專利名稱：一種分光光度計自動調(diào)零和調(diào)滿度的機構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型系一種科學(xué)分析實驗儀器一一我們分光光度計的改良部件結(jié)
構(gòu)，特別是涉及分光光度計在使用前需進行自動調(diào)"0%t "和調(diào)"100% t "的
校驗機構(gòu)。
(二)
背景技術(shù)：
公知，分光光度計能在紫外一可見-紅外光譜區(qū)域內(nèi)對樣品物質(zhì)作定性和定 量分析，是理化實驗室常用的光譜分析儀器之一，采用先進的閃耀光柵單色器，
具有波長精度高，單色性好，雜散光低等優(yōu)點，采用微機測量系統(tǒng)，t-A轉(zhuǎn)換
精度高，并有自動調(diào)整0%和調(diào)整100%，濃度因子設(shè)定、濃度直讀，并可選擇串
行數(shù)據(jù)打印機進行數(shù)據(jù)打印功能。廣泛應(yīng)用于醫(yī)藥衛(wèi)生，臨床檢驗，生物化學(xué)，
石油化工，環(huán)境保護，質(zhì)量控制等部門。手動或自動調(diào)整"0" "100"，可直
接消除比色皿配對誤差。測量讀數(shù)準(zhǔn)確性高，重現(xiàn)性和穩(wěn)定性佳，有些型號有
濃度直讀，線性回歸，定時打印，GOTO A以及光譜掃描高級功能等優(yōu)點。
在現(xiàn)有的分光光度計中，為保證儀器測試的準(zhǔn)確性，先要調(diào)試滿度，再調(diào)零
后再調(diào)試滿度，往往需要多次反復(fù)操作。在分光光度計中調(diào)節(jié)儀器暗電流0%T和
100%T —般采用以下結(jié)構(gòu)和方式
在分光光度計的前部位設(shè)置一個樣品室，樣品室大約為15厘米寬和25長 呈矩形的一個暗盒，樣品室上方設(shè)置一塊翻蓋用于遮擋來自外界的光線，樣品 室的居中位置通常放置一個與測試光束方向垂直的單個或四個比色皿架空腔， 比色皿架空腔內(nèi)中既可放置待測試的樣件的比色皿，也可放置調(diào)試校驗用的黑 體或空缺——什么也不放，測試光源從一側(cè)射入，"經(jīng)過"比色皿架后，在另一 側(cè)一個接受暗室中依次設(shè)置雙面凸透鏡和光電接收器。
由于儀器在調(diào)試零或滿度時，測試的樣品是放置在樣品室約15厘米寬的空
腔居中位置的一個比色皿架空腔內(nèi)，黑體樣塊離發(fā)射出的右側(cè)光束位置較遠，
在工作7厘米以上，而在左側(cè)接受暗室的接受反光鏡距離也在7厘米以上，由 于光的衍射作用，即使樣品室和接受暗室均為黑色，但是由于較長的射出距離 和接受距離，終究會出現(xiàn)誤差。有時在長距離的阻擋測試中還有"漏光"現(xiàn)象 發(fā)生，在實際調(diào)試使用中，經(jīng)常是在第一個循環(huán)，在比色皿架空腔內(nèi)不放置任 何樣品，儀器在此狀態(tài)將顯示值設(shè)置為"0"，然后調(diào)試滿度狀態(tài)，即將黑體插 入比色皿架空腔內(nèi)，阻擋了光束的穿過，此時計算機將此狀態(tài)的分光光度計將 顯示值設(shè)置為"100"。但是再校驗一遍，拔去黑體，使比色皿架為空狀態(tài)，照 理分光光度計將顯示值設(shè)置為"0"，然而并非顯示"0"，而是圍繞"0"范圍的 一個數(shù)值，同樣方法再校驗"100"，也不再顯示"100"，而是在"100"附近的 一個數(shù)，必須進行多次反復(fù)調(diào)試才會逐漸逼近直至最終到達"0"和"100"，經(jīng) 長期使用，至少需兩次100%T和一次0%T調(diào)試。
反復(fù)打開、關(guān)閉樣品室翻蓋，插入、抽出黑體樣塊，既麻煩又耽誤時間影 響測試工作效率。為此，有技術(shù)對此結(jié)構(gòu)方案作了改進，在樣品室的外面，針 對比色皿架設(shè)置連動的拉桿，通過拉動在分光光度計箱體外部的拉桿手柄，可 以改變比色皿架在樣品室中的位置，在比色皿架一個空腔內(nèi)預(yù)先放置一塊黑體， 通過拉動拉桿手柄可以實現(xiàn)一側(cè)發(fā)出的光柵光束，在一個狀態(tài)被黑體阻擋，在 手柄處于另一狀態(tài)時又處于"通過"，反復(fù)拉動手柄，逐漸逼近直至最終到達分 光光度計的在透過率狀態(tài)下的"0"和"100"。此方案雖然較原先的技術(shù)方案有 所改進和進步，減少了操作翻、合蓋板的動作，加快了高度校驗速度，但是仍 需多次反復(fù)拉動手柄、多次重復(fù)測試，仍要花費一定的時間。
