專利名稱：液晶面板測(cè)試模組及液晶面板失效模式分析方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種液晶面板測(cè)試模組，特別是有關(guān)于一種液 晶面板測(cè)試模組及一種液晶面板失效模式分析方法。
背景技術(shù)：
液晶面板是現(xiàn)在顯示科技的主流。液晶面板制造工藝中，在玻 璃基板上完成像素陣列的制造后，須先對(duì)像素陣列進(jìn)行測(cè)試。像素
陣列的測(cè)試通過激光切割測(cè)試電路(Laser cut test circuit)或是柵 極柵極薄膜晶體管測(cè)試電路(GG TFT test circuit)的結(jié)構(gòu)來進(jìn)行測(cè) 試。
待像素陣列測(cè)試結(jié)束，液晶面板將運(yùn)送至模組廠進(jìn)行液晶面板 模組的組裝，液晶面板模組的組裝須先將驅(qū)動(dòng)晶片鍵合(bonding) 于玻璃基板的接墊上，以驅(qū)動(dòng)像素陣列來達(dá)到顯示的功效。在完成 驅(qū)動(dòng)晶片的鍵合之后，液晶面板的顯示需進(jìn)行進(jìn)一步的測(cè)試以確認(rèn) 液晶面板處于一良好的狀態(tài)。
在此測(cè)試中，若發(fā)現(xiàn)液晶面板的顯示出現(xiàn)異常時(shí)，會(huì)面臨一個(gè) 棘手的問題，那就是液晶面板顯示的異常是起因于液晶面板像素陣 列的不良？驅(qū)動(dòng)晶片本身的不良？亦或是驅(qū)動(dòng)晶片鍵合的不良？ 此時(shí)，必須導(dǎo)入一復(fù)雜的測(cè)試來確認(rèn)導(dǎo)致液晶面板的顯示出現(xiàn)異常 的原因。對(duì)具有激光切割測(cè)試電路的液晶面板來說，由于測(cè)試電路 已經(jīng)被激光切割而與像素陣列斷開，因此只能通過更換晶片進(jìn)行檢 測(cè)，如此的檢測(cè)方式將只能判斷是否像素陣列因?yàn)殒I合過程受損而 影響整體面板，卻無法判斷驅(qū)動(dòng)晶片或是驅(qū)動(dòng)晶片與像素陣列間的鍵合是否有問題。另一方面，對(duì)具有柵極柵極薄膜晶體管測(cè)試電路 的液晶面板來說，雖然可以經(jīng)由柵極柵極薄膜晶體管測(cè)試電路確定 是像素陣列，亦或是驅(qū)動(dòng)晶片及驅(qū)動(dòng)晶片與像素陣列間的鍵合的問
題，但仍須再更換晶片來確定究竟是驅(qū)動(dòng)晶片及驅(qū)動(dòng)晶片亦或是像 素陣列間的鍵合的問題，較冗長的步驟為液晶面板測(cè)試的時(shí)間成本 帶來不小的負(fù)擔(dān)。
因此，如何設(shè)計(jì)一個(gè)新的液晶面板測(cè)試模組及液晶面板失效模 式分析方法，以快速而準(zhǔn)確地在液晶面板產(chǎn)生異常時(shí)，找出確切的 原因以除錯(cuò)，是業(yè)界亟待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明提供了一種液晶面板測(cè)試模組，其中液晶面板 測(cè)試模組包含驅(qū)動(dòng)電路、測(cè)試電路以及若干個(gè)開關(guān)。其中驅(qū)動(dòng) 電路包含若干個(gè)信號(hào)輸入線及若干個(gè)信號(hào)輸出線，信號(hào)輸出線 包含第一信號(hào)輸出線群組、第二信號(hào)輸出線群組和第三信號(hào)輸出 線群組；測(cè)試電路包含第一測(cè)試信號(hào)線、第二測(cè)試信號(hào)線和第三 測(cè)試信號(hào)線，分別與第一信號(hào)輸出線群組、第二信號(hào)輸出線群組 和第三信號(hào)輸出線群組電連接；以及若干個(gè)開關(guān)分別位于第一測(cè) 試信號(hào)線、第二測(cè)試信號(hào)線和第三測(cè)試信號(hào)線與每一信號(hào)輸出線 之間。
本發(fā)明的另一 目的在于提供一種液晶面板失效模式分析方 法，用于具有激光切割測(cè)試電路的液晶面板，液晶面板失效模式 分析方法至少包含提供驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片，電連接于液晶顯示面板 之上，驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片包含驅(qū)動(dòng)電路、測(cè)試電路以及若干個(gè)開關(guān)。 其中驅(qū)動(dòng)電路包含若干個(gè)信號(hào)輸入線以及若干個(gè)信號(hào)輸出線； 測(cè)試電路與信號(hào)輸出線電連接；以及若干個(gè)開關(guān)分別位于測(cè)試電路與每一信號(hào)輸出線之間；自信號(hào)輸入線輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)液晶 顯示面板有不良現(xiàn)象時(shí)，開啟開關(guān)；自測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)， 當(dāng)液晶顯示面板無不良現(xiàn)象，則不良現(xiàn)象由驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片所致， 當(dāng)液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象，返工驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與液晶顯示面 板的電連接；以及再自測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)液晶顯示面板 仍有不良現(xiàn)象，則不良現(xiàn)象由液晶顯示面板的電路不良所致。
本發(fā)明的又 一 目的在于提供 一 種液晶面板失效模式分析方 法，用于具有激光切割測(cè)試電路的液晶面板，液晶面板失效模式 分析方法至少包含提供驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片，電連接于液晶顯示面板 之上，驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片包含驅(qū)動(dòng)電路、測(cè)試電路以及若干個(gè)開關(guān)。 其中驅(qū)動(dòng)電路包含若干個(gè)信號(hào)輸入線以及若干個(gè)信號(hào)輸出線； 測(cè)試電路與信號(hào)輸出線電連接；以及若干個(gè)開關(guān)分別位于測(cè)試電 路與每一信號(hào)輸出線之間；自信號(hào)輸入線輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)液晶 顯示面板有不良現(xiàn)象時(shí)，自測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)以開啟開關(guān)， 3液晶顯示面板無不良現(xiàn)象，則不良現(xiàn)象由驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片所致， 當(dāng)液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象，返工驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與液晶顯示面 板的電連接；以及再自測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)液晶顯示面板 仍有不良現(xiàn)象，則不良現(xiàn)象由液晶顯示面板的電路不良所致。
