專利名稱：用于磁頭架頂針關(guān)鍵尺寸的檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及到一種檢測裝置，尤其涉及到一種用于磁頭架頂針關(guān)鍵尺寸的檢 測裝置。
背景技術(shù)：
圖1中示出了磁頭架頂針的結(jié)構(gòu)，該磁頭架頂針通常用于銀行系統(tǒng)中。磁頭架頂 針是通過壓鉚的方法壓鉚在磁頭架上的，而磁頭架頂針壓鉚前后，圖中關(guān)鍵尺寸D會改變， 而銀行系統(tǒng)中對磁頭架頂針壓鉚前后的尺寸D又有嚴(yán)格的誤差范圍要求，但是很多工作人 員在沒對磁頭架頂針中D尺寸進(jìn)行檢測的情況下，就將磁頭架安裝到銀行系統(tǒng)中，再用磁 卡測試磁頭架頂針安裝是否到位，這樣就會浪費(fèi)人力和生產(chǎn)成本。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種用于磁頭架頂針關(guān)鍵尺寸的檢測裝 置，該檢測裝置能快速檢測多個磁頭架頂針的關(guān)鍵尺寸是否符合生產(chǎn)要求。為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案為一種用于磁頭架頂針關(guān)鍵 尺寸的檢測裝置，其整體呈H形，由兩呈長方體狀的基塊及設(shè)置在兩基塊之間的呈長方體 狀的測量塊組成，測量塊底面離基塊底面的距離與測量塊頂面離基塊頂面的距離兩者不寸。本實(shí)用新型的有益效果是采用上述用于磁頭架頂針關(guān)鍵尺寸的檢測裝置后，能 快速刪選出安裝合格的磁頭架頂針。

圖1是磁頭架頂針的結(jié)構(gòu)圖；圖2是本實(shí)用新型所述用于磁頭架頂針關(guān)鍵尺寸的檢測裝置的主視圖；圖3是本實(shí)用新型檢測磁頭架頂針的關(guān)鍵尺寸D的下極限值的示意圖；圖4是本實(shí)用新型檢測磁頭架頂針的關(guān)鍵尺寸D的上極限值的示意圖。圖中1、基塊，2、測量塊，3、基塊底面，4、測量塊底面，5、基塊頂面，6、測量塊頂面， 7、磁頭架頂針，8、磁頭架。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖，詳細(xì)描述本實(shí)用新型的具體實(shí)施方案。如圖2所示，本實(shí)用新型所述的一種用于磁頭架頂針關(guān)鍵尺寸的檢測裝置，其整 體呈H形，由兩呈長方體狀的基塊1及設(shè)置在兩基塊之間的呈長方體狀的測量塊2組成，且 測量塊底面4離基塊底面3的距離A與測量塊頂面6離基塊頂面5的距離B兩者不等。因 為實(shí)際生產(chǎn)時，由于某些特定因素，總是會產(chǎn)生一些誤差，故通常磁頭架頂針的尺寸D只要 在工藝公差的要求范圍內(nèi)，都屬于合格。為此，我們將尺寸A和尺寸B設(shè)計(jì)為不等，且A、B分別為尺寸D的上、下兩個極限尺寸。 下面以磁頭架頂針壓鉚前，A為下極限值，B為上極限值為例詳細(xì)介紹本實(shí)用新型 的工作原理。先將磁頭架頂針7放置在磁頭架8上，然后將檢測裝置如圖3所示放置在磁 頭架8上，因?yàn)锳為下極限值，故尺寸D必須大于或等于A，即磁頭架頂針7的頂端與檢測裝 置中測量塊底面4之間緊貼在一起或其中一個基塊底面與磁頭架8的外表面相脫離，然后 將不符合上述要求的磁頭架頂針7去掉，如圖4所示，再用B來檢測尺寸D，因?yàn)锽為上極限 值，故尺寸D必須小于或等于B，即磁頭架頂針7的頂端與檢測裝置中測量塊頂面6之間緊 貼或有空隙且基塊頂面5與磁頭架8外表面不能有間隙。同時滿足上述兩種測量情況的磁 頭架頂針為合格產(chǎn)品，但是由于不同磁頭架頂針7在壓鉚時的形變量不同，故壓鉚后的磁 頭架頂針7還要經(jīng)過上述兩個步驟測量，只不過檢測裝置中的A和B設(shè)置成磁頭架頂針7 壓鉚后的下極限值和上極限值，檢測方法與壓鉚前的方法相同，在此就不再詳細(xì)敘述了。利 用上述檢測裝置能方便、快速、準(zhǔn)確的檢測出磁頭架頂針7壓鉚前后是否符合生產(chǎn)要求。
權(quán)利要求1. 一種用于磁頭架頂針關(guān)鍵尺寸的檢測裝置，其特征在于其整體呈H形，由兩呈長方 體狀的基塊及設(shè)置在兩基塊之間的呈長方體狀的測量塊組成，測量塊底面離基塊底面的距 離與測量塊頂面離基塊頂面的距離兩者不等。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種能快速、方便的檢測磁頭架頂針關(guān)鍵尺寸的用于磁頭架頂針關(guān)鍵尺寸的檢測裝置，其整體呈H形，由兩呈長方體狀的基塊及設(shè)置在兩基塊之間的呈長方體狀的測量塊組成，測量塊底面離基塊底面的距離與測量塊頂面離基塊頂面的距離兩者不等。本實(shí)用新型用于檢測銀行系統(tǒng)中磁頭架頂針壓鉚前后的關(guān)鍵尺寸。
文檔編號G01B5/00GK201852541SQ20102060906
公開日2011年6月1日 申請日期2010年11月16日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月16日
發(fā)明者錢國強(qiáng) 申請人:江蘇銀河電子股份有限公司