專利名稱：測(cè)試探針及探針座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種測(cè)試探針及探針座，特別是關(guān)于一種用于集成電路組件封裝測(cè) 試的測(cè)試探針及探針座。
背景技術(shù)：
在進(jìn)行集成電路(IC)組件的封裝測(cè)試時(shí)，傳統(tǒng)的測(cè)試探針，如美國(guó)專利第 5，306，167號(hào)中所公開(kāi)，在進(jìn)行下壓測(cè)試時(shí)，因?yàn)樘结橆^的位移行程太小，在待測(cè)集成電路 組件與測(cè)試探針之間，或是測(cè)試探針與所接觸的印刷電路板之間等各接觸點(diǎn)的累積應(yīng)力很 大，長(zhǎng)時(shí)間反復(fù)測(cè)試所累積的應(yīng)力會(huì)造成印刷電路板的應(yīng)力變形，進(jìn)而導(dǎo)致測(cè)試探針或是 印刷電路板損壞，降低了測(cè)試效率、增加生產(chǎn)成本。此外，美國(guó)專利第5，634，801號(hào)提出另一種測(cè)試探針，具有呈S形結(jié)構(gòu)的測(cè)試探針 本體，以及嵌設(shè)于S形結(jié)構(gòu)彎折部的中的彈性組件。在進(jìn)行下壓測(cè)試時(shí)，由于測(cè)試探針的S 形結(jié)構(gòu)且為斜放設(shè)置，將會(huì)與其接觸的印刷電路板有平行方向的摩擦力產(chǎn)生，所以在進(jìn)行 反復(fù)測(cè)試的后，測(cè)試探針與其所接觸的印刷電路板即會(huì)因反復(fù)摩擦而雙雙導(dǎo)致磨損消耗。此外，傳統(tǒng)的測(cè)試探針，亦有采取嵌設(shè)于射出成型所制成的探針座中的設(shè)置方式， 如美國(guó)專利第6，046，597號(hào)中所公開(kāi)。但當(dāng)采用此種設(shè)置形式的探針座，在某個(gè)或某些探 針損壞時(shí)，要進(jìn)行局部更換或修復(fù)相當(dāng)困難。且此類探針并非一體成形，其包含了套筒、彈 簧與探針頭等相關(guān)組件，在組件相接的接口具有較高的電阻值，探針整體的阻抗較高，不利 于高頻測(cè)試。因此，如何解決上述傳統(tǒng)測(cè)試探針的缺點(diǎn)，實(shí)為業(yè)界的迫切課題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種測(cè)試探針和探針座，以克服技術(shù)中提到的缺點(diǎn)。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的測(cè)試探針，具有一體成型的彈性的金屬本體。金 屬本體包含第一彎折部以及第二彎折部，且測(cè)試探針由第一彎折部的一端延伸出第一探針 部，可供接觸于待測(cè)的集成電路組件，另外，測(cè)試探針由第二彎折部相反于第一彎折部的另 一端延伸出懸臂狀的第二探針部，可供接觸于印刷電路板。此外，第一彎折部的彎折方向相 同于第二彎折部的彎折方向。本發(fā)明提供的探針座，包含有座體、復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試探針，以及至少一個(gè)第一蓋板與至 少一個(gè)第二蓋板。其中，探針座的座體頂面設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)第一開(kāi)槽，底面設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)第二開(kāi) 槽，第一蓋板蓋設(shè)于復(fù)數(shù)個(gè)第一開(kāi)槽上，第二蓋板蓋設(shè)于復(fù)數(shù)個(gè)第二開(kāi)槽上，測(cè)試探針的第 一探針部從座體的第一開(kāi)槽穿設(shè)而出，測(cè)試探針的第二探針部，從座體的第二開(kāi)槽穿設(shè)而 出ο本發(fā)明的測(cè)試探針，由于具有一體成形的結(jié)構(gòu)，相較公知非一體成形構(gòu)造的測(cè)試探針，具有較低的阻抗，在進(jìn)行集成電路組件測(cè)試時(shí)，可避免訊號(hào)衰減所導(dǎo)致的測(cè)試誤差， 且利于高頻測(cè)試。
本發(fā)明的測(cè)試探針，具有懸臂梁結(jié)構(gòu)，進(jìn)行集成電路組件測(cè)試時(shí)，與待測(cè)集成電路組件及印刷電路板的接觸是以懸臂梁的末端作為接觸，接觸壓力較小，可避免因?yàn)闇y(cè)試時(shí) 的應(yīng)力累積所導(dǎo)致的印刷電路板損壞。本發(fā)明的探針座，其所使用的測(cè)試探針具有一體成形的結(jié)構(gòu)，相較公知非一體成 形構(gòu)造的測(cè)試探針，具有較低的阻抗，在進(jìn)行集成電路組件測(cè)試時(shí)，可避免訊號(hào)衰減所導(dǎo)致 的測(cè)試誤差，且利于高頻測(cè)試。本發(fā)明的探針座，由于具有懸臂梁結(jié)構(gòu)的測(cè)試探針，進(jìn)行集成電路組件測(cè)試時(shí)，與 待測(cè)集成電路組件及印刷電路板的接觸是以懸臂梁的末端作為接觸，接觸壓力較小，可避 免因?yàn)闇y(cè)試時(shí)的應(yīng)力累積所導(dǎo)致的印刷電路板損壞。本發(fā)明的探針座，所使用的測(cè)試探針損壞時(shí)，可以單獨(dú)地更換，不會(huì)因?yàn)閱我粶y(cè)試 探針的損壞而造成整體探針座無(wú)法使用。