總之，為準(zhǔn)確的調(diào)試好儀器的100。/。T和0。/oT，現(xiàn)有技術(shù)需要至少調(diào)試兩次 100%T和一次0%T，有時因開機時間較短或操作不熟練會多次對儀器進行100%T 和0。/。T調(diào)試，才能滿足儀器的準(zhǔn)確性，這在儀器操作中是比較煩瑣，并且還存 在的人為操作失誤，有時因樣品架定位不正確或樣品室漏光而引起調(diào)試不準(zhǔn)確。

實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的，旨在提供.一種在關(guān)閉樣品室的翻蓋情況下，不需要拉 動拉桿手柄，能簡單快速進行自動調(diào)零和調(diào)滿度的機構(gòu)。
本實用新型的目的是如此來實現(xiàn)的
一種分光光度計自動調(diào)零和調(diào)滿度的機構(gòu)，包括位于樣品室旁的接受暗室， 接受暗室中由光柵的光束射入方向依次設(shè)置的雙面凸透鏡和光電接收器，其特 征在于
在所述雙面凸透鏡和光電接收器之間，設(shè)置一塊可上下移動的永久磁鐵， 在永久磁鐵的上方設(shè)置電磁線圈，永久磁鐵下部連接光門，光門的下方為定位座。
所述電磁線圈由設(shè)置在分光光度計箱體上的開關(guān)連接電源。 所述光門為遮擋板，在遮擋板上開設(shè)通光孔。
采用本技術(shù)方案，平時光門和連為一體的永久磁鐵因自重處于"下落"位 置，使光門位于開啟狀態(tài)，即來自單色器的光線可通過光門上的通光孔直射在
光電接收器上。當(dāng)按下了 "分光鍵"后，計算機自動進行第一次100。/。T的調(diào)整， 完成后計算機隨即發(fā)給電磁線圈電信號后，永久磁性棒2和光門1因右手螺旋 定律沿著定位座4整體向上，光門1的遮擋板擋住了來自單色器的光線，計算 機給予的電信號一直保持到調(diào)整0%T結(jié)束為止后，永久磁性棒2和光門1因失 去電信號后因自重重新落下而恢復(fù)原位，光門打開后，計算機自動進行第兩次 10(P/。T的調(diào)整，整個過程約3秒鐘左右。按一個鍵能自動調(diào)零一次和調(diào)滿度兩次 的技術(shù)本專利稱為"分光鍵"。
本實用新型有益效果和優(yōu)點是本專利的創(chuàng)新點在于減少人為的操作誤差 和依靠人工重復(fù)進行兩次調(diào)整100%T和一次0%T調(diào)整，通過按下"分光鍵"，完 全依靠計算機發(fā)出的指令來一次完成儀器自動調(diào)整100%T和0%T的動作，使人 員操作更簡便、更快速。大大地提高了測試樣品前調(diào)試儀器工作狀態(tài)的時間。 而從樣品室外觀和其他部位看不出任何的機械結(jié)構(gòu)和裝置，完全是安裝在光電 接收器盒內(nèi)，其結(jié)構(gòu)精細、微小。同時采用永久性磁棒能克服用鐵棒做成的電 磁鐵充磁后的殘磁等失靈現(xiàn)象，用微小的電流來驅(qū)動電磁線圈，不會對光電接
收器產(chǎn)生干擾。在目前國內(nèi)外沒有此類相似的結(jié)構(gòu)。
光門機構(gòu)位于接受暗室中的雙面凸透鏡和光電接收器之間，能距離很近、 效果很好地遮擋和透過來自單色器的光束，消除了現(xiàn)有技術(shù)長距離遮擋光線而
產(chǎn)生衍射引起的測試誤差。采用本技術(shù)方案，采用一次100%T和一次0%T調(diào)試 即可滿足技術(shù)要求，但是利用裝置上光門自重的結(jié)構(gòu)和自動控制程序，很方便 地實現(xiàn)了兩次10(mT和一次(ET調(diào)試，更提高了調(diào)試的準(zhǔn)確度。
本技術(shù)方案使用方便，操作迅速、自動化程度高，準(zhǔn)確度強，不失一種有 實用價值的分光光度計自動校驗機構(gòu)。


