專利名稱：一種產(chǎn)品老化測(cè)試的節(jié)能方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于電子電路領(lǐng)域，具體涉及一種產(chǎn)品老化測(cè)試的節(jié)能方法及相應(yīng)裝置。
背景技術(shù)：
企業(yè)在出廠、用戶驗(yàn)貨時(shí)，其生產(chǎn)的開關(guān)電源或充電器等產(chǎn)品均需要進(jìn)行老化測(cè)試，其老化時(shí)間分4小時(shí)、8小時(shí)、M小時(shí)等多種方式。而老化過程中，均以負(fù)載發(fā)熱的形式消耗大量電能。在現(xiàn)有的產(chǎn)品測(cè)試模式下，各個(gè)測(cè)試產(chǎn)品的輸出端均加載一負(fù)載電阻進(jìn)行老化加載，即各測(cè)試產(chǎn)品相互并聯(lián)，此電路形式由于負(fù)載過多，其消耗功率過大，在生產(chǎn)測(cè)試中需面對(duì)其龐大能源消耗問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種老化測(cè)試的節(jié)能技術(shù)及實(shí)現(xiàn)其技術(shù)的裝置， 其合理利用測(cè)試產(chǎn)品的工作特性，將前級(jí)測(cè)試產(chǎn)品的輸出串聯(lián)，通過電壓、電流設(shè)置后供給后級(jí)利用，只在最后一級(jí)測(cè)試產(chǎn)品的輸出加額定負(fù)載，且能實(shí)現(xiàn)恒流輸入輸出測(cè)試產(chǎn)品。本發(fā)明所述的產(chǎn)品老化測(cè)試節(jié)能方法，包括以下步驟1)制備多個(gè)相同的可測(cè)試產(chǎn)品的測(cè)試單元，各測(cè)試單元輸出端串聯(lián)后作為串聯(lián)輸出端，得一組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組；2)多次重復(fù)步驟1)，得多組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組；3)將后一組中各測(cè)試單元的輸入端連接前一組的串聯(lián)輸出端，后一組中各測(cè)試單元作為前一組的負(fù)載；4)將最前一組各個(gè)測(cè)試單元的輸入端分別連接至供電電源提供輸入電壓；5)制備多個(gè)與步驟1)相同測(cè)試單元數(shù)量相同的測(cè)試單元，各測(cè)試單元輸出端分別加載一負(fù)載，得一組產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組；6)所述產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組中各測(cè)試單元輸入端連接最后一組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端；7)在各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端制備與步驟1)相同數(shù)量的測(cè)試單元，所述各測(cè)試單元輸出端串聯(lián)后連接該產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，輸入端連接與該產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組相同的前級(jí)輸出，得一獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組；8)在各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端制備與步驟1)相同數(shù)量的測(cè)試單元，所述各測(cè)試單元輸入端連接于產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，輸出端分別加載一負(fù)載，得一獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組；9)設(shè)置一補(bǔ)償電流通斷開關(guān)在所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，控制獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的補(bǔ)償電流的導(dǎo)通或斷開過程；10)設(shè)置一分流通斷開關(guān)在所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組的測(cè)試單元輸入端，控制各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組流入獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組的過大電流的導(dǎo)通或斷開過程；11)在產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端及連接后一組各測(cè)試單元的輸入端之間各制備一恒流單元，以控制所述補(bǔ)償電流通斷開關(guān)和分流通斷開關(guān)的導(dǎo)通或斷開過程。本發(fā)明所述的產(chǎn)品老化測(cè)試的節(jié)能裝置，其包括供電電源、負(fù)載電阻、一組產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組和多組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組，所述產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組每組包括多個(gè)測(cè)試單元且各組測(cè)試單元的數(shù)量相同，所述供電電源各連接第一組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組中各測(cè)試單元的輸入端，每組中各測(cè)試單元輸出端依次串聯(lián)而成的串聯(lián)輸出端連接后一組測(cè)試單元各個(gè)輸入端；所述產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組包括與一組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組相同數(shù)量的測(cè)試單元，產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組中各測(cè)試單元輸入端連接最后一產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，各測(cè)試單元輸出端加載一負(fù)載電阻。