專利名稱：：非接觸式超導(dǎo)帶材臨界電流測量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明屬于超導(dǎo)電工學(xué)領(lǐng)域，特別涉及一種非接觸式超導(dǎo)帶材臨界電流測量裝置。
背景技術(shù)：
：臨界電流是反映超導(dǎo)帶材電流攜帶能力的最基本參數(shù)。普遍采取的測量方法是"四引線法"，即在樣品兩端加載電流，觀測電壓信號。隨著電流的增加，通過觀測電壓的增加，以每厘米帶材長度產(chǎn)生1微伏作為失超判據(jù)，確定超導(dǎo)帶材的臨界電流。這種方法原理簡單，廣泛應(yīng)用于實驗室級別的長度小于10cm的短樣品測量。目前Bi系高溫超導(dǎo)導(dǎo)線已經(jīng)實現(xiàn)了產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn)，單根Bi系導(dǎo)線長度已經(jīng)超過了500米，正在發(fā)展中的Y系高溫超導(dǎo)導(dǎo)線長度也已經(jīng)實現(xiàn)了百米量級，在線檢測長帶整體性能和局部缺陷十分重要。作為一種接觸式的測量方法，四引線法應(yīng)用在長超導(dǎo)帶材的臨界電流測量有很多局限性。首先在測量中電流引線和電壓引線需要與帶材接觸，會對超導(dǎo)帶材造成機械損傷，其次測試效率也十分低下，不方便實現(xiàn)對超導(dǎo)長帶產(chǎn)品的連續(xù)和快速測量。針對四引線法對于連續(xù)測量能力的不足，還有一種利用測量超導(dǎo)帶材剩余磁場在空間的磁感應(yīng)強度再反算臨界電流的方法。用這種方法測量，超導(dǎo)帶材樣品首先通過一個背景磁場，通常背景磁場需要大于兩倍的最大穿透場，然后將經(jīng)過磁化后的超導(dǎo)帶材樣品移出背景磁場，此時在超導(dǎo)帶材內(nèi)部會感生出類似渦流的環(huán)形電流，由于超導(dǎo)材料自身電阻很小，該環(huán)形電流會長時間存在，并產(chǎn)生一個磁場，通常稱該磁場為剩余磁場，剩余磁場在空間具有一定分布。在與帶材表面相對位置固定點放置磁場探測元件，通常為霍爾探頭，測量帶材表面某點的磁感應(yīng)強度。探頭與樣品相對位置固定時，測量到剩余磁場的磁感應(yīng)強度幅值與帶材臨界電流具有正比的關(guān)系，可反算帶材對應(yīng)的臨界電流。該測試方法已經(jīng)發(fā)展多年，成為比較標(biāo)準(zhǔn)的測試方法，也有相關(guān)產(chǎn)品問世。但這種方法的主要缺點是帶材與霍爾探頭之間需要精確定位，由于剩余磁場在空間具有一定的分布，利用霍爾探頭測量僅僅是測量一個點或者幾個點的磁感應(yīng)強度，從本質(zhì)上講是一種"以點代面"的方法，帶材與霍爾探頭微小的相對位置改變，無論是左右的偏移，還是上下的偏移，都會對最終測試結(jié)果產(chǎn)生很大的影響。通常百微米級別的樣品與探頭的左右或上下位置偏移都會對測量結(jié)果產(chǎn)生很大誤差，測量者無法判斷磁場讀數(shù)變化是由于帶材與探頭相對位置變化導(dǎo)致的還是由于帶材本身臨界電流的變化導(dǎo)致的?；谶@種原理的臨界電流連續(xù)測量裝置，為了盡可能保持霍爾探頭與樣品相對位置的穩(wěn)定，帶材傳動裝置需要精密設(shè)計，并且以犧牲傳動速度來進一步提高樣品與霍爾探頭相對位置的穩(wěn)定，造成測量效率低下。即便如此，利用這種方法測試帶材臨界電流，其本底噪音都在幾個安培左右。針對上述利用測量超導(dǎo)帶材剩余磁場在空間的磁感應(yīng)強度再反算臨界電流的方法的臨界電流測量裝置的缺點，需要一種新型的基于磁路法的非接觸式臨界電流測量方法。