專利名稱：測(cè)試機(jī)臺(tái)的定位結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本 實(shí)用新型有關(guān)一種測(cè)試機(jī)臺(tái)的定位結(jié)構(gòu)，提供一種用于測(cè)試印刷電路板、半導(dǎo) 體封裝組件或晶圓等被測(cè)物是否有斷路或不良等現(xiàn)象的測(cè)試機(jī)臺(tái)，可使被測(cè)物快速定位于 測(cè)試治具上，并可構(gòu)成被測(cè)物與測(cè)試治具間接觸穩(wěn)定性的定位結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
按，一般具有復(fù)數(shù)個(gè)被測(cè)點(diǎn)(如電子組件的接點(diǎn))的諸如印刷電路板、半導(dǎo)體封裝 組件或晶圓等制成后，均需透過(guò)一種專用治具予以檢測(cè)，而藉以確認(rèn)是否為良品或有無(wú)斷 路現(xiàn)象。又，按習(xí)知產(chǎn)業(yè)間所采用檢測(cè)該諸如印刷電路板、半導(dǎo)體封裝組件或晶圓等被測(cè)物 的方式，大抵如圖1所示，在一治具10上表設(shè)置有若干支探針20，該若干支探針20且配合 被測(cè)物30底面的各被檢測(cè)點(diǎn)(圖未示)位置設(shè)置；另，并設(shè)有至少一接頭11，該接頭11 一 端與探針20電性連接，而該等接頭11另端且與電路檢測(cè)機(jī)的排線(圖未示)相連接導(dǎo)通。當(dāng)檢測(cè)被測(cè)物30時(shí)，預(yù)先將電路測(cè)試機(jī)的排線插入接頭11，續(xù)將被測(cè)物30對(duì)應(yīng)放 置在治具10的探針20上，藉由探針20與被測(cè)物30底面的被檢測(cè)點(diǎn)接觸后，電路測(cè)試機(jī)便 可顯示被測(cè)物30是否有斷路或不良等現(xiàn)象。又，為了使該被測(cè)物30諸被檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)確 實(shí)性，及被測(cè)物30被探針20實(shí)施觸壓檢測(cè)時(shí)，該探針20或被檢測(cè)點(diǎn)不會(huì)發(fā)生破壞現(xiàn)象，該 諸探針20且設(shè)置呈可彈性伸縮作動(dòng)。然而，一般被測(cè)物30直接放置在治具10的探針20上，而進(jìn)行檢測(cè)，有時(shí)會(huì)因?yàn)楦?探針組裝時(shí)高低不一，或者該被測(cè)物的被檢測(cè)點(diǎn)高低不一，使該被測(cè)物30無(wú)法確實(shí)平均壓 觸于各探針20上，以至于有部分被檢測(cè)點(diǎn)無(wú)法接觸探針，令檢測(cè)結(jié)果產(chǎn)生不準(zhǔn)確和不確實(shí) 的情形。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所解決的技術(shù)問(wèn)題即在提供一種用于測(cè)試印刷電路板、半導(dǎo)體封裝組 件或晶圓等被測(cè)物是否有斷路或不良等現(xiàn)象的測(cè)試機(jī)臺(tái)，可使被測(cè)物快速定位于測(cè)試治具 上，并可構(gòu)成被測(cè)物與測(cè)試治具間接觸穩(wěn)定性的定位結(jié)構(gòu)。本實(shí)用新型的技術(shù)方案為一種測(cè)試機(jī)臺(tái)的定位結(jié)構(gòu)，該測(cè)試機(jī)臺(tái)設(shè)有至少一測(cè) 試基座，該測(cè)試基座上并設(shè)有一測(cè)試治具，而該測(cè)試治具內(nèi)并設(shè)有復(fù)數(shù)探針，各探針與檢測(cè) 主機(jī)連結(jié)，由各探針與被測(cè)物的被檢測(cè)點(diǎn)接觸而進(jìn)行測(cè)試；該測(cè)試基座并設(shè)有一定位結(jié)構(gòu)， 該定位結(jié)構(gòu)設(shè)有一墊體、一吸引組件以及至少一真空吸孔，該墊體套設(shè)于該測(cè)試基座頂部 外側(cè)，且該墊體略高于該測(cè)試治具，該真空吸孔設(shè)于該測(cè)試基座并相對(duì)設(shè)于該測(cè)試治具與 墊體間，而該吸引組件與該真空吸孔相通，由該真空吸孔吸附該被測(cè)物，而使其定位于該測(cè) 試治具上。