專利名稱：熔斷器壽命特征數(shù)據(jù)試驗與評估系統(tǒng)及其評估方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種熔斷器壽命特征數(shù)據(jù)評估系統(tǒng)及其評估方法。
背景技術(shù)：
熔斷器是一種過電流保護(hù)電器。使用時，將熔斷器串聯(lián)于被保護(hù)電路中，當(dāng)被保 護(hù)電路的電流超過規(guī)定值，并經(jīng)過一定時間后，由熔體自身產(chǎn)生的熱量熔斷熔體，使電路斷 開，起到保護(hù)的作用。熔斷器廣泛應(yīng)用于低壓配電系統(tǒng)和控制系統(tǒng)及用電設(shè)備中，作為短路 和過電流保護(hù)，是應(yīng)用最普遍的保護(hù)器件之一。熔斷器在使用過程中，由于自身流過的電流及外界環(huán)境的影響，其不可避免的發(fā) 生老化降級，改變?nèi)蹟嗥鞯谋Ｗo(hù)特性曲線，影響其使用壽命。熔斷器主要由陶瓷或玻璃、石 英砂、及熔絲材料組成。陶瓷與玻璃均需經(jīng)高溫?zé)Y(jié)，強(qiáng)度高、耐高溫、具有良好的化學(xué)穩(wěn)定 性與機(jī)械強(qiáng)度，不易老化，使用壽命在30年左右。石英砂是一種堅硬、耐磨、耐高溫、熱膨脹 系數(shù)小、高度絕緣、化學(xué)性能穩(wěn)定的硅酸鹽礦物，其主要礦物成分是SiO2,使用壽命在30年 左右。所以，熔斷器的壽命主要取決于熔體的狀態(tài)。熔體材料主要包括鉛、錫、鋅、銅、銀及相應(yīng)的合金材料。鉛、錫、鋅熔化溫度較低 (327. 4度、231. 9度及419. 5度)，熱導(dǎo)率小、電阻率大、尺寸大，常溫下蒸汽壓較高，易老 化、壽命短，熔斷時金屬蒸汽較多，不利于滅?。汇~、銀及其合金制成的熔絲熔點較高(銅 1083. 4度，銀960度)、熱導(dǎo)率大、電阻率小、截面積小、相對來講不易老化、壽命較長，熔斷 時金屬蒸汽較少，有利于滅弧。熔斷器的熔體在通電條件下的主要老化機(jī)理就是金屬電遷移，即金屬中的離子遷 移，這種遷移會在局部區(qū)域發(fā)生質(zhì)量虧損而出現(xiàn)空洞，或產(chǎn)生質(zhì)量堆積而出現(xiàn)小丘或凝固 態(tài)毛刺，造成金屬缺陷，電阻增大，引發(fā)局部過熱，熔體溫度升高，高溫又會加速金屬化電遷 移的過程，使缺陷進(jìn)一步增大，逐漸累積至發(fā)生熔體熔斷。金屬電遷移失效中值時間的經(jīng)典 公式為MTTF 二 4" exp(—)
Jn K-T⑴其中A為材料相關(guān)的常數(shù)；J為電流密度；n為電流密度指數(shù)，其值取決于電流密 度J ；Ea為激活能；K為玻爾茲曼常數(shù)；T為絕對溫度?，F(xiàn)有熔斷器測試包括生產(chǎn)廠家對新熔斷器產(chǎn)品進(jìn)行性能測試、型式試驗等；在老 化測試方面，主要針對電極接觸老化問題，并未考慮熔斷器壽命的主要決定因素_熔體的 老化問題。在熔斷器壽命評估方面更是鮮有研究報道，這也是導(dǎo)致了大量熔斷器超齡服役 的原因。因此，有必要對熔斷器進(jìn)行壽命預(yù)測，評估熔斷器壽期內(nèi)主要壽命點的特征數(shù)據(jù)， 從而能夠制定更加合理的維修維護(hù)策略，從根本上解決熔斷器超齡服役的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的在于提供一種能夠精確且全面地進(jìn)行熔斷器壽命評估的系統(tǒng)及評估
