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用于檢測(cè)液晶顯示面板的探針塊及機(jī)臺(tái)的制作方法

文檔序號(hào):5901608閱讀:181來源:國(guó)知局
專利名稱:用于檢測(cè)液晶顯示面板的探針塊及機(jī)臺(tái)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及液晶顯示領(lǐng)域,特別涉及液晶顯示面板制造過程中對(duì)液晶顯示面 板檢測(cè)時(shí)所用的探針塊及包含該探針塊的機(jī)臺(tái)。
背景技術(shù)
薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD,Thin Film Transistor-Liquid CrystalDisplay)因其體積小、重量輕、低功耗且無(wú)輻射等優(yōu)點(diǎn),在當(dāng)前的平板顯示器市場(chǎng) 中占據(jù)主導(dǎo)地位,薄膜晶體管液晶顯示面板在出貨前,需要多道檢測(cè)工序,其中,最后一道 工序是液晶顯示模組畫面品質(zhì)檢測(cè),這是液晶顯示模組的量產(chǎn)過程中產(chǎn)品出貨前的重要步 驟,現(xiàn)在業(yè)界通用的檢查方法分外觀檢查和點(diǎn)燈檢查兩種。在液晶顯示面板的檢測(cè)過程中, 用于檢測(cè)液晶顯示面板的機(jī)臺(tái)上需要使用探針塊,使其與液晶顯示面板上面的線路端子接 觸并電連接以連通檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)。圖1為現(xiàn)有技術(shù)中探針塊的立體結(jié)構(gòu)示意圖,圖2為現(xiàn)有技術(shù)中探針塊的連接結(jié) 構(gòu)示意圖。多個(gè)探針101整齊排布構(gòu)成整個(gè)探針塊的主要部分,每個(gè)探針均具有測(cè)試探頭 11和連接探頭12,測(cè)試探頭11與液晶顯示面板100上的端子電性連接,連接探頭12與用 于檢測(cè)液晶顯示面板的機(jī)臺(tái)300上的線路電性連接,以實(shí)現(xiàn)對(duì)液晶顯示面板的檢測(cè)。工廠內(nèi)所使用的機(jī)臺(tái)上的探針塊上面排布的探針裸露在外,機(jī)臺(tái)工作過程中很容 易被液晶顯示面板上攜帶的玻璃屑或異物壓傷,造成探針彎曲或者位于測(cè)試探頭下的陶瓷 壁被壓碎,影響探針塊的使用壽命。且由于異物附著在探針塊表面會(huì)直接影響檢測(cè)效果和 檢測(cè)質(zhì)量的提高。

實(shí)用新型內(nèi)容有鑒于此,本實(shí)用新型解決的技術(shù)問題是提供更高使用壽命的用于檢測(cè)液晶顯 示面板的探針塊及機(jī)臺(tái)。為解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型的技術(shù)方案具體是這樣實(shí)現(xiàn)的本實(shí)用新型提供了一種用于檢測(cè)液晶顯示面板的探針塊,其包括依次排列組成的 一端具有測(cè)試探頭的多個(gè)探針,以及位于測(cè)試探頭下方的陶瓷壁;所述測(cè)試探頭的前端具 有向上的凸尖;位于所述陶瓷壁的相對(duì)一側(cè)的多個(gè)探針的上表面貼附有膠帶,所述測(cè)試探 頭的凸尖顯露于膠帶外。本實(shí)用新型還提供了一種用于檢測(cè)液晶顯示面板的機(jī)臺(tái),所述機(jī)臺(tái)包括上述探針 塊。由上述的技術(shù)方案可見,本實(shí)用新型提供的探針塊表面有了膠帶的保護(hù),其使用壽 命大大提高,可以避免被液晶顯示面板上攜帶的異物壓傷而造成陶瓷壁損壞或者探針彎曲。