該測(cè)試機(jī)臺(tái)設(shè)有一承置體以及一連接支架，該承置體與該連接支架相互垂直設(shè) 置，該測(cè)試基座設(shè)于該承置體上，而該連接支架上則設(shè)有至少一連接區(qū)域，該連接區(qū)域設(shè)有 復(fù)數(shù)接點(diǎn)，各接點(diǎn)與測(cè)試治具的探針相連接。[0008]該連接區(qū)域上進(jìn)一步連接有連接器，該連接器設(shè)有復(fù)數(shù)與該連接區(qū)域各接點(diǎn)相對(duì) 應(yīng)的端子，該連接器另端則與檢測(cè)主機(jī)相連接。該連接支架設(shè)有至少一對(duì)位孔，而該連接器并設(shè)有至少一與該對(duì)位孔相對(duì)的插 柱。該連接 器藉由至少一固定件固定于該測(cè)試機(jī)臺(tái)上。該墊體為軟性材質(zhì)。該被測(cè)物設(shè)置于一承載臺(tái)上，由該承載臺(tái)放置于該測(cè)試基座上，并與該墊體接觸。該承載臺(tái)設(shè)有窗口可使該被測(cè)物的被測(cè)面外露于測(cè)試基座處。該測(cè)試機(jī)臺(tái)進(jìn)一步設(shè)有一底座以及下夾座，該底座一側(cè)設(shè)有至少一定位穿孔，該 底座該側(cè)并可位于該下夾座中，而該下夾座一側(cè)設(shè)有至少一導(dǎo)柱，該導(dǎo)柱可活動(dòng)穿設(shè)于該 定位穿孔中。本實(shí)用新型的有益效果為本實(shí)用新型的測(cè)試機(jī)臺(tái)設(shè)有至少一測(cè)試基座，該測(cè)試 基座上并設(shè)有一測(cè)試治具，用以對(duì)被測(cè)物進(jìn)行測(cè)試；其中該測(cè)試基座并設(shè)有一定位結(jié)構(gòu)， 該定位結(jié)構(gòu)設(shè)有一墊體、一吸引組件以及至少一真空吸孔，該墊體套設(shè)于該測(cè)試基座頂部 外側(cè)。其中，該被測(cè)物設(shè)置于一承載臺(tái)上，由該承載臺(tái)放置于該測(cè)試基座上，再經(jīng)由該吸 引組件控制該真空吸孔對(duì)該承載臺(tái)進(jìn)行真空吸附，使該被測(cè)物得以快速定位于該測(cè)試治具 上，更可令該被測(cè)物可平均壓觸于各探針上，使其穩(wěn)定接觸，以確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。

圖1為習(xí)有治具的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本實(shí)用新型中測(cè)試機(jī)臺(tái)的結(jié)構(gòu)剖視圖。圖3為本實(shí)用新型中測(cè)試機(jī)臺(tái)的結(jié)構(gòu)示意圖。圖4為本實(shí)用新型中連接支架的結(jié)構(gòu)示意圖。圖5為本實(shí)用新型中定位結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。圖6為本實(shí)用新型中連接區(qū)域與連接座的結(jié)構(gòu)示意圖。圖7為本實(shí)用新型中定位結(jié)構(gòu)的動(dòng)作示意圖。圖號(hào)說(shuō)明治具10 ；接頭11 ；探針20 ；被測(cè)物30 ；承載臺(tái)31 ；窗口 32 ；測(cè)試機(jī)臺(tái) 40 ；測(cè)試基座41 ；測(cè)試治具42 ；承置體43 ；連接支架44 ；連接區(qū)域441 ；接點(diǎn)442 ；對(duì)位孔 443 ；墊體45 ；吸引組件46 ；真空吸孔47 ；底座48 ；定位穿孔481 ；下夾座49 ；導(dǎo)柱491 ；連接 器51 ；端子511 ；插柱512 ；檢測(cè)主機(jī)52 ；固定件53。
具體實(shí)施方式
