專利名稱：距離測量系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種能夠以光學(xué)方式測量靶和系統(tǒng)的距離的距離測量系統(tǒng)，更特別 地，涉及這種系統(tǒng)的緊湊、輕型和便宜結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
為了確定靶和距離測量系統(tǒng)的距離，可利用多種技術(shù)。這些技術(shù)通常涉及朝向靶 發(fā)射一些類型的輻射(例如光、超聲波和雷達(dá))，并且接收從靶反射回來的輻射的一部分。 系統(tǒng)和靶的距離通過熟練技術(shù)人員熟知的幾種方案中的一種來確定；因此忽略詳細(xì)描述。 一些例子在現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn) US4, 113，381、US 5, 241, 360,US 6，765，653 或 US 2004/0246461 中有所描述。例如，一些系統(tǒng)通過測定發(fā)射至靶的輻射和從靶接受的反射的輻射之間的相 位差來計(jì)算系統(tǒng)和靶的距離，而其他系統(tǒng)測量輻射發(fā)射至靶和在系統(tǒng)接收反射的輻射之間 的延時(shí)。例如，距離的測量可通過發(fā)射調(diào)制微波或紅外載波信號(hào)(被所述靶反射)至靶而完 成。然后距離可例如通過發(fā)射和接收多種頻率并測定針對(duì)各頻率至靶的波長整數(shù)來確定。根據(jù)上述現(xiàn)有技術(shù)的這些系統(tǒng)(其使用作為輻射)通常包括光源、光檢測器、和測 量光學(xué)裝置，所述測量光學(xué)裝置用于將由光源發(fā)射的光投射至靶，并且用于引導(dǎo)從所述靶 反射的光往后朝向光檢測器。靶可以是具有比較低反射率的所謂非協(xié)作靶(例如建筑物、石頭、樹木或其他環(huán) 境對(duì)象的壁)或具有比較高反射率的所謂協(xié)作靶(例如棱鏡或反射鏡)。為了使光檢測器 適應(yīng)反射光的變化強(qiáng)度(接收自不同靶)，所述系統(tǒng)常常還包括可變衰減器以調(diào)節(jié)入射到 光檢測器上的光的強(qiáng)度。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施方案涉及一種具有特別緊湊和輕型結(jié)構(gòu)的距離測量系統(tǒng)，所述距離 測量系統(tǒng)可以低成本制造，同時(shí)保持高的精確度。本發(fā)明的另外實(shí)施方案涉及提供增加的 測量速度的距離測量系統(tǒng)和方法。根據(jù)實(shí)施方案，距離測量系統(tǒng)包括光源、光檢測器、測量光學(xué)裝置和可變衰減器。 根據(jù)實(shí)施方案，距離測量系統(tǒng)還包括參比光學(xué)裝置和光選擇器。光源可以是例如用于發(fā)射可見光或紅外光的激光器或發(fā)光二極管(LED)。光可以 例如是脈沖調(diào)制的或調(diào)制的，特別是包括載波信號(hào)。光檢測器可以是能夠傳感光的任何光敏元件，特別是半導(dǎo)體元件。光檢測器可以 例如是光電二極管，特別是雪崩光電二極管。測量光學(xué)裝置被構(gòu)造為將由光源發(fā)射的光投射至待測量的靶，并且用于引導(dǎo)從靶 反射的光朝向光檢測器。參比光學(xué)裝置被構(gòu)造為在所述系統(tǒng)內(nèi)引導(dǎo)由光源發(fā)射的光朝向光檢測器作為內(nèi) 部參比光。因此，由參比光學(xué)裝置引導(dǎo)的內(nèi)部參比光運(yùn)行預(yù)定距離從光源至光檢測器，而不 離開所述系統(tǒng)。該內(nèi)部參比光用于校準(zhǔn)系統(tǒng)的測量，以及因此用于增加系統(tǒng)的精確度。
測量光學(xué)裝置和參比光學(xué)裝置例如可以各自包括數(shù)個(gè)光學(xué)透鏡、轉(zhuǎn)向元件、濾光 器和光纖?？勺兯p器包括布置在測量光學(xué)裝置和光檢測器之間的光路中的衰減濾波器、支 撐衰減濾波器的載體、和耦接載體以移動(dòng)載體和衰減濾波器的驅(qū)動(dòng)器。因此，可變衰減器被 構(gòu)造為調(diào)節(jié)入射到光檢測器上的光的強(qiáng)度。衰減濾波器可例如是密度濾波器，特別是中密 度濾波器，并進(jìn)一步特別是灰楔濾光器。另外，強(qiáng)調(diào)的是可變衰減器的載體和衰減濾波器例 如可以是單獨(dú)元件或制成整體。光選擇器被構(gòu)造為選擇性導(dǎo)向由測量光學(xué)裝置或參比光學(xué)裝置引導(dǎo)的光至光檢 測器。根據(jù)第一實(shí)施方案，光選擇器耦接驅(qū)動(dòng)器和衰減濾波器中的至少一者，并且因此 通過驅(qū)動(dòng)器和衰減濾波器一起移動(dòng)。根據(jù)實(shí)施方案，光選擇器被可變衰減器和衰減濾波器 的載體支撐，并且通過驅(qū)動(dòng)器和載體移動(dòng)。因此，一個(gè)單一驅(qū)動(dòng)器(例如馬達(dá))足以移動(dòng)可 變衰減器的衰減濾波器和光選擇器。由于可以避免用于光選擇器的單獨(dú)驅(qū)動(dòng)器，因此所述 系統(tǒng)具有特別緊湊和輕型結(jié)構(gòu)以及低的制造成本。根據(jù)第二實(shí)施方案(可結(jié)合上述第一實(shí)施方案)，可變衰減器的衰減濾波器沿著 和由驅(qū)動(dòng)器引起的移動(dòng)相同的方向具有變化透射率的第一和第二截面。因此，沿著衰減濾 波器的移動(dòng)方向，連續(xù)布置第一和第二截面。在各第一和第二截面中的透射率從更高透明 度變化至更低透明度或從更低透明度變化至更高透明度。換言之，沿著和由驅(qū)動(dòng)器引起的 衰減濾波器的移動(dòng)相同的方向，衰減濾波器的透明度具有至少兩個(gè)最大值和至少兩個(gè)最小 值。使用具有變化透射率的至少兩個(gè)截面的衰減濾波器具有下列優(yōu)點(diǎn)這些截面中的一者 可用于測量非協(xié)作靶，并且另一個(gè)截面可用于測量協(xié)作靶。根據(jù)實(shí)施方案，可變衰減器的衰減濾波器的第一截面的透明度的最大值和衰減濾 波器的第二截面的透明度的最小值依次鄰近布置，并且第一截面的透明度的最小值和第二 截面的透明度的最大值依次鄰近布置。例如，第一和第二截面可以是無端環(huán)的部分(例如 無端環(huán)可以被選擇器中斷)。如果在定位衰減濾波器使得測量光學(xué)裝置和光檢測器之間的 光路布置在衰減濾波器的兩個(gè)截面之間的情況下開始測量，只通過少量移動(dòng)衰減濾波器就 可非?？斓倪_(dá)到透明度的最大值(這有利于開始非協(xié)作靶的測量)和透明度的最小值(這 有利于開始協(xié)作靶的測量)。因此，進(jìn)行測量所需要的時(shí)間明顯減少。另外，可以使用更慢 的驅(qū)動(dòng)器以移動(dòng)可變衰減器，因此降低制造成本。根據(jù)實(shí)施方案，光選擇器被布置在可變衰減器的衰減濾波器的第一和第二截面之 間。如果在定位衰減濾波器使得測量光學(xué)裝置和光檢測器之間的光路布置在彼此緊鄰的 衰減濾波器的兩個(gè)截面之間的情況下開始測量，光選擇器中斷測量光學(xué)裝置和光檢測器之 間的光路，并且當(dāng)開始測量時(shí)可布置在參比光學(xué)裝置和光檢測器之間的光路中。因此，當(dāng)開 始測量時(shí)光選擇器可選擇性導(dǎo)向從參比光學(xué)裝置接收的內(nèi)部參比光朝向光檢測器。在協(xié)作 和非協(xié)作靶的測量過程中也可以非常快地從該開始位置達(dá)到衰減濾波器的合適的衰減。因 此，在各測量開始時(shí)可進(jìn)行系統(tǒng)的校準(zhǔn)，而不會(huì)引起明顯的延時(shí)。根據(jù)實(shí)施方案，可變衰減器的衰減濾波器限定平碟表面，其中變化透射率的兩個(gè) 截面形成碟的截面。光選擇器布置在碟的位置，在此處變化透射率的一個(gè)截面的透明度的 最小值和衰減濾波器的變化透射率的另一截面的透明度的最大值依次鄰近布置。衰減濾波器可例如直接安裝至光選擇器。或者，可以例如設(shè)置可變衰減器的載體以安裝光選擇器。可變衰減器的載體和衰 減濾波器也可例如通過賦予碟中間桿而形成整體。根據(jù)第三實(shí)施方案(可結(jié)合上述第一和第二實(shí)施方案中的至少一個(gè))，可變衰減 器的載體具有可圍繞中間旋轉(zhuǎn)桿旋轉(zhuǎn)的圓形形狀。旋轉(zhuǎn)桿耦接驅(qū)動(dòng)器以使載體旋轉(zhuǎn)。