其還包括多組獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組和獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組，各組所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組各連接一產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，其包括與該組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組相同數(shù)量且連接方法的測(cè)試單元；各組所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組各連接一產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，其包括與該組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組相同數(shù)量的測(cè)試單元，所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組中各測(cè)試單元的輸入端連接該組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組中各測(cè)試單元的輸出端連接一負(fù)載電阻。各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組與相應(yīng)獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組之間連接一補(bǔ)償電流通斷開關(guān)，各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組與相應(yīng)獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組之間連接一分流通斷開關(guān)，各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端及后一組各測(cè)試單元的輸入端之間連接一恒流單元，實(shí)現(xiàn)補(bǔ)償電流或分流的電流控制。所述恒流單元包括一比較器、功率檢流電阻器、電壓基準(zhǔn)單元和兩個(gè)三極管，所述比較器反相端分別連接功率檢流電阻器和測(cè)試單元輸入端，輸出端經(jīng)一電阻連接兩個(gè)三極管的基極，同相端連接電壓基準(zhǔn)單元輸出端，所述電壓基準(zhǔn)單元參考端經(jīng)一電阻連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端。所述三極管可為PNP三極管或NPN三極管。當(dāng)利用PNP三極管時(shí)，其發(fā)射極經(jīng)電阻連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，集電極接地并經(jīng)一電阻連接基極；當(dāng)利用NPN三極管時(shí)，其集電極經(jīng)電阻連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，發(fā)射極接地。所述補(bǔ)償電流通斷開關(guān)和分流通斷開關(guān)可為P型或N型MOS管，其柵極各經(jīng)一電阻連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，補(bǔ)償電流通斷開關(guān)的源極和漏極分別連接獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組或者產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，分流通斷開關(guān)的源極和漏極分別連接獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組或者產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，各開關(guān)的源極和漏極如何連接應(yīng)根據(jù)不同溝道型MOS管與三極管的組合變化而改變，而其不同組合最終應(yīng)能實(shí)現(xiàn)的效果為當(dāng)輸入電流過小時(shí)，MOS管Kl導(dǎo)通、MOS管K2關(guān)斷，串聯(lián)組回路導(dǎo)通，向后級(jí)補(bǔ)充電流；當(dāng)Il > 12輸入電流過大時(shí)，MOS管Kl關(guān)斷、MOS管K2導(dǎo)通，并聯(lián)組回路導(dǎo)通，從前級(jí)引入分流至并聯(lián)組。使用本發(fā)明能夠達(dá)到的有益效果是將前級(jí)測(cè)試產(chǎn)品的各級(jí)輸出串聯(lián)，作為后級(jí)的供電電源，后級(jí)作為前級(jí)的負(fù)載，只在最后一級(jí)測(cè)試產(chǎn)品的輸出加額定負(fù)載從而極大地節(jié)省大量的能源，所添加的測(cè)試組越多其效果越明顯，且利用恒流單元控制測(cè)試單元中的恒定輸入輸出電流，極大提高產(chǎn)品測(cè)試的穩(wěn)定性。下面結(jié)合附圖與實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明


圖1為傳統(tǒng)老化測(cè)試的連接方式原理圖；圖2為本發(fā)明最后兩級(jí)的連接方式圖；圖3為本發(fā)明使用P型及N型MOS管、兩NPN三極管組合的電路圖；圖4為本發(fā)明使用P型及N型MOS管、兩PNP三極管組合的電路圖；圖5為本發(fā)明使用NPN及PNP型三極管、兩個(gè)N型MOS管組合的電路圖；圖6為本發(fā)明使用NPN及PNP型三極管、兩個(gè)P型MOS管組合的電路圖。
具體實(shí)施例方式如圖1所示，傳統(tǒng)的老化測(cè)試將各產(chǎn)品測(cè)試單元分別與交流輸入端并聯(lián)，且每個(gè)單元輸出端加一負(fù)載，其消耗總功率P = M*N*P1/II，其中η為產(chǎn)品測(cè)試單元的效率，此種連接方式的能源消耗非常大。實(shí)施例1 本發(fā)明的一種產(chǎn)品老化測(cè)試節(jié)能方法，圖2示出最后兩級(jí)的連接圖，中間各級(jí)的電氣連接與控制原理與相同，其具體可依以下步驟實(shí)現(xiàn)1)制備多個(gè)相同的可測(cè)試產(chǎn)品的測(cè)試單元1-1 m-1，各測(cè)試單元輸出端串聯(lián)后作為串聯(lián)輸出端a，得一組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組；2)多次重復(fù)步驟1)，得n-1組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組；3)所述n-1組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的電氣連接相類似，即將后一組中各測(cè)試單元的輸入端連接前一組的串聯(lián)輸出端a，把后級(jí)的各測(cè)試單元作為前級(jí)的負(fù)載；4)將第一組各個(gè)測(cè)試單元的輸入端分別連接至供電電源提供輸入電壓V2及輸入電流12 ；5)制備m個(gè)與步驟1)相同的測(cè)試單元，分別加載負(fù)載Rl_n Rm-n至各測(cè)試單元
