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光纖光柵傳感器解調(diào)裝置的制作方法

文檔序號(hào):5863097閱讀:468來源:國知局
專利名稱:光纖光柵傳感器解調(diào)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種光纖光柵傳感器解調(diào)裝置。
背景技術(shù)
應(yīng)變或溫度等因素的變化會(huì)導(dǎo)致光纖光柵傳感器中心波長發(fā)生變化,由于波長變 化量同這些環(huán)境參數(shù)的變化量有著固定的關(guān)系,因此通過探測(cè)波長變化量就可以實(shí)現(xiàn)環(huán)境 參數(shù)的測(cè)量。波長變化量的探測(cè)也即解調(diào)是光纖光柵傳感系統(tǒng)中的核心技術(shù),一般的傳感 系統(tǒng)要求解調(diào)裝置具有皮米量級(jí)的波長分辨率及幾十納米級(jí)的波長測(cè)量范圍。目前,應(yīng)用較為廣泛的是基于可調(diào)諧Fabery-Perot濾波器的解調(diào)方法,但是這類 濾波器的動(dòng)態(tài)掃描頻率一般小于200Hz,其光能利用率一般較低,信噪比較小,不適于對(duì)微 弱信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)。同可調(diào)諧濾波器比較,基于光纖光柵傳感器解調(diào)裝置不受壓電體的限制、沒有移 動(dòng)部 件、對(duì)光能的利用率較高,可以克服可調(diào)諧濾波器存在的問題,但是現(xiàn)有技術(shù)光纖光柵 傳感器解調(diào)裝置一般采用單塊光線光柵進(jìn)行解調(diào),其衍射角較小,波長分辨率較低,難以滿 足實(shí)際要求。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)光纖光柵傳感器解調(diào)裝置衍射角較小、 波長分辨率較低的問題,本實(shí)用新型提供了一種具有較大衍射角、較高波長分辨率的光纖 光柵傳感器解調(diào)裝置。本實(shí)用新型技術(shù)方案是一種光纖光柵傳感器解調(diào)裝置,其包括光學(xué)盒、接收器以 及連接二者的電路系統(tǒng),其中,所述光學(xué)盒內(nèi)沿著光束入射放線依次包括光纖接口、準(zhǔn)直透 鏡、第一透射光柵、第二透射光柵、非球面鏡和光電探測(cè)器,其中,所述非球面鏡為會(huì)聚鏡, 所述光電探測(cè)器通過電路系統(tǒng)于接收器相連。所述光電探測(cè)器為InGaAs線陣探測(cè)器。所述接收器為示波器。所述第一透射光柵和第二透射光柵為透射式衍射光柵,線數(shù)均為1000線/mm。本實(shí)用新型的有益效果是與現(xiàn)有技術(shù)相比,光纖光柵傳感器的反射信號(hào)由光纖 接口進(jìn)入本解調(diào)裝置,通過準(zhǔn)直透鏡形成平行光束后投射到第一透射光柵上,通過第一透 射光柵的部分衍射光投射到第二透射光柵上,然后通過第二透射光柵的部分衍射光束通過 非球面成像在光電探測(cè)器上,再由電路系統(tǒng)讀出成像位置,并根據(jù)系統(tǒng)參數(shù)計(jì)算波長值。本 實(shí)用新型光纖光柵傳感器解調(diào)裝置通過采用雙透射光柵,增大了衍射光束的衍射角,提高 了解調(diào)裝置的波長分辨率,同時(shí)由于沒有移動(dòng)部件、動(dòng)態(tài)響應(yīng)快,可應(yīng)用于高頻動(dòng)態(tài)測(cè)量。

圖1是本實(shí)用新型光纖光柵傳感器解調(diào)裝置一較佳實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖;其中,ι-光纖接口、2-準(zhǔn)直透鏡、3-第一透射光柵、4-第二透射光柵、5-非球面鏡、6-光電探測(cè)器、7-光學(xué)盒、8-電路系統(tǒng)、9-光束、10-長波長光線、11-短波長光線、12-接收器。
具體實(shí)施方案請(qǐng)參閱圖1,其是本實(shí)用新型光纖光柵傳感器解調(diào)裝置一較佳實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示 意圖。所述光纖光柵傳感器解調(diào)裝置包括光學(xué)盒、接收器以及連接二者的電路系統(tǒng)。其中, 所述光學(xué)盒7采用熱膨脹系數(shù)較小的材料制成,其內(nèi)部沿著光束傳輸依次設(shè)置光纖接口 1、 準(zhǔn)直透鏡2、第一透射光柵3、第二透射光柵4、非球面鏡5、光電探測(cè)器6,并根據(jù)光路固定 在光學(xué)盒7內(nèi)。本實(shí)施方案中,所述非球面鏡5為反射式會(huì)聚鏡,其能將光束會(huì)聚到光電探 測(cè)器6上。所述第一透射光柵3和第二透射光柵4為透射式衍射光柵,線數(shù)均為1000線/ mm,光電探測(cè)器6為InGaAs線陣探測(cè)器,光學(xué)盒7采用熱膨脹系數(shù)較小的材料。