某些頻率點傳輸高頻信號的特性。作為一種優(yōu)選方案，所述發(fā)送端口及接收端口均為4個。 作為一種優(yōu)選方案，所述發(fā)送端口及接收端口的類型為RJ45、USB或網(wǎng)路轉(zhuǎn)接口。作為一種優(yōu)選方案，所述顯示模塊上安裝有彩色液晶屏，其像素分辨率為 320*240 ο作為一種優(yōu)選方案，所述邏輯控制芯片為復(fù)雜可編程邏輯控制芯片。本發(fā)明采用上述技術(shù)方案后，其有益效果在于
一、通過將ARM9主控CPU、邏輯控制芯片、高頻信號發(fā)送模組和高頻信號接收模組合成該高頻線材測試機，合理地將掃頻儀、頻普儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的功能結(jié)合在一起，專門用于各種高頻信號的線材測試；避免傳統(tǒng)使用多臺機器需搬來搬去所帶來操作復(fù)雜和費時費力的弊端，且無需同時購買多臺昂貴機器，只用一臺機器即可快速檢測出被測線材傳輸高頻信號的特性，有效降儀器的購買成本。二、采用運行高速的嵌入式ARM9芯片作主控制器，加之用直接數(shù)字頻率合成芯片作頻率產(chǎn)生器，使頻率細分到32位，頻率工作范圍更寬更高；再結(jié)合先進的倍頻技術(shù)，得到所需的高頻信號，實現(xiàn)頻率更快調(diào)整；除此之外運用直接數(shù)字頻率合成芯片，采集實時掃頻信息；在該高頻線材測試機上ARM9主控CPU、直接數(shù)字頻率合成芯片和直接數(shù)字頻率合成芯片的性能彼此支持，使該高頻線材測試機的系統(tǒng)運行穩(wěn)定可靠，從而實現(xiàn)被測線材的快速檢測。三、利用在該高頻測試機上設(shè)置多個發(fā)送端口和接收端口，可以同時用于多條不同線材的測試，大大提高測試效率；除此之外，各發(fā)送端口和接收端口的類型可以為RJ45、 USB或網(wǎng)路等多種轉(zhuǎn)接口，為不同類型的線材測試提供極大的方便。為更清楚地闡述本發(fā)明的結(jié)構(gòu)特征和功效，下面結(jié)合附圖與具體實施例來對本發(fā)明進行詳細說明。


圖1是本發(fā)明之實施例的結(jié)構(gòu)連接框圖2是本發(fā)明之實施例中雙絞線的高頻測試示意圖。附圖標識說明
100、高頻線材測試機10、主控CPU11、FLASH存儲器 13、面板按鍵掃描模塊 20、邏輯控制芯片 31、有源晶振 33、倍頻電路 35、發(fā)送端口 41、接收端口 43、AC/DC轉(zhuǎn)換電路 45、FIFO存儲器
42、高頻接收電路 44、A/D轉(zhuǎn)換電路 200、被測線材。
30、高頻信號發(fā)送模組 32、DDS芯片 34、高頻放大電路 40、高頻信號接收模組
12、RAM存儲器 14、顯示模塊
具體實施例方式如圖1所示，其顯示出了本發(fā)明之實施例的具體結(jié)構(gòu)，該高頻線材測試機100包括一主控CPU10、一邏輯控制芯片20、一高頻信號發(fā)送模組30和一高頻信號接收模組40 ；以下將詳細描述構(gòu)成該高頻線材測試機100的各電路模塊的具體結(jié)構(gòu)和連接關(guān)系，再說明其工作原理以及工作過程。承上，所述主控CPUlO上連接有FLASH存儲器11、RAM存儲器12、面板按鍵掃描模塊13和顯示模塊14。具體而言，所述主控CPUlO用于完成計算，其為嵌入式ARM9控制器，ARM9控制器具有速度快、體積小、接口豐富、功耗低、無需輔助散熱設(shè)備等優(yōu)點。該主控CPUlO對與之連接的各器件具有分析、判斷、控制功能，并針對最有利于該高頻線材測試機100操作，該主控CPUlO的控制內(nèi)容還包括以下多個方面1、系統(tǒng)設(shè)置實現(xiàn)對系統(tǒng)時間、日期、密碼、圖形顯示的設(shè)置；2、測試參數(shù)設(shè)置實現(xiàn)對掃頻范圍、頻點、掃頻時間、測試數(shù)目的設(shè)置；3、文件檔案管理實現(xiàn)對文件的新建、刪除、設(shè)定當前文件的設(shè)置；4、學(xué)習實現(xiàn)用標準被測物學(xué)習、取樣數(shù)據(jù)、作為比較標準的設(shè)置；5、測試實現(xiàn)對被測物測試、顯示測試結(jié)構(gòu)的設(shè)置； 6、測試統(tǒng)計合格、不合格的數(shù)目用不良原因。