輸出端，得一組產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組；6)所述產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組中各測(cè)試單元輸入端連接最后一組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組n-1 的串聯(lián)輸出端a;7)在1 n-1各組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端分別制備m個(gè)與步驟1)相同的測(cè)試單元，所述各測(cè)試單元輸出端串聯(lián)后連接該產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端a，輸入端連接與該產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組相同的前級(jí)輸出，得一獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組；8)在1 n-1組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端分別制備m個(gè)與步驟1)相同的測(cè)試單元，所述各測(cè)試單元輸入端連接于產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端a，輸出端分別加載一負(fù)載，得一獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組；9)設(shè)置一補(bǔ)償電流通斷開關(guān)Kl在所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，控制獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組流出的補(bǔ)償電流Iji的導(dǎo)通或斷開過程；10)設(shè)置一分流通斷開關(guān)K2在所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組的測(cè)試單元輸入端，控制流入獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組的過大電流Ij2的導(dǎo)通或斷開過程；11)在各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端及連接其后一組的各測(cè)試單元輸入端之間制備一恒流單元，以控制所述補(bǔ)償電流通斷開關(guān)Kl和分流通斷開關(guān)K2的導(dǎo)通或斷開過程。由于后級(jí)作為前級(jí)的負(fù)載，主要的能源消耗在于最后一級(jí)，即N級(jí)負(fù)載Rl-n Rm-n上，按照該方法消耗的總功率為P = Μ*Ρ1/ η，比較傳統(tǒng)的老化測(cè)試與本發(fā)明老化測(cè)試
的電路連接方式可知，本發(fā)明節(jié)省消耗總功率為傳統(tǒng)的老化測(cè)試連接方式消耗功率的1，
N
可極大地節(jié)省能源的消耗，節(jié)能效果顯著。本發(fā)明所述的產(chǎn)品老化測(cè)試的節(jié)能裝置，其包括供電電源、負(fù)載電阻Rl-n Rm-n、一組產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組和η組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組，所述產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組每組均包括m個(gè)測(cè)試單元，所述供電電源各連接第1組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組中各測(cè)試單元的輸入端，每組中各測(cè)試單元輸出端依次串聯(lián)而成的串聯(lián)輸出端a連接其后一組測(cè)試單元的各輸入端；所述產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組包括m個(gè)與產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組相同的測(cè)試單元，產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組中各測(cè)試單元輸入端連接最后一產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組n-1組的串聯(lián)輸出端a，測(cè)試單元輸出端分別加載一負(fù)載電阻Rl-n Rm-n。設(shè)定測(cè)試單元允許輸入電壓為V2，產(chǎn)品測(cè)試額定輸出電壓為VI，產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組應(yīng)滿足一條件:M*V1 < V2，在滿足此條件情況下，M、N可以根據(jù)測(cè)試的需要而無限加大。其還包括n-1組獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組和獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組，每組獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組各連接相應(yīng)一組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，其包括m個(gè)與該組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組相同連接方法的測(cè)試單元；每組所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組各連接相應(yīng)一組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，其包括m個(gè)與該組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組相同的測(cè)試單元，各測(cè)試單元的輸入端連接該組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組中測(cè)試單元的輸出端各連接一負(fù)載電阻。