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中利用測量超導(dǎo)帶材剩余磁場在空間的磁感應(yīng)強度再反算臨界電流的方法，即"以點代面"的霍爾探頭在超導(dǎo)帶材表面測量剩余磁場磁感應(yīng)強度，要求探頭與樣品之間定位精度高，測量誤差大，效率低等缺點。基于磁路法的非接觸式臨界電流測量方法，提供一種非接觸式超導(dǎo)帶材臨界電流測量裝置，其特征在于，勵磁磁路和探測磁路平行固定在基座12上，勵磁磁路鐵芯1上有磁化狹縫3，探測磁路鐵芯4上有樣品狹縫5和測量狹縫6，磁化狹縫3中心點與樣品狹縫5中心點等高度，安裝在基座12上的第一導(dǎo)輪10和第二導(dǎo)輪11配合液氮容器14外部的放線設(shè)備和收線設(shè)備組成超導(dǎo)帶材連續(xù)傳動裝置，第一導(dǎo)輪10在勵磁磁路左側(cè)，第二導(dǎo)輪11在探測磁路右側(cè)，第一導(dǎo)輪10、磁化狹縫3、樣品狹縫5和第二導(dǎo)輪11在同一條直線上，高溫超導(dǎo)帶材的樣品9從外部的放線設(shè)備經(jīng)過第一導(dǎo)輪10導(dǎo)向依次穿過磁化狹縫3和樣品狹縫5后再經(jīng)過第二導(dǎo)輪11導(dǎo)向傳送到外部收線設(shè)備，樣品運動方向13從勵磁磁路指向探測磁路，基座12置于液氮容器14的底部，裝置工作時，勵磁磁路、探測磁路和樣品均浸泡在液氮里；所述勵磁磁路包括勵磁磁路鐵芯1和勵磁線圈2，勵磁線圈2纏繞在勵磁磁路鐵芯1上，勵磁磁路鐵芯1和磁化狹縫3構(gòu)成一個閉合磁路；所述探測磁路包括探測磁路鐵芯4、偏置線圈7和測量探頭8，測量探頭8置于測量狹縫6內(nèi)，偏置線圈7纏繞在探測磁路鐵芯4上，探測磁路鐵芯4、樣品狹縫5和測量狹縫6構(gòu)成另一個閉合磁路。所述勵磁磁路鐵芯1和探測磁路鐵芯4均為閉合鐵芯，形狀為0型、矩形或閉合多邊形。所述勵磁磁路鐵芯1的材料為軟磁鐵芯或硬磁材料，用硬磁材料時，不需勵磁線圈。所述探測磁路鐵芯4的材料為軟磁鐵芯。所述磁化狹縫3的磁化狹縫高度^大于樣品寬度w，磁化狹縫寬度&大于樣品厚度t。所述樣品狹縫5的樣品狹縫高度h2大于樣品寬度w，樣品狹縫寬度a2大于樣品厚度t。所述測量探頭8為霍爾探頭或巨磁阻探頭。本發(fā)明基于磁路法的非接觸臨界電流測量，測量裝置的核心部件由勵磁磁路和探測磁路組成，并置于低溫液氮容器內(nèi)。為了完成對長超導(dǎo)帶材的連續(xù)測量，還配有帶材連續(xù)傳動裝置。裝置基本工作流程如下在液氮低溫條件下，待測的高溫超導(dǎo)帶材樣品由傳動裝置驅(qū)動，首先經(jīng)過勵磁磁路磁化產(chǎn)生環(huán)形電流，再在探測磁路內(nèi)探測該環(huán)形電流驅(qū)動探測磁路產(chǎn)生的磁感應(yīng)強度，用測得磁感應(yīng)強度反算樣品的臨界電流。勵磁磁路是鐵磁性磁路，勵磁磁路鐵芯和磁化狹縫構(gòu)成一個閉合磁路。軟磁鐵芯通過勵磁線圈加載電流，勵磁磁路在磁化狹縫產(chǎn)生背景磁場，或者硬磁材料的勵磁磁路鐵芯直接產(chǎn)生背景磁場，磁化待測的超導(dǎo)帶材樣品。超導(dǎo)帶材樣品經(jīng)過磁化狹縫，內(nèi)部感生出類似渦流的環(huán)形電流。探測磁路也是鐵磁性磁路，磁路為探測磁路鐵芯、樣品狹縫和測量狹縫構(gòu)成的閉合磁路。鐵芯由軟鐵磁性材料制成。待測的高溫超導(dǎo)帶材樣品經(jīng)過勵磁磁路磁化后，產(chǎn)生環(huán)形電流，攜帶環(huán)形電流的樣品經(jīng)過樣品狹縫時，會驅(qū)動整個探測磁路產(chǎn)生磁通。測量狹縫內(nèi)放置磁場測量探頭測量狹縫處的磁感應(yīng)強度的大小，反映樣品驅(qū)動磁路的能力，進而推算該超導(dǎo)帶材的臨界電流。