專利名稱：陣列型連接器測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種連接器測試裝置，特別是一種陣列型連接器測試裝置。
背景技術(shù)：
陣列型連接器為刀片式服務(wù)器常用的表面連接設(shè)備的連接器，其特點是針腳數(shù)量 多、封裝精密、體積大，因而給測試帶來了較大的困難。特別是在對連接器針腳焊點的開路 以及短路測試時，傳統(tǒng)的ICT (In Current Test)測試和飛針測試由于容易造成連接器針腳 的損壞，因而無法對陣列型連接器進行測試，業(yè)界暫時沒有這類連接器的測試設(shè)備。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種陣列型連接器測試裝置。一種陣列型連接器測試裝置，用于對一待測主板上的至少一陣列型連接器進行測 試，包括一數(shù)據(jù)采集電路、一主控電路、一存儲單元及一顯示單元，所述數(shù)據(jù)采集電路采集 待測主板上的陣列型連接器的針腳信息，并將采集到的針腳信息傳送給所述主控電路，所 述存儲單元和主控電路電性相連，其中儲存有正常的陣列型連接器的針腳信息，所述主控 電路將采集到的針腳信息與存儲單元中正常的針腳信息進行比較，并將比較結(jié)果顯示在所 述顯示單元上提示待測主板上的陣列型連接器的針腳是否正常。相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明陣列型連接器測試裝置通過所述主控電路控制數(shù)據(jù)采集 電路對所述陣列型連接器的各個針腳進行測試，避免了傳統(tǒng)測試治具對連接器針腳的損 壞。


圖1是本發(fā)明較佳實施方式陣列型連接器測試裝置的組成框圖，所述陣列型連接 器測試裝置包括一待測主板、一數(shù)據(jù)采集電路、一主控電路、一存儲單元、一開關(guān)單元及一 顯示單元。圖2是圖1中數(shù)據(jù)采集電路的電路圖。圖3是圖1中主控電路、存儲單元、開關(guān)單元及顯示單元電性連接的電路圖。
具體實施例方式請參閱圖1，本發(fā)明陣列型連接器測試裝置較佳實施方式包括一待測主板100、一 數(shù)據(jù)采集電路200、一主控電路300、一存儲單元400、一開關(guān)單元500及一顯示單元600。所 述數(shù)據(jù)采集電路200采集待測主板100上的陣列型連接器的針腳信息，并將采集到的針腳 信息傳送給所述主控電路300。所述存儲單元400和主控電路300電性相連，其中儲存有正 常的陣列型連接器的針腳信息。所述主控電路300將采集到的針腳信息與存儲單元400中 正常的針腳信息進行比較，并將比較結(jié)果顯示在所述顯示單元600上提示待測主板上的陣 列型連接器的針腳是否正常。所述開關(guān)單元500與主控電路300電性相連，用于向所述主控電路300輸入密碼并將正常的陣列型連接器的針腳信息儲存到存儲單元400內(nèi)。請參閱圖2，所述數(shù)據(jù)采集電路200包括一復雜可編程邏輯器件U1、一數(shù)據(jù)傳輸連接器jl、一 25M晶振J2、若干N溝道場效應(yīng)管Q0、Ql Qn及若干電阻。所述復雜可編 程邏輯器件Ul包括若干數(shù)據(jù)采集引腳Al An、Bl Bru—數(shù)據(jù)發(fā)送引腳Cl、若干時鐘引 腳C2、CLKO CLK3、若干程序燒入引腳TDO、TD1、TMS、TCK、控制引腳D1、D2、若干電源引腳 VCCl VCCn及若干接地引腳GNDl GNDn。所述若干數(shù)據(jù)采集引腳Al An分別經(jīng)由若 干電阻連接一 3. 3V電源，所述若干數(shù)據(jù)采集引腳Bl Bn分別經(jīng)由若干電阻接地。所述數(shù) 據(jù)傳輸連接器Jl包括一數(shù)據(jù)端DATA及一時鐘端CLK，所述數(shù)據(jù)發(fā)送引腳Cl和時鐘引腳C2 分別連接數(shù)據(jù)端DATA及時鐘端CLK。所述數(shù)據(jù)采集引腳Al An、Bl Bn分別用以電性 連接待測主板100上的陣列型連接器針腳并采集針腳信息，所述復雜可編程邏輯器件Ul對 采集到的針腳信息進行處理后由數(shù)據(jù)發(fā)送引腳Cl輸出。所述晶振J2包括一振蕩信號輸出 端OUT，所述時鐘引腳CLKO CLK3連接振蕩信號輸出端OUT。所述控制引腳D1、D2分別連 接場效應(yīng)管QO的柵極和源極，所述場效應(yīng)管QO的漏極連接所述3. 3V電源。