圓形 形狀可以例如是碟或輪的形狀。另外，當(dāng)被載體支撐時(shí)可變衰減器的衰減濾波器是圓周表 面的一部分。這種圓周表面的例子是圈環(huán)的圓柱形表面、截頭圓錐表面或周邊表面。表面 的上述類型的變化或組合是可行的。另外，本發(fā)明不限于圓周表面的上述例子。例如，可變 衰減器的衰減濾波器可以是旋轉(zhuǎn)表面例如旋轉(zhuǎn)實(shí)體的側(cè)面的一部分。當(dāng)被載體支撐時(shí)限定圓周表面的衰減濾波器的使用具有下列優(yōu)點(diǎn)衰減濾波器沿 著和由驅(qū)動(dòng)器引起的載體(以及因此甚至衰減濾波器)的移動(dòng)相同的方向具有較大延伸， 同時(shí)整體上保持可變衰減器的緊湊結(jié)構(gòu)。另外，衰減濾波器形成無端環(huán)。該無端環(huán)不必是 連續(xù)的，但是例如可被選擇器中斷。根據(jù)進(jìn)一步的實(shí)施方案，檢測器設(shè)置在由衰減濾波器限定的圓周表面內(nèi)。通過將 檢測器布置在該圓周表面的內(nèi)部，所述系統(tǒng)具有特別緊湊的結(jié)構(gòu)。根據(jù)實(shí)施方案，甚至可變 衰減器的驅(qū)動(dòng)器或距離測量系統(tǒng)的其他組件布置在由衰減濾波器限定的該圓周表面內(nèi)。根據(jù)實(shí)施方案，衰減濾波器的變化透射率的第一和第二截面沿著由衰減濾波器限 定的圓周表面的圓周方向延伸。該圓周方向?qū)?yīng)于由驅(qū)動(dòng)器引起的載體的移動(dòng)方向(以及 因此也對(duì)應(yīng)于衰減濾波器的移動(dòng)方向)。根據(jù)實(shí)施方案，相比在測量光學(xué)裝置和光檢測器之間的光路，在參比光學(xué)裝置和 光檢測器之間的光路進(jìn)入由衰減濾波器限定的所述圓周表面中更接近可變衰減器的載體 的區(qū)域。根據(jù)進(jìn)一步實(shí)施方案，光選擇器引起進(jìn)入和離開光選擇器的光束的平行位移?；?者或另外，光選擇器被構(gòu)造為使得光入射到光選擇器上，并且當(dāng)驅(qū)動(dòng)器移動(dòng)載體以及因此 也移動(dòng)選擇器時(shí)，由光選擇器發(fā)射的光正交于光選擇器的移動(dòng)方向取向。根據(jù)實(shí)施方案，光選擇器具有第一和第二鏡面，第一鏡面可沿由參比光學(xué)裝置限 定的光軸布置，并且第二鏡面可同時(shí)沿由檢測器限定的光軸布置。第一和第二鏡面的位置 可通過使用驅(qū)動(dòng)器使光選擇器和可變衰減器一起移動(dòng)而改變。就此而言，光選擇器可以是 棱鏡，例如特別是菱形棱鏡。在該情況下，其具有一些優(yōu)點(diǎn)如果棱鏡被取向?yàn)槭沟美忡R的 第一和第二鏡面之間的光路平行于載體旋轉(zhuǎn)桿的旋轉(zhuǎn)的軸而取向?；蛘呋蛄硗猓忡R的第 一和第二鏡面之間的光路可以例如正交于可變衰減器的載體而取向。根據(jù)進(jìn)一步的實(shí)施方案，所述系統(tǒng)還包括第二光源，其用于發(fā)射可引導(dǎo)通過測量 光學(xué)裝置的調(diào)節(jié)光。第二光源可以是例如用于發(fā)射可見光的燈、燈泡、激光器或發(fā)光二極管 (LED)。通過使用這種第二光源，可以以特別容易的方式進(jìn)行測量光學(xué)裝置的調(diào)節(jié)，因?yàn)闇y 量光學(xué)裝置可從接近系統(tǒng)內(nèi)部的光檢測器的位置被照射。因此，由第二光源發(fā)射的光沿這 樣的方向穿過測量光學(xué)裝置，該方向和當(dāng)進(jìn)行靶的距離測量時(shí)使用的方向相反。根據(jù)實(shí)施方案，光選擇器包括包括外反射表面，其用于導(dǎo)向所述調(diào)節(jié)光朝向所述 測量光學(xué)裝置。因此，光選擇器可不僅用于將由測量光學(xué)裝置或參比光學(xué)裝置引導(dǎo)的光選 擇性引導(dǎo)至光檢測器，而且甚至將由第二光源發(fā)射的光選擇性引導(dǎo)至測量光學(xué)裝置。
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根據(jù)實(shí)施方案，還提供鄰近光檢測器布置的球形透鏡。根據(jù)進(jìn)一步的實(shí)施方案，測 量光學(xué)裝置包括光纖和鄰近所述光纖布置的球形透鏡，其中衰減濾波器可通過操作可變衰 減器而布置在測量光學(xué)裝置的球形透鏡和光檢測器的球形透鏡之間。相對(duì)于穿過衰減濾波 器的光路，在可變衰減器的衰減濾波器之前和之后使用球形透鏡具有下列優(yōu)點(diǎn)穿過衰減 濾波器的光的光束基本上平行取向。另外，球形透鏡不需要經(jīng)常校準(zhǔn)，因?yàn)榍蛐瓮哥R可例如 通過使用僅具有四個(gè)支撐點(diǎn)的透鏡支架而自調(diào)整。此外，球形透鏡相對(duì)較為便宜，因此進(jìn)一 步降低制造成本。然而，除了球形透鏡之外的其他透鏡可例如用在所有實(shí)施方案中。根據(jù)實(shí)施方案，參比光學(xué)裝置包括耦接光源的光纖，并且光選擇器可通過操作可 變衰減器而布置在參比光學(xué)裝置的光纖和鄰近光檢測器的球形透鏡之間。根據(jù)實(shí)施方案， 參比光學(xué)裝置還包括鄰近光纖布置的球形透鏡，并且光選擇器可通過操作可變衰減器而布 置在參比光學(xué)裝置的球形透鏡和鄰近光檢測器的球形透鏡之間。然而，球形透鏡用于參比 光學(xué)裝置是任選的。例如，可提供孔徑而不是球形透鏡，同時(shí)仍獲得令人滿意的功能，因?yàn)?內(nèi)部參比光通常具有足夠的強(qiáng)度。根據(jù)實(shí)施方案，所述系統(tǒng)還包括光電斷路器，其用于檢測設(shè)置在可變衰減器的載 體的定位銷的存在與否，其中定位銷和光電斷路器被布置為使得定位銷的存在指示安裝至 可變衰減器的光選擇器布置在參比光學(xué)裝置和光檢測器之間的光路中。根據(jù)可替換的實(shí)施 方案，定位銷的不存在指示光選擇器布置在參比光學(xué)裝置和光檢測器之間的光路中。通過 使用這種光電斷路器，可以在高精確度和低成本的情況下發(fā)現(xiàn)可變衰減器的起始位置。根 據(jù)可替換的實(shí)施方案，定位銷和選擇器或衰減濾波器形成為整體。根據(jù)進(jìn)一步的實(shí)施方案，提供操作距離測量系統(tǒng)的方法，該方法包括決定朝向所 述距離測量系統(tǒng)反射光的靶的種類，所述種類的靶至少包括具有低反射率的靶和具有高反 射率的靶；和取決于在所述距離測量系統(tǒng)的光檢測器處通過衰減濾波器接收的光的強(qiáng)度， 調(diào)節(jié)所述距離測量系統(tǒng)的衰減濾波器的透明度。如果所述種類的靶鑒定使用具有低反射率 的靶，在所述衰減濾波器的透明度最高的情況下開始所述衰減濾波器的透明度的調(diào)節(jié)。另 外，如果所述種類的靶鑒定使用具有高反射率的靶，在所述衰減濾波器的透明度最低的情 況下開始所述衰減濾波器的透明度的調(diào)節(jié)。以這種方式，可以非常迅速地達(dá)到衰減濾波器 (其良好地調(diào)節(jié)至相應(yīng)種類的靶)的衰減。根據(jù)實(shí)施方案，所述方法還包括下列步驟鑒定待使用的靶的種類，導(dǎo)向由所述內(nèi) 部光源產(chǎn)生的光至所述待測量的靶；和通過所述衰減濾波器在所述光檢測器處接收被所述 靶反射的光。根據(jù)實(shí)施方案，在所述衰減濾波器的透明度調(diào)節(jié)的過程中，如果所述種類的靶鑒 定使用具有低反射率的靶，所述衰減濾波器的透明度逐漸降低。另外，在所述衰減濾波器的 透明度調(diào)節(jié)的過程中，如果所述種類的靶鑒定使用具有高反射率的靶，所述衰減濾波器的 透明度逐漸增加。根據(jù)實(shí)施方案，待使用的靶的種類通過接收鑒定待進(jìn)行測量種類的用戶輸入而確 定。用戶的該輸入包括鑒定使用協(xié)作靶還是非協(xié)作靶。根據(jù)可替換的實(shí)施方案，例如基于 從靶接收的光的強(qiáng)度，自動(dòng)確定使用協(xié)作靶還是非協(xié)作靶。根據(jù)實(shí)施方案，上述方法還包括例如一個(gè)或多個(gè)另外的步驟，例如通過直接引導(dǎo) 來自內(nèi)部光源的光朝向光檢測器來校準(zhǔn)光檢測器、并且檢測在由光源發(fā)射的光和被光檢測器接收的光之間的相位差的步驟，或者檢測導(dǎo)向至靶的光和從靶接收的反射光之間的相位 差以計(jì)算靶的相對(duì)距離的步驟。使用上述距離測量系統(tǒng)，例如可進(jìn)行上述方法。根據(jù)進(jìn)一步的實(shí)施方案，提供勘測設(shè)備，其包括外殼和支撐外殼的底座，其中外殼 包括上述距離測量系統(tǒng)。根據(jù)實(shí)施方案，勘測設(shè)備還具有用戶界面，其用于由用戶輸入待進(jìn) 行測量的種類或待使用的種類的靶中的至少一個(gè)。底座可例如是三腳架?？睖y設(shè)備可例如 是電子測距儀。