對于同批次(帶材寬度和厚度都相同)的超導(dǎo)帶材，測量狹縫處的磁感應(yīng)強度大小與臨界電流成正比。通過測量已知臨界電流的標(biāo)準(zhǔn)樣品，其它樣品與標(biāo)準(zhǔn)樣品比對，就可以得到所測樣品的臨界電流。由于鐵磁性材料具有非線性特性，S卩非線性的B-H關(guān)系，利用探測磁路鐵芯上纏繞的偏置線圈7通以偏置電流，調(diào)整磁路達到最佳工作點。探測磁路厚度d2，即沿帶材傳動方向的磁路厚度決定測量裝置對樣品的空間分辨率。探測磁路厚度(12越小，所測樣品局部信息反映得越充分；探測磁路厚度(12越大，對所測樣品整體通流能力反映得越充分。探測磁路厚度d2可根據(jù)使用者需求確定。本發(fā)明的測量裝置特別適合扁平狀高溫超導(dǎo)帶材臨界電流測試，所測樣品可以為Bi2223/Ag高溫超導(dǎo)帶材，也可以為YBC0高溫超導(dǎo)帶材。本發(fā)明和現(xiàn)有技術(shù)中利用測量剩余磁場在空間的磁感應(yīng)強度反算臨界電流的方法的基本原理都是基于超導(dǎo)帶材經(jīng)過勵磁磁路之后會產(chǎn)生類似渦流狀的環(huán)形電流，環(huán)形電流產(chǎn)生剩余磁場，剩余磁場在空間具有一定分布?，F(xiàn)有技術(shù)的方法要在樣品表面固定處利用霍爾探頭測量磁感應(yīng)強度，實際上是測量該剩余磁場在空間某一個點或者某幾個點的磁感應(yīng)強度，即"以點代面"反算臨界電流，由此帶來一系列如樣品與探頭之間需要精確定位等問題。而本發(fā)明基于磁路法的非接觸式臨界電流測量方法，是通過測量樣品環(huán)形電流對磁路的整體驅(qū)動能力反算臨界電流。形象而言，該環(huán)形電流相當(dāng)于一般磁路中的驅(qū)動線圈，物理本質(zhì)上，該驅(qū)動力實際上是樣品環(huán)形電流在樣品狹縫處的磁矩。在測量狹縫放置的磁場測量探頭測量環(huán)形電流驅(qū)動磁路產(chǎn)生的磁感應(yīng)強度，這個磁感應(yīng)強度與臨界電流成正比，因此本發(fā)明是對樣品環(huán)形電流驅(qū)動力的整體測量。對于同批次超導(dǎo)帶材(帶材厚度，寬度都一致)，環(huán)形電流的驅(qū)動能力與臨界電流成正比，通過與標(biāo)準(zhǔn)樣品或者標(biāo)定線圈對比算出樣品的臨界電流。本發(fā)明的有益效果為，本發(fā)明從物理本質(zhì)上解決現(xiàn)有技術(shù)測量方法的"以點代面"局限性，實現(xiàn)了對樣品整體臨界電流性能的測量。測量過程中帶材的左右偏移或上下偏移即便達到幾個毫米，對于測量結(jié)果的影響小于百分之一。測量時只要樣品不被移出樣品狹縫，其左右或上下的偏移不會改變樣品的環(huán)形電流，不會對驅(qū)動磁路能力發(fā)生變化，在測量狹縫測量到的磁感應(yīng)強度也不會發(fā)生變化，不會對臨界電流測試結(jié)果產(chǎn)生影響，從根本上解決了現(xiàn)有技術(shù)要求樣品與探頭精確定位的缺點，使得帶材傳動系統(tǒng)設(shè)計復(fù)雜程度大幅度降低，還可以大幅度提高走帶速度和測量效率。特別適合工業(yè)化超長帶材臨界電流連續(xù)測圖1為非接觸式超導(dǎo)帶材臨界電流測量裝置實施例示意圖2為勵磁磁路結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為樣品經(jīng)勵磁磁路磁化攜帶的環(huán)形電流以及與樣品狹縫相對位置關(guān)系示意圖，圖中箭頭表示環(huán)形電流的方向；圖4為探測磁路結(jié)構(gòu)示意5圖5為標(biāo)定線圈使用示意圖。