本發(fā)明的再一 目的在于提供一種液晶面板失效模式分析方 法，用于具有柵極柵極薄膜晶體管測(cè)試電路的液晶面板，液晶面 板失效模式分析方法至少包含提供驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片，電連接于液 晶顯示面板之上，驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片包含驅(qū)動(dòng)電路、測(cè)試電路以及 若干個(gè)開關(guān)。其中驅(qū)動(dòng)電路包含若干個(gè)信號(hào)輸入線以及若干個(gè) 信號(hào)輸出線；測(cè)試電路與信號(hào)輸出線電連接；以及若干個(gè)開關(guān)分 別位于測(cè)試電路與每一信號(hào)輸出線之間；自信號(hào)輸入線輸入測(cè)試 信號(hào)，當(dāng)液晶顯示面板有不良現(xiàn)象時(shí)，開啟開關(guān)；以及自測(cè)試電 路輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)液晶顯示面板無不良現(xiàn)象，則不良現(xiàn)象由驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片所致，當(dāng)液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象，自柵極柵極薄 膜晶體管測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象， 則不良現(xiàn)象由液晶顯示面板的電路不良所致。
本發(fā)明的更進(jìn)一步的目的在于提供一種液晶面板失效模式分 析方法，用于具有柵極柵極薄膜晶體管測(cè)試電路的液晶面板，液 晶面板失效模式分析方法至少包含提供驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片，電連接 于液晶顯示面板之上，驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片包含驅(qū)動(dòng)電路、測(cè)試電路 以及若干個(gè)開關(guān)。其中驅(qū)動(dòng)電路包含若干個(gè)信號(hào)輸入線以及若 干個(gè)信號(hào)輸出線；測(cè)試電路與信號(hào)輸出線電連接；以及若干個(gè)開 關(guān)分別位于測(cè)試電路與每一信號(hào)輸出線之間；自信號(hào)輸入線輸入 測(cè)試信號(hào)，當(dāng)液晶顯示面板有不良現(xiàn)象時(shí)自測(cè)試電路輸入測(cè)試信 號(hào)以開啟開關(guān)，當(dāng)液晶顯示面板無不良現(xiàn)象，則不良現(xiàn)象由驅(qū)動(dòng) 測(cè)試晶片所致；以及當(dāng)液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象，自柵極柵極 薄膜晶體管測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)
象，則不良現(xiàn)象由液晶顯示面板的電路不良所致。
應(yīng)用本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于通過液晶面板測(cè)試模組的設(shè)計(jì)，可以
迅速地對(duì)液晶面板的失效模式進(jìn)行分析以進(jìn)行除錯(cuò)，更可提供驅(qū) 動(dòng)電路對(duì)靜電的保護(hù)效果，而輕易地達(dá)到上述目的。
為讓本發(fā)明內(nèi)容能更明顯易懂，下文特舉較佳實(shí)施例，并配 合附圖作詳細(xì)說明如下


圖1為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中液晶面板測(cè)試模組的示意圖； 圖2為本發(fā)明另一實(shí)施例中液晶面板測(cè)試模組的示意圖； 圖3為本發(fā)明的又一實(shí)施例中液晶面板失效模式分析方法的 流程圖4為本發(fā)明的再一實(shí)施例中液晶面板失效模式分析方法的流程圖5為本發(fā)明的一實(shí)施例中液晶面板測(cè)試模組的示意圖； 圖6為本發(fā)明的另一實(shí)施例中液晶面板測(cè)試模組的示意圖； 圖7為本發(fā)明的又一實(shí)施例中液晶面板失效模式分析方法的 流程圖；以及
圖8為本發(fā)明的再一實(shí)施例中液晶面板失效模式分析方法的
流程圖。
圖中涉及的附圖標(biāo)記和組成部分如下所示
1、 r:液晶面板測(cè)試模組 100:信號(hào)輸入線 104:管腳
120:第一測(cè)試信號(hào)線
124:第三測(cè)試信號(hào)線
14:開關(guān)
18:玻璃基板
50:驅(qū)動(dòng)電路
502:信號(hào)輸出線
52:測(cè)試電路
522:第二測(cè)試信號(hào)線
54:開關(guān)
58:玻璃基板
10:驅(qū)動(dòng)電路
102:信號(hào)輸出線
12:測(cè)試電路
122:第二測(cè)試信號(hào)線
126:啟動(dòng)信號(hào)線
16:晶片
5、 5':液晶面板測(cè)試模組 500:信號(hào)輸入線 504:管腳
520:第一測(cè)試信號(hào)線 524:第三測(cè)試信號(hào)線 56:晶片
具體實(shí)施例方式
以下結(jié)合附圖，具體說明本發(fā)明的實(shí)施方式。
圖1為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中液晶面板測(cè)試模組的示意圖。請(qǐng)參見圖1，液晶面板測(cè)試模組1包含驅(qū)動(dòng)電路10、測(cè)試電路12 以及若干個(gè)開關(guān)14。驅(qū)動(dòng)電路10包含若干個(gè)信號(hào)輸入線100 以及若干個(gè)信號(hào)輸出線102。測(cè)試電路12包含第一測(cè)試信號(hào)線 120、第二測(cè)試信號(hào)線122和第三測(cè)試信號(hào)線124。信號(hào)輸出線102 實(shí)質(zhì)上包含第一信號(hào)輸出線群組、第二信號(hào)輸出線群組和第三信 號(hào)輸出線群組，于圖1中屬于第一信號(hào)輸出線群組的信號(hào)輸出線 102以實(shí)線表示，屬于第二信號(hào)輸出線群組的信號(hào)輸出線102以 一線段及二點(diǎn)組成的虛線表示，而屬于第三信號(hào)輸出線群組的信 號(hào)輸出線102以虛線表示。