圖1為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的測(cè)試探針示意圖。圖2A為本發(fā)明第二較佳實(shí)施例的探針座的示意圖。圖2B為本發(fā)明第二較佳實(shí)施例的探針座分解示意圖。附圖中主要組件符號(hào)說(shuō)明測(cè)試探針1 ；金屬本體11 ；第一彎折部111 ；彎折角度θ 1、θ 2 ；第二彎折部112 ； 連接結(jié)構(gòu)113 ；第一探針部12 ；第一探針部12的長(zhǎng)度a ；凹部121 ；第二探針部13 ；第二探 針部13的長(zhǎng)度b ；探針座2 ；座體21 ；頂面211 ；底面212 ；第一開(kāi)槽213 ；第二開(kāi)槽214 ；第 一蓋板22 ；第二蓋板23 ；集成電路組件3 ；印刷電路板4。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明公開(kāi)一種測(cè)試探針及探針座，其中利用到的集成電路組件基本測(cè)試程序及 測(cè)試原理，均屬于本領(lǐng)域具有專業(yè)知識(shí)的人士所能輕易理解者，故以下文中的說(shuō)明，不再作 完整描述。而以下文中所對(duì)照的附圖，是表達(dá)與本發(fā)明特征有關(guān)的結(jié)構(gòu)示意，并未亦不需要 依據(jù)實(shí)際尺寸完整繪制，事先敘明。請(qǐng)參考圖1，為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的測(cè)試探針示意圖。測(cè)試探針1具有一體成 型的彈性的金屬本體11，金屬本體11具有第一彎折部111、第二彎折部112，以及第一彎折 部111與第二彎折部112之間的連接結(jié)構(gòu)113。測(cè)試探針1自第一彎折部111的一端延伸 出第一探針部12，用以接觸預(yù)測(cè)試的集成電路組件3。另外，測(cè)試探針1從第二彎折部112 相反于第一彎折部111的另一端延伸出懸臂狀的第二探針部13，用來(lái)接觸印刷電路板4，且 第一彎折部111的彎折方向跟第二彎折部112的彎折方向相同。此外，在本實(shí)施例中，第一 彎折部111與第二彎折部112之間的連接結(jié)構(gòu)113為直線狀，然本領(lǐng)域具有專業(yè)知識(shí)的人 士均可知連接結(jié)構(gòu)113可以是其它不同的形狀，例如弧形，以因應(yīng)不同的設(shè)置需求。請(qǐng)繼續(xù)參考圖1，第一探針部12的長(zhǎng)度a小于第二探針部13的長(zhǎng)度b。另外，第 一探針部12亦可呈懸臂狀，使其更容易接觸集成電路組件3。為達(dá)到方便接觸集成電路組 件3與印刷電路板4的效果，第一彎折部111的彎折角度θ 1大致上為90度，而第二彎折部 112的彎折角度θ 2會(huì)大于90度。此外，金屬本體11剖面形狀大致為矩形或圓形。采用此種設(shè)計(jì)的測(cè)試探針1整體結(jié)構(gòu)近似匚型，且由于具有一體成形的懸臂梁結(jié)構(gòu)，故在封裝測(cè) 試過(guò)程中，集成電路組件3施加在第一探針部12的力、及印刷電路板4施加在第二探針部 13的力，皆由懸臂梁的彈性撓曲所吸收，具有極佳的緩沖效果，進(jìn)而避免測(cè)試時(shí)因應(yīng)力累積 所導(dǎo)致的印刷電路板毀損。又，第一探針部12上可進(jìn)一步包含有凹部121，以供測(cè)試探針1 與其裝設(shè)的座體(未圖示)有更緊密的卡合，避免在測(cè)試時(shí)由于測(cè)試探針1的移動(dòng)所導(dǎo)致 的測(cè)試誤差，進(jìn)而影響測(cè)試質(zhì)量。本發(fā)明除提供上述第一較佳實(shí)施例的測(cè)試探針之外，亦提供一種包含測(cè)試探針的探針座，其中測(cè)試探針的特征構(gòu)造與上述第一較佳實(shí)施例大致相同，故在此不再贅述，以下 僅就第二較佳實(shí)施例的特征加以說(shuō)明。請(qǐng)參考圖2A，為本發(fā)明第二較佳實(shí)施例的探針座的示意圖。探針座2包含有座體 21、復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試探針1、第一蓋板22，以及第二蓋板23。測(cè)試探針1所具有的組件及其特征 結(jié)構(gòu)均與第一較佳實(shí)施例相同，其中第一蓋板22及第二蓋板23此處雖僅各設(shè)置一個(gè)，但本 領(lǐng)域具有專業(yè)知識(shí)的人士均可知蓋板的設(shè)置數(shù)量，可視情況需要變更為兩個(gè)或兩個(gè)以上。請(qǐng)繼續(xù)參考圖2B，為本發(fā)明第二較佳實(shí)施例的探針座分解示意圖。如圖所示，座體 21具有頂面211及底面212，在座體21的頂面211的四個(gè)側(cè)邊設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)第一開(kāi)槽213，而 在座體21的底面212的四個(gè)側(cè)邊則設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)第二開(kāi)槽214。此外，第一蓋板22是蓋設(shè)于 復(fù)數(shù)個(gè)第一開(kāi)槽213上，第二蓋板23則蓋設(shè)于復(fù)數(shù)個(gè)第二開(kāi)槽214上。