設(shè)定測(cè)試產(chǎn)品輸入電流為12，輸出電流為II，為使產(chǎn)品的測(cè)試穩(wěn)定，應(yīng)時(shí)刻保持恒定電流通過各產(chǎn)品測(cè)試單元。本發(fā)明引入獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組及獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組， 當(dāng)Il < 12時(shí)，獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組向后級(jí)補(bǔ)充補(bǔ)償電流Ijl，使Il+Ijl = 12 ；當(dāng)Il > 12 時(shí)，獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組從前級(jí)分流電流Ij2，使Il-Ij2 = 12。各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組與相應(yīng)獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組之間連接一補(bǔ)償電流通斷開關(guān)K1， 各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組與相應(yīng)獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組之間連接一分流通斷開關(guān)K2，各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端及其后一組各測(cè)試單元輸入端之間連接一恒流單元，實(shí)現(xiàn)補(bǔ)償電流Ijl 或分流Ij2的電流控制。如圖3所示，所述恒流單元包括一比較器Ul、功率檢流電阻器Rl、電壓基準(zhǔn)單元U2 和兩個(gè)三極管Ql、Q2，所述比較器Ul的輸出端各經(jīng)一電阻連接三極管Ql、Q2的基極，反相端分別連接功率檢流電阻器Rl和測(cè)試單元輸入端，同相端連接電壓基準(zhǔn)單元U2輸出端，所述電壓基準(zhǔn)單元U2的參考端經(jīng)一電阻R5連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端a。所述補(bǔ)償電流通斷開關(guān)Kl和分流通斷開關(guān)K2分別為P型和N型MOS管，其柵極各經(jīng)電阻R7、RlO連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，補(bǔ)償電流通斷開關(guān)Kl的漏極和源極分別連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端a和獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組，分流通斷開關(guān)K2的漏極和源極分別連接獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組和產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端a。所述三極管Q1、Q2為NPN三極管，其集電極依次經(jīng)電阻R8、R7和R11、R10連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端a，發(fā)射極接地。根椐檢流電阻Rl與比較器Ul的設(shè)置，當(dāng)Il < 12時(shí)，比較器輸出高電平，QU Q2 同時(shí)截止，MOS管Kl導(dǎo)通、MOS管K2關(guān)斷，串聯(lián)組回路導(dǎo)通，即實(shí)現(xiàn)向后級(jí)補(bǔ)充電流I jl ；當(dāng)Il > 12時(shí)，比較器輸出低電平，Q1、Q2同時(shí)導(dǎo)通，MOS管Kl關(guān)斷、MOS管K2導(dǎo)通，并聯(lián)組回路導(dǎo)通，從前級(jí)輸出分流Ij2。以下給出額外的3個(gè)利用不同三極管和MOS管組合的實(shí)施例，其同樣能夠?qū)崿F(xiàn)上述功能實(shí)施例2 如圖4所示，當(dāng)使用兩個(gè)PNP三極管Q1、Q2時(shí)，其發(fā)射極依次經(jīng)電阻R9、R8和Rl3、 R12連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端a，集電極接地，補(bǔ)償電流通斷開關(guān)Kl使用N型MOS 管，其漏極和源極分別連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端a和獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組，分流通斷開關(guān)K2使用P型MOS管，其漏極和源極分別連接獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組和產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端a，兩開關(guān)的柵極各經(jīng)電阻R8、R12連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端。實(shí)施例3 如圖5所示，當(dāng)補(bǔ)償電流通斷開關(guān)Kl及分流通斷開關(guān)K2均使用N型MOS管時(shí)，Kl 漏極和源極分別連接獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組和產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端a，K2漏極和源極分別連接獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組和產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端a，兩開關(guān)的柵極各經(jīng)電阻R8和Rll連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，三極管Ql發(fā)射極依次經(jīng)電阻R9、R8和三極管Q2集電極經(jīng)R12、R11分別連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端a，Q2的發(fā)射極接地，Ql 集電極接地并通過電阻R7連接基極。