圖中，l一勵磁磁路鐵芯，2—勵磁線圈，3—磁化狹縫，4一探測磁路鐵芯，5—樣品狹縫，6—測量狹縫，7—偏置線圈，8—測量探頭，9一樣品，10—第一導(dǎo)輪，1l一第二導(dǎo)輪，12—基座，13—樣品運動方向，14—液氮容器，15—標(biāo)定線圈。具體實施例方式以下結(jié)合附圖和實施例詳細說明基于磁路法的非接觸式超導(dǎo)帶材臨界電流測量裝置工作原理、測量流程和測試結(jié)果。非接觸式超導(dǎo)帶材臨界電流測量裝置實施例示意圖如圖1所示，勵磁磁路在左邊，探測磁路在右邊，兩者平行固定在基座12上，磁化狹縫3和樣品狹縫5均向下，勵磁磁路的磁化狹縫3中心點和探測磁路的樣品狹縫5中心點高度相同，為了實現(xiàn)長帶材的連續(xù)測量，安裝在基座12上的第一導(dǎo)輪10和第二導(dǎo)輪11配合液氮容器14外部的放線設(shè)備和收線設(shè)備組成超導(dǎo)帶材連續(xù)傳動裝置，第一導(dǎo)輪10在勵磁磁路左側(cè)，第二導(dǎo)輪11在探測磁路右側(cè)，第一導(dǎo)輪10、磁化狹縫3、樣品狹縫5和第二導(dǎo)輪11在同一條直線上，高溫超導(dǎo)帶材的樣品9從外部的放線設(shè)備經(jīng)過第一導(dǎo)輪10導(dǎo)向依次穿過磁化狹縫3和樣品狹縫5后再經(jīng)過第二導(dǎo)輪11導(dǎo)向傳送到外部收線設(shè)備，樣品運動方向13從勵磁磁路指向探測磁路?；?2置于液氮容器14的底部，裝置工作時，勵磁磁路、探測磁路和樣品均浸泡在液氮之中。勵磁磁路包括勵磁磁路鐵芯1和勵磁線圈2，勵磁磁路鐵芯1為閉合0型軟磁鐵芯，在鐵芯上徑向切割出磁化狹縫3，勵磁線圈2纏繞在勵磁磁路鐵芯1上，勵磁磁路鐵芯1和磁化狹縫3構(gòu)成一個閉合磁路。探測磁路包括探測磁路鐵芯4、偏置線圈7和測量探頭8，探測磁路鐵芯4為閉合0型軟磁鐵芯，在鐵芯的同一條直徑兩端分別切割出樣品狹縫5和測量狹縫6，測量探頭8為霍爾探頭置于測量狹縫6內(nèi)，偏置線圈7纏繞在探測磁路鐵芯4上，探測磁路鐵芯4、樣品狹縫5和測量狹縫6構(gòu)成另一個閉合磁路。本測量裝置用于扁平狀高溫超導(dǎo)帶材樣品測試。這種結(jié)構(gòu)的高溫超導(dǎo)導(dǎo)線，除了已經(jīng)得到工業(yè)化生產(chǎn)的Bi2223帶材，還有已經(jīng)初步具備實驗室規(guī)模產(chǎn)業(yè)化的YBCO高溫超導(dǎo)帶材。勵磁線圈2通以電流在磁化狹縫3中產(chǎn)生背景磁場，磁化超導(dǎo)帶材的樣品9。樣品經(jīng)背景磁場磁化后，進入樣品狹縫5。樣品9被磁化后攜帶感生的環(huán)形電流通過樣品狹縫5，驅(qū)動整個探測磁路產(chǎn)生磁通?；魻柼筋^測量的測量狹縫6處磁感應(yīng)強度大小正比樣品環(huán)形電流驅(qū)動能力，環(huán)形電流驅(qū)動能力正比樣品的臨界電流，進而推算超導(dǎo)帶材樣品的臨界電流。在測量狹縫6中放置的測量探頭8測量狹縫中的磁感應(yīng)強度大小，偏置線圈7用于調(diào)整探測磁路工作在最佳工作點。待測樣品選取Bi2223/Ag高溫超導(dǎo)帶材，該帶材的基本幾何參數(shù)為寬度4.3mm、厚度0.25mm。如圖2所示，本實施例的勵磁磁路中，勵磁磁路鐵芯1采用一個初始外徑A=50mm、內(nèi)徑巧=40mm的閉合0型電工純鐵鐵芯，一側(cè)徑向開縫獲得磁化狹縫3，磁化狹縫寬度ai為lmm，可滿足樣品厚度t為0.25mm的樣品穿過，磁化狹縫高度^為10mm，勵磁磁路厚度4為20mm。勵磁線圈2繞制100匝。勵磁磁路中磁化狹縫3提供的背景磁場至少大于二倍的被測超導(dǎo)帶材的最大穿透場。調(diào)整勵磁線圈電流在磁化狹縫3中產(chǎn)生大于0.15T的磁場。