當(dāng)?shù)谝簧w板22、座體21、第二蓋板23，及各測(cè)試探針1組裝完成之后，測(cè)試探針1 的第一探針部12自座體21的第一開(kāi)槽213穿設(shè)而出，而測(cè)試探針1的第二探針部13則自 座體21的第二開(kāi)槽214穿設(shè)而出。為配合各種不同的待測(cè)集成電路組件所具有的不同封裝結(jié)構(gòu)，探針座2中各個(gè)測(cè) 試探針1的尺寸可為相同或是不相同。此外，本實(shí)施例中，第一開(kāi)槽213、第二開(kāi)槽214及測(cè) 試探針1雖設(shè)置于座體21的四邊，但對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員均可了解，為配合各種不同的封 裝構(gòu)造，第一開(kāi)槽213、第二開(kāi)槽214及測(cè)試探針1的設(shè)置位置均可相應(yīng)變更為設(shè)至于座體 的兩側(cè)邊，且亦屬本發(fā)明所公開(kāi)的精神下所完成的等效改變與修飾。以上所述，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并非用以限定本發(fā)明的申請(qǐng)權(quán)利要求范圍； 以上的描述對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)可以明了及實(shí)施，因此，其它未脫離本發(fā)明所公開(kāi)的精 神下所完成的等效改變與修飾，均應(yīng)包含在所申請(qǐng)權(quán)利要求范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
一種測(cè)試探針，具有一體成型的彈性的金屬本體，其特征在于該金屬本體包含一第一彎折部與一第二彎折部，該測(cè)試探針自該第一彎折部的一端延伸出一第一探針部，可供接觸于一待測(cè)的集成電路組件，該測(cè)試探針自該第二彎折部相反于該第一彎折部的另一端延伸出一懸臂狀的第二探針部，可供接觸于一印刷電路板，該第一彎折部的彎折方向相同于該第二彎折部的彎折方向。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針，其特征在于，該第一探針部的長(zhǎng)度小于該第二探針 部的長(zhǎng)度。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針，其特征在于，該第一探針部亦呈懸臂狀。
4.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針，其特征在于，該第一彎折部的彎折角度大致為90度， 且該第二彎折部的彎折角度大于90度。
5.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針，其特征在于，該測(cè)試探針構(gòu)成一近似匚型結(jié)構(gòu)。
6.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針，其特征在于，該金屬本體的剖面形狀大致為矩形或 圓形。
7.一種探針座，包含有一座體、復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試探針、至少一個(gè)第一蓋板與至少一個(gè)第二蓋 板，該座體的頂面設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)第一開(kāi)槽，該座體的底面設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)第二開(kāi)槽，該第一蓋板蓋 設(shè)于該復(fù)數(shù)個(gè)第一開(kāi)槽上，該第二蓋板蓋設(shè)于該復(fù)數(shù)個(gè)第二開(kāi)槽上，其特征在于各測(cè)試探針具有權(quán)利要求1至6其中任一項(xiàng)的特征，且該測(cè)試探針的第一探針部自該 座體的第一開(kāi)槽穿設(shè)而出，該測(cè)試探針的第二探針部，自該座體的第二開(kāi)槽穿設(shè)而出。
8.如權(quán)利要求7所述的探針座，其特征在于，各測(cè)試探針的第一探針部進(jìn)一步包含一 凹部，可卡設(shè)于該第一開(kāi)槽。
9.如權(quán)利要求7所述的探針座，其特征在于，該些第一開(kāi)槽設(shè)置于該座體頂面的四邊， 且該些第二開(kāi)槽設(shè)置于該座體底面的四邊。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種測(cè)試探針及探針座。測(cè)試探針具有一體成型的彈性金屬本體。金屬本體包含第一彎折部以及第二彎折部，測(cè)試探針由第一彎折部的一端延伸出第一探針部，可供接觸于待測(cè)的集成電路組件。另外，測(cè)試探針由第二彎折部相反于第一彎折部的另一端延伸出懸臂狀的第二探針部，可供接觸于印刷電路板。此外，第一彎折部的彎折方向相同于第二彎折部的彎折方向。
文檔編號(hào)G01R1/04GK101813711SQ20091000492
公開(kāi)日2010年8月25日 申請(qǐng)日期2009年2月20日 優(yōu)先權(quán)日2009年2月20日
發(fā)明者陳家進(jìn) 申請(qǐng)人:京元電子股份有限公司