參照附圖，前述以及其他有利的特征從本發(fā)明的示例性實(shí)施方案的下面詳述中將 更明顯。注意并非所有本發(fā)明的可行實(shí)施方案都必須顯示出本文中鑒定的優(yōu)點(diǎn)中的各種和 每種或任一種。圖1示出根據(jù)第一實(shí)施方案的距離測量系統(tǒng)的示意性部分分解圖；圖IA示出根據(jù)第一實(shí)施方案的距離測量系統(tǒng)的示意性剖視圖；圖IB示出在圖IA的選擇的元件上的俯視圖；圖IC示出圖IA的選擇的元件在第一操作狀態(tài)的放大示意性剖視圖；圖ID示出圖IA的選擇的元件在第二操作狀態(tài)的放大示意性剖視圖；圖IE示出圖IA的選擇的元件在第三操作狀態(tài)的放大示意性剖視圖；圖2A示意性示出在實(shí)施方案中使用的可變衰減器的選擇的元件上的透視圖；圖2B示意性示出圖2A的可變衰減器的衰減濾波器和光選擇器，所述衰減濾波器 在一個(gè)平面中展開；圖3A示出根據(jù)第二實(shí)施方案的距離測量系統(tǒng)的示意性剖視圖；圖;3B示出圖3A的選擇的元件上的俯視圖；圖3C示出圖3A的選擇的元件在第一操作狀態(tài)的放大示意性剖視圖；圖3D示出圖3A的選擇的元件在第二操作狀態(tài)的放大示意性剖視圖；圖4A示出根據(jù)第三實(shí)施方案的距離測量系統(tǒng)在第一操作狀態(tài)的示意性剖視圖；圖4B示意性示出圖4A的實(shí)施方案中使用的可變衰減器的衰減濾波器和光選擇器 在第一操作狀態(tài)的正視圖；圖4C示出圖4A的距離測量系統(tǒng)在第二操作狀態(tài)的示意性剖視圖；圖4D示意性示出圖4A的實(shí)施方案中使用的可變衰減器的衰減濾波器和光選擇器 在第二操作狀態(tài)的正視圖；圖5是包括根據(jù)實(shí)施方案的距離測量系統(tǒng)的勘測設(shè)備的示意性剖視圖；圖6示意性示出在操作狀態(tài)圖5的勘測設(shè)備上的側(cè)視圖；圖7A示出根據(jù)實(shí)施方案的方法的流程圖；圖7B示出可在圖7A的方法中使用的另外方法步驟的流程圖；和圖7C示出可在圖7B的方法中使用的可替換的或另外方法步驟的流程圖。
具體實(shí)施例方式在下述示例性實(shí)施方案中，功能和結(jié)構(gòu)類似的元件盡可能由類似的附圖標(biāo)記來表示。因此，為了理解特定實(shí)施方案的各個(gè)組件的特征，應(yīng)該參照本發(fā)明的其他實(shí)施方案和概 述的描述。在附圖中，功能彼此緊密涉及或是一般單元的一部分的元件由相同的附圖標(biāo)記來 表示，但通過不同的字符來區(qū)別。例如，在實(shí)施方案中，附圖標(biāo)記6a至6g鑒定可變衰減器 6的不同元件等。功能和結(jié)構(gòu)類似但彼此不同的不同實(shí)施方案的元件由星號(hào)來區(qū)別。A)第一實(shí)施方案(圖1，1A-1E)圖1和IA至IE示意性示出根據(jù)第一實(shí)施方案的距離測量系統(tǒng)在三種不同操作狀 態(tài)下的不同視圖。盡管圖1和IA示意性示出整個(gè)系統(tǒng)，但是圖IB至IE示出其選擇的元件。圖1示出示意性部分分解圖。圖1A、1C、1D和IE分別示出示意性剖視圖。圖IB 示意性示出俯視圖。在圖1和IA中，一些元件也繪制為符號(hào)。Al)在第一實(shí)施方案中使用的操作狀態(tài)不同操作狀態(tài)為All)通過直接引導(dǎo)來自內(nèi)部光源加的光經(jīng)過參比光學(xué)裝置5朝向光檢測器如來 校準(zhǔn)距離測量系統(tǒng)的光接收器4的光檢測器如的第一操作狀態(tài)。該第一操作狀態(tài)示于圖 UlAUB 和 IC0A12)通過導(dǎo)向由內(nèi)部光源加發(fā)射和由靶200反射的光經(jīng)過測量光學(xué)裝置3朝向 光接收器4的光檢測器如來相對(duì)于靶200進(jìn)行距離測量的第二操作狀態(tài)。圖ID示出該第 二操作狀態(tài)。A13)通過引導(dǎo)由第二光源8發(fā)射的調(diào)節(jié)光朝向測量光學(xué)裝置3的光纖；^來調(diào)節(jié) 測量光學(xué)裝置3的光纖3e的第三操作狀態(tài)。第三操作狀態(tài)示于圖IE中。A2)根據(jù)第一實(shí)施方案的距離測量系統(tǒng)的通常結(jié)構(gòu)下面，參比圖1和1A-1E來描述根據(jù)第一實(shí)施方案的距離測量系統(tǒng)的通常結(jié)構(gòu)。根據(jù)第一實(shí)施方案的距離測量系統(tǒng)包括光源加、測量光學(xué)裝置3、參比光學(xué)裝置5 和接收單元15。在本實(shí)施方案中，光源加是發(fā)射朝向測量光學(xué)裝置3和參比光學(xué)裝置5的 光的激光二極管。合適的激光二極管類型HL6501MG可得自SascoHolz GmbH Berlin, Motardstrasse 54，13629，Germany。然而，本發(fā)明不限于使用激光二極管或激光器光源。 可使用任何其他的光源，例如用于發(fā)射可見光或紅外光的發(fā)光二極管。由光源發(fā)射的光可 例如是調(diào)制的，特別是包括載波信號(hào)。然而，甚至可以使用脈沖調(diào)制光。在本實(shí)施方案中，測量光學(xué)裝置3將由光源加發(fā)射的光投射到靶200，測量靶200 相對(duì)于距離測量系統(tǒng)15的距離。測量光學(xué)裝置3還導(dǎo)向從所述靶200反射的光朝向接收 單元15的光檢測器如。在本實(shí)施方案中，參比光學(xué)裝置5在所述系統(tǒng)內(nèi)導(dǎo)向由光源加發(fā)射的光朝向接收 單元15的光檢測器如作為內(nèi)部參比光。下面將參照?qǐng)D5進(jìn)一步詳細(xì)地描述測量光學(xué)裝置 3和參比光學(xué)裝置5。測量光學(xué)裝置3和參比光學(xué)裝置5各自可例如包括數(shù)個(gè)光學(xué)元件，例 如透鏡、轉(zhuǎn)向元件、濾光器和光纖。在圖IA中所示的第一實(shí)施方案中，接收單元15包括光接收器4(包括光檢測器 4a)、光選擇器7和可變衰減器6。在第一實(shí)施方案中，光接收器4包括光檢測器4a、球形透鏡4b和濾光器如。球形透鏡4b設(shè)置在濾光器如和光檢測器如之間。光檢測器如可以是能夠傳感光的任何 光敏元件，特別是半導(dǎo)體元件。例如，光檢測器可以是光電二極管，特別是雪崩光電二極 管。合適的光檢測器類型 AD230-8T052S1 可得自 Silicon Sensor GmbH,Ostendstrasse 1， 12459Berlin, Germany.然而，本發(fā)明不限于具有上述結(jié)構(gòu)的光接收器4。例如，可以使用 普通透鏡來代替球形透鏡?；蛘?，可以忽略透鏡和濾光器中的至少一者。在本實(shí)施方案中，光選擇器7是具有第一鏡面7a和第二鏡面7b的菱形棱鏡7，其 引起進(jìn)入和離開菱形棱鏡7的光的光束的平行位移。因此，進(jìn)入菱形棱鏡7和離開菱形棱 鏡7的光的光束是基本上平行的。第一鏡面7a可布置在參比光學(xué)裝置5的光纖5a(參比 光纖)的光程中，并且第二鏡面7b可同時(shí)布置在由光檢測器如的球形透鏡4b限定的光 程中。合適的菱形棱鏡可得自 Sinocera Photonics Inc.，No. 355, PuHui Road, Jiading, Shanghai 201821，China。在本實(shí)施方案中，菱形棱鏡的大小為2mm * 2mm * 5mm。然而， 本發(fā)明不限于這些尺寸或使用菱形棱鏡作為光選擇器7。在本實(shí)施方案中，菱形棱鏡7的外 殼7d (在位于第一和第二鏡面7a，7b附近的光入射表面和光射出表面的旁邊)基本上是不 透明。因此，在本實(shí)施方案中，當(dāng)距離測量系統(tǒng)在第一操作狀態(tài)下時(shí)(即例如菱形棱鏡7如 圖1和1A-1C中所示定位)，菱形棱鏡7的外殼7d阻斷由測量光學(xué)裝置3引導(dǎo)的光朝向光 檢測器如。然而，由參比光學(xué)裝置5引導(dǎo)的光可經(jīng)過光入射和射出表面而入射到菱形棱鏡 7的外殼7d上，并從其中射出。在本實(shí)施方案中，外殼7d是單獨(dú)元件，其固定地附接棱鏡7 并且被可變衰減器6的載體6b支撐。然而，根據(jù)可替換的實(shí)施方案，例如菱形棱鏡的覆層 (例如不透明顏色)構(gòu)成外殼。根據(jù)進(jìn)一步可替換的實(shí)施方案，外殼和可變衰減器6的載體 6b形成整體。強(qiáng)調(diào)的是本發(fā)明不限于具有這種外殼的菱形棱鏡。事實(shí)上，甚至可以忽略外