圖1是現(xiàn)有技術(shù)中探針塊的立體結(jié)構(gòu)示意圖。[0011]圖2為現(xiàn)有技術(shù)中探針塊的連接結(jié)構(gòu)示意圖。圖3是本實(shí)用新型探針塊的立體結(jié)構(gòu)示意圖。圖4是本實(shí)用新型探針塊的結(jié)構(gòu)分解示意圖。圖5是圖3所示探針塊中單個(gè)探針的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案、及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下參照附圖并舉實(shí)施 例,對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步詳細(xì)說明。如圖3所示為本實(shí)用新型探針塊的立體結(jié)構(gòu)示意圖,為清楚起見,圖4為本實(shí)用新 型探針塊的結(jié)構(gòu)分解示意圖。下面結(jié)合圖3和圖4進(jìn)行詳細(xì)說明。探針塊包括整齊排列的 多個(gè)探針101、陶瓷壁102、定位柱103、兩個(gè)固定板104以及膠帶201。多個(gè)探針101整齊 排布構(gòu)成整個(gè)探針塊的主要部分,如圖5所示為本實(shí)用新型探針塊中單個(gè)探針的結(jié)構(gòu)示意 圖,多個(gè)探針均呈厚度為大約10微米的片狀,整個(gè)探針塊由多個(gè)探針整齊排列組成,多個(gè) 整齊排布的探針上相同的位置具有一個(gè)或多個(gè)半徑相同的圓形的定位孔13,以便于定位柱 103置于多個(gè)探針101的定位孔13中將所述多個(gè)探針101的排列位置固定。每個(gè)探針101 具有測(cè)試探頭11和連接探頭12,對(duì)液晶顯示面板進(jìn)行檢測(cè)時(shí),測(cè)試探頭11與被檢測(cè)的液晶 顯示面板上的端子電性連接,具體是測(cè)試探頭11前端向上的凸尖14與液晶顯示面板上的 端子電性連接;連接探頭12與檢測(cè)液晶顯示面板的機(jī)臺(tái)上的線路電性連接,探針上可以具 有多個(gè)定位孔,相應(yīng)地采用多個(gè)與之相應(yīng)的定位柱,圖5中僅示意性地示出其具有兩個(gè)定 位孔的情況,其半徑可以相同,也可以不同,共同將所述多個(gè)探針位置固定。結(jié)合圖3和圖4,多個(gè)整齊排布的測(cè)試探頭下方具有陶瓷壁102,陶瓷壁102大致 呈條形體,其與測(cè)試探頭11接觸的上表面具有多個(gè)凹槽(未圖示),多個(gè)測(cè)試探頭11與陶 瓷壁的多個(gè)凹槽一一對(duì)應(yīng),恰好將多個(gè)測(cè)試探頭卡在凹槽上,陶瓷壁主要起到支撐探針的 作用。所述多個(gè)探針101及陶瓷壁102均夾于兩個(gè)固定板104中間,兩個(gè)固定板104相應(yīng) 位置也具有與探針上半徑相同的固定孔15,多個(gè)定位柱103通過穿過固定孔15和多個(gè)定位 孔13而將多個(gè)探針101的位置固定,關(guān)鍵的是,本實(shí)用新型探針塊還包括位于陶瓷壁102 的相對(duì)一側(cè)的多個(gè)探針101的上表面貼附的膠帶201。從圖4可以看出,在測(cè)試探頭11的 前端具有向上的凸尖14,該凸尖14向上突出更有利于測(cè)試探頭11與被檢測(cè)的液晶顯示面 板上的端子電性連接。由于上述電性連接的需要,所述測(cè)試探頭11的凸尖14顯露于膠帶 外(如圖3所示)。具體地,膠帶201可以僅貼附于除測(cè)試探頭凸尖14之外的測(cè)試探頭上 表面區(qū)域,也可以貼附于除測(cè)試探頭凸尖14之外的整個(gè)探針的上表面區(qū)域。