為達(dá)到上述目的，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是一種熔斷器壽命特征數(shù)據(jù)試驗與 評估系統(tǒng)，它包括用于為多個相串聯(lián)的熔斷器形成的熔斷器組提供加速應(yīng)力試驗環(huán)境的試 驗?zāi)K、用于實時采集試驗?zāi)K各種數(shù)據(jù)信息的數(shù)據(jù)采集模塊、接收所述的數(shù)據(jù)采集模塊 傳送的數(shù)據(jù)并進(jìn)行分析與處理以得出熔斷器組在壽期內(nèi)主要壽命點的特征數(shù)據(jù)的壽命評 估模塊，所述的數(shù)據(jù)采集模塊采集的各種數(shù)據(jù)信息包括試驗電流、每個熔斷器熔體達(dá)到選 定冷態(tài)電阻值以及熔斷或試驗截止時的時間和對應(yīng)的熔體溫度，所述的壽命評估模塊根據(jù) 上述數(shù)據(jù)計算在加速應(yīng)力下熔斷器達(dá)到各個選定冷態(tài)電阻值以及熔斷或試驗截止時的綜 合加速因子以及相應(yīng)的平均運行時間，從而轉(zhuǎn)換為熔斷器在正常工作電流條件下的主要壽 命點特征數(shù)據(jù)。本發(fā)明還提供一種利用所述的熔斷器壽命特征數(shù)據(jù)試驗與評估系統(tǒng)進(jìn)行壽命評 估的方法，包括如下步驟(a)、設(shè)定試驗截止條件以及預(yù)設(shè)多個選定冷態(tài)電阻值；(b)、給熔斷器組加正常工作電流，觀察熔斷器熔體溫度，待溫度達(dá)到穩(wěn)定后，記錄 熔體溫度；(C)、加試驗電流進(jìn)行加速應(yīng)力下試驗，并記錄試驗開始時間，所述試驗電流大于 額定電流小于熔斷器最小約定熔斷電流，直至加速應(yīng)力試驗達(dá)到試驗截止條件，記錄每個 熔斷器熔體分別達(dá)到選定冷態(tài)電阻值以及熔斷或試驗截止時的時間和對應(yīng)的熔體溫度， 從而計算針對各個選定冷態(tài)電阻值以及熔斷或試驗截止時的綜合加速因子；(d)、利用平均秩法計算出經(jīng)驗可靠性指標(biāo)，通過作圖法進(jìn)行直線擬合得到雙參數(shù) 威布爾分布模型的兩個參數(shù)，從而計算加速應(yīng)力下達(dá)到各個選定冷態(tài)電阻值以及熔斷或試 驗截止時的平均運行時間；(e)、通過上述計算的各綜合加速因子及對應(yīng)的平均運行時間將加速應(yīng)力下的主 要壽命點特征數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為熔斷器正常工作電流條件下的主要壽命點特征數(shù)據(jù)。由于上述技術(shù)方案的采用，本發(fā)明具有以下優(yōu)點由于熔斷器熔體在使用過程中 不可避免的存在電遷移老化，冷態(tài)電阻值會逐漸增大，熔體的運行溫度也會不斷升高，本發(fā) 明通過在加速應(yīng)力環(huán)境下對熔斷器分階段設(shè)置冷態(tài)電阻值，對各熔斷器到達(dá)相應(yīng)冷態(tài)電阻 值以及熔斷或試驗截止時的時間和對應(yīng)的熔體溫度進(jìn)行觀察記錄，并進(jìn)行統(tǒng)計計算，得到 平均運行時間；同時計算各個階段的加速因子，從而保證熔斷器壽命評估結(jié)果的逼真性，避 免了熔斷器超齡服役的問題，確保電氣設(shè)備及線路的安全可靠運行。


附圖1為本發(fā)明壽命試驗與評估系統(tǒng)實現(xiàn)原理圖；附圖2為冷態(tài)電阻達(dá)到0. 068 Ω擬合曲線圖；附圖3為冷態(tài)電阻從0. 089達(dá)到試驗截止條件下擬合曲線圖；其中1、試驗?zāi)K；2、數(shù)據(jù)采集模塊；3、壽命評估模塊；4、顯示模塊；5、存儲與打 印模塊；6、鍵盤輸入模塊；