該FLASH存儲器11 (非易失性閃存器)具有掉電不丟失數(shù)據(jù)的特點，能永久存儲檢測到的信息。RAM存儲器12 (隨機存儲器)可以快速存取數(shù)據(jù)，但斷電后數(shù)據(jù)丟失，其用于程序使用中的過程變量。該面板按鍵掃描模塊13上安裝有小鍵盤，面板按鍵掃描模塊13不斷地掃描小鍵盤是否發(fā)生操作，當操作人員通過小鍵盤輸入信息時，面板按鍵掃描模塊13即將輸信息送給主控CPU10，因此，主控CUPlO中對文件的新建、刪除和某些設(shè)定信息均通過該連接在面板按鍵掃描模塊13上的小鍵盤完成。而顯示模塊14是采用TFT彩色IXD液晶顯示屏，該IXD液晶顯示屏由一定數(shù)量的彩色或黑白像素組成，其主要原理是以電流刺激液晶分子產(chǎn)生點、線、面配合背部燈管構(gòu)成畫面。該LCD液晶電光火顯示屏具有超薄、功耗低、顯示清晰的特點，在本實施例中，所述 LED液晶顯示屏的像素為320拉40，方便觀察。所述邏輯控制芯片20與前述主控CPUlO電性連接，并分別與下述DDS芯片32、倍頻電路33、A/D轉(zhuǎn)換電路44和FIFO緩存器45電性連接。該邏輯控制芯片20是完成測試過程中各種信號的切換，實現(xiàn)測試邏輯順序控制，也就是控制下述DDS芯片32和倍頻電路 33以及將A/D轉(zhuǎn)換電路44的數(shù)據(jù)送往FIFO存儲器45進行切換處理。在本實施例中，該邏輯控制芯片20為CPLD邏輯控制芯片(全稱復(fù)雜可編程邏輯器件)，該CPLD邏輯控制芯片是一種可以根據(jù)用戶各自需要而自行構(gòu)造邏輯功能的數(shù)字集成電路，其基本設(shè)計方法是借助集成開發(fā)軟件平臺，用原理圖、硬件描述語言等方法，生成相應(yīng)的目標文件，通過下載電纜將代碼傳送到目標芯片中，實現(xiàn)設(shè)計的數(shù)字系統(tǒng)。因此，該CPLD邏輯控制芯片具有更高的集成度，可以處理更復(fù)雜的邏輯運算。所述高頻信號發(fā)送模組30包括依次電性連接的有源晶振31、DDS芯片32(直接數(shù)字頻率合成芯片)、倍頻電路33、高頻放大電路34和發(fā)送端口 35 ；
具體而言，所述有源晶振31作為時鐘源，其能提供穩(wěn)定的脈沖，為與之連接的DDS芯片 32提供基點頻率信號。該DDS芯片32是一頻率產(chǎn)生器，其與上述邏輯控制芯片20電連接，實現(xiàn)由控制邏輯電路20的控制信號及有源晶振31的基點頻率信號經(jīng)轉(zhuǎn)換產(chǎn)生多種可變頻的正弦信號， 具體而言，該DDS技術(shù)是基于采樣定量，它利用奈奎斯特準則對一個基點頻率信號進行采樣，控制采樣周期的相位增量，用當前的相位值來尋址ROM表，實現(xiàn)相碼到幅碼的轉(zhuǎn)換。其中，頻率設(shè)定部分通過控制器將需要輸出的頻率參數(shù)值進行設(shè)置，從而控制相位累加器。相位累加器由一個N位加法器與一個N位累加寄存器級聯(lián)構(gòu)成，N—般為M 32位。每送來一個時鐘脈沖，加法器將控制字與累加寄存器輸出的累加相位數(shù)據(jù)相加，把相加后的結(jié)果送到累加器的數(shù)據(jù)輸入端，以使加法器在下一個時鐘脈沖的作用下繼續(xù)與頻率控制字相加。這樣，相位累加器在時鐘脈沖的作用下，不斷地對頻率控制字進行線性相位累加。相位累加器輸出的數(shù)據(jù)就是合成信號的相位，相位累加器的輸出頻率就是輸出的信號頻率。在本實施例中，所述DDS芯片32將有源晶振31中的基點頻率信號細分到32位，。所述倍頻電路33實質(zhì)上就是一種輸出信號等于輸入信號頻率整數(shù)倍的電路，常用的是二倍頻和三倍頻器。