專利名稱：孔的垂直度校驗裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型屬于機(jī)械量檢器具，特別涉及一種孔的垂直度校驗裝置。
背景技術(shù)：
目前，在機(jī)械加工的過程中，一些零部件的孔的垂直度校驗比較困難，一般通過簡 單的量具進(jìn)行校驗，其校驗的準(zhǔn)確性很難保證，對于一些精確度要求高的零部件孔的校驗， 較通用的設(shè)備是三坐標(biāo)測量儀，但其價格較昂貴，不易普及，而且校驗的過程繁鎖，時間長， 需有專門技術(shù)人員操作，很難普及。

發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的在于克服上述技術(shù)不足，提供一種操作便捷，校驗精度精準(zhǔn)的 孔的垂直度校驗裝置。 本實用新型解決技術(shù)問題采用的技術(shù)方案是孔的垂直度校驗裝置包括被校驗工 件、軸承、千分表；其特點是被校驗工件的內(nèi)孔中心設(shè)有中心立柱，中心立柱的下端均布固 定設(shè)有三個張緊裝置，每個張緊裝置的外端設(shè)有一根軸承連接軸，軸承連接軸的上、下兩端 各固定裝有一套軸承，軸承的外環(huán)的側(cè)面均與被校驗工件的里孔內(nèi)側(cè)面相接觸，中心立柱 的上端設(shè)有橫梁，橫梁上設(shè)有千分表和鎖緊螺絲。 本實用新型的有益效果是孔的垂直度校驗裝置通過中心柱并聯(lián)的三個張緊裝置 實現(xiàn)三點穩(wěn)定定位，并通過張緊裝置的自動張緊作用，使該裝置能夠適用于不同孔徑的校 驗，成本低，適用范圍廣，使用壽命長，完全可以滿足企業(yè)批量生產(chǎn)校驗的需要。
以下結(jié)合附圖以實施例具體說明。


圖1是孔的垂直度校驗裝置的結(jié)構(gòu)局部剖視圖。
圖中，1-被校驗工件；2-軸承；3-軸承連接軸；4_張緊裝置；5_中心立柱；6_千分
表；7-橫梁；8-鎖緊螺絲；
具體實施方式實施例，參照附圖l，在被校驗工件1的內(nèi)孔中心設(shè)有中心柱5，中心柱5的下端均 布固定設(shè)有三個張緊裝置4，每個張緊裝置4的外端設(shè)有一根軸承連接軸3，軸承連接軸3 的上、下兩端各固定裝有一套軸承2，軸承2的外環(huán)的側(cè)面均與被校驗工件1的里孔內(nèi)側(cè)面 相接觸并滑動，中心柱5的上端設(shè)有橫梁7，橫梁7上設(shè)有千分表6和鎖緊螺絲8。 孔的垂直度校驗裝置的工作過程是首先將加工好的被校驗工件1平穩(wěn)地放置于 夾具或平臺上，然后將中心立柱5并聯(lián)的三個張緊裝置4及其連接件軸承連接軸3、軸承2 組裝好后一并裝入被校驗工件1的里孔內(nèi)，由于張緊裝置4為軸承2提供足夠的壓力，促使 六套軸承2的外環(huán)外側(cè)面與被校驗工件1的里孔內(nèi)側(cè)面接觸緊密。其次調(diào)節(jié)千分表6，使千
3分表6的觸頭與被驗工件1里孔相垂直的上端面直接接觸，依次再旋轉(zhuǎn)千分表6的刻度表 盤，使指針對準(zhǔn)刻度盤的零點位，調(diào)節(jié)千分表6在橫梁7上的位置后擰緊鎖緊螺絲8定位。 最后用手推動橫梁7，使千分表6的觸頭在被校驗工件1的被校驗的端面上圍繞孔中心旋轉(zhuǎn) 一周，觀察并記錄千分表6的指針擺動范圍，來確定被校驗工件1的里孔垂直度誤差。
權(quán)利要求一種孔的垂直度校驗裝置，包括被校驗工件(1)、軸承(2)、千分表(6)；其特征在于被校驗工件(1)的內(nèi)孔中心設(shè)有中心立柱(5)，中心立柱(5)的下端均布固定設(shè)有三個張緊裝置(4)，每個張緊裝置(4)的外端設(shè)有一根軸承連接軸(3)，軸承連接軸(3)的上、下兩端各固定裝有一套軸承(2)，軸承(2)的外環(huán)的側(cè)面均與被校驗工件(1)的里孔內(nèi)側(cè)面相接觸，中心立柱(5)的上端設(shè)有橫梁(7)，橫梁(7)上設(shè)有千分表(6)和鎖緊螺絲(8)。
專利摘要本實用新型屬于機(jī)械量檢器具，特別涉及一種孔的垂直度校驗裝置，包括被校驗工件(1)、軸承(2)、千分表(6)；被校驗工件(1)的內(nèi)孔中心設(shè)有中心立柱(5)，中心立柱(5)的下端均布固定設(shè)有三個張緊裝置(4)，每個張緊裝置(4)的外端設(shè)有一根軸承連接軸(3)，軸承連接軸(3)的上、下兩端各固定裝有一套軸承(2)，軸承(2)的外環(huán)的側(cè)面均與被校驗工件(1)的里孔內(nèi)側(cè)面相接觸，中心立柱(5)的上端設(shè)有橫梁(7)，橫梁(7)上設(shè)有千分表(6)和鎖緊螺絲(8)，孔的垂直度校驗裝置通過中心柱并聯(lián)的三個張緊裝置實現(xiàn)三點穩(wěn)定定位，成本低，適用范圍廣，使用壽命長，完全可以滿足企業(yè)批量生產(chǎn)校驗的需要。
文檔編號G01B5/245GK201522254SQ20092024831
公開日2010年7月7日 申請日期2009年11月20日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月20日
發(fā)明者何圓圓, 劉燕, 孫佳媛, 張昕, 方圓, 王立巍, 白露, 竇英澤, 胡馨月, 陳真, 高元 申請人:白露