專利名稱:基于led光源的積分球式熒光檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明屬于光學(xué)和生物技術(shù)交叉領(lǐng)域,涉及一種熒光檢測裝置,尤其是一種基于 LED光源的積分球式熒光檢測裝置。
背景技術(shù):
在熒光檢測儀器中理想化的激發(fā)光源應(yīng)具備①足夠的強度;②在所需光譜范圍 內(nèi)有連續(xù)的光譜;③其強度與波長無關(guān),即光源的輸出應(yīng)是連續(xù)平滑等強度的輻射;④光 強要穩(wěn)定。但是實際上,符合這些條件的光源并不存在。而熒光檢測儀器是一種高靈敏度 的分析儀器,雖然可以通過提高儀器的增益或放大倍數(shù)來獲取可觀測的信號,但是激發(fā)光 源的不穩(wěn)定則會影響到熒光的強度,從而無法獲取可靠的光譜數(shù)據(jù)。目前,熒光儀器的激發(fā)光源多采用氙燈、汞燈、鎢燈和激光器。氙燈、汞燈和鎢燈都 是早期熒光儀器廣泛使用的光源,而且在各種波段都有輻射,但是在不同的波段輸出信號 強度不同,需要在其后加入單色器和濾光片。激光器是目前高性能熒光儀器主要使用的光 源,單波長的激光器,能激發(fā)高強度的光源,且單色性好,沒有雜散光,可調(diào)諧的激光器能彌 補單色激光器只有一種波長光的不足,能夠在幾種波長下轉(zhuǎn)換,但是波長選擇范圍小,且價 格及其昂貴。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有的熒光檢測設(shè)備中激發(fā)光源發(fā)光強度不穩(wěn)定,單色性差的不足,本 發(fā)明提供一種基于LED光源的積分球式熒光檢測裝置。該裝置在較低成本下,能提供光譜 范圍較窄的單色光,有效地提高激發(fā)光源的穩(wěn)定性和輻射強度。本發(fā)明是通過下述的技術(shù) 方案實現(xiàn)的基于LED光源的積分球式熒光檢測裝置,包括LED、第一窄帶濾光片、第一底座、第 二窄帶濾光片、第二底座、積分球、樣品支架、光電倍增管和光纖。積分球內(nèi)設(shè)置樣品支架,積分球的最大水平截面處開有第一圓形通孔,積分球?qū)?應(yīng)該通孔外設(shè)置第一底座,所述的第一底座為一端開放、另一端封閉的筒形結(jié)構(gòu),第一底座 的封閉端中心處設(shè)置有LED,LED的出射光正對球心;第一窄帶濾光片設(shè)置在靠近第一底座 的開放端;積分球的正上方開有第二圓形通孔,積分球?qū)?yīng)該通孔外設(shè)置第二底座,所述的 第二底座為兩端開放的圓筒,第二底座的遠離積分球的一端中心處設(shè)置有光電倍增管,光 電倍增管的正對球心設(shè)置;第二窄帶濾光片設(shè)置在靠近積分球的另一端;光纖貫穿積分球設(shè)置,光纖的一端與積分球內(nèi)側(cè)壁齊平,另一端接熒光光譜儀。所述的樣品支架包括支撐桿、托盤和定位盤,多根高度相同的支撐桿圍繞垂直于水平面的軸線對稱設(shè)置,定位盤位于支撐桿頂端所圍合成的平面內(nèi),托盤位于定位盤和積 分球之間,并與定位盤平行設(shè)置;所述的定位盤的中心處開有定位孔。所述的托盤對應(yīng)定位 孔處為一凹面。
本發(fā)明與背景技術(shù)相比,具有的有益的效果是1、采用單色LED提供光源,能有效地保證激發(fā)光源的單一性和高輻射強度,再加 入窄帶濾波片,能濾去雜散光,使光源保持在較窄的波長范圍內(nèi)。2、采用激發(fā)光源與積分球相連接的結(jié)構(gòu),能夠使激發(fā)光輻射更加平滑,減少了激 發(fā)光源的不穩(wěn)定對于樣本的影響。3、采用光電倍增管與積分球在頂部相連接的方式,從而使試管中的樣品所產(chǎn)生的 熒光直接射入光電倍增管中。4、采用單色LED、窄帶濾光片、積分球和光電倍增管等部件,能有效的降低儀器成 本,且省略了電源裝置和單色器,減小了熒光檢測裝置的體積,提高儀器的性價比。5、采用光電倍增管和光譜測試儀等檢測設(shè)備,能使激發(fā)的熒光檢測結(jié)果更加精 確,光電倍增管能接受光強信號,通過后續(xù)放大電路能有效地測出熒光光強,而熒光光譜儀 則能檢測熒光的各種參數(shù)。
圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2為檢測過程中光纖走向示意圖;圖3為光電倍增管后續(xù)電路框圖。