如圖3所示,本 實(shí)施例中膠帶201貼附于除測(cè)試探頭凸尖之外的測(cè)試探頭上表面區(qū)域。當(dāng)檢測(cè)液晶顯示面 板時(shí),貼附有膠帶201的一側(cè)(即探針具有陶瓷壁的相對(duì)一側(cè))緊貼被檢測(cè)的液晶顯示面 板上的端子部分,多個(gè)測(cè)試探頭上的凸尖14與多個(gè)位于液晶顯示面板上的端子位置一一 對(duì)應(yīng)并電性連接,檢測(cè)液晶顯示面板的機(jī)臺(tái)上的電信號(hào)通過探針塊導(dǎo)通到被檢測(cè)的液晶顯 示面板上,由于測(cè)試探頭上具有凸尖14,所以要求膠帶201的厚度小于凸尖14的高度,從而 保證在檢測(cè)過程中不會(huì)造成由于貼附的膠帶具有一定的厚度而阻擋探頭與被檢測(cè)的液晶 顯示面板上的端子的電性連接。探針上的連接探頭12與測(cè)試探頭11的結(jié)構(gòu)大致相同,其 與檢測(cè)液晶顯示面板的機(jī)臺(tái)上的線路電性連接。本實(shí)施例中所述測(cè)試探頭凸尖14到膠帶201的水平距離為0. 5 1毫米。這個(gè)距離范圍即不會(huì)影響到膠帶阻擋碎玻璃屑或其他異 物的功能也不會(huì)造成阻擋探頭與被檢測(cè)的液晶顯示面板上的端子的電性連接。考慮到便于 對(duì)膠帶進(jìn)行貼附,優(yōu)選地,所述測(cè)試探頭凸尖到膠帶的長(zhǎng)度距離可以取為1毫米。本實(shí)用新 型所貼附的膠帶在貼附探針塊的上表面的同時(shí)還可以延伸到兩側(cè)的固定板上,即覆蓋所述 固定板104,起到更加固定且不易脫落的效果。對(duì)液晶顯示面板進(jìn)行檢測(cè)的過程中,即使被檢測(cè)的液晶顯示面板上面具有微小的 碎玻璃屑或其他異物時(shí),由于本實(shí)用新型的探針塊在臨近被檢測(cè)液晶顯示面板的一側(cè)貼附 有膠帶201,膠帶201的長(zhǎng)度及寬度可根據(jù)探針塊的大小進(jìn)行裁切,其可以阻擋這些碎玻璃 屑或其他異物進(jìn)入到各探針之間的縫隙中,從而可以很好地保護(hù)探針塊中的多個(gè)探針不被 損壞。實(shí)施例中的膠帶可以采用鐵弗龍,由于鐵弗龍具有優(yōu)良的化學(xué)穩(wěn)定性、耐腐蝕性、 密封性、高潤(rùn)滑不粘性、電絕緣性和良好的抗老化耐力,但是,本實(shí)用新型的膠帶并不僅限 于鐵弗龍,任何具有上述性能的膠帶都可以用于本實(shí)用新型。本實(shí)用新型中可以針對(duì)不同探針塊的情況,采取不同的處理來提高探針塊的使用
壽命ο針對(duì)未被損壞的探針塊,在位于所述陶瓷壁的相對(duì)一側(cè)的多個(gè)探針的上表面貼附 膠帶,所述測(cè)試探頭的凸尖顯露于膠帶外。當(dāng)探針塊上存有碎玻璃屑或其他異物,且對(duì)探針造成損傷時(shí),在貼附膠帶之前,先 將探針塊上的異物取掉;接著更換探針,并用砂紙打磨所述更換的探針,使所述更換的探針 平整后用毛刷清潔;接著在位于所述陶瓷壁的相對(duì)一側(cè)的多個(gè)探針的上表面貼附膠帶,所 述測(cè)試探頭的凸尖顯露于膠帶外。當(dāng)陶瓷壁破碎時(shí),在貼附膠帶之前,將所述破碎的陶瓷取掉,并用毛刷清潔,在所 述位置重新插入碎陶瓷,以平整陶瓷壁表面,達(dá)到支撐探針的作用。綜上所述,本實(shí)用新型提供的探針塊表面有了膠帶的保護(hù),其使用壽命大大提高, 避免將探針塊裸露在外,從而可以避免被液晶顯示面板上攜帶的異物壓傷造成陶瓷壁損壞 或者探針彎曲。本實(shí)用新型在提高探針塊使用壽命的同時(shí)大大節(jié)省了生產(chǎn)成本。