圖1是現(xiàn)有技術(shù)分光光度計調(diào)零和調(diào)滿度的機構(gòu)，樣品室翻蓋呈打開狀態(tài)的 俯視示意圖2是現(xiàn)有技術(shù)分光光度計調(diào)零和調(diào)滿度的機構(gòu)，樣品室翻蓋打開，比色皿 架空腔內(nèi)針對光線射入通道的空格內(nèi)放置校驗用黑體的俯視示意圖3是本實用新型一種分光光度計自動調(diào)零和調(diào)滿度的機構(gòu)，箱體的樣品室 和接受暗室部分為剖視的俯視示意圖4是圖3的A向視圖，光門部件下落，通光孔呈打開狀態(tài)示意圖； 圖5是圖3的A向視圖，光門部件上升，通光孔呈關(guān)閉狀態(tài)示意圖。 圖中，1是翻蓋，2是箱體，3是比色皿架，4是接受暗室，5是光電接收器，6 是雙面凸透鏡，7是樣品室，8是手柄，9是操作面板，10是顯示板，11是黑體，12 是電磁線圈，13是永久磁鐵，14是通光孔，15是光門，16是定位座。
具體實施方式以下以實施例對照附圖對本實用新型作詳細說明。
一種分光光度計自動調(diào)零和調(diào)滿度的機構(gòu)，在位于樣品室7旁的接受暗室 4中，在雙面凸透鏡6和光電接收器5之間，設(shè)置一塊可上下移動的永久磁鐵 13，在永久磁鐵13的上方設(shè)置電磁線圈12，永久磁鐵13下部連接光門15，光
門15的下方為定位座16。電磁線圈12由設(shè)置在分光光度計箱體2上的"分光 鍵"按鈕開關(guān)連接電源。光門15為遮擋板，在遮擋板上開設(shè)通光孔14。
采用本技術(shù)方案，平時光門15和連為一體的永久磁鐵13因自重處于"下 落"位置，使光門15位于開啟狀態(tài)，來自單色器的光線可通過光門15上的通光 孔14直射在光電接收器5上。當(dāng)按下了"分光鍵"后，計算機自動進行第一次 100%T的調(diào)整，完成后計算機隨即發(fā)給電磁線圈12電信號后，永久磁鐵13和光 門1因右手螺旋定律沿著定位座16整體向上，光門15的遮擋板擋住了來自單 色器的光線，計算機給予的電信號一直保持到調(diào)整096T結(jié)束為止后，永久磁鐵 13和光門15因失去電信號后因自重重新落下而恢復(fù)原位，光門15打開后，計 算機自動進行第二次100%T的調(diào)整，整個過程約3秒鐘左右。
權(quán)利要求1.一種分光光度計自動調(diào)零和調(diào)滿度的機構(gòu)，包括位于樣品室(7)旁的接受暗室(4)，接受暗室(4)中由光柵的光束射入方向依次設(shè)置的雙面凸透鏡(6)和光電接收器(4)，其特征在于在所述雙面凸透鏡(6)和光電接收器(4)之間，設(shè)置一塊可上下移動的永久磁鐵(13)，在永久磁鐵(13)的上方設(shè)置電磁線圈(12)，永久磁鐵(13)下部連接光門(15)，光門(15)的下方為定位座(16)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述自動調(diào)零和調(diào)滿度的機構(gòu)，其特征是所述電磁線圈 (12)由設(shè)置在分光光度計箱體(2)上的開關(guān)連接電源。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述自動調(diào)零和調(diào)滿度的機構(gòu)，其特征是所述光門(15) 為遮擋板，在遮擋板上開設(shè)通光孔(15)。
專利摘要本實用新型系一種科學(xué)分析實驗儀器——我們分光光度計的改良部件結(jié)構(gòu)，特別是涉及分光光度計在使用前需進行自動調(diào)“0％τ”和調(diào)“100％τ”的校驗機構(gòu)。一種分光光度計自動調(diào)零和調(diào)滿度的機構(gòu)，包括位于樣品室(7)旁的接受暗室(4)，接受暗室(4)中由光柵的光束射入方向依次設(shè)置的雙面凸透鏡(6)和光電接收器(4)，在所述雙面凸透鏡(6)和光電接收器(4)之間，設(shè)置一塊可上下移動的永久磁鐵(13)，在永久磁鐵(13)的上方設(shè)置電磁線圈(12)，永久磁鐵(13)下部連接光門(15)，光門(15)的下方為定位座(16)。本技術(shù)方案使用方便，操作迅速、自動化程度高，準(zhǔn)確度強，不失一種有實用價值的分光光度計自動開機校驗機構(gòu)。
文檔編號G01N21/01GK201199226SQ20082005900
公開日2009年2月25日 申請日期2008年5月27日 優(yōu)先權(quán)日2008年5月27日
發(fā)明者周今偉 申請人:上?，F(xiàn)科分光儀器有限公司