實(shí)施例4 如圖5所示，當(dāng)補(bǔ)償電流通斷開關(guān)Kl及分流通斷開關(guān)K2均使用P型MOS管時(shí)，Kl 漏極和源極分別連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端a和獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組，K2漏極和源極分別連接獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組和產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端a，兩開關(guān)的柵極各經(jīng)電阻R7、Rll連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，三極管Ql集電極依次經(jīng)電阻R8、R7和三極管Q2發(fā)射極經(jīng)電阻R12、R11分別連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端a，Q2的集電極接地并通過電阻RlO連接基極，Ql發(fā)射極接地。以上發(fā)明所述僅為本發(fā)明的最佳實(shí)施例，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明基礎(chǔ)上所作的修改、替換或改進(jìn)，均落入本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種產(chǎn)品老化測(cè)試的節(jié)能方法，其特征在于，包括以下步驟1)制備多個(gè)相同的可測(cè)試產(chǎn)品的測(cè)試單元，各測(cè)試單元輸出端串聯(lián)后作為串聯(lián)輸出端，得一組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組；2)多次重復(fù)步驟1)，得多組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組；3)將后一組中各測(cè)試單元的輸入端連接前一組的串聯(lián)輸出端，后一組中各測(cè)試單元作為前一組的負(fù)載；4)將最前一組各個(gè)測(cè)試單元的輸入端分別連接至供電電源提供輸入電壓；5)制備多個(gè)與步驟1)相同測(cè)試單元數(shù)量相同的測(cè)試單元，各測(cè)試單元輸出端分別加載一負(fù)載，得一組產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組；6)所述產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組中各測(cè)試單元輸入端連接最后一組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品老化測(cè)試的節(jié)能方法，其特征在于，包括以下步驟7)在各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端制備與步驟1)相同數(shù)量的測(cè)試單元，所述各測(cè)試單元輸出端串聯(lián)后連接該產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，輸入端連接與該產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組相同的前級(jí)輸出，得一獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組；8)在各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端制備與步驟1)相同數(shù)量的測(cè)試單元，所述各測(cè)試單元輸入端連接于產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，輸出端分別加載一負(fù)載，得一獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的產(chǎn)品老化測(cè)試的節(jié)能方法，其特征在于，包括以下步驟9)設(shè)置一補(bǔ)償電流通斷開關(guān)在所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，控制獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的補(bǔ)償電流的導(dǎo)通或斷開過程；10)設(shè)置一分流通斷開關(guān)在所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組的測(cè)試單元輸入端，控制各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組流入獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組的過大電流的導(dǎo)通或斷開過程；11)在各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端及連接其后一組的各測(cè)試單元輸入端之間制備一恒流單元，以控制所述補(bǔ)償電流通斷開關(guān)和分流通斷開關(guān)的導(dǎo)通或斷開過程。
4.一種實(shí)施權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品老化測(cè)試的節(jié)能方法的裝置，其特征在于，包括供電電源、負(fù)載電阻、一組產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組和多組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組，所述產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組每組包括多個(gè)測(cè)試單元且各組測(cè)試單元的數(shù)量相同，所述供電電源各連接第一組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組中各測(cè)試單元的輸入端，每組中各測(cè)試單元輸出端依次串聯(lián)而成的串聯(lián)輸出端連接后一組測(cè)試單元各個(gè)輸入端；所述產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組包括與一組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組相同數(shù)量的測(cè)試單元，產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組中各測(cè)試單元輸入端連接最后一產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，各測(cè)試單元輸出端加載一負(fù)載電阻。