tJXi O在本實(shí)施方案中，可變衰減器6的主要構(gòu)件是衰減濾波器6a、載體6b和驅(qū)動(dòng)器 6c0中密度濾波器在本實(shí)施方案中用作衰減濾波器6a。根據(jù)實(shí)施方案，灰楔濾光器用 作衰減濾波器。然而，本發(fā)明不限于某種衰減濾波器。通過參照?qǐng)D2A，2B進(jìn)一步詳細(xì)地描 述衰減濾波器。在本實(shí)施方案中，載體6b由不透明塑料材料制成，并且具有碟形。然而，本發(fā)明不 限于不透明載體6b或塑料材料。此外，本發(fā)明不限于具有碟形的載體。載體可例如具有任 何圓形形狀，并且甚至具有輪形。另外，本發(fā)明不限于具有圓形形狀的載體。載體6b通過 旋轉(zhuǎn)桿6d圍繞中間旋轉(zhuǎn)軸A可旋轉(zhuǎn)。旋轉(zhuǎn)桿6d布置在載體6b的中間，并且耦接驅(qū)動(dòng)器6c 的驅(qū)動(dòng)桿6f。載體6b支撐衰減濾波器6a和光選擇器7。然而，載體6b與衰減濾波器6a 和光選擇器7中的至少一個(gè)不必是單獨(dú)元件，而可例如一體地形成整體。在本實(shí)施方案中，驅(qū)動(dòng)器是馬達(dá)6c，特別是步進(jìn)馬達(dá)?？勺兯p器6通過旋轉(zhuǎn) 載體6b的旋轉(zhuǎn)桿6d經(jīng)過驅(qū)動(dòng)桿6f (其耦接馬達(dá)6c的內(nèi)部齒輪6g)而操作。因此，載體 6b與衰減濾波器6a和光選擇器7 —起圍繞旋轉(zhuǎn)軸A旋轉(zhuǎn)。合適的步進(jìn)馬達(dá)可得自VID 29-05-03 M^^tS DataInstrumentation Technology Ltd, North Unit 4/f, H-2Bld.， East IndustrialPark, Overseas Chinese Town, Shenzhen 518053，China。強(qiáng)i周白勺是*發(fā) 明不限于某種驅(qū)動(dòng)器、或使用步進(jìn)馬達(dá)、或包括用于操作可變衰減器6的內(nèi)部齒輪的馬達(dá)。 手動(dòng)可例如用作驅(qū)動(dòng)器而代替馬達(dá)。
由于載體6b同時(shí)支撐衰減濾波器6a和選擇器7，因此當(dāng)可變衰減器6響應(yīng)馬達(dá) 6c的操作而操作時(shí)，衰減濾波器6a和選擇器7與載體6b —起圍繞旋轉(zhuǎn)軸A旋轉(zhuǎn)。因此，一 個(gè)單一驅(qū)動(dòng)器足以使衰減濾波器6a和選擇器7移位。衰減濾波器的詳述(圖2A，2B)現(xiàn)在通過參照?qǐng)D2A和2B更詳細(xì)地解釋衰減濾波器6a和支撐其的載體6b。后面 將繼續(xù)描述第一實(shí)施方案。圖2A示意性示出第一和第二實(shí)施方案中使用的支撐衰減濾波器6a和選擇器7的 載體6b的透視圖。當(dāng)被載體6b支撐時(shí)衰減濾波器6a是圓周圓柱表面的一部分。衰減濾波器6a的 第一和第二截面6a’和6a”沿著圓柱表面的圓周方向延伸。由圖1和IA至IE與圖2A的 比較可看到，當(dāng)安裝至載體6b時(shí)，衰減濾波器6a圍繞接收單元15的光接收器4。這導(dǎo)致接 收單元15的特別緊湊結(jié)構(gòu)。就此而言，強(qiáng)調(diào)的是本發(fā)明不限于限定圓周圓柱表面的衰減濾 波器。事實(shí)上，根據(jù)可替換的實(shí)施方案，衰減濾波器可以例如限定圍繞驅(qū)動(dòng)器或光接收器4 的截頭圓錐表面、或圈環(huán)表面、或其他圓周表面。圖2B示意性示出當(dāng)在一個(gè)平面中展開時(shí)的衰減濾波器6a和選擇器7。在圖2B 中，陰影區(qū)域象征衰減1/TCT1)的量，白色區(qū)域象征透明度T的量。這由衰減濾波器6a上 的圖進(jìn)一步象征。在該圖中，垂直y_軸指示衰減1/T的量，并且水平χ-軸指示展開衰減濾 波器6a的長度L。當(dāng)如圖2A中所示安裝至載體6b時(shí)，圖2B中所示的展開衰減濾波器6a 的最左和最右部分結(jié)合在一起，因此形成無端環(huán)。在本實(shí)施方案中，選擇器7是該無端環(huán)的 一部分。如圖2B中所示，當(dāng)安裝至載體6b時(shí)沿著和衰減濾波器6a的移動(dòng)M相同的方向， 衰減濾波器6a具有第一截面6a’，其中透射率從低透明度T (以及因此高衰減1/T)變化 至高透明度T(以及因此低衰減1/T)；和第二截面6a”，其中透射率從低透明度變化至高透 明度。這種衰減濾波器可以以已知方式例如通過光化學(xué)或印刷技術(shù)來制造。然而，強(qiáng)調(diào)的 是本發(fā)明不限于具有圖2B中所示的特性的衰減濾波器。例如，透射率或者可在兩個(gè)截面中 從高透明度變化至低透明度。此外，衰減濾波器可例如具有多于或少于兩個(gè)變化透射率的 截面。在本實(shí)施方案中，選擇器7布置在兩個(gè)截面6a’和6a”之間，以及因此布置在其中衰 減濾波器6a具有最高透明度的區(qū)域和其中衰減濾波器6a具有最低透明度的區(qū)域之間。
現(xiàn)在繼續(xù)描述第一實(shí)施方案。在本實(shí)施方案中，衰減濾波器6a的變化透射率用于使所述系統(tǒng)適用于被光接收 器4的光檢測器如實(shí)際接收的光的強(qiáng)度。從靶200反射和被光接收器4接收的光的強(qiáng)度 取決于距離D(參見圖6)和靶200的種類(可以使用協(xié)作或非協(xié)作靶)而改變。甚至空氣 閃爍、空氣濕度和空氣清潔度對(duì)于被光接收器4接收的光的強(qiáng)度具有一些影響。下面進(jìn)一步詳細(xì)地解釋上述接收單元15的功能。All)第一實(shí)施方案的第一操作狀態(tài)圖1、1A、1B和IC示出第一操作狀態(tài)。在第一操作狀態(tài)中，選擇器7被布置為使得 由光源加發(fā)射的光被參比光學(xué)裝置5直接引導(dǎo)經(jīng)過光纖fe、球形透鏡恥、恒定衰減濾波器 5c、選擇器7的第一和第二鏡面7a，7b、濾光器如和球形透鏡4b朝向光檢測器如。通過測 量被光檢測器如接收的光的強(qiáng)度，進(jìn)行系統(tǒng)的校準(zhǔn)。
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在參比光學(xué)裝置的球形透鏡5b后設(shè)置恒定衰減濾波器5c，因?yàn)橛蓞⒈裙鈱W(xué)裝置 的光纖fe發(fā)射的光不穿過衰減濾波器6a以允許在相應(yīng)光源加和光檢測器如之間的適應(yīng)。 在本實(shí)施方案中，恒定衰減濾波器5c使內(nèi)部參比光(其被參比光學(xué)裝置5弓丨導(dǎo)經(jīng)過選擇器 7朝向光檢測器4a)的強(qiáng)度適應(yīng)至被測量光學(xué)裝置3典型地引導(dǎo)朝向光檢測器如的光(從 靶200反射)的強(qiáng)度的量級(jí)(級(jí)別)。然而，如果在相應(yīng)光源加和光檢測器如之間不需要 適應(yīng)，甚至可以忽略恒定衰減濾波器5c。因?yàn)檫x擇器7引起進(jìn)入和離開選擇器7的光束的平行位移，在圍繞載體6b的旋轉(zhuǎn) 桿6d旋轉(zhuǎn)的過程中產(chǎn)生的選擇器7的松弛S不劣化測量精確度。在第一操作狀態(tài)下，從靶200反射和被測量光學(xué)裝置3導(dǎo)向朝向光檢測器如的光 不到達(dá)光檢測器4a，因?yàn)槠浔贿x擇器7的外殼7d阻斷。A12)第一實(shí)施方案的第二操作狀態(tài)第二操作狀態(tài)，其中從靶200反射的光被來自測量光學(xué)裝置3的光纖3e(接收光 纖)導(dǎo)向通過球形透鏡3f、衰減濾波器6a、濾光器如和球形透鏡4b朝向光檢測器如，其示 于圖ID中。該操作狀態(tài)是這樣的狀態(tài)，其中實(shí)際測量靶200和所述系統(tǒng)的距離D。由圖IC和ID的比較可看到，相比在光纖;3e和光檢測器如之間的光路，在光纖fe 和光檢測器如之間的光路進(jìn)入由所述衰減濾波器6a限定的圓周圓柱表面中更接近載體6b 的區(qū)域。因此，采用載體6b作為接收單元15的頂部并且采用光檢測器如作為接收單元15 的底部，參比光學(xué)裝置5的光纖fe布置在測量光學(xué)裝置3的光纖!Be上。