同時(shí),所述 光電探測(cè)器6經(jīng)電路系統(tǒng)8與接收器12相連,所述接收器12為示波器,用于對(duì)所接收光學(xué) 信號(hào)的顯示。光纖光柵傳感器解調(diào)裝置工作時(shí),光束由光纖接口 1進(jìn)入本解調(diào)裝置,通過準(zhǔn)直 透鏡2形成平行光束后投射到第一透射光柵3上,通過第一透射光柵3的衍射,使光束發(fā)生 偏轉(zhuǎn)并投射到第二透射光柵4上。然后,由第二透射光柵4的對(duì)光束進(jìn)行衍射后投射到非 球面鏡5,然后由非球面鏡5成像在光電探測(cè)器6上。由于第一透射光柵3和第二透射光 柵4均為衍射光柵,因此光束通過時(shí),不同波長的光線的衍射角不同,從而可以將不同波長 的光線依波長大小分開,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)光束的解調(diào)另外,通過紅外現(xiàn)象卡粗略調(diào)整光路,使較長波長光線10的聚焦點(diǎn)和較短波長光 線11的聚焦點(diǎn)分別照射在光電探測(cè)器6兩個(gè)端點(diǎn),相應(yīng)的中間波段的光線聚焦點(diǎn)在光電探 測(cè)器6兩個(gè)端點(diǎn)之間。然后,經(jīng)過定標(biāo),可得到光線波長與光電探測(cè)器6象元的對(duì)應(yīng)關(guān)系; 再由電路系統(tǒng)8實(shí)現(xiàn)光電探測(cè)器6的數(shù)據(jù)采集、傳輸和處理,再由接收器12成像顯示,然后 并根據(jù)標(biāo)定參數(shù)可以進(jìn)一步計(jì)算波長值。本實(shí)用新型光纖光柵傳感器解調(diào)裝置通過第一透射光柵和第二透射光柵對(duì)光束 的二次衍射,使不同波長的光線衍射角得到放大,從而將不同波長的光線分開,有效提高了 波長分辨率。而且由于整個(gè)解調(diào)裝置內(nèi)部都是相對(duì)固定的部件,無運(yùn)動(dòng)部件,因此動(dòng)態(tài)響應(yīng) 較快,可以用于高頻動(dòng)態(tài)測(cè)量,因此具有較大的實(shí)際使用價(jià)值。
權(quán)利要求一種光纖光柵傳感器解調(diào)裝置,其包括光學(xué)盒(7)、接收器(12)以及連接二者的電路系統(tǒng)(8),其特征在于所述光學(xué)盒(7)內(nèi)沿著光束入射放線依次包括光纖接口(1)、準(zhǔn)直透鏡(2)、第一透射光柵(3)、第二透射光柵(4)、非球面鏡(5)和光電探測(cè)器(6),其中,所述非球面鏡(5)為會(huì)聚鏡,所述光電探測(cè)器(6)通過電路系統(tǒng)(8)與接收器(12)相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纖光柵傳感器解調(diào)裝置,其特征在于所述光電探測(cè)器(6) 為InGaAs線陣探測(cè)器。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光纖光柵傳感器解調(diào)裝置,其特征在于所述接收器(12)為 示波器。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光纖光柵傳感器解調(diào)裝置,其特征在于所述第一透射光柵 (3)和第二透射光柵(4)為透射式衍射光柵,線數(shù)均為1000線/mm。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種光纖光柵傳感器解調(diào)裝置,其包括光學(xué)盒(7)、接收器(12)以及連接二者的電路系統(tǒng)(8)。其中,所述光學(xué)盒(7)內(nèi)沿著光束入射放線依次包括光纖接口(1)、準(zhǔn)直透鏡(2)、第一透射光柵(3)、第二透射光柵(4)、非球面鏡(5)和光電探測(cè)器(6),且所述非球面鏡(5)為會(huì)聚鏡,所述光電探測(cè)器(6)通過電路系統(tǒng)(8)與接收器(12)相連。本實(shí)用新型光纖光柵傳感器解調(diào)裝置通過采用雙透射光柵,增大了衍射光束的衍射角,提高了解調(diào)裝置的波長分辨率,同時(shí)由于沒有移動(dòng)部件、動(dòng)態(tài)響應(yīng)快,可應(yīng)用于高頻動(dòng)態(tài)測(cè)量。
文檔編號(hào)G01D5/353GK201589623SQ20092035199
公開日2010年9月22日 申請(qǐng)日期2009年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月31日
發(fā)明者馮忠偉, 周權(quán), 宋昊, 溫聚英, 陳爽 申請(qǐng)人:中國航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所
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