本實(shí)用新型測(cè)試機(jī)臺(tái)的定位結(jié)構(gòu)，如圖2至圖4所示，該測(cè)試機(jī)臺(tái)40設(shè)有至少一 測(cè)試基座41，該測(cè)試基座41上并設(shè)有一測(cè)試治具42，而該測(cè)試治具42內(nèi)并設(shè)有復(fù)數(shù)探針 (圖未示)，如圖所示的實(shí)施例中，該測(cè)試機(jī)臺(tái)40設(shè)有一承置體43以及一連接支架44，該承 置體43與該連接支架44相互垂直設(shè)置，該測(cè)試基座41設(shè)于該承置體43上，而該連接支架 44上則設(shè)有至少一連接區(qū)域441，該連接區(qū)域441設(shè)有復(fù)數(shù)接點(diǎn)442，各接點(diǎn)442與測(cè)試治 具42的探針相連接。[0026]本案的重點(diǎn)在于該測(cè)試基座41并設(shè)有一定位結(jié)構(gòu)，請(qǐng)同時(shí)參閱圖5所示，該定位 結(jié)構(gòu)設(shè)有一墊體45 (可以為軟性材質(zhì))、一吸引組件46以及至少一真空吸孔47，該墊體45 套設(shè)于該測(cè)試基座41頂部外側(cè)，且該墊體45略高于該測(cè)試治具42，該真空吸孔47設(shè)于該 測(cè)試基座41并相對(duì)設(shè)于該測(cè)試治具42與墊體45間，而該吸引組件46與該真空吸孔47相
ο再者，該連接區(qū)域441上進(jìn)一步連接有連接器51，如圖6所示，該連接器51設(shè)有復(fù) 數(shù)與該連接區(qū)域各接點(diǎn)442相對(duì)應(yīng)的端子511，該連接器51另端則連接有一檢測(cè)主機(jī)52， 該連接支架44設(shè)有至少一對(duì)位孔443，而該連接器51并設(shè)有至少一與該對(duì)位孔443相對(duì) 的插柱512，該連接器51藉由至少一固定件53 (可以為螺絲)固定于該測(cè)試機(jī)臺(tái)40上，故 該連接器51可插接于預(yù)定的連接區(qū)域441上，并藉由該對(duì)位孔443與插柱512達(dá)到對(duì)位效 果，并使各端子61與各接點(diǎn)442確實(shí)接觸導(dǎo)通，再藉由該固定件53的作用使該連接器51 固定于該測(cè)試機(jī)臺(tái)40上。具體實(shí)施時(shí)，被測(cè)物30設(shè)置于一承載臺(tái)31上，由該承載臺(tái)31放置于該測(cè)試基座 41上，并與該墊體45接觸，如圖5所示，其中該承載臺(tái)31設(shè)有窗口 32可使該被測(cè)物30的 被測(cè)面外露于測(cè)試基座41處，再藉由該吸引組件46的作用，使各真空吸孔47吸附該承載 臺(tái)31，此時(shí)該承載臺(tái)31、被測(cè)物30以及墊體45因?yàn)楦髡婵瘴?7的作用，一起朝測(cè)試治 具42靠近，如圖7所示，而使該被測(cè)物30得以定位于該測(cè)試治具42上，并藉由測(cè)試治具的 各探針與檢測(cè)主機(jī)(圖未示)連結(jié)，由各探針與被測(cè)物的被檢測(cè)點(diǎn)接觸而進(jìn)行測(cè)試。其中，利用真空吸力作用不僅可使該被測(cè)物快速定位，亦可提供被測(cè)物平均壓觸 于各探針的力量，使該被測(cè)物與測(cè)試治具間的接觸穩(wěn)定性大幅提升，以確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn) 確性。另外，該測(cè)試機(jī)臺(tái)40進(jìn)一步設(shè)有一底座48以及下夾座49，如圖2所示，該底座48 一側(cè)設(shè)有至少一定位穿孔481，該底座48該側(cè)并可位于該下夾座49中，而該下夾座49 一側(cè) 設(shè)有至少一導(dǎo)柱491，該導(dǎo)柱491可活動(dòng)穿設(shè)于該定位穿孔481中，使該測(cè)試機(jī)臺(tái)40得以定 位。
