專利名稱：精密冷鏡式露點儀的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種露點儀，尤其是一種精密冷鏡式露點儀。
背景技術：
露點儀，是一種測量氣體中水份含量的儀器。目前國際上的精密露點儀主要采用 光電檢測且熱電制冷的鏡面冷凝式露點儀。然而，由于過冷水的產(chǎn)生、相界面的開爾文效 應、鏡面雜質(zhì)等因素影響了露點儀測量的精度，阻礙了露點儀技術的發(fā)展。如何有效的減少 這些不良效應的影響，獲得精度較高的露點儀，是目前亟待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種精密冷鏡式露點儀，對冷鏡式露點儀結構進行改進，極 大提高儀器的測量精度。鑒于以上目的，本發(fā)明提供一種精密冷鏡式露點儀，包括溫度探頭、采樣系統(tǒng)、散 熱系統(tǒng)，所述的溫度探頭是雙光路系統(tǒng)的傳感器探頭，該探頭包括聚光鏡和分光鏡，聚光鏡 聚焦入射光，放射光以及散射光，不浪費光線，保證高靈敏度感應器的光接受量，顯著提高 測量的敏感度，分光鏡對入射光進行溫度補償，即使環(huán)境溫度不同，也能保證入射光強度恒 定，進而保證測量的精度。為了避免過冷水產(chǎn)生對精度的影響，所述的傳感器探頭還包括顯微鏡，用于對水 層的產(chǎn)生消失進行觀察，在適當?shù)臅r候采取必要措施。由于采用了具有溫度補償性質(zhì)的傳感器探頭，使得在各種不同的環(huán)境溫度下，也 能保證露點儀測量的精度。


圖1為本發(fā)明所述精密冷鏡式露點儀的結構示意圖。
具體實施例方式如圖1本發(fā)明所述精密冷鏡式露點儀的結構示意圖。該精密冷鏡式露點儀包括溫 度探頭、采樣系統(tǒng)、散熱系統(tǒng)和便攜箱，所述的溫度探頭是采用雙光路系統(tǒng)的傳感器探頭， 該探頭還包括聚光鏡和分光鏡，聚光鏡聚焦入射光，放射光以及散射光，不浪費光線，保證 高靈敏度感應器的光接受量，顯著提高測量的敏感度，分光鏡的設計對入射光進行溫度補 償，即使環(huán)境溫度不同，也能保證入射光強度恒定，進而保證測量的精度。所述的傳感器探頭還包括顯微鏡，用于對水層的產(chǎn)生消失進行觀察，在適當?shù)臅r 候采取必要措施，避免過冷水產(chǎn)生對精度的影響。因在低溫測量時，由于冰的結晶過程比較 慢，往往達到霜點溫度時霜層還未出現(xiàn)。當溫度繼續(xù)降低時，水開始結露，在過冷水狀態(tài)下 很快形成露層，但此時的蒸汽壓不是冰的飽和蒸汽壓而是過冷水的飽和蒸汽壓。當露點儀 鏡面溫度低于零攝氏度而鏡面上凝結的是露而不是霜時，雖然此時實測到的是露點溫度，但露點儀仍把它當做霜點溫度來處理，這時測得的濕度值不正確。因此，可對鏡面進行反復 加熱和冷卻，當鏡面逐漸升溫時，水層會逐漸蒸發(fā)，在傳感器上加裝顯微鏡，可判斷此過程， 以采取必要的措施。 本發(fā)明的精密冷鏡式露點儀由于采用了具有溫度補償性質(zhì)的傳感器探頭，具有較 高的測量精度。以上實施例僅是對于本發(fā)明技術方案的舉例說明，而非用于限制本發(fā)明。因 此，本發(fā)明的權利保護范圍，應如權利要求書所列。
權利要求
1.一種精密冷鏡式露點儀，包括溫度探頭、采樣系統(tǒng)、散熱系統(tǒng)，其特征在于所述的 溫度探頭是雙光路系統(tǒng)的傳感器探頭，該探頭包括聚光鏡和分光鏡，聚光鏡聚焦入射光、放 射光以及散射光，分光鏡對入射光進行溫度補償。
2.根據(jù)權利要求1所述的精密冷鏡式露點儀，其特征在于所述的傳感器探頭還包括 顯微鏡。
全文摘要
本發(fā)明提供一種精密冷鏡式露點儀，包括溫度探頭、采樣系統(tǒng)、散熱系統(tǒng)，所述的溫度探頭是雙光路系統(tǒng)的傳感器探頭，該探頭包括聚光鏡和分光鏡，聚光鏡聚焦入射光，放射光以及散射光，分光鏡對入射光進行溫度補償。由于采用了具有溫度補償性質(zhì)的傳感器探頭，使得在各種不同的環(huán)境溫度下，也能保證露點儀測量的精度。
文檔編號G01N25/66GK102095753SQ20091020028
公開日2011年6月15日 申請日期2009年12月10日 優(yōu)先權日2009年12月10日
發(fā)明者吳偉, 楊文舉 申請人:上海莫克電子技術有限公司