在第二操作狀態(tài)中，由參比光學(xué)裝置5導(dǎo)向朝向光檢測器如的內(nèi)部參比光不到達(dá) 光檢測器4a，因?yàn)槠浔恢慰勺兯p濾波器6a和選擇器7的載體6b阻斷。此外，在本實(shí)施 方案中，如果選擇器7不布置在參比光學(xué)裝置5的光程中，參比光學(xué)裝置5的光軸偏離光接 收器4 (包括光檢測器4a)的光軸。A13)第一實(shí)施方案的第三操作狀態(tài)在第一實(shí)施方案中，所述系統(tǒng)還包括第二光源(例如LED)8，其用于發(fā)射具有可被 人眼觀察到的波長的調(diào)節(jié)光。合適的第二光源8可得自SMD-LED型LSL29，其來自Sasco Holz GmbH Berlin,Motardstrasse 54,13629,Germany0 然而，本發(fā)明不限于使用 LED 作為 第二光源?？梢允褂冒l(fā)射可見光的任何光源，例如燈、燈泡、或激光器。如圖IE中所示，如果選擇器7和上述第一操作狀態(tài)位于相同位置，由第二光源8 發(fā)射的調(diào)節(jié)光被設(shè)置在選擇器7外部的外鏡面7c導(dǎo)向朝向光纖3e (接收光纖)。這允許以 特別容易的方式調(diào)節(jié)光纖3e。強(qiáng)調(diào)的是本發(fā)明不限于鏡面7c設(shè)置在選擇器7上以反射來自第二光源8的光朝 向光纖!Be?；蛘?，可以使用除了鏡面之外的反射表面，甚至和選擇器7分離的反射表面。第二光源8不必一直或每次測量都操作，而只在如果進(jìn)行測量光學(xué)裝置的光纖!Be 的調(diào)節(jié)的情況下操作。這通常只在特殊情況下是必須的(例如在系統(tǒng)制造或維修時(shí))。在本實(shí)施方案中，在第三操作狀態(tài)中，關(guān)掉光源加。因此，沒有內(nèi)部參比光被參比 光學(xué)裝置5導(dǎo)向朝向光檢測器如。因此，也沒有光從靶200反射，并被測量光學(xué)裝置3導(dǎo)向 朝向光檢測器如。A3)涉及所有操作狀態(tài)的第一實(shí)施方案的另外特征從第一操作狀態(tài)開始，通過導(dǎo)向內(nèi)部參比光至光檢測器如并測量其強(qiáng)度來進(jìn)行
14光檢測器如的校準(zhǔn)。此后，馬達(dá)6c被控制為使得載體6b、衰減濾波器6a和光選擇器7以 順時(shí)針方向M或逆時(shí)針方向M’共同旋轉(zhuǎn)至第二操作狀態(tài)。當(dāng)如上所述參照?qǐng)D2A和2B使 用具有變化透射率的衰減濾波器時(shí)，如果遵守非協(xié)作靶進(jìn)行順時(shí)針方向的旋轉(zhuǎn)，而如果遵 守協(xié)作靶進(jìn)行逆時(shí)針方向的旋轉(zhuǎn)。因此，當(dāng)遵守協(xié)作靶時(shí)，最低透明度以及因此最高衰減度 用于開始測量。另一方面，當(dāng)遵守非協(xié)作靶時(shí)，通過使用最高透明度以及因此僅最低衰減度 而用于開始測量。在本實(shí)施方案中，球形透鏡3f和恥分別鄰近測量光學(xué)裝置3和參比光學(xué)裝置5的 光纖；^和如布置。球形透鏡4f設(shè)置在光檢測器如的前面。當(dāng)光穿過衰減濾波器6a(如 圖ID中所示)或恒定衰減濾波器5c (如圖IA和IC中所示)時(shí)，球形透鏡3f，4b和恥用于 提供有利的平行光束。合適的球形透鏡可得自Sinocera Photonics Inc.，No. 355，PuHui Road, Jiading, Shanghai 201821，China。在本實(shí)施方案中，球形透鏡直徑為5mm。然而，本 發(fā)明不限于這些尺寸或使用球形透鏡。如圖IA和IB中所示，在本實(shí)施方案中，平行旋轉(zhuǎn)軸A延伸的定位銷6e設(shè)置在載 體6b的底部上。光電斷路器9可檢測在某些位置定位銷6e存在與否。在實(shí)施方案中，定 位銷6e和光電斷路器9定位為使得當(dāng)選擇器7布置在參比光學(xué)裝置5的光纖fe和光檢測 器如之間的光路中時(shí)，定位銷6e被光電斷路器9檢測。因此，如果光電斷路器9檢測存在 定位銷6e，所述系統(tǒng)在相應(yīng)上述第一和第三操作狀態(tài)下，并準(zhǔn)備校準(zhǔn)分別調(diào)節(jié)接收光纖3e 的光檢測器如。第一操作狀態(tài)是用于測量的良好起始點(diǎn)。合適的光電斷路器類型CPI-210T 可得自 Endrich BauelementeVertriebs GmbH, Hauptstrasse 56，72202Nagold，Germany。強(qiáng)調(diào)的是定位銷和光電斷路器的使用僅是可選 擇的?；蛘撸x擇器的位置可例如被馬達(dá)的輸出直接檢測，在馬達(dá)具有機(jī)械限動(dòng)器時(shí)特別是 如此。B)第二實(shí)施方案(圖3A-3D)圖3A至3D示意性示出根據(jù)第二實(shí)施方案的距離測量系統(tǒng)在兩種不同操作狀態(tài)下 的不同視圖。圖3A、3C和3D分別示出示意性剖視圖。圖示意性示出俯視圖。不同操作狀態(tài)是上述相對(duì)于第一實(shí)施方案的第一和第二操作狀態(tài)。第一操作狀態(tài) 示于圖3A，3B和3C，而第二操作狀態(tài)示于圖3D。第二實(shí)施方案的接收單元15*的結(jié)構(gòu)和功能非常類似于上述第一實(shí)施方案的接 收單元15的結(jié)構(gòu)和功能。因此參照第一實(shí)施方案的描述。在圖3A，;3B和3C中示出的第一操作狀態(tài)中，由光源加發(fā)射的光被參比光學(xué)裝置 5和光選擇器7*導(dǎo)向朝向光檢測器如。該光被光檢測器如接收為內(nèi)部參比光。從靶200 反射和被測量光學(xué)裝置3導(dǎo)向朝向光檢測器如的光被支撐支撐衰減濾波器6a和光選擇器
的載體6b阻斷。在圖3D所示的第二操作狀態(tài)中，從靶200反射和被測量光學(xué)裝置3導(dǎo)向朝向光檢 測器如的光經(jīng)過衰減濾波器6a被光檢測器如接收。被參比光學(xué)裝置5導(dǎo)向朝向光檢測 器如的內(nèi)部參比光被可變衰減器6的載體6b阻斷。第二實(shí)施方案和第一實(shí)施方案基本區(qū)別之處在于球形透鏡恥被光學(xué)孔徑恥*取 代。如果被參比光學(xué)裝置的光纖fe導(dǎo)向朝向光檢測器如的光的強(qiáng)度足夠高，這種光學(xué)孔徑恥*提供足夠的精確度。此外，在第二實(shí)施方案中忽略設(shè)置第二光源8和光選擇器7 *處的外鏡面。另外， 在第一實(shí)施方案中用作光選擇器7的菱形棱鏡被包括兩個(gè)平行鏡面7a和7b的光選擇器7 *取代。C)第三實(shí)施方案(圖4A-4D)圖4A和4C示意性示出根據(jù)第三實(shí)施方案的距離測量系統(tǒng)在兩種不同操作狀態(tài)下 的剖視圖。圖4B和4D示意性示出第三實(shí)施方案中使用的衰減濾波器6 μ的正視圖。不同操作狀態(tài)是上述相對(duì)于第一實(shí)施方案的第一和第二操作狀態(tài)。第一操作狀態(tài) 示于圖4A和4B，并且第二操作狀態(tài)示于圖4C和4D中。第三實(shí)施方案的結(jié)構(gòu)和功能非常類似于上述第一實(shí)施方案的結(jié)構(gòu)和功能。因此參 照第一實(shí)施方案的描述。在圖4A和4B中示出的第一操作狀態(tài)下，由光源加發(fā)射的光被參比光學(xué)裝置5和 光選擇器7導(dǎo)向朝向光檢測器如。該光被光檢測器如接收為內(nèi)部參比光。從靶200反射 和被測量光學(xué)裝置3導(dǎo)向朝向光檢測器如的光被光選擇器7的外殼7d阻斷。在本實(shí)施方 案中，光選擇器7的外殼7d由光選擇器7的第二鏡面7b的外不透明覆層構(gòu)成。為了促進(jìn) 理解圖4A和4C，間隙示于元件7b和7d之間，其事實(shí)上不必存在于本實(shí)施方案中。然而，強(qiáng) 調(diào)的是本發(fā)明根本不限于這種外殼或具有外殼的光選擇器。在圖4C和4D中示出的第二操作狀態(tài)下，從靶200反射和被測量光學(xué)裝置3導(dǎo)向 朝向光檢測器如的光經(jīng)過衰減濾波器6a被光檢測器如接收。被參比光學(xué)裝置5導(dǎo)向朝 向光檢測器如的內(nèi)部參比光不到達(dá)光檢測器如，因?yàn)閰⒈裙鈱W(xué)裝置5的光軸偏離光接收器 4 (包括光檢測器4a)的光軸。第三實(shí)施方案和第一實(shí)施方案的區(qū)別之處在于忽略第二光源8和在光選擇器7處 的外鏡面。