專(zhuān)利名稱(chēng)：測(cè)試設(shè)備及測(cè)試方法
測(cè)試設(shè)備及測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試設(shè)備及測(cè)試方法，特別是涉及一種電子器件的測(cè)試設(shè) 備及測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
電子器件在出廠之前都要對(duì)其進(jìn)行電性檢測(cè)，以確認(rèn)功能完好。有的電 子器件本身是由多個(gè)子元件組成的，往往還需要對(duì)子元件單獨(dú)進(jìn)行測(cè)試。以驅(qū) 動(dòng)燈管的逆變器為例，其包括至少一個(gè)線圈，在出廠前除了要測(cè)試逆變器總體 性能之外，還要對(duì)線圈的阻抗進(jìn)行測(cè)試。現(xiàn)有的生產(chǎn)過(guò)程中是使用兩臺(tái)設(shè)備分 別測(cè)試線圈的阻抗和和逆變器的總體性能，這就需要兩個(gè)工位，人力成本高， 檢測(cè)耗時(shí)長(zhǎng)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種對(duì)電子器件及其子元件都能進(jìn)行測(cè) 試的設(shè)備。本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種測(cè)試設(shè)備，其包括承載臺(tái)；相對(duì)所 述承載臺(tái)在接觸位與空置位之間移動(dòng)的第一測(cè)試板；相對(duì)所述第一測(cè)試板在同 步位與分離位之間移動(dòng)的第二測(cè)試板；啟動(dòng)所述第一測(cè)試板測(cè)試信號(hào)的第一開(kāi) 關(guān)；啟動(dòng)所述第二測(cè)試板測(cè)試信號(hào)的第二開(kāi)關(guān)；當(dāng)所述第一測(cè)試板位于所述接 觸位且所述第二測(cè)試板位于所述同步位時(shí)，所述第二開(kāi)關(guān)觸發(fā)；當(dāng)所述第一測(cè) 試板位于所述接觸位且所述第二測(cè)試板位于所述分離位時(shí)，所述第一開(kāi)關(guān)觸 發(fā)。
作為可選的技術(shù)方案，所述的第一開(kāi)關(guān)或第二開(kāi)關(guān)為行程開(kāi)關(guān)，由所述第 二測(cè)試板抵觸觸發(fā)。
作為可選的技術(shù)方案，所述第一測(cè)試板或所述第二測(cè)試板的底面具有多個(gè) 測(cè)試探針。
作為可選的技術(shù)方案，所述的測(cè)試設(shè)備包括控制所述第一測(cè)試板在接觸 位與空置位之間移動(dòng)的第一壓桿組件；控制所述第二測(cè)試板在同步位與分離位之間移動(dòng)的第二壓桿組件。
作為可選的技術(shù)方案，所述第二測(cè)試板為線圈阻抗測(cè)試板；所述第一測(cè)試
板為逆變器功能測(cè)試板。
本發(fā)明的另一個(gè)目的是提供一種電子器件測(cè)試方法，其包括
步驟l:提供上述的測(cè)試設(shè)備，并初始化所述第一測(cè)試板至所述空置位，
初始化所述第二測(cè)試板至所述同步位；
步驟2:放置待測(cè)器件在所述承載臺(tái)上；
歩驟3:移動(dòng)所述第一測(cè)試板至所述接觸位，所述第二測(cè)試板保持在所述 同步位，以啟動(dòng)所述第二測(cè)試板測(cè)試信號(hào)；
步驟4:移動(dòng)所述第二測(cè)試板至所述分離位，以啟動(dòng)所述第一測(cè)試板測(cè)試信號(hào)。
本發(fā)明的好處在于可以使用一臺(tái)設(shè)備對(duì)電子器件及其子元件進(jìn)行測(cè)試，節(jié) 省人力和時(shí)間；并能避免兩項(xiàng)測(cè)試之間發(fā)生干擾，排除損壞器件的風(fēng)險(xiǎn)。


圖1是本發(fā)明一種實(shí)施方式的測(cè)試設(shè)備在一種使用狀態(tài)下的正視示意圖； 圖2是圖1中的測(cè)試設(shè)備在另一種使用狀態(tài)下的正視示意圖； 圖3是圖1中的測(cè)試設(shè)備在又一種使用狀態(tài)下的正視示意圖4是繪示了第一壓桿組件的圖1中的測(cè)試設(shè)備的右視示意圖； 圖5是繪示了第二壓桿組件的圖1中的測(cè)試設(shè)備的正視示意圖；。
具體實(shí)施方式
請(qǐng)參考圖1至圖3，圖1至圖3是本發(fā)明一種實(shí)施方式的測(cè)試設(shè)備在三種 使用狀態(tài)下的正視示意圖。本實(shí)施方式的測(cè)試設(shè)備包括承載臺(tái)80，用于承載 待測(cè)器件70;相對(duì)所述承載臺(tái)80在接觸位與空置位之間移動(dòng)的第一測(cè)試板10， 如圖1所示的第一測(cè)試板相對(duì)承載臺(tái)80處于空置位，圖2和圖3中所示的第 一測(cè)試板相對(duì)承載臺(tái)80處于接觸位；相對(duì)所述第一測(cè)試板IO在同步位與分離 位之間移動(dòng)的第二測(cè)試板20，如圖1和圖2所示的第二測(cè)試板20相對(duì)所述第 一測(cè)試板10處于同步位，圖3所示的第二測(cè)試板20相對(duì)所述第一測(cè)試板10 處于分離位；啟動(dòng)所述第一測(cè)試板測(cè)試信號(hào)的第一開(kāi)關(guān)31;啟動(dòng)所述第二測(cè)試
