專(zhuān)利名稱(chēng)：薄層熒光檢測(cè)儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種檢測(cè)儀，尤其涉及一種用于檢測(cè)樣品薄層區(qū)域的薄層熒光檢 測(cè)儀。
背景技術(shù)：
生物熒光探測(cè)生物信息日漸成熟，可廣泛應(yīng)用于生物學(xué)研究、醫(yī)學(xué)診斷、食品安 全、反恐、海關(guān)檢查及大災(zāi)難時(shí)期的飲用水監(jiān)測(cè)等。在快速檢測(cè)方面，熒光基團(tuán)往往被限制 在離玻璃底板約200nm的薄層內(nèi)，而傳統(tǒng)的激發(fā)熒光技術(shù)會(huì)激發(fā)所有溶液中的大分子發(fā) 光，探測(cè)到的是整個(gè)溶液所有大分子的信號(hào)，因此信噪比很小，在目標(biāo)物濃度較低時(shí)甚至測(cè) 不到信號(hào)，即靈敏度很低，且現(xiàn)有技術(shù)還停留在實(shí)驗(yàn)室的單分子觀察，限制了熒光技術(shù)在各 方面的應(yīng)用。另外，傳統(tǒng)方法往往需要將待檢測(cè)樣本送至專(zhuān)門(mén)實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行檢測(cè)，原因是現(xiàn)有 儀器體積大、不便攜且造價(jià)高。
實(shí)用新型內(nèi)容鑒于現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問(wèn)題，本實(shí)用新型的主要目的在于解決現(xiàn)有技術(shù)的缺 陷，提供一種便攜、靈敏度高且造價(jià)低的薄層熒光檢測(cè)儀。一種薄層熒光檢測(cè)儀，包括一測(cè)試臺(tái)、一可被水平推入和抽出所述測(cè)試臺(tái)的玻璃 器皿、一安裝在所述測(cè)試臺(tái)上的光探測(cè)裝置以及安裝在所述測(cè)試臺(tái)中的一光源和一反射 鏡，沿所述玻璃器皿的上表面開(kāi)設(shè)有一放置待檢測(cè)樣品的凹槽，當(dāng)所述玻璃器皿被抽出所 述測(cè)試臺(tái)時(shí)，所述凹槽露出所述測(cè)試臺(tái)，當(dāng)所述玻璃器皿被推入所述測(cè)試臺(tái)時(shí)，所述凹槽處 于所述光探測(cè)裝置的正下方以及所述反射鏡的正上方，并處于所述光源的側(cè)上方，所述光 源向所述凹槽發(fā)出一激發(fā)光線并在所述凹槽的底壁處產(chǎn)生全內(nèi)反射以激發(fā)所述待檢測(cè)樣 品在厚度為百納米級(jí)的薄層區(qū)域產(chǎn)生熒光，所述反射鏡反射所述熒光，所述光探測(cè)裝置同 時(shí)接收所述熒光以及所述反射鏡對(duì)熒光的反射光，并將接收的光轉(zhuǎn)化為電信號(hào)。根據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思，沿所述測(cè)試臺(tái)的一側(cè)水平開(kāi)設(shè)有一裝設(shè)所述玻璃器 皿的開(kāi)槽，所述玻璃器皿沿所述開(kāi)槽被推入或抽出所述測(cè)試臺(tái)。根據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思，所述光探測(cè)裝置為一光電倍增管?！N薄層熒光檢測(cè)儀，包括一測(cè)試臺(tái)、一可被水平推入和抽出所述測(cè)試臺(tái)的玻璃 器皿、一安裝在所述測(cè)試臺(tái)上的光探測(cè)裝置以及安裝在所述測(cè)試臺(tái)中的一光源和一反射 鏡，沿所述玻璃器皿的上表面開(kāi)設(shè)有一放置待檢測(cè)樣品的凹槽，當(dāng)所述玻璃器皿被推入所 述測(cè)試臺(tái)時(shí)，所述凹槽處于所述光探測(cè)裝置的正下方以及所述反射鏡的正上方，并處于所 述光源的側(cè)上方，所述光源向所述凹槽發(fā)出一激發(fā)光線并在所述凹槽的底壁處產(chǎn)生全內(nèi)反 射以激發(fā)所述待檢測(cè)樣品在厚度為百納米級(jí)的薄層區(qū)域產(chǎn)生熒光，所述反射鏡反射所述熒 光，所述光探測(cè)裝置同時(shí)接收所述熒光以及所述反射鏡對(duì)熒光的反射光，并將接收的光轉(zhuǎn) 