具體實施例方式下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明優(yōu)選的實施方式進(jìn)行詳細(xì)說明如圖1所示，本發(fā)明熔斷器壽命特征數(shù)據(jù)試驗與評估系統(tǒng)主要由試驗?zāi)K1、數(shù) 據(jù)采集模塊2、壽命評估模塊3、顯示模塊4、存儲與打印模塊5以及鍵盤輸入模塊6組成， 其中，試驗?zāi)K1主要用于為待評估的多個相串聯(lián)的熔斷器形成的熔斷器組提供模擬試 驗環(huán)境，其主要由中央控制單元、電源單元、取樣單元、檢測與隔離單元、驅(qū)動單元以及執(zhí) 行單元組成，本發(fā)明中，試驗?zāi)K1的優(yōu)選實施方式可參見本申請人在先申請的申請?zhí)枮?201010003668. 3的發(fā)明專利，同時，該試驗?zāi)K1還具備自動檢測每個熔斷器個體的通斷 狀態(tài)，當(dāng)出現(xiàn)某一熔斷器熔斷，通過短接該熔斷個體從而恢復(fù)其他熔斷器的繼續(xù)供電。數(shù)據(jù)采集模塊2主要用于實時采集熔斷器壽命試驗?zāi)K1的各種數(shù)據(jù)信息，包括 試驗電流、電位差、各個熔斷器當(dāng)前的狀態(tài)(是否熔斷)、每個熔斷器熔體達(dá)到選定冷態(tài)電 阻值以及熔斷或試驗截止時的時間和對應(yīng)的熔體溫度。其主要由數(shù)據(jù)采集卡、溫度傳感器 等及其相應(yīng)的處理電路組成，其具體實現(xiàn)電路不是本發(fā)明要點，在此不再贅述。顯示模塊4的設(shè)置為了保證觀察的更直接，顯示的內(nèi)容包括試驗電流的大小、各 個熔斷器個體的編號、電位差、各個熔斷器的通斷狀況、每個熔斷器熔體達(dá)到選定冷態(tài)電阻 值以及熔斷或試驗截止時的時間和對應(yīng)的熔體溫度，當(dāng)壽命試驗截止時，還可顯示該組熔 斷器在壽期內(nèi)的主要壽命點的特征數(shù)據(jù)。存儲與打印模塊5能夠自動存儲與打印試驗電流的大小、各個熔斷器個體的編 號、電位差、各個熔斷器的通斷狀況、每個熔斷器熔體達(dá)到選定冷態(tài)電阻值以及熔斷或試驗 截止時的時間和對應(yīng)的熔體溫度，當(dāng)壽命試驗截止時，還可存儲并打印該組熔斷器在壽期 內(nèi)的主要壽命點的特征數(shù)據(jù)。鍵盤輸入模塊6用于向壽命評估模塊3輸入試驗電流設(shè)定值以及熔斷器熔體冷態(tài) 電阻選定值等。上述顯示模塊4、存儲與打印模塊5以及鍵盤輸入模塊6均可采用現(xiàn)有技術(shù)實現(xiàn)， 在此對其具體電路不再贅述。所述的壽命評估模塊3是基于金屬電遷移壽命模型而設(shè)計的，其對數(shù)據(jù)采集模塊 2提供的熔斷器組的壽命試驗數(shù)據(jù)進(jìn)行分析與處理，以得出該組熔斷器在壽期內(nèi)主要壽命 點的特征數(shù)據(jù)。具體評估方法如下首先設(shè)定試驗截止條件，給熔斷器組加正常工作電流，待溫度達(dá)到穩(wěn)定后，通過數(shù) 據(jù)采集模塊采集熔絲溫度Tu并記錄；然后，通過試驗?zāi)K1向熔斷器組增加電流應(yīng)力(小于最小約定熔斷電流大于額 定電流)進(jìn)行加速應(yīng)力試驗，并記錄試驗開始時間，此電流為試驗電流，整個過程中，試驗 電流保持恒定值，待熔斷器溫度達(dá)到穩(wěn)定后，記錄試驗電流下的熔絲溫度Ts。隨著加速試驗 的進(jìn)行，熔斷器的熔體逐漸老化，冷態(tài)電阻值會逐漸增大，熔體溫度會緩慢升高，溫度升高 后，熔體自身的冷態(tài)電阻值會進(jìn)一步增大，直至熔體熔斷。因此，在不同的階段，熔斷器的冷 態(tài)電阻值是不同的，本發(fā)明中，在整個試驗過程間隔設(shè)定j個冷態(tài)電阻值，定義為選定冷 態(tài)電阻值，不同的熔斷器到達(dá)各選定冷態(tài)電阻值的時間以及熔體溫度均有所不同，分別記 錄下每個熔斷器達(dá)到相應(yīng)冷態(tài)電阻值以及熔斷或試驗截止時的時間和對應(yīng)的熔體溫度。