樣品9經(jīng)過磁化狹縫3中的背景磁場磁化，內(nèi)部產(chǎn)生一個類似渦流的環(huán)形電流，攜帶環(huán)形電流的樣品9再進入樣品狹縫5，如圖3所示，圖中箭頭表示環(huán)形電流的方向。如圖4所示，本實施例的探測磁路中，探測磁路鐵芯4采用一個初始外徑r4=40咖、內(nèi)徑1~3=30咖的閉合0型電工純鐵鐵芯，用兩側(cè)對稱開縫的方式，即在鐵芯同一條直徑兩端切割獲得樣品狹縫5和測量狹縫6。樣品狹縫寬度a2和測量狹縫寬度a3均為lmm，樣品狹縫高度h2為10mm，大于樣品寬度w的4.3mm。樣品狹縫5沿帶材移動方向的探測磁路厚度4為10mm。磁場測量元件采取霍爾探頭。對于同型號的同批次超導(dǎo)帶材樣品，即帶材的寬度厚度都相同的被測樣品，測量狹縫中的磁感應(yīng)強度與樣品的臨界電流成正比，通過對比標(biāo)準(zhǔn)樣品就可以得到超導(dǎo)帶材樣品各段的臨界電流。具體方法是，從一根待測的長帶材上剪下一段5cm長樣品作為標(biāo)準(zhǔn)樣品，利用傳統(tǒng)的四引線法測量標(biāo)準(zhǔn)樣品的臨界電流，記為I。。再利用本發(fā)明測量裝置測量該標(biāo)準(zhǔn)樣品，在測量狹縫6處測得一個磁感應(yīng)強度，記為B。，再用本發(fā)明測量裝置測量長帶材樣品各段的磁場值B，并與B。對比，按照磁感應(yīng)強度大小與臨界電流成正比的關(guān)系就可以得到被測樣品其它各段的臨界電流。表1列出待測樣品Bi2223/Ag高溫超導(dǎo)帶材5段樣品分別利用四引線法和基于磁路法的本實施例測試臨界電流的到的結(jié)果，其中1號樣品表一<table>tableseeoriginaldocumentpage7</column></row><table>為測試過程中選取的標(biāo)準(zhǔn)樣品?？梢钥闯隼么怕贩ㄅc四引線法測試結(jié)果基本一致，充分說明了磁路方法的有效性。為了說明本發(fā)明的優(yōu)勢，選取1號樣品在樣品狹縫高度112內(nèi)上下2.5mm范圍移動樣品，但樣品不得移出樣品狹縫5，測量狹縫6處磁感應(yīng)強度變化小于1%?？梢姳景l(fā)明的磁路法測量相對于現(xiàn)有技術(shù)在帶材表面測量磁感應(yīng)強度再反算臨界電流的方法在測量可靠性和穩(wěn)定性方面的優(yōu)勢。在測量狹縫6的磁感應(yīng)強度再反算臨界電流，除上述用標(biāo)準(zhǔn)樣品進行對比，還可與標(biāo)定線圈對比算出樣品的臨界電流。圖5為標(biāo)定線圈15使用示意圖，標(biāo)定線圈15為一個矩形線圈，其寬度為X，長度為Y，線圈的最大寬度需小于探測磁路的樣品狹縫高度1!2，線圈的最小長度必須大于探測磁路厚度4。標(biāo)定線圈15放置在樣品狹縫5內(nèi)，通以標(biāo)定電流I。由于標(biāo)定線圈15結(jié)構(gòu)已知，可知標(biāo)定線圈15在樣品狹縫內(nèi)的磁矩，由此可以精確標(biāo)定測量狹縫6處的磁感應(yīng)強度與驅(qū)動力之間的關(guān)系，再由這個關(guān)系就可以反算樣品的臨界電流。權(quán)利要求一種非接觸式超導(dǎo)帶材臨界電流測量裝置，其特征在于，勵磁磁路和探測磁路平行固定在基座(12)上，勵磁磁路鐵芯(1)上有磁化狹縫(3)，探測磁路鐵芯(4)上有樣品狹縫(5)和測量狹縫(6)，磁化狹縫(3)中心點與樣品狹縫(5)中心點等高度，安裝在基座(12)上的第一導(dǎo)輪(10)和第二導(dǎo)輪(11)配合液氮容器(14)外部的放線設(shè)備和收線設(shè)備組成超導(dǎo)帶材連續(xù)傳動裝置，第一導(dǎo)輪(10)在勵磁磁路左側(cè)，第二導(dǎo)輪(11)在探測磁路右側(cè)，第一導(dǎo)輪(10)、磁化狹縫(3)