另外，在第三實(shí)施方案中，可變衰減器6 μ的載體、衰減濾波器和旋轉(zhuǎn)桿成整體。 因此，選擇器7被衰減濾波器6a μ直接支撐。根據(jù)第三實(shí)施方案，衰減濾波器6a * *具有平碟形式。如圖4B和4D中的圖所象征 的，衰減濾波器6a μ沿著衰減濾波器6a * *移動(dòng)M的方向具有兩個(gè)改變透射率的截面6a’， 6a”，其中透射率在第一和第二截面6a’，6a”中都從更低透明度改變至更高透明度。在兩個(gè) 截面6a’，6a”之間的位置安裝光選擇器7。此外，在第三實(shí)施方案中，球形透鏡被普通透鏡3f〃、4b 〃和恥〃取代。另外， 沒有內(nèi)部齒輪的馬達(dá)6c Μ被用作驅(qū)動(dòng)器以旋轉(zhuǎn)衰減濾波器6a**。D)勘測設(shè)備(圖5)圖5是包括根據(jù)上述實(shí)施方案的距離測量系統(tǒng)的勘測設(shè)備(例如望遠(yuǎn)鏡單元)的 示意性剖視圖。這種勘測設(shè)備經(jīng)常安裝在三腳架上(如圖6中所示)?？睖y設(shè)備1包括具有光源加的傳送器單元2。傳送器單元2還包括耦接馬達(dá)2b 的濾光器2c。通過使用馬達(dá)2b，濾光器2c可在由光源加限定的光路中插入或移除，以使 系統(tǒng)1適應(yīng)使用非協(xié)作靶或協(xié)作靶。強(qiáng)調(diào)的是使用濾光器2c和附接馬達(dá)僅是可選擇的?？睖y設(shè)備1還包括測量光學(xué)裝置3，其包括中間鏡3a、第一和第二透鏡北和3c、半透鏡3d和光纖3e (接收光纖)。然而，本發(fā)明不限于具有這種結(jié)構(gòu)的測量光學(xué)裝置。為了測量靶200和勘測設(shè)備1的距離，通過使用中間鏡3a，由光源加發(fā)射的光被 投射通過第一和第二透鏡北和3c朝向靶200。被靶200反射的光導(dǎo)向通過第二透鏡3c和 第一透鏡北朝向半透鏡3d。光的一部分被半透鏡3d反射并被中間鏡3a的背側(cè)導(dǎo)向到光 纖3e中。中間鏡3a的位置可通過使用支托3a’來調(diào)節(jié)以確保從靶200反射的光的一部分 進(jìn)入測量光學(xué)裝置3的光纖!Be。測量光學(xué)裝置3的光纖!Be連接接收單元15。半透鏡3d 可例如具有波長依賴性反射率，其對(duì)于由光源加發(fā)射的光特別高。通過使用直接觀察光學(xué)裝置11，靶200可通過測量光學(xué)裝置3的半透明鏡3d和第 一和第二透鏡北，3c而被用戶觀察。直接觀察光學(xué)裝置11并未進(jìn)一步詳細(xì)描述，因?yàn)槠涫?本領(lǐng)域技術(shù)人員所熟知的。另外，設(shè)置光纖5a (參比光纖)和參比光學(xué)裝置5 (此處用于反射由光源加發(fā)射 的光的一部分光的半透明鏡)以直接導(dǎo)向來自光源加的光至接收單元15，而不會(huì)離開系 統(tǒng)1的外殼13。因此，參比光學(xué)裝置的光纖fe提供內(nèi)部參比光至接收單元15。參比光學(xué) 裝置5的半透明鏡相對(duì)于由光源加發(fā)射的光的傳播方向傾斜45°。接收單元15具有在上述第一至第三實(shí)施方案中進(jìn)一步詳細(xì)解釋的結(jié)構(gòu)。微控制器12是接收單元的一部分并放置在接收單元15上。微控制器控制接收單 元15和傳送器單元2 (以及因此光源2a)的操作。為了允許由光源加發(fā)射的輻射的調(diào)制， 傳送器單元2通過同軸電纜10連接接收單元15。通過確定由傳送器單元2的激光二極管 加發(fā)射的光和被接收單元15的檢測器如接收的光之間的相位差，微控制器12進(jìn)行系統(tǒng)的 校準(zhǔn)(如果光由參比光學(xué)裝置5提供)或檢測靶200和距離測量系統(tǒng)之間的距離D(如果 光被靶200反射)。另外，用戶界面14連接微控制器12以輸入待進(jìn)行的測量類型。根據(jù)實(shí)施方案，該 類型的測量包括使用協(xié)作還是非協(xié)作靶的信息?；蛘?，勘測設(shè)備可使用微控制器12來自動(dòng) 檢測靶的種類(例如通過檢測靶的反射率)。強(qiáng)調(diào)的是本發(fā)明不限于具有上述參照?qǐng)D5的結(jié)構(gòu)的勘測設(shè)備。事實(shí)上，勘測設(shè)備 的上述元件的一些或全部可被忽略或被其他元件取代。另外，可設(shè)置附加元件。E)電子測距儀(圖6)引入上述實(shí)施方案的距離測量系統(tǒng)的電子測距儀示意性示于圖6中，以給出在操 作條件下引入距離測量系統(tǒng)的勘測設(shè)備的例子。在圖6中，電子測距儀包括含有上述距離測量系統(tǒng)1的外殼13。外殼13被三腳 架100支撐以允許通過已知方式圍繞兩個(gè)垂直旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)外殼而使電子測距儀與靶200對(duì) 齊。圖6中所示的靶200是棱鏡，以及因此協(xié)作靶被棒201支撐。然而，本發(fā)明不限于電子測距儀或協(xié)作靶特別是棱鏡的使用。甚至可使用非協(xié)作 靶。另外，本發(fā)明可適用于任何設(shè)備，特別是勘測設(shè)備。F)操作勘測設(shè)備的方法(圖7A-7C)下面，通過參照?qǐng)D7A至7C來解釋操作上述勘測設(shè)備的方法的實(shí)施方案。根據(jù)圖7A中所示的第一實(shí)施方案，在第一步驟S5中，判斷靶的種類是具有高反射 率的協(xié)作靶還是具有低反射率的非協(xié)作靶。如果使用非協(xié)作靶，在步驟S61中調(diào)節(jié)衰減濾波器的透射率，這開始于衰減濾波器的最高透明度以及因此低衰減度。在步驟S71中透明度取決于在光檢測器處接收的光的 強(qiáng)度而逐漸降低?；蛘撸绻褂脜f(xié)作靶，在步驟S62中調(diào)節(jié)衰減濾波器的透射率，這開始于衰減濾 波器的最低透明度以及因此高衰減度。此后，在步驟S72中衰減濾波器的透明度取決于在 光檢測器處接收的光的強(qiáng)度而逐漸增加。在衰減濾波器被足夠調(diào)節(jié)至被光檢測器接收的光的強(qiáng)度后，在步驟S8中在結(jié)束 方法之前檢測靶的距離。此后可以開始進(jìn)一步測量。根據(jù)進(jìn)一步的實(shí)施方案，在步驟S8中，檢測在導(dǎo)向至靶的光和從靶反射的反射光 之間的相位差以計(jì)算靶的距離。根據(jù)進(jìn)一步的實(shí)施方案，該方法包括圖7B中所示的另外步驟。因此，在第一步驟Sl中鑒定待使用的靶的種類。靶的種類例如包括協(xié)作靶和非協(xié) 作靶。因此，在實(shí)施方案中已經(jīng)在步驟Sl中決定靶的種類?；蛘?，可只在從靶反射的光在 光檢測器處接收后進(jìn)行決定(稍后將參照步驟S3和S4來進(jìn)行描述)。此后，在步驟S3中，將由內(nèi)部光源產(chǎn)生的光導(dǎo)向至待測量的靶。這可例如通過使 用上述測量光學(xué)裝置來進(jìn)行。在步驟S5進(jìn)行所述方法之前，例如通過使用測量光學(xué)裝置，在步驟S4中被靶反射 的光幾乎立即經(jīng)過(特別是可變)衰減濾波器在光檢測器處接收。根據(jù)進(jìn)一步的實(shí)施方案，該方法包括圖7C中示出的可替換的或另外的步驟。因此，在實(shí)施方案中，在第一步驟Sl中基于鑒定待進(jìn)行測量的類型的用戶輸入來 鑒定靶的種類。因此，該類型的測量包括使用協(xié)作靶還是非協(xié)作靶的信息。在第二步驟S2中，通過直接引導(dǎo)來自內(nèi)部光源的光朝向光檢測器而校準(zhǔn)光檢測 器。因此，所述系統(tǒng)進(jìn)入上述第一操作狀態(tài)，其中光選擇器導(dǎo)向內(nèi)部參比光至光檢測器。此 后，在下列步驟S3中，進(jìn)入上述第二操作狀態(tài)，并如上所述繼續(xù)所述方法?；蛘?，還可直接 在步驟S5進(jìn)行所述方法。提出的系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)是其具有特別緊湊結(jié)構(gòu)，并且可以以低制造成本來制造，同時(shí) 保持高精確度。提出的方法的優(yōu)點(diǎn)是可特別迅速地到達(dá)合適的衰減。盡管參照某些示例性實(shí)施方案來描述了本發(fā)明，但是明顯的是本領(lǐng)域技術(shù)人員將 明白多種選擇、修改和改變。因此，本文中闡述的本發(fā)明的示例性實(shí)施方案旨在是示意性 的，并且不以任何方式限定。在不偏離所附權(quán)利要求中限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況 下可進(jìn)行各種改變。