根 據(jù)上述公式(1)可得到針對各個選定冷態(tài)電阻值的綜合加速因子AFm，以及各熔體熔斷或試驗截止時的綜合加速因子AFj+1，分別為 式中，Ju為正常工作電流條件下的電流密度，n2為相應(yīng)的電流密度指數(shù)；JS為試驗 電流條件下的電流密度，Ii1為相應(yīng)的電流密度指數(shù)Ju為正常工作電流條件下的熔體溫度， Tsm為達(dá)到第m個冷態(tài)電阻值時的各個熔體溫度的平均值，Tsf為各熔斷個體熔斷時以及未 熔斷個體達(dá)到試驗截止條件時熔體溫度的平均值。
期內(nèi)另-
上述對各個階段下的綜合加速因子進(jìn)行了計算，下面將計算加速應(yīng)力下熔斷器壽 崎寺征數(shù)據(jù)——達(dá)到各選定冷態(tài)電阻值以及熔斷或試驗截止時的運行時間 首先，采用平均秩法計算定時截尾試驗的經(jīng)驗故障分布函數(shù)，計算方法如下 η+ I-Ak
η —i+ 2
Ak = Ak-^AAk(4)
^、 Ak-0.3
jpO^TT(5)
+ 0.4
3 C
乂
IlR(t) = I-F (tk)(6)以上各式中，Ak為故障樣品的平均秩次；k為試驗過程中熔斷樣品按試驗時間由小 到大的順序號；AAk為平均秩次增量；i為所有樣品按試驗時間由小到大的順序排列號；tk 為第k個故障樣品的運行時間(h)。根據(jù)記錄的每個熔斷器熔體達(dá)到相應(yīng)冷態(tài)電阻值的時間以及各個熔斷器的熔斷 時間，利用式(3) 式(6)計算出經(jīng)驗可靠性指標(biāo)。在此，R(t)為與試驗過程中熔斷樣品 個數(shù)相對應(yīng)的多個離散點。利用這些離散點，采用雙參數(shù)威布爾分布模型進(jìn)行可靠性參數(shù) 估計，涉及的模型表達(dá)式如下 R(t) = exp
a
β
) 7 C
O
> 通過作圖法，進(jìn)行直線擬合，可得出在各個選定冷態(tài)電阻值下雙參數(shù)威布爾分布 對應(yīng)的兩個參數(shù)^^與βω(πι= 1,2,... ,j)以及熔斷或試驗截止時對應(yīng)的^^與i3f，從而 得到式⑵的可靠度函數(shù)Rm(t) (m=l，2，...，j)以及Rf (t)，最終通過如下式(8)得到加 速應(yīng)力下的達(dá)到各個選定冷態(tài)電阻值以及熔斷或試驗截止時的運行時間，為
Tm = f ^m {t)dt = amF(l + —),m = 1,2,…j
_ Pm (8) Tf = [Rf{t)dt = afY{\ + —)
fir其中，Γ(χ)= pw eXp(-i>k為伽馬函數(shù)。最后，通過上述各個選定冷態(tài)電阻值以及熔斷或試驗截止時的綜合加速因子以及 運行時間，將加速應(yīng)力下熔斷器的壽命轉(zhuǎn)化為熔斷器在正常工作電流條件下的壽命
6
式中T代表熔斷器正常工作電流條件下的壽命。下面將給出根據(jù)上述方法對16個熔斷器形成的熔斷器組進(jìn)行試驗的過程舉例加速老化試驗開始時間2010-5-29 10:10 ；選定冷態(tài)電阻值為0·068 Ω、0· 071 Ω、0· 074Ω、0· 077Ω、0· 08Ω、0· 083 Ω , 0. 086Ω、0. 089Ω ；In表示額定電流，正常工作電流為0. 81η，試驗電流為1. 051η。試驗中不同電流下達(dá)到不同冷態(tài)電阻值時測量的平均溫度信息記錄如表1 表1試驗過程中的平均溫度信息 選定冷態(tài)電阻值以及達(dá)到各個選定冷態(tài)電阻的運行時間如表2 表2達(dá)到各個選定冷態(tài)電阻的運行時間 注> 1492表示超過試驗截止時間仍未達(dá)到相應(yīng)冷態(tài)電阻值利用加速因子公式(公式2)根據(jù)上述記錄結(jié)果計算不同試驗階段對應(yīng)的加速因 子，計算結(jié)果如表3所示表3不同試驗階段對應(yīng)的加速因子 計算出不同階段對應(yīng)的加速因子后，下面對達(dá)到各個選定冷態(tài)電阻值的平均運行 時間進(jìn)行計算1、冷態(tài)電阻達(dá)到0. 