在本實施例中倍頻電路33的主要作用是為了提升載波信號的頻率，使之工作于對應(yīng)的信道；同時經(jīng)倍頻處理后，調(diào)頻信號的頻偏也可成倍提高，即提高了調(diào)頻調(diào)制的靈敏度，這樣可降低對調(diào)制信號的放大要求。采用倍頻電路的另一個好處是可以使載波主振蕩器與高頻放大電路隔離，減小高頻寄生耦合，有得于減少高頻自激現(xiàn)象的產(chǎn)生，提高整機工作穩(wěn)定性。所述高頻放大電路34用于放大高頻信號，以使高頻線材測試機100的末級獲得足夠大的發(fā)射功率，在本實施例中，發(fā)射頻率的工作范圍為50MHZ 400MHZ。該高頻放大電路34上連接有數(shù)個發(fā)送端口 35，本實施例中的發(fā)送端口有4個，該 4個發(fā)送端口 35均為高頻信號輸出口，各發(fā)送端口 35用于連接被測線材200的一端對被測線材200進行高頻掃描，其掃描速度為0. Is 10s，步進為0. Is。所述高頻信號接收模組40包括依次電性連接的接收端口 41、高頻接收電42路、 AC/DC轉(zhuǎn)換電路43、A/D轉(zhuǎn)換電路44和FIFO緩存器45 ；
該接收端口 41有4個，各個接收端口 41分別與前述各發(fā)送端口 35對應(yīng)，各接收端口 41 用于連接在被測線材200的另一端接收發(fā)送端口 35發(fā)出的高頻信號，從而由發(fā)送端口 35、 被測線材200和接收端口 41形成單向通路，該接收端口 41可測的衰減分貝范圍為OdB 40 dB,分辨率為5 dB。且4個發(fā)送端口 35與4個接收端口 41配合可以同時用于4條不同的線材測試。該發(fā)送端口 35和接收端口 41的類型可以為RJ45、USB、網(wǎng)路等多種轉(zhuǎn)接口， 方便本高頻線材測試機100對不同類型的線材測試。該高頻接收電路42的接收端與前述4個接收端口 41連接，其是完成對拾取的信號進行放大，選頻，根據(jù)預(yù)設(shè)的要求選擇合適的放大倍數(shù)；由于該高頻接收電路42的信號為交流信號，因此還需將這些交流信號送給AC/DC轉(zhuǎn)換電路43中。該AC/DC轉(zhuǎn)換電路43 (交流/直流轉(zhuǎn)換電路)與高頻接收電路42連接，用于將交流信號變換成直流信號。所述A/D轉(zhuǎn)換電路44與AC/DC轉(zhuǎn)換電路43連接，是一用于將模擬信號轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字信號的電子電路，具體是指將一個輸入電壓信號轉(zhuǎn)換為一個輸出的數(shù)字信號。該A/D轉(zhuǎn)換器經(jīng)過采樣、保持、量化及編碼4個步驟完成對模擬信號的轉(zhuǎn)換過程。并且，該A/D轉(zhuǎn)換電路44與前述邏輯控制芯片20連接，并在該邏輯控制芯片20的控制下進行數(shù)模轉(zhuǎn)換操作。所述FIFO存儲器45 (先進先出的數(shù)據(jù)緩存器)一端是與A/D轉(zhuǎn)換電路連接，用于對AD數(shù)據(jù)采集，F(xiàn)IFO的另一端為PCI總線，訪PCI總線接到主控CPUlO中，將數(shù)據(jù)信息送給中央處理器，從而實現(xiàn)兩個不同的時鐘域間的數(shù)據(jù)緩沖，并使主控CPU可以采集實時的掃頻信號。同時該FIFO存儲器45也與前述邏輯控制芯片20連接，由邏輯控制芯片20為其提供控制時鐘。本高頻線材測試機的測試原理是在ARM9主控CPUlO設(shè)定的掃頻時間內(nèi)，按照設(shè)定的頻率范圍，由有源晶振31發(fā)出基點頻率信號，再由DDS芯片32產(chǎn)生多個頻率點信號，經(jīng)倍頻電路33擴展頻率、高頻放大電路34放大信號強弱，最終發(fā)送端口 35對被測線材200的一端發(fā)出高頻測試信號，對被測線材200進行掃頻。