、樣品狹縫(5)和第二導(dǎo)輪(11)在同一條直線上，高溫超導(dǎo)帶材的樣品(9)從外部的放線設(shè)備經(jīng)過第一導(dǎo)輪(10)導(dǎo)向依次穿過磁化狹縫(3)和樣品狹縫(5)后再經(jīng)過第二導(dǎo)輪(12)導(dǎo)向傳送到外部收線設(shè)備，樣品運動方向(13)從勵磁磁路指向探測磁路，基座(12)置于液氮容器(14)的底部，裝置工作時，勵磁磁路、探測磁路和樣品均浸泡在液氮里；所述勵磁磁路包括勵磁磁路鐵芯(1)和勵磁線圈(2)，勵磁線圈(2)纏繞在勵磁磁路鐵芯(1)上，勵磁磁路鐵芯(1)和磁化狹縫(3)構(gòu)成閉合磁路；所述探測磁路包括探測磁路鐵芯(4)、偏置線圈(7)和測量探頭(8)，測量探頭(8)置于測量狹縫(6)內(nèi)，偏置線圈(7)纏繞在探測磁路鐵芯(4)上，探測磁路鐵芯(4)、樣品狹縫(5)和測量狹縫(6)構(gòu)成閉合磁路。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種非接觸式超導(dǎo)帶材臨界電流測量裝置，其特征在于，所述勵磁磁路鐵芯(1)和探測磁路鐵芯(4)均為閉合鐵芯，形狀為0型、矩形或閉合多邊形。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種非接觸式超導(dǎo)帶材臨界電流測量裝置，其特征在于，所述勵磁磁路鐵芯(1)的材料為軟磁鐵芯或硬磁材料。4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種非接觸式超導(dǎo)帶材臨界電流測量裝置，其特征在于，所述探測磁路鐵芯(4)的材料為軟磁鐵芯。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種非接觸式超導(dǎo)帶材臨界電流測量裝置，其特征在于，所述磁化狹縫(3)的磁化狹縫高度^大于樣品寬度w，磁化狹縫寬度^大于樣品厚度t。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種非接觸式超導(dǎo)帶材臨界電流測量裝置，其特征在于，所述樣品狹縫(5)的樣品狹縫高度h2大于樣品寬度w，樣品狹縫寬度a2大于樣品厚度t。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種非接觸式超導(dǎo)帶材臨界電流測量裝置，其特征在于，所述測量探頭(8)為霍爾探頭或巨磁阻探頭。全文摘要本發(fā)明屬于超導(dǎo)電工學(xué)領(lǐng)域，特別涉及一種非接觸式超導(dǎo)帶材臨界電流測量裝置。勵磁磁路和探測磁路平行固定在基座上，勵磁磁路的磁化狹縫中心點與探測磁路的樣品狹縫中心點等高度，勵磁磁路鐵芯和磁化狹縫構(gòu)成閉合勵磁磁路，探測磁路鐵芯、樣品狹縫和測量狹縫構(gòu)成閉合探測磁路。基于磁路法的臨界電流非接觸式測量方法，在液氮低溫條件下，先將樣品在勵磁磁路磁化狹縫磁化感生環(huán)形電流，再將樣品置于探測磁路樣品狹縫，在探測磁路測量狹縫探測環(huán)形電流驅(qū)動探測磁路產(chǎn)生的磁感應(yīng)強度，用測得磁感應(yīng)強度與標(biāo)準(zhǔn)樣品對比再反算樣品臨界電流。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)要求樣品與探頭精確定位的缺點，測量效率高，特別適合連續(xù)測量超長超導(dǎo)帶材臨界電流。文檔編號G01R33/12GK101788594SQ201010033688公開日2010年7月28日申請日期2010年1月8日優(yōu)先權(quán)日2010年1月8日發(fā)明者鄒圣楠,韓征和,顧晨申請人:清華大學(xué)