所述若干數(shù)據(jù) 采集引腳Bl Bn還分別連接相應(yīng)的場效應(yīng)管Ql Qn的源極，所述場效應(yīng)管Ql Qn的 柵極和漏極連接所述3. 3V電源。所述復雜可編程邏輯器件Ul通過控制場效應(yīng)管Q0、Q1 Qn的導通和截止對與所述陣列型連接器針腳相連接的電子元件充電和放電，從而獲得連接 器針腳的焊點信息。所述若干電源引腳VCCl VCCn連接所述3. 3V電源，所述若干接地引 腳GNDl GNDn接地。請參閱圖3，所述主控電路300包括一微控制器U2及一功率場效應(yīng)管Q10。所述 微控制器U2包括若干數(shù)據(jù)輸入引腳H1、H2、F0 Fru控制引腳G1、G4、一數(shù)據(jù)接收引腳G2、 一時鐘引腳G3、振蕩信號輸入端OSCl、振蕩信號輸出端0SC2及若干數(shù)據(jù)輸出引腳El En。 所述功率場效應(yīng)管QlO包括一柵極G、若干源極Sl S3及若干漏極Dl D4。所述控制引 腳Gl連接功率場效應(yīng)管QlO的柵極G和源極Sl S3。所述數(shù)據(jù)接收引腳G2和時鐘引腳 G3連接連接功率場效應(yīng)管QlO的若干漏極Dl D4。所述微控制器U2通過控制功率場效 應(yīng)管QlO的導通和截止對復雜可編程邏輯器件Ul放電和上電，避免在所述復雜可編程邏輯 器件Ul在和陣列型連接器的針腳熱插拔過程中燒壞復雜可編程邏輯器件Ul。所述振蕩信 號輸入端OSCl和振蕩信號輸出端0SC2經(jīng)由一 12M晶振J4接地。所述數(shù)據(jù)接收引腳G2和 時鐘引腳G3還分別連接數(shù)據(jù)傳輸連接器Jl的數(shù)據(jù)端DATA和時鐘端CLK。所述存儲單元400包括一電可擦可編程只讀存儲器U3及一跳帽J3。所述電可擦 可編程只讀存儲器U3包括一串行時鐘引腳SCL、一串行數(shù)據(jù)引腳SDA及一寫保護引腳WP。 所述數(shù)據(jù)輸入引腳HI、H2分別連接串行時鐘引腳SCL和串行數(shù)據(jù)引腳SDA，所述寫保護引 腳WP經(jīng)由所述跳帽J3接地。所述電可擦可編程只讀存儲器U3中儲存有正常的陣列型連 接器的針腳信息，當斷開所述跳帽J3時可對電可擦可編程只讀存儲器U3進行寫入信息的 操作，而當短接所述跳帽J3時可對電可擦可編程只讀存儲器U3進行擦除信息的操作。所述開關(guān)單元500包括若干開關(guān)SO Sn，所述微控制器U2的數(shù)據(jù)輸入引腳FO Fn分別連接若干開關(guān)SO Sn。所述開關(guān)單元500用于向主控電路300輸入密碼并將正常 的陣列型連接器的針腳信息儲存到所述存儲單元400內(nèi)。其中開關(guān)SO為復位開關(guān)，用于復 位開關(guān)單元500的密碼。所述顯示單元600包括一液晶顯示面板J5及一場效應(yīng)管Q20。所述液晶顯示面板J5包括若干數(shù)據(jù)總線引腳DBl DBn及一背光控制引腳LEDK，所述數(shù)據(jù)輸出引腳El En 分別連接若干數(shù)據(jù)總線引腳DBl DBn，所述控制引腳G4經(jīng)由所述場效應(yīng)管Q20連接背光 控制引腳LEDK。所述顯示單元600接收來自主控電路300的比較結(jié)果，并將比較結(jié)果顯示 在液晶顯示面板J5上提示待測主板100上的陣列型連接器的針腳是否正常。其中控制引 腳G4通過所述場效應(yīng)管Q20控制顯示單元600的背光顯示。測試時，按照圖1 3所示將待測主板接入本發(fā)明陣列型連接器測試裝置 ，所述復 雜可編程邏輯器件Ul的數(shù)據(jù)采集引腳Al An、Bl Bn分別采集待測主板100上的陣列 型連接器針腳信息，所述復雜可編程邏輯器件Ul對采集到的針腳信息進行處理后由數(shù)據(jù) 發(fā)送引腳Cl經(jīng)由微控制器U2的數(shù)據(jù)接收引腳G2發(fā)送給所述微控制器U2。所述微控制器 U2將接收到的針腳信息與儲存在存儲單元400中正常的針腳信息進行比較，并將比較結(jié)果 顯示在所述顯示單元600上提示待測主板上的陣列型連接器的針腳是否正常。本發(fā)明陣列型連接器測試裝置不限于對單一的陣列型連接器進行測試，還可通過 主控電路300連接多個數(shù)據(jù)采集電路200同時對多個陣列型連接器進行測試，此時主控電 路300對不同數(shù)據(jù)采集電路200采集到的針腳信息與存儲單元400中正常的針腳信息進行 比較，并將比較結(jié)果和不同數(shù)據(jù)采集電路200的身份標識碼發(fā)送給顯示單元600，所述顯示 單元600根據(jù)比較結(jié)果顯示不同陣列型連接器的針腳是否正常。