化為電信號(hào)，所述薄層熒光檢測(cè)儀還包括一根據(jù)所述光探測(cè)裝置產(chǎn)生的電信號(hào)計(jì)算所述待 檢測(cè)樣品所發(fā)出熒光的數(shù)量的信號(hào)處理裝置、以及一顯示所述熒光的數(shù)量的顯示裝置，所述測(cè)試臺(tái)、光探測(cè)裝置及信號(hào)處理裝置封裝在一封裝箱中，所述顯示裝置設(shè)于所述封裝箱 的外表面上，當(dāng)所述玻璃器皿被抽出所述測(cè)試臺(tái)時(shí)，所述凹槽露出所述測(cè)試臺(tái)和所述封裝 箱。根據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思，沿所述測(cè)試臺(tái)的一側(cè)水平開(kāi)設(shè)有一裝設(shè)所述玻璃器 皿的開(kāi)槽，所述玻璃器皿沿所述開(kāi)槽被推入或抽出所述測(cè)試臺(tái)。根據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思，所述光探測(cè)裝置為一光電倍增管。根據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思，所述封裝箱上具有一連接外部計(jì)算機(jī)的接口。 根據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思，所述接口為USB接口或IEEE1394接口。本實(shí)用新型的有益效果為所述薄層熒光檢測(cè)儀利用所述光源在所述待檢測(cè)樣品 的底部產(chǎn)生全內(nèi)反射來(lái)激發(fā)所述待檢測(cè)樣品在厚度為百納米級(jí)的薄層區(qū)域產(chǎn)生熒光。并通 過(guò)所述反射鏡使所述光電倍增管探測(cè)到雙倍的熒光，從而提高了熒光檢測(cè)的靈敏度和信噪 比。所述薄層熒光檢測(cè)儀將測(cè)試臺(tái)、反射鏡、光電倍增管、信號(hào)處理裝置、顯示裝置封裝在一 起，具有便攜性，可脫離專(zhuān)門(mén)的實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。
圖1為本實(shí)用新型薄層熒光檢測(cè)儀較佳實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為圖1中薄層熒光檢測(cè)儀的結(jié)構(gòu)方框圖。圖3為圖2中的測(cè)試臺(tái)和光電倍增管的結(jié)構(gòu)示意圖。圖4為圖3中的玻璃器皿的結(jié)構(gòu)示意圖。圖5為圖2中的光電倍增管、玻璃器皿與反光鏡、光源的位置關(guān)系示意圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。請(qǐng)參考圖1至圖5，本實(shí)用新型的薄層熒光檢測(cè)儀包括一封裝箱10，所封裝箱10 中裝設(shè)有一測(cè)試臺(tái)20、一安裝在所述測(cè)試臺(tái)20上的光探測(cè)裝置、安裝在所述測(cè)試臺(tái)20底部 的一光源40和一反射鏡50、以及一信號(hào)處理裝置60，所述封裝箱10的上表面還具有一顯 示裝置70，所述封裝箱10上具有一連接外部計(jì)算機(jī)的接口 80，所述接口 80為USB接口或 IEEE1394接口，本實(shí)施方式中，所述光探測(cè)裝置為一光電倍增管30。沿所述測(cè)試臺(tái)20的一側(cè)水平開(kāi)設(shè)有一開(kāi)槽21，所述開(kāi)槽21與所述光電倍增管30 相通，所述開(kāi)槽21中可移動(dòng)地裝設(shè)有一玻璃器皿22，沿所述玻璃器皿22的上表面開(kāi)設(shè)有一 收容槽220，所述收容槽220用于放置待檢測(cè)的樣品。所述玻璃器皿22可沿所述開(kāi)槽21被推入或抽出所述測(cè)試臺(tái)20中，如圖5所示， 當(dāng)所述玻璃器皿22被推入所述測(cè)試臺(tái)20時(shí)，所述收容槽220處于所述反光鏡220的正上 方以及光電倍增管30的正下方，且處于所述光源40的側(cè)上方，如左上方、右上方、前上方或 后上方。