專利名稱：測試板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測試板，特別是涉及一種可測試插槽引腳的測試板的實(shí)用新型。
背景技術(shù)：
在主機(jī)板的制造過程當(dāng)中，主機(jī)板的各部零件都需要事先測試是否正常，避免在出貨 之后才發(fā)生問題，而造成制造者的重大損失。
在現(xiàn)有技術(shù)當(dāng)中，當(dāng)要測試主機(jī)板的插槽或連接器是否能正常工作時(shí)，例如測試是否 有空焊、虛焊、斷路、短路或其他類似異常情形時(shí)，通常是藉由插入存儲(chǔ)器模塊或PCI 適配卡等實(shí)際要在該插槽工作的模塊，來對(duì)插槽實(shí)際地進(jìn)行測試。但是這種測試方式由于 需要使用實(shí)際的存儲(chǔ)器模塊或PCI適配卡，因此所需成本較高。而且當(dāng)插入存儲(chǔ)器模塊或 PCI適配卡時(shí)，也不易判斷出插槽或連接器的哪只引腳有問題。因此這種測試方式對(duì)于制
造者來說會(huì)有許多的不便。
有鑒于此，有必要提供一種新型的測試板來解決現(xiàn)有技術(shù)中所發(fā)生的問題。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的主要目的是在提供一種測試板，其具有可測試插槽引腳的功能。
為達(dá)到上述的目的，本實(shí)用新型的測試板用以插入主機(jī)板上的插槽，以測試插槽的多 個(gè)引腳。多個(gè)引腳是配合主機(jī)板的電路布局所構(gòu)成。測試板包括電路板、多個(gè)電性插接端 以及多個(gè)電性導(dǎo)通部。多個(gè)電性插接端印刷于電路板上，用以電性連接插槽的多個(gè)引腳。 多個(gè)電性導(dǎo)通部分別與多個(gè)電性插接端互相連接。多個(gè)電性導(dǎo)通部的走線用以配合主機(jī)板 的電路布局，以供測試多個(gè)引腳。其中測試板插入插槽后，藉由輸入測試信號(hào)以測試是否 導(dǎo)通，并進(jìn)一步判斷插槽的多個(gè)引腳是否焊接正常。
本實(shí)用新型的測試板不需要使用實(shí)際的存儲(chǔ)器模塊或PCI適配卡，成本低。而且可以
輕易判斷出插槽或連接器的哪只引腳有問題，為使用者提供便利。
由于本實(shí)用新型構(gòu)造新穎，能提供產(chǎn)業(yè)上利用，且確有增進(jìn)功效，故依法申請(qǐng)實(shí)用新 型專利。


圖1為本實(shí)用新型的測試板安裝于插槽的示意圖。 圖2為本實(shí)用新型的主機(jī)板的電路布局的示意圖。 圖3為本實(shí)用新型的測試板與插槽的引腳連接的示意圖。
主要組件符號(hào)說明 主機(jī)板l 測試板10 電路板11
電性插接端12、 12a、 12b、 12c、 12d、 12e、 12f 電性導(dǎo)通部13、 13a、 13b、 13c 插槽20
引腳21、 21a、 21b、 21c、 21d、 21e、 21f
具體實(shí)施方式
為讓本實(shí)用新型的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉出本實(shí)用新 型的具體實(shí)施例，并配合所附附圖，作詳細(xì)說明如下。
以下請(qǐng)一并參考圖1及圖2關(guān)于本實(shí)用新型測試板與插槽的相關(guān)示意圖，其中圖1為 本實(shí)用新型的測試板安裝于插槽的示意圖，圖2為本實(shí)用新型的主機(jī)板的電路布局的示意 圖。
本實(shí)用新型的測試板IO用以測試主機(jī)板1上的插槽20，以判斷其多個(gè)引腳21是否正 常。在本實(shí)施例中，插槽20是以一種用于雙列直插存儲(chǔ)器模塊(Dual Inline Memory Module, DIMM)的插槽為例進(jìn)行說明，但本實(shí)用新型并不以此為限。插槽20具有多個(gè) 引腳21，用以與存儲(chǔ)器模塊電性連接。插槽20安裝于主機(jī)板1上時(shí)，多個(gè)引腳21焊接于 主機(jī)板l上的焊點(diǎn)，因此需配合主機(jī)板l上焊點(diǎn)的電路布局方式。在本實(shí)施例中主機(jī)板l 上的電路布局即如圖2所示，為一菊花鏈形(DaisyChain)電路布局，但本實(shí)用新型并不 以此為限。由于菊花鏈形電路布局的方式已經(jīng)為一般電路布局的應(yīng)用上所廣泛使用，故在 此不再贅述其原理。
測試板IO包括電路板11、多個(gè)電性插接端12以及多個(gè)電性導(dǎo)通部13。電路板11為 印刷電路板，用以印刷多個(gè)電性插接端12。多個(gè)電性插接端12即為多個(gè)金手指，當(dāng)測試 板10插入插槽20時(shí)，多個(gè)電性插接端12用以電性連接多個(gè)引腳21。多個(gè)電性導(dǎo)通部13 由多個(gè)片狀金屬板制成，用以印刷或是貼附于電路板ll上。多個(gè)電性導(dǎo)通部13與多個(gè)電 性插接端12兩兩交互連接。多個(gè)電性導(dǎo)通部13與多個(gè)電性插接端12的走線方式配合多 個(gè)引腳21，亦即配合焊接于主機(jī)板l上的電路布局。如此一來，當(dāng)測試板10插入插槽20后，即可與多個(gè)引腳21串接以形成一完整的回路。