068 Ω，各熔斷器的時間信息如表4 表4冷態(tài)電阻達(dá)到0. 068 Ω的時間信息 按照平均秩法計算結(jié)果如表5 表5冷態(tài)電阻達(dá)到0. 068 Ω的平均秩法計算結(jié)果 采用雙參數(shù)威布爾分布模型進(jìn)行可靠性參數(shù)估計，根據(jù)表5的結(jié)果，以In[-InR(t)]為縱軸，Intk為橫軸，進(jìn)行直線擬合，擬合曲線圖如圖2所示。直線擬合方程為In[-InR (t) ] = 2. 64261nt_15. 42 ；雙參數(shù)威布爾分布的兩個參數(shù)為α = 342. 12、β = 2. 6426 ；由此可得威布爾分布擬合結(jié)果為 故試驗開始至冷態(tài)電阻達(dá)到0. 068的平均運行時間為 利用相同的計算過程可得出達(dá)到其它各個選定冷態(tài)電阻值的平均運行時間，當(dāng)有 樣品在試驗過程中未達(dá)到某一冷態(tài)電阻值，則按照正常退出處理，這里不再贅述。下面給 出熔斷或試驗截止時的計算過程，同樣根據(jù)試驗記錄的結(jié)果(如表6)按照平均秩法計算經(jīng) 驗可靠性指標(biāo)，見表7，并利用作圖法進(jìn)行雙參數(shù)威布爾模型的參數(shù)估計，擬合曲線如圖3 所示，運行時間計算過程如下直線擬合方程為In[-InR(t)] = 4. 02991nt_29. Ill ；雙參數(shù)威布爾分布的兩個參數(shù)為α = 1371. 63，β = 4. 0299 ；由此可得威布爾分布擬合結(jié)果為 故冷態(tài)電阻從0. 089達(dá)到試驗截止的平均運行時間為 表6熔斷或試驗截止時的時間信息 表7熔斷或試驗截止時的平均秩法計算結(jié)果 表8具體給出了熔斷器組達(dá)到各選定冷態(tài)電阻各階段的雙參數(shù)威布爾分布的參數(shù) 估計表8試驗各階段的雙參數(shù)威布爾分布的參數(shù)估計結(jié)果 通過達(dá)到各個選定冷態(tài)電阻值以及熔斷或試驗截止時的綜合加速因子以及平均 運行時間，可計算出正常工作電流0. SIn條件下熔斷器的壽命 本發(fā)明通過采集熔斷器組在加速應(yīng)力環(huán)境下達(dá)到多個選定冷態(tài)電阻值以及熔斷 或試驗截止時的熔體溫度與時間進(jìn)行綜合加速因子與平均運行時間的計算，將整個熔斷器 的熔斷過程分為多階段進(jìn)行綜合評估，從而使得評估的結(jié)果更真實可靠，避免了現(xiàn)有技術(shù) 中直接利用熔斷時間進(jìn)行粗略評估的缺陷，為熔斷器的使用壽命提供了精確的參考。
權(quán)利要求
一種熔斷器壽命特征數(shù)據(jù)試驗與評估系統(tǒng)，其特征在于它包括用于為多個相串聯(lián)的熔斷器形成的熔斷器組提供加速應(yīng)力試驗環(huán)境的試驗?zāi)K、用于實時采集試驗?zāi)K各種數(shù)據(jù)信息的數(shù)據(jù)采集模塊、接收所述的數(shù)據(jù)采集模塊傳送的數(shù)據(jù)并進(jìn)行分析與處理以得出熔斷器組在壽期內(nèi)主要壽命點的特征數(shù)據(jù)的壽命評估模塊，所述的數(shù)據(jù)采集模塊采集的各種數(shù)據(jù)信息包括試驗電流、每個熔斷器熔體達(dá)到選定冷態(tài)電阻值的時間和對應(yīng)的熔體溫度、各個熔斷器的熔斷時間，所述的壽命評估模塊根據(jù)上述數(shù)據(jù)計算在加速應(yīng)力下熔斷器達(dá)到各個選定冷態(tài)電阻值的綜合加速因子以及相應(yīng)的平均運行時間，從而轉(zhuǎn)換為熔斷器在正常工作電流條件下的主要壽命點特征數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的熔斷器壽命特征數(shù)據(jù)試驗與評估系統(tǒng)，其特征在于所述的 壽命評估模塊在熔斷器組壽期內(nèi)對熔斷器的特征數(shù)據(jù)進(jìn)行分階段處理。