具體實施例方式以下結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步說明。如1圖所示,基于LED光源的積分球式熒光檢測裝置,包括單色LED6、第一窄帶濾 光片7、第一底座5、第二窄帶濾光片4、第二底座3、積分球8、樣品支架10、光電倍增管2和 光纖1。積分球8斜向設(shè)置,積分球8內(nèi)設(shè)置樣品支架10,積分球8的最大水平截面處開有 第一圓形通孔,積分球?qū)?yīng)該通孔外設(shè)置第一底座5,第一底座5為一端開放、另一端封閉 的筒形結(jié)構(gòu),第一底座5的封閉端中心處沒置有單色LED6,LED的出射光正對球心;第一窄 帶濾光片7設(shè)置在靠近第一底座5的開放端;積分球8的正上方開有第二圓形通孔,積分球8對應(yīng)該通孔外設(shè)置第二底座3,第 二底座3為兩端開放的圓筒,第二底座3的遠離積分球的一端中心處設(shè)置有光電倍增管2, 光電倍增管2的正對球心設(shè)置;第二窄帶濾光片7設(shè)置在靠近積分球的另一端;光纖1貫穿積分球8并設(shè)置在光電倍增管2附近,光纖1的一端與積分球8內(nèi)側(cè) 壁齊平,用于感應(yīng)積分球內(nèi)的熒光,另一端接熒光光譜儀11。樣品支架10包括支撐桿、托盤和定位盤,四根高度相同的支撐桿圍繞垂直于水平 面的軸線對稱設(shè)置,定位盤位于支撐桿頂端所圍合成的平面內(nèi),托盤位于定位盤和積分球 之間,并與定位盤平行設(shè)置。定位盤的中心處開有定位孔,用于放置樣品試管9,托盤對應(yīng)定 位孔處為一凹面。如圖2所示,本發(fā)明進行檢測的具體步驟為打開積分球,將待測的樣品試管放入 定位孔中,由托盤支撐。LED發(fā)出的光線通過第一窄帶濾光片濾去雜散光之后進入積分球, 經(jīng)過多次漫反射使光線的光強達到均勻的分布。當(dāng)均勻的光線照射到樣品試管上后,激發(fā)了熒光物質(zhì),使之產(chǎn)生熒光。樣品產(chǎn)生的熒光通過第二窄帶濾光片照射到與積分球第二通 光孔相連接的光電倍增管。因光電倍增管安放于試管的頂部,所以熒光將不會受積分球漫 反射的影響,直接進入光電倍增管,再通過光電倍增管后續(xù)電路(如圖3所示)的驅(qū)動電 路模塊、微電流/電壓轉(zhuǎn)換電路模塊、信號調(diào)理電路模塊、負(fù)高壓模塊和輸出電路模塊作用 后,讀出光強的信號。在光電倍增管的旁側(cè)連接有光纖,通過光纖與光譜測試儀連接后,用 于檢測熒光的光譜范圍。
權(quán)利要求
基于LED光源的積分球式熒光檢測裝置,包括積分球、LED、第一窄帶濾光片、第一底座、第二窄帶濾光片、第二底座、樣品支架、光電倍增管和光纖,其特征在于積分球斜向設(shè)置,積分球內(nèi)設(shè)置樣品支架,積分球的最大水平截面處開有第一圓形通孔,積分球?qū)?yīng)該通孔外設(shè)置第一底座,所述的第一底座為一端開放、另一端封閉的筒形結(jié)構(gòu),第一底座的封閉端中心處設(shè)置有LED,LED的出射光正對球心;第一窄帶濾光片設(shè)置在靠近第一底座的開放端;積分球的正上方開有第二圓形通孔,積分球?qū)?yīng)該通孔外設(shè)置第二底座,所述的第二底座為兩端開放的圓筒,第二底座的遠離積分球的一端中心處設(shè)置有光電倍增管,光電倍增管的正對球心設(shè)置;第二窄帶濾光片設(shè)置在靠近積分球的另一端;光纖貫穿積分球設(shè)置,光纖的一端與積分球內(nèi)側(cè)壁齊平,另一端接熒光光譜儀。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于LED光源的積分球式熒光檢測裝置,其特征在于所述 的樣品支架包括支撐桿、托盤和定位盤,多根高度相同的支撐桿圍繞垂直于水平面的軸線 對稱設(shè)置,定位盤位于支撐桿頂端所圍合成的平面內(nèi),托盤位于定位盤和積分球之間,并與 定位盤平行設(shè)置;所述的定位盤的中心處開有定位孔,所述的托盤對應(yīng)定位孔處為一凹面。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種基于LED光源的積分球式熒光檢測裝置?,F(xiàn)有的檢測裝置發(fā)光不穩(wěn)定,影響熒光強度的檢測。本發(fā)明中積分球內(nèi)設(shè)置樣品支架,積分球的最大水平截面處開有第一圓形通孔,積分球?qū)?yīng)該通孔外設(shè)置第一底座,第一底座的封閉端中心處設(shè)置有LED;第一窄帶濾光片設(shè)置在靠近第一底座的開放端;積分球的正上方開有第二圓形通孔,積分球?qū)?yīng)該通孔外設(shè)置第二底座,第二底座的遠離積分球的一端中心處設(shè)置有光電倍增管;第二窄帶濾光片設(shè)置在靠近積分球的另一端;光纖貫穿積分球設(shè)置,光纖的一端與積分球內(nèi)側(cè)壁齊平,另一端接熒光光譜儀。本發(fā)明能有效地保證激發(fā)光源的單一性和高輻射強度,使光源保持在較窄的波長范圍內(nèi)。
文檔編號G01N21/64GK101825571SQ20101017618
公開日2010年9月8日 申請日期2010年5月18日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月18日
發(fā)明者孔明, 汪晨, 程琦, 趙軍 申請人:中國計量學(xué)院