請(qǐng)繼續(xù)參照?qǐng)D1，測(cè)試電路12的第一測(cè)試信號(hào)線120與第一 信號(hào)輸出線群組電連接，第二測(cè)試信號(hào)線122與第二信號(hào)輸出線 群組電連接，第三測(cè)試信號(hào)線124與第三信號(hào)輸出線群組電連接。 其中，信號(hào)輸入線IOO接收顯示資料，以通過驅(qū)動(dòng)電路IO處理后 進(jìn)一步經(jīng)由信號(hào)輸出線102輸出至像素陣列(未圖示)。而若干個(gè) 開關(guān)14分別位于第一測(cè)試信號(hào)線120、第二測(cè)試信號(hào)線122和第 三測(cè)試信號(hào)線124與第一信號(hào)輸出線群組、第二信號(hào)輸出線群組 和第三信號(hào)輸出線群組的每一信號(hào)輸出線102之間。于本實(shí)施例 中，開關(guān)14為薄膜晶體管。
測(cè)試電路12實(shí)質(zhì)上更包含啟動(dòng)信號(hào)線126，連接每一薄膜晶 體管的柵極。于本實(shí)施例中，驅(qū)動(dòng)電路10、測(cè)試電路12和開關(guān) 14均集成于一晶片16上，而像素陣列形成于玻璃基板(未圖示) 上。各信號(hào)輸入線100、信號(hào)輸出線102、啟動(dòng)信號(hào)線126、第一 測(cè)試信號(hào)線120、第二測(cè)試信號(hào)線122和第三測(cè)試信號(hào)線124實(shí) 質(zhì)上各包含一管腳(bump) 104，以通過管腳104與玻璃基板上 的焊墊(未圖示)電連接。
圖2為本發(fā)明的另一實(shí)施例所示的液晶面板測(cè)試模組1'的 示意圖。如圖2所示，于本實(shí)施例中，僅有驅(qū)動(dòng)電路IO集成于晶片16上，而測(cè)試電路12和開關(guān)14位于玻璃基板18上。
圖3為本發(fā)明的又一實(shí)施例所示的液晶面板失效模式分析方 法的流程圖。本實(shí)施例的液晶面板失效模式分析方法用于具有如 圖1所示的液晶面板測(cè)試模組1或是圖2所示的液晶面板測(cè)試模 組T的液晶面板。其中，本實(shí)施例的液晶面板更具有一激光切 割測(cè)試電路(圖1及圖2中未圖示)。
請(qǐng)參照?qǐng)D3，本實(shí)施例的液晶面板失效模式分析方法包含下 列步驟于步驟301，提供一驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片，電連接于一液晶顯 示面板之上。其中驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片實(shí)質(zhì)上即為圖1或圖2所示的液 晶面板測(cè)試模組1或l'。接著于步驟302，自信號(hào)輸入線100輸 入測(cè)試信號(hào)，檢測(cè)液晶顯示面板是否有不良現(xiàn)象。當(dāng)液晶顯示面 板未有不良現(xiàn)象時(shí)，則進(jìn)行步驟303，液晶顯示面板通過測(cè)試。 而當(dāng)液晶顯示面板有不良現(xiàn)象時(shí)，原因通常有三個(gè)，第一為驅(qū)動(dòng) 測(cè)試晶片本身的問題造成液晶顯示面板有不良現(xiàn)象，第二為驅(qū)動(dòng) 測(cè)試晶片與玻璃基板的鍵合有問題而造成液晶顯示面板有不良現(xiàn) 象，第三則為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃基板的鍵合時(shí)對(duì)液晶顯示面板 的電路(即包含像素陣列的電路)造成損壞而使液晶顯示面板有 不良現(xiàn)象。因此，本實(shí)施例的液晶面板失效模式分析方法用以分 析出造成不良現(xiàn)象的原因。
接著，進(jìn)行步驟304，通過啟動(dòng)信號(hào)線126輸入啟動(dòng)信號(hào)以 開啟開關(guān)14。接著于步驟305,自測(cè)試電路12輸入測(cè)試信號(hào)，檢 測(cè)液晶顯示面板是否有不良現(xiàn)象。須注意的是，第一測(cè)試信號(hào)線 120、第二測(cè)試信號(hào)線122和第三測(cè)試信號(hào)線124于本實(shí)施例中分 別輸入紅、綠及藍(lán)色測(cè)試信號(hào)，以分別進(jìn)入信號(hào)輸出線中的第一 信號(hào)輸出線群組、第二信號(hào)輸出線群組和第三信號(hào)輸出線群組， 再進(jìn)一歩輸入于像素陣列以進(jìn)行測(cè)試。
步驟305中的測(cè)試信號(hào)由于不是經(jīng)由驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片的驅(qū)動(dòng)電路IO而進(jìn)入像素陣列中，因此當(dāng)液晶顯示面板無不良現(xiàn)象時(shí)，則
可進(jìn)入步驟306，直接判斷不良現(xiàn)象由驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片所致。而當(dāng)
液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象，尚須厘清造成液晶顯示面板顯示不
良現(xiàn)象的原因?yàn)轵?qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃基板的鍵合之問題亦或是像 素陣列有損壞而造成的問題。
為能厘清當(dāng)液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象時(shí)究竟為驅(qū)動(dòng)測(cè)試 晶片與玻璃基板的鍵合之問題所致，亦或是像素陣列之損壞所致，
在步驟305之后，進(jìn)入步驟307，返工驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與液晶顯示 面板的電連接。
在完成驅(qū)動(dòng)晶片的返工之后，進(jìn)行步驟308，再自測(cè)試電路 輸入測(cè)試信號(hào)。此時(shí)，驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃基板間的鍵合已經(jīng)重 新設(shè)置，因此當(dāng)液晶顯示面板未有不良現(xiàn)象時(shí)，則可進(jìn)入步驟309, 判斷不良現(xiàn)象為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃基板上焊墊電連接不佳所 致。若當(dāng)液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象時(shí)，則進(jìn)入步驟310，判斷 不良現(xiàn)象由液晶顯示面板的電路不良所致。