權(quán)利要求
一種陣列型連接器測試裝置，用于對一待測主板上的至少一陣列型連接器進行測試，包括一數(shù)據(jù)采集電路、一主控電路、一存儲單元及一顯示單元，所述數(shù)據(jù)采集電路采集待測主板上的陣列型連接器的針腳信息，并將采集到的針腳信息傳送給所述主控電路，所述存儲單元和主控電路電性相連，其中儲存有正常的陣列型連接器的針腳信息，所述主控電路將采集到的針腳信息與存儲單元中正常的針腳信息進行比較，并將比較結(jié)果顯示在所述顯示單元上提示待測主板上的陣列型連接器的針腳是否正常。
2.如權(quán)利要求1所述的陣列型連接器測試裝置，其特征在于所述數(shù)據(jù)采集電路包括 一復雜可編程邏輯器件，所述復雜可編程邏輯器件包括若干數(shù)據(jù)采集引腳、一數(shù)據(jù)發(fā)送引 腳及至少一時鐘引腳，所述數(shù)據(jù)采集引腳分別用以電性連接待測主板上的陣列型連接器針 腳并采集針腳信息，所述復雜可編程邏輯器件對采集到的針腳信息進行處理后由數(shù)據(jù)發(fā)送 引腳輸出。
3.如權(quán)利要求2所述的陣列型連接器測試裝置，其特征在于所述主控電路包括一微 控制器，所述微控制器包括一數(shù)據(jù)接收引腳及一時鐘引腳，所述微控制器的數(shù)據(jù)接收引腳 和時鐘引腳分別連接復雜可編程邏輯器的數(shù)據(jù)發(fā)送引腳和時鐘引腳。
4.如權(quán)利要求1所述的陣列型連接器測試裝置，其特征在于所述微控制器還包括一 第一數(shù)據(jù)輸入引腳及一第二數(shù)據(jù)輸入引腳，所述存儲單元包括一電可擦可編程只讀存儲 器，所述電可擦可編程只讀存儲器包括一串行時鐘引腳、一串行數(shù)據(jù)引腳及一寫保護引腳， 所述第一數(shù)據(jù)輸入引腳和第二數(shù)據(jù)輸入引腳分別連接串行時鐘引腳和串行數(shù)據(jù)引腳，所述 寫保護引腳經(jīng)由一跳帽接地。
5.如權(quán)利要求2所述的陣列型連接器測試裝置，其特征在于所述微控制器還包括若 干數(shù)據(jù)輸出引腳及一第一控制引腳，所述顯示單元包括一液晶顯示面板，所述液晶顯示面 板包括若干數(shù)據(jù)總線引腳及一背光控制引腳，所述若干數(shù)據(jù)輸出引腳分別連接若干數(shù)據(jù)總 線引腳，所述第一控制引腳經(jīng)由一場效應(yīng)管連接背光控制引腳。
6.如權(quán)利要求4所述的陣列型連接器測試裝置，其特征在于所述陣列型連接器測試 裝置還包括一開關(guān)單元，所述開關(guān)單元與主控電路電性相連，用于向主控電路輸入密碼并 將正常的陣列型連接器的針腳信息儲存到存儲單元內(nèi)。
7.如權(quán)利要求6所述的陣列型連接器測試裝置，其特征在于所述微控制器還包括若 干第三數(shù)據(jù)輸入引腳，所述開關(guān)單元包括若干開關(guān)，所述若干第三數(shù)據(jù)輸入引腳分別連接 若干開關(guān)。
8.如權(quán)利要求5所述的陣列型連接器測試裝置，其特征在于所述主控電路還包括一 用于控制復雜可編程邏輯器件上電和放電的功率場效應(yīng)管。
9.如權(quán)利要求8所述的陣列型連接器測試裝置，其特征在于所述微控制器還包括一 第二控制引腳，所述微控制器的數(shù)據(jù)接收引腳和時鐘引腳連接連接功率場效應(yīng)管的漏極， 所述第二控制引腳連接功率場效應(yīng)管的柵極和源極。
全文摘要
一種陣列型連接器測試裝置，用于對一待測主板上的至少一陣列型連接器進行測試，包括一數(shù)據(jù)采集電路、一主控電路、一存儲單元及一顯示單元，所述數(shù)據(jù)采集電路采集待測主板上的陣列型連接器的針腳信息，并將采集到的針腳信息傳送給所述主控電路，所述存儲單元和主控電路電性相連，其中儲存有正常的陣列型連接器的針腳信息，所述主控電路將采集到的針腳信息與存儲單元中正常的針腳信息進行比較，并將比較結(jié)果顯示在所述顯示單元上提示待測主板上的陣列型連接器的針腳是否正常。
文檔編號G01R31/04GK101937046SQ200910303860
公開日2011年1月5日 申請日期2009年6月30日 優(yōu)先權(quán)日2009年6月30日
發(fā)明者陳仰新 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司