權(quán)利要求1.一種測(cè)試機(jī)臺(tái)的定位結(jié)構(gòu)，該測(cè)試機(jī)臺(tái)設(shè)有至少一測(cè)試基座，該測(cè)試基座上并設(shè)有 一測(cè)試治具，而該測(cè)試治具內(nèi)并設(shè)有復(fù)數(shù)探針，各探針與檢測(cè)主機(jī)連結(jié)，由各探針與被測(cè)物 的被檢測(cè)點(diǎn)接觸而進(jìn)行測(cè)試；其特征在于該測(cè)試基座并設(shè)有一定位結(jié)構(gòu)，該定位結(jié)構(gòu)設(shè)有一墊體、一吸引組件以及至少一真空 吸孔，該墊體套設(shè)于該測(cè)試基座頂部外側(cè)，且該墊體略高于該測(cè)試治具，該真空吸孔設(shè)于該 測(cè)試基座并相對(duì)設(shè)于該測(cè)試治具與墊體間，而該吸引組件與該真空吸孔相通，由該真空吸 孔吸附該被測(cè)物，而使其定位于該測(cè)試治具上。
2.如權(quán)利要求1所述測(cè)試機(jī)臺(tái)的定位結(jié)構(gòu)，其特征在于，該測(cè)試機(jī)臺(tái)設(shè)有一承置體以 及一連接支架，該承置體與該連接支架相互垂直設(shè)置，該測(cè)試基座設(shè)于該承置體上，而該連 接支架上則設(shè)有至少一連接區(qū)域，該連接區(qū)域設(shè)有復(fù)數(shù)接點(diǎn)，各接點(diǎn)與測(cè)試治具的探針相 連接。
3.如權(quán)利要求2所述測(cè)試機(jī)臺(tái)的定位結(jié)構(gòu)，其特征在于，該連接區(qū)域上進(jìn)一步連接有 連接器，該連接器設(shè)有復(fù)數(shù)與該連接區(qū)域各接點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的端子，該連接器另端則與檢測(cè)主 機(jī)相連接。
4.如權(quán)利要求3所述測(cè)試機(jī)臺(tái)的定位結(jié)構(gòu)，其特征在于，該連接支架設(shè)有至少一對(duì)位 孔，而該連接器并設(shè)有至少一與該對(duì)位孔相對(duì)的插柱。
5.如權(quán)利要求3所述測(cè)試機(jī)臺(tái)的定位結(jié)構(gòu)，其特征在于，該連接器藉由至少一固定件 固定于該測(cè)試機(jī)臺(tái)上。
6.如權(quán)利要求1、2、3、4或5所述測(cè)試機(jī)臺(tái)的定位結(jié)構(gòu)，其特征在于，該墊體為軟性材質(zhì)。
7.如權(quán)利要求1、2、3、4或5所述測(cè)試機(jī)臺(tái)的定位結(jié)構(gòu)，其特征在于，該被測(cè)物設(shè)置于一 承載臺(tái)上，由該承載臺(tái)放置于該測(cè)試基座上，并與該墊體接觸。
8.如權(quán)利要求7所述測(cè)試機(jī)臺(tái)的定位結(jié)構(gòu)，其特征在于，該承載臺(tái)設(shè)有窗口可使該被 測(cè)物的被測(cè)面外露于測(cè)試基座處。
9.如權(quán)利要求1、2、3、4或5所述測(cè)試機(jī)臺(tái)的定位結(jié)構(gòu)，其特征在于，該測(cè)試機(jī)臺(tái)進(jìn)一步 設(shè)有一底座以及下夾座，該底座一側(cè)設(shè)有至少一定位穿孔，該底座該側(cè)并可位于該下夾座 中，而該下夾座一側(cè)設(shè)有至少一導(dǎo)柱，該導(dǎo)柱可活動(dòng)穿設(shè)于該定位穿孔中。
專利摘要本實(shí)用新型的測(cè)試機(jī)臺(tái)的定位結(jié)構(gòu)，設(shè)有至少一測(cè)試基座，該測(cè)試基座上并設(shè)有一測(cè)試治具，用以對(duì)被測(cè)物進(jìn)行測(cè)試；其中該測(cè)試基座并設(shè)有一定位結(jié)構(gòu)，該定位結(jié)構(gòu)設(shè)有一墊體、一吸引組件以及至少一真空吸孔，該墊體套設(shè)于該測(cè)試基座頂部外側(cè)，由該真空吸孔吸附該被測(cè)物，而使其快速定位于該測(cè)試治具上，并可構(gòu)成被測(cè)物與測(cè)試治具間接觸的穩(wěn)定性。
文檔編號(hào)G01R1/04GK201867430SQ20102059570
公開(kāi)日2011年6月15日 申請(qǐng)日期2010年11月8日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月8日
發(fā)明者土屋利彥, 堀誠(chéng)一 申請(qǐng)人:港建日置股份有限公司