上述本發(fā)明的實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)在于通過液晶面板測(cè)試模組的 設(shè)計(jì)，可以先由測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)厘清是否為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片 的問題，如否，則通過返工驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與液晶顯示面板的電連 接，再由測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)厘清面板的異常為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片 與玻璃基板的鍵合所致，亦或是像素陣列的損壞所致。因此，上 述本發(fā)明的實(shí)施例的液晶面板測(cè)試模組可迅速地對(duì)液晶面板的失
效模式進(jìn)行分析，以找出確切的失效原因以進(jìn)行除錯(cuò)。
圖4為本發(fā)明的再一實(shí)施例所示的液晶面板失效模式分析方 法的流程圖。本實(shí)施例的液晶面板失效模式分析方法用于具有如 圖1所示的液晶面板測(cè)試模組1或是圖2所示的液晶面板測(cè)試模 組1'的液晶面板。其中，本實(shí)施例的液晶面板更具有一柵極柵 極薄膜晶體管測(cè)試電路(圖1及圖2中未圖示)。請(qǐng)參照?qǐng)D4，本實(shí)施例的液晶面板失效模式分析方法包含下 列步驟于步驟401，提供一驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片，電連接于一液晶顯 示面板之上。其中驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片實(shí)質(zhì)上即為圖1或圖2所示的液
晶面板測(cè)試模組1或l'。接著于步驟402，自信號(hào)輸入線100輸 入測(cè)試信號(hào)，檢測(cè)液晶顯示面板是否有不良現(xiàn)象。當(dāng)液晶顯示面 板未有不良現(xiàn)象時(shí)，進(jìn)行步驟403，通過測(cè)試。而當(dāng)液晶顯示面 板有不良現(xiàn)象時(shí)，原因通常有三個(gè)，第一為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片本身的 問題造成液晶顯示面板有不良現(xiàn)象，第二為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃 基板的鍵合有問題而造成液晶顯示面板有不良現(xiàn)象，第三則為驅(qū) 動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃基板的鍵合時(shí)對(duì)液晶顯示面板的電路，即包含 像素陣列的電路，造成損壞而使液晶顯示面板有不良現(xiàn)象。因此， 本實(shí)施例的液晶面板失效模式分析方法可分析出造成不良現(xiàn)象的 原因。
接著，進(jìn)行步驟404，通過啟動(dòng)信號(hào)線126輸入啟動(dòng)信號(hào)以 開啟開關(guān)14。接著于步驟405，自測(cè)試電路12輸入測(cè)試信號(hào)，檢 測(cè)液晶顯示面板是否有不良現(xiàn)象。此時(shí)的測(cè)試信號(hào)由于不是經(jīng)由 驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片的信號(hào)輸入線100及信號(hào)輸出線102而進(jìn)入像素陣 列中，因此當(dāng)液晶顯示面板無不良現(xiàn)象時(shí)，進(jìn)行步驟406，直接 判斷不良現(xiàn)象由驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片所致。而當(dāng)液晶顯示面板仍有不良 現(xiàn)象，尚須厘清造成液晶顯示面板顯示不良現(xiàn)象的原因?yàn)轵?qū)動(dòng)測(cè) 試晶片與玻璃基板的鍵合的問題亦或是像素陣列有損壞而造成的 問題。
本實(shí)施例中的液晶面板具有柵極柵極薄膜晶體管測(cè)試電路。 與激光切割測(cè)試電路不同的是，激光切割測(cè)試電路在像素陣列測(cè) 試結(jié)束后即以激光切割技術(shù)切割而無法再使用，而柵極柵極薄膜 晶體管測(cè)試電路在像素陣列測(cè)試結(jié)束后，則可以因應(yīng)需求再次開 啟柵極柵極薄膜晶體管測(cè)試電路使用。因此，于本實(shí)施例中，并不須如前一實(shí)施例須對(duì)驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與液晶顯示面板的電連接進(jìn) 行返工，而可直接進(jìn)行步驟407，自柵極柵極薄膜晶體管測(cè)試電 路輸入測(cè)試信號(hào)。如此的方式，可不經(jīng)由驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片輸入測(cè)試
信號(hào)。因此，當(dāng)液晶顯示面板未有不良現(xiàn)象，則可進(jìn)行步驟408， 判斷不良現(xiàn)象為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃基板上焊墊電連接不佳所 致。若液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象，則進(jìn)行步驟409，判斷不良 現(xiàn)象由液晶顯示面板的電路不良所致。
上述本發(fā)明的實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)在于通過液晶面板測(cè)試模組的 設(shè)計(jì)，可以先由測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)厘清是否為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片 的問題，如否，于本實(shí)施例中，更可直接通過柵極柵極薄膜晶體 管測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)厘清面板的異常為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃 基板的鍵合所致，亦或是像素陣列的損壞所致，而不須返工驅(qū)動(dòng) 測(cè)試晶片。因此，上述本發(fā)明的實(shí)施例中液晶面板測(cè)試模組可迅 速地對(duì)液晶面板的失效模式進(jìn)行分析，以找出確切的失效原因以 進(jìn)行除錯(cuò)。