被測線材200的另一端由高頻接收電路42及接收端口 41配合接收這些頻率點信號，經(jīng)AC/DC轉(zhuǎn)換電路43將交流信號轉(zhuǎn)為直流信號，再經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換電路44后通過FOFO存儲器45將數(shù)字掃頻信息送入到主控CPUlO中， 主控CPUlO根據(jù)功率衰減的情況判斷被測線材200在設(shè)定的頻率范圍內(nèi)以及某些頻率點傳輸高頻信號的特性。由于不同類型的線材能夠比較好地傳輸頻率的范圍有可能不同(即帶寬有可能不同)，因此采用類比測試法判斷被測線材的傳輸特性，舉例而言
例如若A類線材在50MHZ 60MHZ頻率范圍內(nèi)，信號衰減5dB ；而在60MHZ 100MHZ 頻率范圍內(nèi)，信號衰減為10dB，由于該線材在不同的傳輸頻率范圍內(nèi)，信號衰減不一致，從而表明這種線材在60MHZ 100MHZ頻率范圍內(nèi)的傳輸信號不好。

若B類線材在50MHZ 60MHZ頻率范圍內(nèi)，信號衰減5dB ；在60MHZ 100MHZ頻率范圍內(nèi)，信號衰減也為5dB，該線材在不同的傳輸頻率范圍內(nèi)，信號衰減不一致，從而表明這種線材在60MHZ 100MHZ頻率范圍內(nèi)的傳輸信號好。因此，不同類型的線材測試的參數(shù)與標準是不同的，為了能快速測試，一種較好的方法是在同一頻率傳輸特性的線材中，選取一條線材作為參考標準，其它對被測線材的測試結(jié)果與標準作比較，以判斷是否合格。如圖2所示，被測線材200的測試過程以雙絞線為例加以說明在1A、2A發(fā)送端發(fā)送一高頻信號Vi，通過雙絞線，在IB和2B端接收信號V0，通過公式RL=20 log (V0/Vi )將電壓值轉(zhuǎn)為分貝值dB，以分貝值dB表示雙絞線傳輸頻率的衰減量。本發(fā)明的設(shè)計重點在于
7一、通過將ARM9主控CPU、邏輯控制芯片、高頻信號發(fā)送模組和高頻信號接收模組合成該高頻線材測試機，合理地將掃頻儀、頻普儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的功能結(jié)合在一起，專門用于各種高頻信號的線材測試；避免傳統(tǒng)使用多臺機器需搬來搬去所帶來操作復(fù)雜和費時費力的弊端，且無需同時購買多臺昂貴機器，只用一臺機器即可快速檢測出被測線材傳輸高頻信號的特性，有效降儀器的購買成本。二、采用運行高速的嵌入式ARM9芯片作主控制器，加之用直接數(shù)字頻率合成芯片作頻率產(chǎn)生器，使頻率細分到32位，頻率工作范圍更寬更高；再結(jié)合先進的倍頻技術(shù)，得到所需的高頻信號，實現(xiàn)頻率更快調(diào)整；除此之外運用直接數(shù)字頻率合成芯片，采集實時掃頻信息；在該高頻線材測試機上ARM9主控CPU、直接數(shù)字頻率合成芯片和直接數(shù)字頻率合成芯片的性能彼此支持，使該高頻線材測試機的系統(tǒng)運行穩(wěn)定可靠，從而實現(xiàn)被測線材的快速檢測。三、利用在該高頻測試機上設(shè)置多個發(fā)送端口和接收端口，可以同時用于多條不同線材的測試，大大提高測試效率；除此之外，各發(fā)送端口和接收端口的類型可以為RJ45、 USB或網(wǎng)路等多種轉(zhuǎn)接口，為不同類型的線材測試提供極大的方便。以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明的技術(shù)范圍作任何限制， 