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的產(chǎn)品老化測(cè)試的節(jié)能裝置，其特征在于，包括多組獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組和獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組，各組所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組各連接一產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，其包括與該組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組相同數(shù)量且連接方法的測(cè)試單元；各組所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組各連接一產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，其包括與該組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組相同數(shù)量的測(cè)試單元，所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組中各測(cè)試單元的輸入端連接該組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，所述獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組中各測(cè)試單元的輸出端連接一負(fù)載電阻。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的產(chǎn)品老化測(cè)試的節(jié)能裝置，其特征在于，包括補(bǔ)償電流通斷開關(guān)、分流通斷開關(guān)和恒流單元，各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組與相應(yīng)獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組之間各連接所述補(bǔ)償電流通斷開關(guān)，各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組與相應(yīng)獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組之間各連接所述分流通斷開關(guān)，各產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端及后一組各測(cè)試單元的輸入端之間各連接一所述恒流單元。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的產(chǎn)品老化測(cè)試的節(jié)能裝置，其特征在于，所述恒流單元包括一比較器、功率檢流電阻器、電壓基準(zhǔn)單元和兩個(gè)三極管，所述比較器輸出端經(jīng)一電阻連接兩個(gè)三極管的基極，反相端分別連接功率檢流電阻器和測(cè)試單元輸入端，同相端連接電壓基準(zhǔn)單元輸出端，所述電壓基準(zhǔn)單元參考端經(jīng)一電阻連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的產(chǎn)品老化測(cè)試的節(jié)能裝置，其特征在于，所述補(bǔ)償電流通斷開關(guān)和分流通斷開關(guān)為MOS管，其柵極各經(jīng)一電阻連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，源極分別連接獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組和獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組，漏極連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的產(chǎn)品老化測(cè)試的節(jié)能裝置，其特征在于，所述三極管為PNP三極管，其發(fā)射極經(jīng)一電阻連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，集電極接地并經(jīng)一電阻連接基極。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的產(chǎn)品老化測(cè)試的節(jié)能裝置，其特征在于，所述三極管為NPN 三極管，其集電極經(jīng)一電阻連接產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組的串聯(lián)輸出端，發(fā)射極接地。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種產(chǎn)品老化測(cè)試的節(jié)能方法，其包括一組產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組、多組產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組及其相應(yīng)的獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組、獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組，所述產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組前級(jí)為后級(jí)供電，獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試串聯(lián)組為前級(jí)補(bǔ)償輸出電流，獨(dú)立產(chǎn)品測(cè)試并聯(lián)組為后級(jí)分流，其電流補(bǔ)償及分流通過恒流單元控制相應(yīng)通斷開關(guān)實(shí)現(xiàn)，本發(fā)明還提供實(shí)施上述方法的裝置。利用本發(fā)明，由于只在最后一級(jí)測(cè)試產(chǎn)品的輸出加額定負(fù)載，從而節(jié)省大量的能源消耗，且利用恒流單元控制測(cè)試單元中的恒定輸入電流，大大提高產(chǎn)品測(cè)試的穩(wěn)定性。
文檔編號(hào)G01R31/00GK102175979SQ20101062438
公開日2011年9月7日 申請(qǐng)日期2010年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月31日
發(fā)明者申清甫 申請(qǐng)人:東莞市奇立電源有限公司