如圖1、圖3所示，當(dāng)所述玻璃器皿22被抽出所述測(cè)試臺(tái)20時(shí)，所述凹槽220露出 所述測(cè)試臺(tái)20和所述封裝箱10之外。當(dāng)對(duì)一樣品進(jìn)行熒光檢測(cè)時(shí)，從所述開(kāi)槽21中抽出所述玻璃器皿22，將待檢測(cè)的 樣品放置在所述凹槽220中，再將所述玻璃器皿22沿所述開(kāi)槽21推入所述測(cè)試臺(tái)20中， 使所述凹槽220中的待檢測(cè)樣品處于所述反光鏡50和光電倍增管30之間。4[0023]所述光源40以一預(yù)設(shè)角度發(fā)出一激發(fā)光線，所述激發(fā)光線在所述凹槽220的底壁 處產(chǎn)生全內(nèi)反射，所述全內(nèi)反射產(chǎn)生一隱失場(chǎng)，所述隱失場(chǎng)激發(fā)所述凹槽220中的待檢測(cè) 樣品在厚度為百納米級(jí)(如200納米)的薄層區(qū)域發(fā)出熒光，所述待檢測(cè)樣品發(fā)出的熒光 經(jīng)過(guò)所述反射鏡50反射后形成與所述熒光數(shù)量相同的反射光，所述光電倍增管30同時(shí)探 測(cè)所述待檢測(cè)樣品發(fā)出的熒光和所述反射光，并將探測(cè)到的光子轉(zhuǎn)化為電流信號(hào)傳送至所 述信號(hào)處理裝置60，所述信號(hào)處理裝置60根據(jù)接收到的電流信號(hào)計(jì)算所述待檢測(cè)樣品發(fā) 出的熒光的數(shù)量，并根據(jù)計(jì)算出的熒光數(shù)量、應(yīng)用預(yù)設(shè)的運(yùn)算法則計(jì)算待檢測(cè)樣品中的熒 光素底物濃度，所述信號(hào)處理裝置60將計(jì)算出的熒光的數(shù)量以及熒光素底物的濃度傳送 至所述顯示裝置70進(jìn)行顯示。所述信號(hào)處理裝置60還可通過(guò)所述接口 80將計(jì)算出的數(shù)據(jù)傳送到外部計(jì)算機(jī)進(jìn) 行儲(chǔ)存或進(jìn)一步分析。所述薄層熒光檢測(cè)儀利用所述發(fā)光裝置在放置待檢測(cè)樣品的玻璃器皿上產(chǎn)生全 內(nèi)發(fā)射來(lái)激發(fā)所述待檢測(cè)樣品在百納米級(jí)的薄層區(qū)域產(chǎn)生熒光團(tuán)，便于對(duì)樣品的固定位置 進(jìn)行檢測(cè)，可提高檢測(cè)的精確度，還利用反射鏡使所述光電倍增管探測(cè)到雙倍的熒光，從而 提高了熒光檢測(cè)的靈敏度和信噪比，所述薄層熒光檢測(cè)儀將測(cè)試臺(tái)、光源、反射鏡、光電倍 增管、信號(hào)處理裝置、顯示裝置封裝在一起，可通過(guò)備用電池或者車(chē)載電源來(lái)提供工作所需 的電能，體積小，造價(jià)低，具有便攜性，可脫離專(zhuān)門(mén)的實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)，使用方便。權(quán)利要求1.一種薄層熒光檢測(cè)儀，其特征在于，所述薄層熒光檢測(cè)儀包括一測(cè)試臺(tái)、一可被水 平推入和抽出所述測(cè)試臺(tái)的玻璃器皿、一安裝在所述測(cè)試臺(tái)上的光探測(cè)裝置以及安裝在所 述測(cè)試臺(tái)中的一光源和一反射鏡，沿所述玻璃器皿的上表面開(kāi)設(shè)有一放置待檢測(cè)樣品的凹 槽，當(dāng)所述玻璃器皿被抽出所述測(cè)試臺(tái)時(shí)，所述凹槽露出所述測(cè)試臺(tái)，當(dāng)所述玻璃器皿被推 入所述測(cè)試臺(tái)時(shí)，所述凹槽處于所述光探測(cè)裝置的正下方以及所述反射鏡的正上方，并處 于所述光源的側(cè)上方，所述光源向所述凹槽發(fā)出一激發(fā)光線并在所述凹槽的底壁處產(chǎn)生全 內(nèi)反射以激發(fā)所述待檢測(cè)樣品在厚度為百納米級(jí)的薄層區(qū)域產(chǎn)生熒光，所述反射鏡反射所 述熒光，所述光探測(cè)裝置同時(shí)接收所述熒光以及所述反射鏡對(duì)熒光的反射光，并將接收的 光轉(zhuǎn)化為電信號(hào)。
2.如權(quán)利要求1所述的薄層熒光檢測(cè)儀，其特征在于，沿所述測(cè)試臺(tái)的一側(cè)水平開(kāi)設(shè) 有一裝設(shè)所述玻璃器皿的開(kāi)槽，所述玻璃器皿沿所述開(kāi)槽被推入或抽出所述測(cè)試臺(tái)。