故凡是依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何細微修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種高頻線材測試機，其特征在于包括一用于完成計算的ARM9主控CPU、一用于完成測試過程中各種信號切換的邏輯控制芯片、一高頻信號發(fā)送模組和一高頻信號接收模組；所述ARM9主控CPU上分別電性連接有一掉電不丟失數(shù)據(jù)的FLASH存儲器、一用于存取程序使用中過程變量的RAM存儲器、一用于掃描外部鍵盤輸入的面板按鍵掃描模塊和一用于顯示高頻線材測試結(jié)果的顯示模塊；所述高頻信號發(fā)送模組包括依次電性連接的一用于發(fā)出基點頻率信號的有源晶振、一產(chǎn)生多點頻率信號的直接數(shù)字頻率合成芯片、一進行頻率擴展的倍頻電路、一將頻率信號放大的高頻放大電路和用于連接在被測線材一端的多個發(fā)送端口；所述高頻信號接收模組包括依次電性連接的用于連接在被測線材另一端的多個接收端口、一完成對拾取的信號選頻放大的高頻接收電路、一 AC/DC轉(zhuǎn)換電路、一 A/D轉(zhuǎn)換電路和一實現(xiàn)兩個不同的時鐘域間的數(shù)據(jù)緩沖的先進先出數(shù)據(jù)緩存器；所述邏輯控制芯片分別與上述ARM9主控CPU、直接數(shù)字頻率合成芯片、倍頻電路、A/D 轉(zhuǎn)換電路和先進先出數(shù)據(jù)緩存器電性連接；當對被測線材進行測試時，在ARM9主控CPU設(shè)定的掃頻時間內(nèi)，按照設(shè)定的頻率范圍， 由有源晶振發(fā)出基點頻率信號，再由直接數(shù)字頻率合成芯片產(chǎn)生多個頻率點信號，經(jīng)倍頻電路擴展頻率、高頻放大電路放大信號強弱，最終發(fā)送端口對被測線材的一端發(fā)出高頻測試信號，對被測線材進行掃頻，被測線材的另一端由高頻接收電路及接收端口配合接收這些頻率點信號，經(jīng)AC/DC轉(zhuǎn)換將交流信號轉(zhuǎn)為直流信號，再經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換后通過先進先出數(shù)據(jù)存儲器將數(shù)字掃頻信息送入到中央處理器中，中央處理器根據(jù)功率衰減的情況判斷被測線材在設(shè)定的頻率范圍內(nèi)以及某些頻率點傳輸高頻信號的特性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高頻線材測試機，其特征在于所述發(fā)送端口及接收端口均為4個。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高頻線材測試機，其特征在于所述發(fā)送端口及接收端口的類型為RJ45、USB或網(wǎng)路轉(zhuǎn)接口。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高頻線材測試機，其特征在于所述顯示模塊上安裝有彩色液晶屏，其像素分辨率為320拉40。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高頻線材測試機，其特征在于所述邏輯控制芯片為復(fù)雜可編程邏輯控制芯片。
全文摘要
本發(fā)明公開一種高頻線材測試機，包括一用于完成計算的ARM9主控CPU、一用于完成測試過程中各種信號切換的邏輯控制芯片、一用于連接在被測線材一端的高頻信號發(fā)送模組和一用于連接在被測線材另一端的高頻信號接收模組；測試過程中，在ARM9主控CPU設(shè)定的掃頻時間內(nèi)，按照設(shè)定的頻率范圍，由邏輯控制芯片控制使高頻信號發(fā)送模組向被測線材的一端發(fā)出高頻倍號，被測線材的另一端由高頻接收模組拾取頻率點信號，再送到ARM9主控CPU中進行計算，從而實現(xiàn)被測線材傳輸高頻信號的特性。該高頻線材測試機專門用于各種高頻信號的線材測試，具有頻率工作范圍更高、更寬，頻率調(diào)整速度快、測試速度快、測試接口多的特點，從而克服傳統(tǒng)技術(shù)的不足。
文檔編號G01R23/16GK102355310SQ201110195719
公開日2012年2月15日 申請日期2011年7月13日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月13日
發(fā)明者楊世光 申請人:東莞中逸電子有限公司