權(quán)利要求
1.一種距離測量系統(tǒng)，包括 光源(2a)；光檢測器Ga)；測量光學(xué)裝置(3，3e，3f)，其用于將由所述光源Qa)發(fā)射的光投射至靶Q00)，并且用 于引導(dǎo)從所述靶(200)反射的光朝向所述光檢測器Ga)；參比光學(xué)裝置(5，fe，5b，5c)，其用于在所述系統(tǒng)內(nèi)引導(dǎo)由所述光源Qa)發(fā)射的光朝 向所述光檢測器Ga)作為內(nèi)部參比光；可變衰減器(6a，6b，6c，6d，6f)，其用于調(diào)節(jié)入射到所述光檢測器Ga)上的光的強(qiáng)度， 所述可變衰減器(6a，6b，6C，6d，6f)包括布置在所述測量光學(xué)裝置(3，;3e，3f)和所述光檢 測器Ga)之間的光路中的衰減濾波器(6a)，和耦接所述衰減濾波器(6b)以移動(dòng)所述衰減 濾波器(6a)的驅(qū)動(dòng)器(6c)；和光選擇器(7)，其用于選擇性導(dǎo)向由所述測量光學(xué)裝置(3，;3e，3f)或所述參比光學(xué)裝 置(5, 5a, 5b, 5c)引導(dǎo)的光至所述光檢測器(4a)；其中所述光選擇器(7)耦接所述驅(qū)動(dòng)器(6c)和所述衰減濾波器(6a)中的至少一者， 并且通過所述驅(qū)動(dòng)器(6c)和所述衰減濾波器(6a) —起移動(dòng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述可變衰減器(6a，6b，6C，6d，6f)還包括支撐所述衰減濾波器(6a)和所述光選 擇器(7)的載體(6b)；和其中所述驅(qū)動(dòng)器(6c)耦接所述載體(6b)以使所述載體(6b)與所述衰減濾波器(6a) 和所述光選擇器(7) —起移動(dòng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其中沿著由所述驅(qū)動(dòng)器(6c)引起的和所述衰減濾 波器(6a)移動(dòng)(M，M，)相同的方向，所述衰減濾波器(6a)具有變化透射率的第一和第二 截面(6a’，6a”)，在所述第一截面(6a’)中所述透射率從更高透明度變化至更低透明度，并 且在所述第二截面(6a”)中，所述透射率從更高透明度變化至更低透明度。
4.一種距離測量系統(tǒng)，特別是根據(jù)前述權(quán)利要求中一項(xiàng)所述的距離測量系統(tǒng)，包括 光源(2a)；光檢測器Ga)；測量光學(xué)裝置(3，3e，3f)，其用于將由所述光源Qa)發(fā)射的光投射至靶Q00)，并且用 于引導(dǎo)從所述靶(200)反射的光朝向所述光檢測器Ga)；和可變衰減器(6a，6b，6c，6d，6f)，其用于調(diào)節(jié)入射到所述光檢測器Ga)上的光的強(qiáng)度， 所述可變衰減器(6a，6b，6C，6d，6f)包括布置在所述測量光學(xué)裝置(3，;3e，3f)和所述光檢 測器Ga)之間的光路中的衰減濾波器(6a)，和耦接所述衰減濾波器(6a)以移動(dòng)所述衰減 濾波器(6a)的驅(qū)動(dòng)器(6c)；其中沿著由所述驅(qū)動(dòng)器(6c)引起的和所述衰減濾波器(6a)移動(dòng)(M，M，)相同的方 向，所述衰減濾波器(6a)具有變化透射率的第一和第二截面(6a’，6a”)，在所述第一截面 (6a’)中所述透射率從更高透明度變化至更低透明度，并且在所述第二截面(6a”)中，所述 透射率從更高透明度變化至更低透明度。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，還包括參比光學(xué)裝置(5，fe，5b，5c)，其用于在所述系統(tǒng)內(nèi)引導(dǎo)由所述光源Qa)發(fā)射的光朝向所述光檢測器Ga)作為內(nèi)部參比光；和光選擇器(7)，其用于選擇性導(dǎo)向由所述測量光學(xué)裝置(3，;3e，3f)或所述參比光學(xué)裝 置(5, 5a, 5b, 5c)引導(dǎo)的光至所述光檢測器(4a)；其中所述光選擇器(7)耦接所述驅(qū)動(dòng)器(6c)和所述衰減濾波器(6a)中的至少一者， 并且通過所述驅(qū)動(dòng)器(6c)和所述衰減濾波器(6a) —起移動(dòng)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其中所述可變衰減器(6a，6b，6C，6d，6f)還包括支撐所述衰減濾波器(6a)和所述光選 擇器(7)的載體(6b)；和其中所述驅(qū)動(dòng)器(6c)耦接所述載體(6b)以使所述載體(6b)與所述衰減濾波器(6a) 和所述光選擇器(7) —起移動(dòng)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的系統(tǒng)，其中所述光選擇器(7)布置在所述衰減濾波器 (6a)的所述第一和第二截面(6a’，6a”)之間。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或根據(jù)權(quán)利要求3并聯(lián)合權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其中所述載體(6b)具有可圍繞旋轉(zhuǎn)桿(6d)旋轉(zhuǎn)的圓形形狀，所述旋轉(zhuǎn)桿(6d)布置在 所述載體(6b)的中間并且耦接所述驅(qū)動(dòng)器(6c)以旋轉(zhuǎn)所述載體(6b)；和其中當(dāng)被所述載體(6b)支撐時(shí)所述衰減濾波器(6a)是圓周表面的一部分，所述衰減 濾波器(6a)的所述第一和第二截面(6a’，6a”)沿所述圓周表面的圓周方向延伸。
9.一種距離測量系統(tǒng)，特別是根據(jù)前述權(quán)利要求中一項(xiàng)所述的距離測量系統(tǒng)，包括 光源(2a)；光檢測器Ga)；測量光學(xué)裝置(3，3e，3f)，其用于將由所述光源Qa)發(fā)射的光投射至待測量的靶 000)，并且用于引導(dǎo)從所述靶O00)反射的光朝向所述光檢測器Ga)；和可變衰減器(6a，6b，6c，6d，6f)，其用于調(diào)節(jié)入射到所述光檢測器Ga)上的光的強(qiáng)度， 所述可變衰減器(6a，6b，6C，6d，6f)包括布置在所述測量光學(xué)裝置(3，;3e，3f)和所述光檢 測器Ga)之間的光路中的衰減濾波器(6a)、支撐所述衰減濾波器(6a)的載體(6b)、和耦 接所述載體(6b)以使所述載體(6b)和所述衰減濾波器(6a) —起移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)器(6c)；其中所述載體(6b)具有可圍繞旋轉(zhuǎn)桿(6d)旋轉(zhuǎn)的圓形形狀，所述旋轉(zhuǎn)桿(6d)布置在 所述載體(6b)的中間并且耦接所述驅(qū)動(dòng)器(6c)以旋轉(zhuǎn)所述載體(6b)；和其中當(dāng)被所述載體(6b)支撐時(shí)所述衰減濾波器(6a)是圓周表面的一部分。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，還包括參比光學(xué)裝置(5，fe，5b，5c)，其用于在所述系統(tǒng)內(nèi)引導(dǎo)由所述光源Qa)發(fā)射的光朝 向所述光檢測器Ga)作為內(nèi)部參比光；和光選擇器(7)，其用于選擇性導(dǎo)向由所述測量光學(xué)裝置(3，;3e，3f)或所述參比光學(xué)裝 置(5, 5a, 5b, 5c)引導(dǎo)的光至所述光檢測器(4a)；其中所述光選擇器(7)耦接所述驅(qū)動(dòng)器(6c)和所述衰減濾波器(6a)中的至少一者， 并且通過所述驅(qū)動(dòng)器(6c)和所述衰減濾波器(6a) —起移動(dòng)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的系統(tǒng)，其中所述光選擇器(7)被所述可變衰減器(6a，6b， 6c，6d，6f)和所述衰減濾波器(6a)的載體(6b)支撐，并且通過所述驅(qū)動(dòng)器(6c)和所述載 體(6b) 一起移動(dòng)。
12.根據(jù)權(quán)利要求9至11中一項(xiàng)所述的系統(tǒng)，其中沿著由所述驅(qū)動(dòng)器(6c)引起的和所 述衰減濾波器(6a)移動(dòng)(M，M，)相同的方向，所述衰減濾波器(6a)具有變化透射率的第 一和第二截面(6a’，6a”)，在所述第一截面(6a’ )中所述透射率從更高透明度變化至更低 透明度，并且在所述第二截面(6a”)中，所述透射率從更高透明度變化至更低透明度，所述 第一和第二截面(6a’，6a”)沿由所述衰減濾波器(6a)限定的所述圓周表面的圓周方向延 伸。