舉例而言，以一般的DIMM插槽20為例，其具有240只引腳21。因此電路板11的 單面即具有60個(gè)電性導(dǎo)通部13，以配合120只電性插接端12電性導(dǎo)通120只引腳21。 如此一來，即可藉由雙面的測試板10對(duì)所有的引腳21進(jìn)行測試。亦即以第一只引腳21 作起點(diǎn)輸入測試信號(hào)，而將最后一只引腳21視為終點(diǎn)以判斷是否有測試信號(hào)傳遞。有關(guān) 于測試板IO執(zhí)行測試的方式在后面會(huì)有詳細(xì)的描述。
請(qǐng)參考圖3關(guān)于本實(shí)用新型的測試板與插槽的引腳連接的示意圖。
以圖3所示為例，測試板10上的電性導(dǎo)通部13a連接電性插接端12a及電性插接端 12b;電性導(dǎo)通部13b連接電性插接端12c及電性插接端12d;電性導(dǎo)通部13c連接電性插 接端12e及電性插接端12f。電性插接端12a、 12b、 12c、 12d、 12e以及12f再分別電性連 接引腳21a、 21b、 21c、 21d、 21e以及21f。并且因?yàn)橹鳈C(jī)板1上的電路布局，因此引腳 21b與引腳21c相連，引腳21d再與引腳21e相連。
當(dāng)要進(jìn)行測試時(shí)，測試治具(圖未示)即將測試信號(hào)輸入引腳21a，再在引腳21f處 測試是否接收到測試信號(hào)。若接收到測試信號(hào)，即可確定各組件間電性連接已形成了可導(dǎo) 通的回路。因此多個(gè)引腳21必定焊接正常。
若是其中有任一只引腳21焊接不良，測試信號(hào)就沒辦法順利傳遞。在此情況下，即 可利用電性導(dǎo)通部13再進(jìn)行進(jìn)階測試流程。
測試治具將測試信號(hào)輸入后，再連接其中的一電性導(dǎo)通部13，以判斷測試信號(hào)是否導(dǎo) 通。如此一來，即可精確地得知哪一個(gè)引腳21焊接不良。
舉例而言，假設(shè)引腳21b焊接不良，在引腳21a輸入測試信號(hào)后即無法形成正常導(dǎo)通。 此時(shí)測試治具在電性導(dǎo)通部13a處卻可測得測試信號(hào)，因此即可判斷出是引腳21b有異常 狀況。藉由上述的方法，即可快速地進(jìn)行進(jìn)階測試的流程以正確判斷出插槽20的異常所 在。
綜上所陳，本實(shí)用新型無論就目的、手段及功效，處處均顯示其迥異于公知技術(shù)的特 征，懇請(qǐng)審査員明察，早日賜準(zhǔn)專利，使嘉惠社會(huì)，實(shí)感德便。惟應(yīng)注意的是，上述諸多 實(shí)施例僅是為了便于說明而舉例而已，本實(shí)用新型所要求保護(hù)的權(quán)利范圍自應(yīng)以權(quán)利要求 書范圍所述為準(zhǔn)，而非僅限于上述實(shí)施例。
權(quán)利要求1.一種測試板，其特征在于，所述測試板用以插入一主機(jī)板上的一插槽，以測試所述插槽的多個(gè)引腳，所述多個(gè)引腳配合所述主機(jī)板的電路布局所構(gòu)成，所述測試板包括一電路板；多個(gè)電性插接端，印刷于所述電路板上，用以電性連接所述插槽的所述多個(gè)引腳；以及多個(gè)電性導(dǎo)通部，分別與所述多個(gè)電性插接端互相連接，所述多個(gè)電性導(dǎo)通部的走線用以配合所述主機(jī)板的電路布局，以供測試所述多個(gè)引腳。
2. 如權(quán)利要求1所述的測試板，其特征在于，所述多個(gè)電性導(dǎo)通部的走線是用以配 合所述主機(jī)板的一菊花鏈形電路布局。
3. 如權(quán)利要求1所述的測試板，其特征在于，所述多個(gè)電性插接端為多個(gè)金手指。
4. 如權(quán)利要求1所述的測試板，其特征在于，所述多個(gè)電性導(dǎo)通部為多個(gè)片狀金屬板。
5. 如權(quán)利要求1所述的測試板，其特征在于，所述測試板用以測試的所述插槽為一 雙列直插存儲(chǔ)器模塊插槽。
專利摘要本實(shí)用新型涉及測試板。具體地，所述測試板用以插入主機(jī)板上的插槽，以測試插槽的多個(gè)引腳。多個(gè)引腳配合主機(jī)板的電路布局所構(gòu)成。測試板包括電路板、多個(gè)電性插接端以及多個(gè)電性導(dǎo)通部。多個(gè)電性插接端印刷于電路板上，用以電性連接插槽的多個(gè)引腳。多個(gè)電性導(dǎo)通部分別與多個(gè)電性插接端互相連接。多個(gè)電性導(dǎo)通部的走線用以配合主機(jī)板的電路布局，以供測試多個(gè)引腳。其中測試板插入插槽后，藉由輸入測試信號(hào)以測試是否導(dǎo)通，并進(jìn)一步判斷插槽的多個(gè)引腳是否焊接正常。本實(shí)用新型的測試板不需要使用實(shí)際的存儲(chǔ)器模塊或PCI適配卡，成本低。而且可以輕易判斷出插槽或連接器的哪只引腳有問題，為使用者提供便利。
文檔編號(hào)G01R31/02GK201413379SQ200920145968
公開日2010年2月24日 申請(qǐng)日期2009年3月24日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月24日
發(fā)明者古振樑, 李公正, 李科進(jìn), 黃乾怡 申請(qǐng)人:緯創(chuàng)資通股份有限公司