圖5為本發(fā)明的一實(shí)施例所示的液晶面板測(cè)試模組5的示意 圖。請(qǐng)參照?qǐng)D5，液晶面板測(cè)試模組5包含驅(qū)動(dòng)電路50、測(cè)試 電路52以及若干個(gè)開關(guān)54。驅(qū)動(dòng)電路50包含若干個(gè)信號(hào)輸入 線500以及若干個(gè)信號(hào)輸出線502。測(cè)試電路52包含第一測(cè)試信 號(hào)線520、第二測(cè)試信號(hào)線522和第三測(cè)試信號(hào)線524。信號(hào)輸出 線502實(shí)質(zhì)上包含第一信號(hào)輸出線群組、第二信號(hào)輸出線群組和 第三信號(hào)輸出線群組，于圖5中屬于第一信號(hào)輸出線群組的信號(hào) 輸出線502以實(shí)線表示，屬于第二信號(hào)輸出線群組的信號(hào)輸出線 502以一線段及二點(diǎn)組成的虛線表示，而屬于第三信號(hào)輸出線群 組的信號(hào)輸出線502以虛線表示。
請(qǐng)繼續(xù)參照?qǐng)D5，測(cè)試電路52的第一測(cè)試信號(hào)線520與第一 信號(hào)輸出線群組電連接，第二測(cè)試信號(hào)線522與第二信號(hào)輸出線群組電連接，第三測(cè)試信號(hào)線524與第三信號(hào)輸出線群組電連接。 其中，信號(hào)輸入線500接收顯示資料，以通過驅(qū)動(dòng)電路50處理后 進(jìn)一步經(jīng)由信號(hào)輸出線502輸出至像素陣列(未圖示)。而開關(guān) 54分別位于第一測(cè)試信號(hào)線520、第二測(cè)試信號(hào)線522和第三測(cè) 試信號(hào)線524與每一信號(hào)輸出線502之間。
于本實(shí)施例中，開關(guān)54為二極管，因此不須如第二實(shí)施例 的液晶面板測(cè)試模組中，必須以啟動(dòng)信號(hào)來開啟開關(guān)54，而直接 輸入測(cè)試信號(hào)即可使二極管啟動(dòng)。于本實(shí)施例中，驅(qū)動(dòng)電路50、 測(cè)試電路52和開關(guān)54均集成于一晶片56上，而像素陣列形成于 玻璃基板(未圖示)上。各信號(hào)輸入線500、信號(hào)輸出線502、啟 動(dòng)信號(hào)線526、第一測(cè)試信號(hào)線520、第二測(cè)試信號(hào)線522和第三 測(cè)試信號(hào)線524實(shí)質(zhì)上各包含一管腳504，以通過管腳504與玻 璃基板上的焊墊(未圖示)電連接。
圖6為本發(fā)明的另一實(shí)施例所示的液晶面板測(cè)試模組5'的 示意圖。如圖6所示，于本實(shí)施例中，僅有驅(qū)動(dòng)電路50集成于 56晶片上，而測(cè)試電路52和開關(guān)54位于玻璃基板58上。
圖7為本發(fā)明的又一實(shí)施例所示的液晶面板失效模式分析方 法的流程圖。本實(shí)施例的液晶面板失效模式分析方法用于具有如 圖5所示的液晶面板測(cè)試模組5或是圖6所示的液晶面板測(cè)試模 組5'的液晶面板。其中，本實(shí)施例的液晶面板更具有一激光切 割測(cè)試電路(圖5和圖6中未圖示)。
請(qǐng)參照?qǐng)D7，本實(shí)施例的液晶面板失效模式分析方法包含下 列步驟于步驟701，提供一驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片，電連接于一液晶顯 示面板之上。其中驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片實(shí)質(zhì)上即為圖5或圖6所示的液 晶面板測(cè)試模組5或5'。接著于步驟702，自信號(hào)輸入線500輸 入測(cè)試信號(hào)，檢測(cè)液晶顯示面板是否有不良現(xiàn)象。當(dāng)液晶顯示面 板未有不良現(xiàn)象時(shí)，進(jìn)入步驟703，通過測(cè)試。而當(dāng)液晶顯示面板有不良現(xiàn)象時(shí)，原因通常有三個(gè)，第一為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片本身的 問題造成液晶顯示面板有不良現(xiàn)象，第二為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃 基板的鍵合有問題而造成液晶顯示面板有不良現(xiàn)象，第三則為驅(qū) 動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃基板的鍵合時(shí)對(duì)液晶顯示面板的電路，即包含 像素陣列的電路，造成損壞而使液晶顯示面板有不良現(xiàn)象。因此， 本實(shí)施例的液晶面板失效模式分析方法可分析出造成不良現(xiàn)象的 原因。
接著，進(jìn)入步驟704，自測(cè)試電路52輸入測(cè)試信號(hào)以開啟開 關(guān)54，檢測(cè)液晶顯示面板是否有不良現(xiàn)象。由于本實(shí)施例的開關(guān) 54為二極管，因此不須如第三及第四實(shí)施例的液晶面板失效模式 分析方法中，必須以啟動(dòng)信號(hào)來開啟開關(guān)54，而直接輸入測(cè)試信 號(hào)即可使二極管啟動(dòng)。須注意的是，第一測(cè)試信號(hào)線520、第二 測(cè)試信號(hào)線522和第三測(cè)試信號(hào)線524于本實(shí)施例中分別輸入紅、 綠及藍(lán)色測(cè)試信號(hào)，以分別進(jìn)入信號(hào)輸出線中的第一信號(hào)輸出線 群組、第二信號(hào)輸出線群組和第三信號(hào)輸出線群組，再進(jìn)一步輸 入于像素陣列以進(jìn)行測(cè)試。
此時(shí)的測(cè)試信號(hào)由于不是經(jīng)由驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片的信號(hào)輸入線 500及信號(hào)輸出線502而進(jìn)入像素陣列中，因此當(dāng)液晶顯示面板 無不良現(xiàn)象時(shí)，進(jìn)入步驟705，直接判斷不良現(xiàn)象由驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶 片所致。而當(dāng)液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象，尚須厘清造成液晶顯 示面板顯示不良現(xiàn)象的原因?yàn)轵?qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃基板的鍵合的 問題亦或是像素陣列有損壞而造成的問題。
為能厘清當(dāng)液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象時(shí)究竟為驅(qū)動(dòng)測(cè)試 晶片與玻璃基板的鍵合之問題所致，亦或是像素陣列的損壞所致， 因此在步驟705之后，進(jìn)入步驟706，返工驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與液晶 顯示面板的電連接。