13.根據(jù)權(quán)利要求8至12中一項(xiàng)所述的系統(tǒng)，其中所述光檢測器Ga)布置在由所述衰 減濾波器(6a)限定的所述圓周表面內(nèi)。
14.根據(jù)權(quán)利要求8至13中一項(xiàng)所述的系統(tǒng)，其中相比在所述測量光學(xué)裝置(3，3e， 3f)和所述光檢測器Ga)之間的光路，在所述參比光學(xué)裝置(5，5ajb，5c)和所述光檢測器 (4a)之間的光路進(jìn)入由所述衰減濾波器(6a)限定的所述圓周表面中更接近所述可變衰減 器(6a，6b，6c，6d，6f)的所述載體(6b)的區(qū)域。
15.根據(jù)權(quán)利要求1至3、5至7、10或11中一項(xiàng)所述的系統(tǒng)，其中所述光選擇器(7)被 構(gòu)造為使得其引起進(jìn)入和離開所述光選擇器(7)的光束的平行位移。
16.根據(jù)權(quán)利要求1至3、5至7、10、11或15中一項(xiàng)所述的系統(tǒng)，其中所述光選擇器(7)具有第一和第二鏡面(7a，7b)；和其中所述第一鏡面(7a)可布置在由所述參比光學(xué)裝置(5，5ajb，5c)限定的光路中， 并且所述第二鏡面(7b)可同時(shí)布置在由所述光檢測器Ga)限定的光路中。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其中所述光選擇器(7)是菱形棱鏡；和其中在所述菱形棱鏡的第一和第二鏡面(7a，7b)之間的光路平行于所述載體(6b)的 旋轉(zhuǎn)桿(6d)取向。
18.根據(jù)前述權(quán)利要求中一項(xiàng)所述的系統(tǒng)，還包括第二光源(8)，其用于發(fā)射可引導(dǎo)通 過所述測量光學(xué)裝置(3，3e，3f)的調(diào)節(jié)光。
19.根據(jù)權(quán)利要求18并聯(lián)合權(quán)利要求1至3、5至7、10、11、16或17中一項(xiàng)所述的系 統(tǒng)，其中所述光選擇器(7)包括外反射表面(7c)，其用于導(dǎo)向所述調(diào)節(jié)光朝向所述測量光 學(xué)裝置(3，3e，3f)。
20.根據(jù)前述權(quán)利要求中一項(xiàng)所述的系統(tǒng)，還包括鄰近所述光檢測器Ga)布置的球形 透鏡(4b)。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的系統(tǒng)，其中所述測量光學(xué)裝置(3，;3e，3f)包括光纖(3e)和鄰近所述光纖(3e)布置的球形透 鏡(3f)；和其中所述衰減濾波器(6a)可布置在所述測量光學(xué)裝置(3，;3e，3f)的所述球形透鏡 (3f)和所述光檢測器Ga)的所述球形透鏡Gb)之間。
22.根據(jù)權(quán)利要求20或21并聯(lián)合權(quán)利要求1至3、5至7、10、11、15至17或19中一項(xiàng)所 述的系統(tǒng)，其中所述參比光學(xué)裝置(5，5ajb，5c)包括耦接所述光源Oa)的光纖(5a)；和 其中所述光選擇器(7)可布置在所述參比光學(xué)裝置的所述光纖(5a)和所述光檢測器Ga) 的所述球形透鏡Gb)之間。
23.根據(jù)權(quán)利要求22所述的系統(tǒng)，其中所述參比光學(xué)裝置還包括鄰近所述光纖(5a)布置的球形透鏡(5b)；和其中所述光選擇器(7)可布置在所述參比光學(xué)裝置(5，5ajb，5c)的所述球形透鏡 (5b)和所述光檢測器Ga)的所述球形透鏡Gb)之間。
24.根據(jù)前述權(quán)利要求中一項(xiàng)并聯(lián)合權(quán)利要求1至3、5至7、10、11、15至17、19、22或 23中一項(xiàng)所述的系統(tǒng)，還包括光電斷路器(9)，其用于檢測設(shè)置在所述載體(6b)的定位銷 (6e)的存在，所述定位銷(6e)指示所述光選擇器(7)布置在所述參比光學(xué)裝置(5，fe，5b， 5c)和所述光檢測器Ga)之間的光路中。
25.操作距離測量系統(tǒng)、特別是前述權(quán)利要求中一項(xiàng)所述的距離測量系統(tǒng)的方法，該方 法包括(S5)決定朝向所述距離測量系統(tǒng)反射光的靶的種類，所述種類的靶包括具有低反射率 的靶和具有高反射率的靶；和取決于在所述距離測量系統(tǒng)的光檢測器處接收的光的強(qiáng)度，通過所述衰減濾波器調(diào)節(jié) 所述距離測量系統(tǒng)的衰減濾波器的透射率；其中(S61)如果所述種類的靶鑒定使用具有低反射率的靶，在所述衰減濾波器的透明 度最高的情況下開始所述衰減濾波器的透射率的調(diào)節(jié)；和其中(S6》如果所述種類的靶鑒定使用具有高反射率的靶，在所述衰減濾波器的透明 度最低的情況下開始所述衰減濾波器的透射率的調(diào)節(jié)。
26.根據(jù)權(quán)利要求25所述的方法，還包括下列步驟(Si)鑒定待使用的靶的種類；(53)導(dǎo)向由所述內(nèi)部光源產(chǎn)生的光至所述待測量的靶；和(54)通過所述衰減濾波器在所述光檢測器處接收被所述靶反射的光。
27.根據(jù)權(quán)利要求25或沈所述的方法，其中在所述衰減濾波器的透射率調(diào)節(jié)的過 程中，如果所述種類的靶鑒定使用具有低反射率的靶，所述衰減濾波器的透明度逐漸降低 (S71)，并且如果所述種類的靶鑒定使用具有高反射率的靶，所述衰減濾波器的透明度逐漸 增加(S72)。
28.一種勘測設(shè)備，包括外殼(13)；和支撐所述外殼(13)的底座(100)；其中所述外殼(13)包括權(quán)利要求1至M中一項(xiàng)所述的距離測量系統(tǒng)。
全文摘要
根據(jù)實(shí)施方案，距離測量系統(tǒng)包括光源(2a)、光檢測器(4a)、測量光學(xué)裝置(3)、參比光學(xué)裝置(5，5a，5b，5c)、可變衰減器(6a，6b，6c，6d，6f)和光選擇器(7)。測量光學(xué)裝置(3)被構(gòu)造為將由所述光源(2a)發(fā)射的光投射至待測量的靶(200)，并且用于引導(dǎo)從所述靶(200)反射的光朝向光檢測器(4a)。參比光學(xué)裝置(5，5a，5b，5c)被構(gòu)造為在所述系統(tǒng)內(nèi)引導(dǎo)由光源(2a)發(fā)射的光朝向光檢測器(4a)作為內(nèi)部參比光?？勺兯p器(6a，6b，6c，6d，6f)被構(gòu)造為調(diào)節(jié)入射到光檢測器(4a)上的光的強(qiáng)度，并且包括布置在測量光學(xué)裝置(3)和光檢測器(4a)之間的光路中的衰減濾波器(6a)，和耦接衰減濾波器(6a)以移動(dòng)衰減濾波器(6a)的驅(qū)動(dòng)器(6c)。光選擇器(7)被構(gòu)造為選擇性導(dǎo)向由測量光學(xué)裝置(3)或參比光學(xué)裝置(5，5a，5b，5c)引導(dǎo)的光至光檢測器(4a)。根據(jù)實(shí)施方案，光選擇器(7)耦接驅(qū)動(dòng)器(6c)和衰減濾波器(6a)中的至少一者，并且通過驅(qū)動(dòng)器(6c)和衰減濾波器(6a)一起移動(dòng)。根據(jù)實(shí)施方案，沿著由驅(qū)動(dòng)器(6c)引起的和衰減濾波器(6a)移動(dòng)(M，M’)相同的方向，衰減濾波器(6a)具有變化透射率的第一和第二截面(6a’，6a”)，在第一截面(6a’)中所述透射率從更高透明度變化至更低透明度，并且在第二截面(6a”)中，所述透射率從更高透明度變化至更低透明度。根據(jù)實(shí)施方案，可變衰減器(6a，6b，6c，6d，6f)還包括支撐衰減濾波器(6a)和光選擇器(7)的載體(6b)，其中載體(6b)具有可圍繞旋轉(zhuǎn)桿(6d)旋轉(zhuǎn)的圓形形狀，并且其中當(dāng)被載體(6b)支撐時(shí)衰減濾波器(6a)是圓周表面的一部分。
文檔編號(hào)G01S7/497GK102124368SQ200880130796
公開日2011年7月13日 申請(qǐng)日期2008年8月20日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月20日
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