4板測(cè)試信號(hào)的第二開(kāi)關(guān)32;當(dāng)所述第一測(cè)試板10位于接觸位且第二測(cè)試板20 位于同步位時(shí)，所述第二開(kāi)關(guān)32觸發(fā)；當(dāng)?shù)谝粶y(cè)試板IO位于接觸位且第二測(cè)
試板20位于分離位時(shí)，第一開(kāi)關(guān)31觸發(fā)。在本實(shí)施方式中，第一開(kāi)關(guān)31或 第二開(kāi)關(guān)32為行程開(kāi)關(guān)，由第二測(cè)試板20抵觸觸發(fā)。在圖2所示的工作狀態(tài) 下，第二測(cè)試板20抵觸觸發(fā)了第二開(kāi)關(guān)32，這時(shí)測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生器(未繪示) 通過(guò)線路(未繪示)向第二測(cè)試板提供測(cè)試信號(hào)，對(duì)待測(cè)器件70的子元件進(jìn) 行測(cè)試。在圖3所示的工作狀態(tài)下，第二測(cè)試板抵觸觸發(fā)了第一開(kāi)關(guān)31，這時(shí) 測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生器通過(guò)線路向第一測(cè)試板提供測(cè)試信號(hào)，對(duì)待測(cè)器件70進(jìn)行電 性測(cè)試。第一開(kāi)關(guān)31和第二開(kāi)關(guān)32分別控制第一測(cè)試板測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試 板測(cè)試信號(hào)的啟動(dòng)，且由第二測(cè)試板在不同位置觸發(fā)啟動(dòng)，保證了第一測(cè)試板 和第二測(cè)試板不會(huì)同時(shí)工作。對(duì)某些電子器件來(lái)說(shuō)，同時(shí)測(cè)量器件功能(例如 逆變器功能)和子元件參數(shù)(例如線圈阻抗)會(huì)造成器件損壞，第一測(cè)試板和 第二測(cè)試板不會(huì)同時(shí)工作的好處在于可以避免這樣的意外。在其它實(shí)施方式 中，第一開(kāi)關(guān)和第二開(kāi)關(guān)可以是除行程開(kāi)關(guān)之外的其它任何開(kāi)關(guān)，只要其能夠 被在特定位置的第二測(cè)試板觸發(fā)即可。
在本實(shí)施方式中，第一測(cè)試板或第二測(cè)試板的底面具有多個(gè)測(cè)試探針60， 這是為與待測(cè)器件連接使用的，當(dāng)?shù)谝粶y(cè)試板處于接觸位時(shí)，可以通過(guò)測(cè)試探 針與待測(cè)器件的測(cè)試點(diǎn)連接。當(dāng)?shù)谝粶y(cè)試板處于接觸位、第二測(cè)試板處于同步 位時(shí)，第二測(cè)試板可以通過(guò)測(cè)試探針與待測(cè)的子元件連接。在其它實(shí)施方式中 可以是導(dǎo)電橡膠等其它實(shí)現(xiàn)導(dǎo)通的材料。
本實(shí)施方式的測(cè)試設(shè)備還包括控制所述第一測(cè)試板在接觸位與空置位之 間移動(dòng)的第一壓桿組件(圖1至圖3中未繪示)。請(qǐng)?jiān)賲⒖紙D4，圖4是繪示了 第一壓桿組件的圖1中的測(cè)試設(shè)備的右視示意圖；第一壓桿組件包括定位在承 載臺(tái)80上的支撐柱41;定位在第一測(cè)試板10上的驅(qū)動(dòng)柱42以及與支撐柱41 和驅(qū)動(dòng)柱42分別鉸接的手柄43。通過(guò)上拉和下壓手柄43的A端，就可以使第 一測(cè)試板10上升和下降。另外測(cè)試設(shè)備還可以包括幾個(gè)定位在承載臺(tái)80上的 導(dǎo)引柱44，導(dǎo)引柱穿過(guò)第一測(cè)試板10的通孔(未繪示)，使第一測(cè)試板10在 上升和下降過(guò)程中不會(huì)發(fā)生水平移動(dòng)。本實(shí)施方式的測(cè)試設(shè)備還包括控制所述 第二測(cè)試板20在同步位與分離位之間移動(dòng)的第二壓桿組件(圖1至圖4中未 繪示)。第二壓桿組件包括定位在第一測(cè)試板10上的支撐柱51;定位在第二測(cè) 試板20上的驅(qū)動(dòng)柱52以及與支撐柱51和驅(qū)動(dòng)柱52分別鉸接的手柄53。通過(guò)
5上拉和下壓手柄53的B端，就可以使第二測(cè)試板20相對(duì)第一測(cè)試板10上升 和下降。壓桿組件的結(jié)構(gòu)有很多種，在此不一一列舉，而且在其它實(shí)施方式中， 可以使用任何現(xiàn)有技術(shù)的升降裝置來(lái)實(shí)現(xiàn)第一測(cè)試板和第二測(cè)試板的升降，而 不限于使用壓桿組件。