在完成驅(qū)動(dòng)晶片的返工之后，進(jìn)入步驟707，再自測(cè)試電輸入測(cè)試信號(hào)。此時(shí)，驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃基板間的鍵合已經(jīng)重 新設(shè)置，因此當(dāng)液晶顯示面板未有不良現(xiàn)象時(shí)，則可進(jìn)入步驟708， 判斷不良現(xiàn)象為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃基板上焊墊電連接不佳所
致。若液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象時(shí)，則進(jìn)入步驟709，判斷不
良現(xiàn)象由液晶顯示面板的電路不良所致。
上述本發(fā)明的實(shí)施例之優(yōu)點(diǎn)在于通過液晶面板測(cè)試模組的 設(shè)計(jì)，可以先由測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)厘清是否為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片 的問題，如否，則通過返工驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與液晶顯示面板的電連 接，再由測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)厘清面板的異常為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片 與玻璃基板的鍵合所致，亦或是像素陣列的損壞所致。因此，上 述本發(fā)明的實(shí)施例的液晶面板測(cè)試模組可迅速地對(duì)液晶面板的失 效模式進(jìn)行分析，以找出確切的失效原因以進(jìn)行除錯(cuò)。
圖8為本發(fā)明的再一實(shí)施例所示的液晶面板失效模式分析方 法的流程圖。本實(shí)施例的液晶面板失效模式分析方法用于具有如 圖5所示的液晶面板測(cè)試模組5或是圖6所示的液晶面板測(cè)試模 組5'的液晶面板。其中，本實(shí)施例的液晶面板更具有一柵極柵 極薄膜晶體管測(cè)試電路(圖5及圖6中未圖示)。
請(qǐng)參照?qǐng)D8，本實(shí)施例的液晶面板失效模式分析方法包含下 列步驟于步驟801，提供一驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片，電連接于一液晶顯 示面板之上。其中驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片實(shí)質(zhì)上即為圖5或圖6所示的液 晶面板測(cè)試模組5或5'。接著于步驟802，自信號(hào)輸入線500輸 入測(cè)試信號(hào)，檢測(cè)液晶顯示面板是否有不良現(xiàn)象。當(dāng)液晶顯示面 板未有不良現(xiàn)象時(shí)，進(jìn)入步驟803，通過測(cè)試。而當(dāng)液晶顯示面 板有不良現(xiàn)象時(shí)，原因通常有三個(gè)，第一為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片本身的 問題造成液晶顯示面板有不良現(xiàn)象，第二為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃 基板的鍵合有問題而造成液晶顯示面板有不良現(xiàn)象，第三則為驅(qū) 動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃基板的鍵合時(shí)對(duì)液晶顯示面板之電路，即包含像素陣列之電路，造成損壞而使液晶顯示面板有不良現(xiàn)象。因此， 本實(shí)施例的液晶面板失效模式分析方法可分析出造成不良現(xiàn)象的 原因。
接著，進(jìn)入步驟804，自測(cè)試電路52輸入測(cè)試信號(hào)以開啟開 關(guān)54，檢測(cè)液晶顯示面板是否有不良現(xiàn)象。由于本實(shí)施例的開關(guān) 54為二極管，因此不須如第三及第四實(shí)施例的液晶面板失效模式 分析方法中，必須以啟動(dòng)信號(hào)來開啟開關(guān)54，而直接輸入測(cè)試信 號(hào)即可。此時(shí)的測(cè)試信號(hào)由于不是經(jīng)由驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片之信號(hào)輸入 線500及信號(hào)輸出線502而進(jìn)入像素陣列中，因此當(dāng)液晶顯示面 板無不良現(xiàn)象時(shí)，進(jìn)入步驟805，直接判斷不良現(xiàn)象由驅(qū)動(dòng)測(cè)試 晶片所致。而當(dāng)液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象，尚須厘清造成液晶 顯示面板顯示不良現(xiàn)象的原因?yàn)轵?qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃基板的鍵合 的問題亦或是像素陣列有損壞而造成的問題。
本實(shí)施例中的液晶面板具有柵極柵極薄膜晶體管測(cè)試電路。 與激光切割測(cè)試電路不同的是，激光切割測(cè)試電路在像素陣列測(cè) 試結(jié)束后即以激光切割技術(shù)切割而無法再使用，而柵極柵極薄膜 晶體管測(cè)試電路在像素陣列測(cè)試結(jié)束后，則可以因應(yīng)需求再次開 啟柵極柵極薄膜晶體管測(cè)試電路使用。因此，于本實(shí)施例中，并 不須如前一實(shí)施例須對(duì)驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與液晶顯示面板的電連接進(jìn) 行返工，而可直接進(jìn)入步驟806，自柵極柵極薄膜晶體管測(cè)試電 路輸入測(cè)試信號(hào)。如此的方式，將可不經(jīng)由驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片，但仍 經(jīng)由驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃基板間的鍵合處輸入測(cè)試信號(hào)。因此， 當(dāng)液晶顯示面板未有不良現(xiàn)象，則可進(jìn)入步驟807,判斷不良現(xiàn) 象為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃基板上焊墊電連接不佳所致。若液晶顯 示面板仍有不良現(xiàn)象，則進(jìn)入步驟808，判斷不良現(xiàn)象由液晶顯 示面板的電路不良所致。