以上對(duì)本實(shí)用新型所提供的探針塊進(jìn)行了詳細(xì)介紹,本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對(duì)本 實(shí)用新型的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述,以上實(shí)施例的說明只是用于幫助理解本實(shí)用新型 的核心思想;同時(shí),對(duì)于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員,依據(jù)本實(shí)用新型的思想,在具體實(shí)施方式及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處,綜上所述,本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本實(shí)用新型的限制。
權(quán)利要求1.一種用于檢測(cè)液晶顯示面板的探針塊,包括依次排列組成的一端具有測(cè)試探頭的多 個(gè)探針,以及位于測(cè)試探頭下方的陶瓷壁;所述測(cè)試探頭的前端具有向上的凸尖;其特征 在于,位于所述陶瓷壁的相對(duì)一側(cè)的多個(gè)探針的上表面貼附有膠帶,所述測(cè)試探頭的凸尖 顯露于膠帶外。
2.如權(quán)利要求1所述的探針塊,其特征在于,所述多個(gè)探針均為厚度相同的片狀。
3.如權(quán)利要求2所述的探針塊,其特征在于,所述多個(gè)探針上相同的位置具有一個(gè)或 多個(gè)圓形的定位孔。
4.如權(quán)利要求3所述的探針塊,其特征在于,所述探針塊還包括位于多個(gè)探針兩側(cè)的 固定板,所述膠帶還覆蓋于所述固定板上。
5.如權(quán)利要求4所述的探針塊,其特征在于,所述探針塊還包括多個(gè)定位柱,所述固定 板上對(duì)應(yīng)于所述定位孔的位置設(shè)置有固定孔,所述多個(gè)定位柱通過穿過固定孔和所述多個(gè) 定位孔而將所述多個(gè)探針位置固定。
6.如權(quán)利要求1所述的探針塊,其特征在于,所述測(cè)試探頭凸尖到膠帶的水平距離為 0. 5 1毫米。
7.如權(quán)利要求6所述的探針塊,其特征在于,所述膠帶的厚度小于所述凸尖的高度。
8.如權(quán)利要求7所述的探針塊,其特征在于,所述膠帶為鐵弗龍。
9.如權(quán)利要求1所述的探針塊,其特征在于,所述探針還具有連接探頭,所述測(cè)試探頭 上的凸尖與液晶顯示面板上的端子電性連接,所述連接探頭與用于檢測(cè)液晶顯示面板的機(jī) 臺(tái)上的線路電性連接。
10.一種用于檢測(cè)液晶顯示面板的機(jī)臺(tái),其特征在于,包括如權(quán)利要求1至9任一項(xiàng)所 述用于檢測(cè)液晶顯示面板的探針塊。
專利摘要本實(shí)用新型提供了一種用于檢測(cè)液晶顯示面板的探針塊,其包括依次排列組成的一端具有測(cè)試探頭的多個(gè)探針,以及位于測(cè)試探頭下方的陶瓷壁;所述測(cè)試探頭的前端具有向上的凸尖;位于所述陶瓷壁的相對(duì)一側(cè)的多個(gè)探針的上表面貼附有膠帶,所述測(cè)試探頭的凸尖顯露于膠帶外。本實(shí)用新型還提供了一種用于檢測(cè)液晶顯示面板的機(jī)臺(tái)。采用本實(shí)用新型大大提高了探針塊的使用壽命。
文檔編號(hào)G01R1/04GK201853025SQ20102059836
公開日2011年6月1日 申請(qǐng)日期2010年11月4日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月4日
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