3.如權(quán)利要求1所述的薄層熒光檢測(cè)儀，其特征在于，所述光探測(cè)裝置為一光電倍增管。
4.一種薄層熒光檢測(cè)儀，其特征在于，所述薄層熒光檢測(cè)儀包括一測(cè)試臺(tái)、一可被水 平推入和抽出所述測(cè)試臺(tái)的玻璃器皿、一安裝在所述測(cè)試臺(tái)上的光探測(cè)裝置以及安裝在所 述測(cè)試臺(tái)中的一光源和一反射鏡，沿所述玻璃器皿的上表面開(kāi)設(shè)有一放置待檢測(cè)樣品的凹 槽，當(dāng)所述玻璃器皿被推入所述測(cè)試臺(tái)時(shí)，所述凹槽處于所述光探測(cè)裝置的正下方以及所 述反射鏡的正上方，并處于所述光源的側(cè)上方，所述光源向所述凹槽發(fā)出一激發(fā)光線并在 所述凹槽的底壁處產(chǎn)生全內(nèi)反射以激發(fā)所述待檢測(cè)樣品在厚度為百納米級(jí)的薄層區(qū)域產(chǎn) 生熒光，所述反射鏡反射所述熒光，所述光探測(cè)裝置同時(shí)接收所述熒光以及所述反射鏡對(duì) 熒光的反射光，并將接收的光轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，所述薄層熒光檢測(cè)儀還包括一根據(jù)所述光探 測(cè)裝置產(chǎn)生的電信號(hào)計(jì)算所述待檢測(cè)樣品所發(fā)出熒光的數(shù)量的信號(hào)處理裝置、以及一顯示 所述熒光的數(shù)量的顯示裝置，所述測(cè)試臺(tái)、光探測(cè)裝置及信號(hào)處理裝置封裝在一封裝箱中， 所述顯示裝置設(shè)于所述封裝箱的外表面上，當(dāng)所述玻璃器皿被抽出所述測(cè)試臺(tái)時(shí)，所述凹 槽露出所述測(cè)試臺(tái)和所述封裝箱。
5.如權(quán)利要求4所述的薄層熒光檢測(cè)儀，其特征在于，沿所述測(cè)試臺(tái)的一側(cè)水平開(kāi)設(shè) 有一裝設(shè)所述玻璃器皿的開(kāi)槽，所述玻璃器皿沿所述開(kāi)槽被推入或抽出所述測(cè)試臺(tái)。
6.如權(quán)利要求4所述的薄層熒光檢測(cè)儀，其特征在于，所述光探測(cè)裝置為一光電倍增管。
7.如權(quán)利要求4所述的薄層熒光檢測(cè)儀，其特征在于，所述封裝箱上具有一連接外部 計(jì)算機(jī)的接口。
8.如權(quán)利要求7所述的薄層熒光檢測(cè)儀，其特征在于，所述接口為USB接口或 IEEE1394 接口。
專(zhuān)利摘要一種薄層熒光檢測(cè)儀，包括一測(cè)試臺(tái)、一可被水平推入和抽出測(cè)試臺(tái)的玻璃器皿、一安裝在測(cè)試臺(tái)上的光探測(cè)裝置以及安裝在測(cè)試臺(tái)中的一光源和一反射鏡，沿玻璃器皿的上表面開(kāi)設(shè)有一放置待檢測(cè)樣品的凹槽，當(dāng)玻璃器皿被抽出測(cè)試臺(tái)時(shí)，凹槽露出測(cè)試臺(tái)，當(dāng)玻璃器皿被推入測(cè)試臺(tái)時(shí)，凹槽處于光探測(cè)裝置的正下方以及反射鏡的正上方，并處于光源的側(cè)上方，光源向所述凹槽發(fā)出一激發(fā)光線并在所述凹槽的底壁處產(chǎn)生全內(nèi)反射以激發(fā)所述待檢測(cè)樣品在厚度為百納米級(jí)的薄層區(qū)域產(chǎn)生熒光，所述反射鏡反射所述熒光，光探測(cè)裝置同時(shí)接收熒光及熒光的反射光，并將接收的光轉(zhuǎn)化為電信號(hào)。所述薄層熒光檢測(cè)儀具有高靈敏度和信噪比，且方便在檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)使用。
文檔編號(hào)G01N21/64GK201828519SQ201020553820
公開(kāi)日2011年5月11日 申請(qǐng)日期2010年10月9日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月9日
發(fā)明者張志遠(yuǎn), 毛德操, 羅永濤, 舒咬根 申請(qǐng)人:北京網(wǎng)新易尚科技有限公司