上述本發(fā)明的實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)在于通過液晶面板測(cè)試模組的設(shè)計(jì)，可以先由測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)厘清是否為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片 的問題，如否，于本實(shí)施例中，更可直接通過柵極柵極薄膜晶體 管測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)厘清面板的異常為驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與玻璃 基板的鍵合所致，亦或是像素陣列的損壞所致，而不須返工驅(qū)動(dòng) 測(cè)試晶片。因此，上述本發(fā)明的實(shí)施例的液晶面板測(cè)試模組可迅 速地對(duì)液晶面板的失效模式進(jìn)行分析，以找出確切的失效原因以 進(jìn)行除錯(cuò)。
應(yīng)用本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)除了通過液晶面板測(cè)試模組的設(shè)計(jì)，可以 迅速地對(duì)液晶面板的失效模式進(jìn)行分析以找出確切的失效原因以
進(jìn)行除錯(cuò)外，如圖1、圖2、圖5及圖6所示的液晶面板測(cè)試模組，
更可提供驅(qū)動(dòng)電路對(duì)靜電的保護(hù)效果。通過液晶面板測(cè)試模組中 的測(cè)試電路的阻抗設(shè)計(jì)，將可使靜電產(chǎn)生時(shí)，優(yōu)先導(dǎo)往測(cè)試電路 的方向，而不會(huì)直接對(duì)驅(qū)動(dòng)電路造成沖擊。如此將靜電分流的效 果，將可使驅(qū)動(dòng)電路受到保護(hù)，而不易因靜電的影響造成損壞。 雖然本發(fā)明已用較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本 發(fā)明，本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域中的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明之精 神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種變動(dòng)與潤飾，因此本發(fā)明之保護(hù)范圍當(dāng) 以權(quán)利要求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種液晶面板測(cè)試模組，其特征在于，至少包含一驅(qū)動(dòng)電路，其中該驅(qū)動(dòng)電路包含若干個(gè)信號(hào)輸入線；以及若干個(gè)信號(hào)輸出線，所述信號(hào)輸出線包含第一信號(hào)輸出線群組、第二信號(hào)輸出線群組和第三信號(hào)輸出線群組；一測(cè)試電路，該測(cè)試電路包含第一測(cè)試信號(hào)線、第二測(cè)試信號(hào)線和第三測(cè)試信號(hào)線，分別與所述第一信號(hào)輸出線群組、所述第二信號(hào)輸出線群組和所述第三信號(hào)輸出線群組電連接；以及若干個(gè)開關(guān)，分別位于所述第一測(cè)試信號(hào)線、所述第二測(cè)試信號(hào)線和所述第三測(cè)試信號(hào)線與每一所述信號(hào)輸出線之間。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶面板測(cè)試模組，其特征在于，所述 驅(qū)動(dòng)電路、所述測(cè)試電路和所述開關(guān)均集成于一晶片上。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶面板測(cè)試模組，其特征在于，所述 驅(qū)動(dòng)電路集成于一晶片上，所述測(cè)試電路和所述開關(guān)位于一玻璃 基板上。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的液晶面板測(cè)試模組，其特征在 于，所述開關(guān)為薄膜晶體管或二極管。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的液晶面板測(cè)試模組，其特征在于，更包 含一啟動(dòng)信號(hào)線，連接每一所述薄膜晶體管開關(guān)的柵極。
6. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的液晶面板測(cè)試模組，其特征在于，所述晶片上具有若干個(gè)管腳，所述信號(hào)輸入線、所述信號(hào)輸出線、所 述第一測(cè)試信號(hào)線、所述第二測(cè)試信號(hào)線和所述第三測(cè)試信號(hào)線 通過所述管腳與所述玻璃基板上的焊墊電連接。
7. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的液晶面板測(cè)試模組，其特征在于，所述 晶片上具有若干個(gè)管腳，所述信號(hào)輸入線、所述信號(hào)輸出線通過 所述管腳與所述玻璃基板上的焊墊電連接。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的液晶面板測(cè)試模組，其特征在于，所述 第一測(cè)試信號(hào)線、所述第二測(cè)試信號(hào)線和所述第三測(cè)試信號(hào)線， 分別通過所述管腳與所述第一信號(hào)輸出線群組、所述第二信號(hào)輸 出線群組和所述第三信號(hào)輸出線群組電連接。
9. 一種液晶面板失效模式分析方法，用于具有一激光切割測(cè)試電 路的液晶面板，其特征在于，所述液晶面板失效模式分析方法至 少包含提供一驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片，電連接于一液晶顯示面板之上，該驅(qū)動(dòng)測(cè) 試晶片包含一驅(qū)動(dòng)電路，其中該驅(qū)動(dòng)電路包含 若干個(gè)信號(hào)輸入線；以及 若干個(gè)信號(hào)輸出線；一測(cè)試電路，該測(cè)試電路與所述信號(hào)輸出線電連接；以及 若干個(gè)開關(guān)，分別位于所述測(cè)試電路與每一所述信號(hào)輸出線之間； 自所述信號(hào)輸入線輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)所述液晶顯示面板有不良現(xiàn) 象時(shí)，開啟所述開關(guān)；自所述測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)所述液晶顯示面板無不良現(xiàn)象， 則該不良現(xiàn)象由所述驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片所致，當(dāng)所述液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象，返工所述驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與所述液晶顯示面板的電連接；以及再自所述測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)所述液晶顯示面板仍有不良 現(xiàn)象，則該不良現(xiàn)象由所述液晶顯示面板的電路不良所致。