本發(fā)明一種實(shí)施方式的電子器件測(cè)試方法，其包括
步驟l:提供如圖1至圖3所示的本發(fā)明一種實(shí)施方式的測(cè)試設(shè)備，并如
圖1所示初始化所述第一測(cè)試板10至所述空置位，初始化所述第二測(cè)試板20
至所述同步位；
步驟2:如圖1所示放置待測(cè)器件在所述承載臺(tái)80上；
步驟3:如圖2所示，移動(dòng)所述第一測(cè)試板10至接觸位，所述第二測(cè)試板
20保持在同步位，以啟動(dòng)所述第二測(cè)試板20的測(cè)試信號(hào)；
步驟4:移動(dòng)所述第二測(cè)試板20至所述分離位，以啟動(dòng)所述第一測(cè)試板
io的測(cè)試信號(hào)。
權(quán)利要求
1. 一種測(cè)試設(shè)備，其特征在于包括承載臺(tái)；相對(duì)所述承載臺(tái)在接觸位與空置位之間移動(dòng)的第一測(cè)試板；相對(duì)所述第一測(cè)試板在同步位與分離位之間移動(dòng)的第二測(cè)試板；啟動(dòng)所述第一測(cè)試板測(cè)試信號(hào)的第一開(kāi)關(guān)；啟動(dòng)所述第二測(cè)試板測(cè)試信號(hào)的第二開(kāi)關(guān)；當(dāng)所述第一測(cè)試板位于所述接觸位且所述第二測(cè)試板位于所述同步位時(shí)，所述第二開(kāi)關(guān)觸發(fā)；當(dāng)所述第一測(cè)試板位于所述接觸位且所述第二測(cè)試板位于所述分離位時(shí)，所述第一開(kāi)關(guān)觸發(fā)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，其特征在于所述的第一開(kāi)關(guān)或第二開(kāi)關(guān) 為行程開(kāi)關(guān)，由所述第二測(cè)試板抵觸觸發(fā)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，其特征在于所述第一測(cè)試板或所述第二 測(cè)試板的底面具有多個(gè)測(cè)試探針。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，其特征在于包括 控制所述第一測(cè)試板在接觸位與空置位之間移動(dòng)的第一壓桿組件； 控制所述第二測(cè)試板在同步位與分離位之間移動(dòng)的第二壓桿組件。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，其特征在于所述第二測(cè)試板為線圈阻抗 測(cè)試板；所述第一測(cè)試板為逆變器功能測(cè)試板。
6. —種電子器件測(cè)試方法，其特征在于包括步驟l:提供根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，并初始化所述第一測(cè)試板 至所述空置位，初始化所述第二測(cè)試板至所述同步位； 步驟2:放置待測(cè)器件在所述承載臺(tái)上；步驟3:移動(dòng)所述第一測(cè)試板至所述接觸位，所述第二測(cè)試板保持在所述 同步位，以啟動(dòng)所述第二測(cè)試板測(cè)試信號(hào)；步驟4:移動(dòng)所述第二測(cè)試板至所述分離位，以啟動(dòng)所述第一測(cè)試板測(cè)試信號(hào)。
全文摘要
一種測(cè)試設(shè)備及測(cè)試方法，涉及電子器件的測(cè)試設(shè)備及測(cè)試方法領(lǐng)域。涉及顯示裝置領(lǐng)域。本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種對(duì)電子器件及其子元件都能進(jìn)行測(cè)試的設(shè)備。本發(fā)明的測(cè)試設(shè)備包括承載臺(tái)；相對(duì)所述承載臺(tái)在接觸位與空置位之間移動(dòng)的第一測(cè)試板；相對(duì)所述第一測(cè)試板在同步位與分離位之間移動(dòng)的第二測(cè)試板；啟動(dòng)所述第一測(cè)試板測(cè)試信號(hào)的第一開(kāi)關(guān)；啟動(dòng)所述第二測(cè)試板測(cè)試信號(hào)的第二開(kāi)關(guān)；當(dāng)所述第一測(cè)試板位于所述接觸位且所述第二測(cè)試板位于所述同步位時(shí)，所述第二開(kāi)關(guān)觸發(fā)；當(dāng)所述第一測(cè)試板位于所述接觸位且所述第二測(cè)試板位于所述分離位時(shí)，所述第一開(kāi)關(guān)觸發(fā)。
文檔編號(hào)G01R31/00GK101487867SQ20091000632
公開(kāi)日2009年7月22日 申請(qǐng)日期2009年2月3日 優(yōu)先權(quán)日2009年2月3日
發(fā)明者畢紅波, 王張勁, 石愛(ài)明 申請(qǐng)人:蘇州達(dá)方電子有限公司