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的熔斷器壽命特征數(shù)據(jù)試驗與評估系統(tǒng)，其特征在于它 還包括與壽命評估模塊輸出端相電連接的顯示模塊和存儲與打印模塊以及與所述的壽命 評估模塊輸入端相電連接的鍵盤輸入模塊。
4.一種權(quán)利要求1所述的熔斷器壽命特征數(shù)據(jù)試驗與評估系統(tǒng)中評估模塊的評估方 法包括如下步驟(a)、設(shè)定試驗截止條件以及預(yù)設(shè)多個選定冷態(tài)電阻值；(b)、給熔斷器組加正常工作電流，觀察熔斷器熔體溫度，待溫度達(dá)到穩(wěn)定后，記錄熔體 溫度；(c)、加試驗電流進(jìn)行加速應(yīng)力下試驗，并記錄試驗開始時間，所述試驗電流大于額定 電流小于熔斷器最小約定熔斷電流，直至加速應(yīng)力試驗達(dá)到試驗截止條件，記錄每個熔斷 器熔體分別達(dá)到相應(yīng)選定冷態(tài)電阻值以及熔斷或試驗截止時的時間和對應(yīng)的熔體溫度，從 而計算針對各個選定冷態(tài)電阻值的綜合加速因子；(d)、利用平均秩法計算出經(jīng)驗可靠性指標(biāo)，通過作圖法進(jìn)行直線擬合得到雙參數(shù)威布 爾分布模型的兩個參數(shù)，計算加速應(yīng)力下各熔斷器達(dá)到各個選定冷態(tài)電阻值以及熔斷或試 驗截止時的平均運行時間；(e)、通過上述計算的各綜合加速因子及對應(yīng)的平均運行時間，將加速應(yīng)力下的主要壽 命點特征數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為熔斷器正常工作電流條件下的主要壽命點特征數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的評估方法，其特征在于所述的選定冷態(tài)電阻值為5 15個。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種熔斷器壽命特征數(shù)據(jù)試驗與評估系統(tǒng)，它包括試驗?zāi)K、數(shù)據(jù)采集模塊、壽命評估模塊、顯示模塊，所述的壽命評估模塊計算在加速應(yīng)力下熔斷器達(dá)到各個選定冷態(tài)電阻值以及熔斷或試驗截止時的綜合加速因子以及相應(yīng)的平均運行時間，從而轉(zhuǎn)換為熔斷器在正常工作電流條件下的壽命。本發(fā)明熔斷器評估系統(tǒng)通過對熔斷器分階段設(shè)置冷態(tài)電阻值，對各熔斷器到達(dá)相應(yīng)冷態(tài)電阻值以及熔斷或試驗截止時的時間和對應(yīng)的熔體溫度進(jìn)行觀察記錄，并進(jìn)行統(tǒng)計計算，得到平均運行時間；同時計算各個階段的加速因子，從而保證熔斷器壽命評估結(jié)果的逼真性，避免了熔斷器超齡服役的問題，確保電氣設(shè)備及線路的可靠安全運行。
文檔編號G01R31/07GK101915887SQ20101027110
公開日2010年12月15日 申請日期2010年8月27日 優(yōu)先權(quán)日2010年7月5日
發(fā)明者姚建林, 施海寧, 石頡 申請人:蘇州熱工研究院有限公司;中國廣東核電集團(tuán)有限公司