10. —種液晶面板失效模式分析方法，用于具有一激光切割測(cè)試電 路的液晶面板，其特征在于，所述液晶面板失效模式分析方法至 少包含提供一驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片，電連接于一液晶顯示面板之上，該驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片包含一驅(qū)動(dòng)電路，其中該驅(qū)動(dòng)電路包含 若干個(gè)信號(hào)輸入線；以及 若干個(gè)信號(hào)輸出線；一測(cè)試電路，該測(cè)試電路與所述信號(hào)輸出線電連接；以及 若干個(gè)開關(guān)，分別位于所述測(cè)試電路與每一所述信號(hào)輸出線之間； 自所述信號(hào)輸入線輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)所述液晶顯示面板有不良現(xiàn) 象時(shí)，自所述測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)以開啟所述開關(guān)，當(dāng)所述液 晶顯示面板無不良現(xiàn)象，則該不良現(xiàn)象由該驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片所致， 當(dāng)該液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象，返工所述驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片與所述 液晶顯示面板的電連接；以及再自所述測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)所述液晶顯示面板仍有不良 現(xiàn)象，則該不良現(xiàn)象由所述液晶顯示面板的電路不良所致。
11. 一種液晶面板失效模式分析方法，用于具有一柵極柵極薄膜晶 體管測(cè)試電路的液晶面板，其特征在于，所述液晶面板失效模式 分析方法至少包含提供一驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片，電連接于一液晶顯示面板之上，該驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片包含一驅(qū)動(dòng)電路，其中該驅(qū)動(dòng)電路包含 若干個(gè)信號(hào)輸入線；以及 若干個(gè)信號(hào)輸出線；一測(cè)試電路，該測(cè)試電路與所述信號(hào)輸出線電連接；以及 若干個(gè)開關(guān)，分別位于所述測(cè)試電路與每一所述信號(hào)輸出線之間； 自所述信號(hào)輸入線輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)所述液晶顯示面板有不良現(xiàn) 象時(shí)，開啟所述開關(guān)；以及自所述測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)所述液晶顯示面板無不良現(xiàn)象， 則所述不良現(xiàn)象由所述驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片所致，當(dāng)所述液晶顯示面板 仍有不良現(xiàn)象，自所述柵極柵極薄膜晶體管測(cè)試電路輸入測(cè)試信 號(hào)，當(dāng)所述液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象，則該不良現(xiàn)象由所述液 晶顯示面板的電路不良所致。
12. —種液晶面板失效模式分析方法，用于具有一柵極柵極薄膜晶 體管測(cè)試電路的液晶面板，其特征在于，所述液晶面板失效模式 分析方法至少包含提供一驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片，電連接于一液晶顯示面板之上，該驅(qū)動(dòng)測(cè) 試晶片包含一驅(qū)動(dòng)電路，其中該驅(qū)動(dòng)電路包含 若干個(gè)信號(hào)輸入線；以及 若干個(gè)信號(hào)輸出線；一測(cè)試電路，該測(cè)試電路與所述信號(hào)輸出線電連接；以及 若干個(gè)開關(guān)，分別位于所述測(cè)試電路與每一所述信號(hào)輸出線之間； 自所述信號(hào)輸入線輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)所述液晶顯示面板有不良現(xiàn) 象時(shí)自所述測(cè)試電路輸入測(cè)試信號(hào)以開啟所述開關(guān)，當(dāng)所述液晶 顯示面板無不良現(xiàn)象，則該不良現(xiàn)象由所述驅(qū)動(dòng)測(cè)試晶片所致；以及當(dāng)所述液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象，自該柵極柵極薄膜晶體管測(cè) 試電路輸入測(cè)試信號(hào)，當(dāng)所述液晶顯示面板仍有不良現(xiàn)象，則該 不良現(xiàn)象由所述液晶顯示面板的電路不良所致。
全文摘要
一種液晶面板測(cè)試模組及一種液晶面板失效模式分析方法，其中液晶面板測(cè)試模組包含驅(qū)動(dòng)電路、測(cè)試電路以及若干個(gè)開關(guān)。其中驅(qū)動(dòng)電路包含若干個(gè)信號(hào)輸入線及若干個(gè)信號(hào)輸出線，信號(hào)輸出線包含第一信號(hào)輸出線群組、第二信號(hào)輸出線群組和第三信號(hào)輸出線群組；測(cè)試電路包含第一測(cè)試信號(hào)線、第二測(cè)試信號(hào)線和第三測(cè)試信號(hào)線，分別與第一信號(hào)輸出線群組、第二信號(hào)輸出線群組和第三信號(hào)輸出線群組電連接；以及若干個(gè)開關(guān)分別位于第一測(cè)試信號(hào)線、第二測(cè)試信號(hào)線和第三測(cè)試信號(hào)線與每一信號(hào)輸出線之間。
文檔編號(hào)G01R31/28GK101609635SQ20091005534
公開日2009年12月23日 申請(qǐng)日期2009年7月24日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月24日
發(fā)明者春 李, 王孝林 申請(qǐng)人:友達(dá)光電(蘇州)有限公司;友達(dá)光電股份有限公司