專利名稱：壓電石英晶體正負(fù)x向識(shí)別裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種壓電石英晶體識(shí)別裝置，具體的說是一種壓電石英晶體正負(fù)X向識(shí)別裝置。
背景技術(shù)：
目前區(qū)分石英晶體用晶片的正負(fù)X面，往往采用的是觀察加工前水晶塊的生長面來確認(rèn)，加工過程中要靠作標(biāo)記來區(qū)分，這給晶片加工帶來了麻煩，特
別是雙轉(zhuǎn)角切型(sc)晶片后期的加工需要明確加工+x或-x面，做標(biāo)記的方法
有很多不便，例如晶片經(jīng)過研磨、清洗等工藝過程后所作的標(biāo)記往往會(huì)被去掉，從而造成正負(fù)方向混亂需要重新區(qū)分，目前對(duì)此進(jìn)行區(qū)分的方法是用國外產(chǎn)的
EFG設(shè)備進(jìn)行檢測，該設(shè)備價(jià)格昴貴且需要晶片表面具備一定的光潔度、潔凈度、厚度、形狀等有較多不便，且效率低。發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的發(fā)明目的在于克服背景技術(shù)之不足而提供一種壓電石英晶體正負(fù)X向識(shí)別裝置。
本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案
一種壓電石英晶體正負(fù)x向識(shí)別裝置，包括底座，壓力手柄，電壓指示表，
上、下電極頭，所述壓力手柄通過軸與底座鉸接，該底座上裝有下電極頭，該壓力手柄上裝有與下電極頭位置相對(duì)應(yīng)的上電極頭，所述電壓指示表通過導(dǎo)線分別與上電極頭和下電極頭連接。
采用上述技術(shù)方案的本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有結(jié)構(gòu)簡單，操作方便的優(yōu)點(diǎn)，可以測量晶片、晶塊且不受表面粗糙度、潔凈度以及外形的影響。


圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖及實(shí)施例詳述本實(shí)用新型
一種壓電石英晶體正負(fù)X向識(shí)別裝置，參見附圖1，由底座l、下電極頭2、
壓力手柄3、上電極頭4、連接支點(diǎn)5、軸6、電壓指示表7、導(dǎo)線8、導(dǎo)線9組成。
壓力手柄3通過軸6與底座1鉸接，底座1上裝有下電極頭2，壓力手柄3上通過連接支點(diǎn)5裝有與下電極頭2位置相對(duì)應(yīng)設(shè)置的上電極頭4，上電極頭4可隨壓力手柄3上、下移動(dòng)；電壓指示表7分別通過導(dǎo)線8和導(dǎo)線9與下電極頭2和上電極頭4連接，將待測石英晶體10置于上電極頭4和下電極頭2之間，使其x向與上電極頭4和下電極頭2位于同一方向上，向下扳動(dòng)壓力手柄3，使待加測石英晶體10與上電極頭4和下電極頭2相接觸，并受一定的力，構(gòu)成一閉合的回路，從電壓指示表7上電壓的正負(fù)即可得知正負(fù)面。
本實(shí)施例具有結(jié)構(gòu)簡單，操作方便的優(yōu)點(diǎn)，可以測量晶片、晶塊且不受表面粗糙度、潔凈度以及外形的影響。
權(quán)利要求1、一種壓電石英晶體正負(fù)X向識(shí)別裝置，包括底座，壓力手柄，電壓指示表，上、下電極頭，其特征在于所述壓力手柄通過軸與底座鉸接，該底座上裝有下電極頭，該壓力手柄上裝有與下電極頭位置相對(duì)應(yīng)的上電極頭，所述電壓指示表通過導(dǎo)線分別與上電極頭和下電極頭連接。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種壓電石英晶體識(shí)別裝置，具體的說是一種壓電石英晶體正負(fù)X向識(shí)別裝置。它包括底座，壓力手柄，電壓指示表，上、下電極頭，所述壓力手柄通過軸與底座鉸接，該底座上裝有下電極頭，該壓力手柄上裝有與下電極頭位置相對(duì)應(yīng)的上電極頭，所述電壓指示表通過導(dǎo)線分別與上電極頭和下電極頭連接。本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有結(jié)構(gòu)簡單，操作方便的優(yōu)點(diǎn)，可以測量晶片、晶塊且不受表面粗糙度、潔凈度以及形的影響。
文檔編號(hào)G01R19/155GK201355375SQ20092014466
公開日2009年12月2日 申請(qǐng)日期2009年2月26日 優(yōu)先權(quán)日2009年2月26日
發(fā)明者淼 張, 張建民, 張立強(qiáng), 王子偉, 鄭玉南 申請(qǐng)人:唐山晶源裕豐電子股份有限公司