專利名稱：一種測試表筆的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及測量儀器儀表技術領域，特別涉及一種測試表筆。
背景技術：
目前，通常的萬用表等測量儀器儀表所配測試表筆，由絕緣的筆桿、頂端為尖錐形 的金屬探針、導線及導線插頭等構成。現有表筆用于測試已焊接或插接在線路板上的電子 元器件，如測試集成電路塊的相關參數，由于集成電路塊的引出腳是一個接一個緊密排列 的，相鄰兩個引出腳之間只有很小的間隙，當現有表筆的探針碰觸所測引出腳時，由于并無 固定接觸位置的結構功能，尖滑的探針極易從所測引出腳滑落，同時碰觸到相鄰的引出腳， 引起測量結果的不實變化。若集成電路塊處于通電狀態(tài)，則還可能造成短路，燒毀集成電路 塊。如測試三極管中間的一極，則易碰觸旁邊的兩極。有的元件如電阻，往往位置緊貼線路 板，引出線很短，表筆也不易穩(wěn)定地與之接觸。

實用新型內容本實用新型所要解決的技術問題是，針對現有技術的不足，提供一種可靠地與所 測電子元器件引出腳接觸，不易與相鄰引出腳相碰的測試表筆。為解決上述技術問題，本實用新型的技術方案是一種測試表筆，包括筆桿、后半 部嵌入筆桿的探針，所述的探針的前端端部呈扁平狀，該端部開有凹口。所述的凹口內邊緣呈與電子元器件引出腳外壁相配合的弧形。所述的探針前端端部的寬度小于電子元器件引出腳的最大寬度。所述的探針后半部與設置在筆桿內的導線相連接，導線的另一端連接有插頭。本實用新型采用上述結構，具有以下優(yōu)點1、用于線路板上集成電路塊測試時， 探針端部可插置于所測引出腳與其插孔之間存在的微小縫隙處，這樣可以既保證與所測引 出腳可靠接觸，又不會左右移動與相鄰引出腳相碰；2、用于線路板上電阻、二極管、三極管 等電子元件上參數測試時，可以探針前端端部的凹口，卡住所測引出腳，保證穩(wěn)定可靠的接 觸，操作者可以騰出雙手操作儀器。
以下結合附圖和具體實施方式
對本實用新型作進一步詳細的說明；

圖1為本實用新型的結構示意圖；在圖1中，1、筆桿；2、探針；3、凹口。
具體實施方式
如圖1所示一種測試表筆，包括筆桿1、后半部嵌入筆桿的探針2，探針2的前端端 部呈扁平狀，該端部開有凹口 3。凹口 3內邊緣呈與電子元器件引出腳外壁相配合的弧形。 凹口 3外邊緣過塑絕緣。探針2前端端部的寬度小于電子元器件引出腳的最大寬度。探針后半部與設置在筆桿1內的導線相連接，導線的另一端連接有插頭。插頭的類型視所配 屬的儀表而定。該表筆在用于線路板上集成電路塊測試時，探針2端部可插置于所測引出 腳與其插孔之間存在的微小縫隙處，這樣可以既保證與所測引出腳可靠接觸，又不會左右 移動與相鄰引出腳相碰。該表筆用于線路板上電阻、二極管、三極管等電子元件上參數測試 時，可以用探針2前端端部的凹口 3，卡住所測電子元器件的引出腳，保證穩(wěn)定可靠的接觸。 上面結合附圖對本實用新型進行了示例性描述，顯然本實用新型具體實現并不受 上述方式的限制，只要采用了本實用新型的技術方案進行的各種改進，或未經改進直接應 用于其它場合的，均在本實用新型的保護范圍之內。
權利要求1.一種測試表筆，包括筆桿(1)、后半部嵌入筆桿的探針O)，其特征在于所述的探針 (2)的前端端部呈扁平狀，該端部開有凹口(3)。
2.根據權利要求1所述的一種測試表筆，其特征在于所述的凹口( 內邊緣呈與電 子元器件引出腳外壁相配合的弧形。
3.根據權利要求1所述的一種測試表筆，其特征在于所述的探針( 前端端部的寬 度小于電子元器件引出腳的最大寬度。
4.根據權利要求1所述的一種測試表筆，其特征在于所述的探針后半部與設置在筆 桿(1)內的導線相連接，導線的另一端連接有插頭。
專利摘要本實用新型公開了一種測試表筆，包括筆桿、后半部嵌入筆桿的探針，所述的探針的前端端部呈扁平狀，該端部開有凹口。采用上述結構，本實用新型具有以下優(yōu)點1、用于線路板上集成電路塊測試時，探針端部可插置于所測引出腳與其插孔之間存在的微小縫隙處，這樣可以既保證與所測引出腳可靠接觸，又不會左右移動與相鄰引出腳相碰；2、用于線路板上電阻、二極管、三極管等電子元件上參數測試時，可以探針前端端部的凹口，卡住所測引出腳，保證穩(wěn)定可靠的接觸。
文檔編號G01R1/067GK201903558SQ20102064413
公開日2011年7月20日 申請日期2010年12月6日 優(yōu)先權日2010年12月6日
發(fā)明者羅大偉 申請人:羅大偉