專利名稱：液晶顯示裝置的測(cè)試電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示器的制造領(lǐng)域，特別是對(duì)面板測(cè)試中測(cè)試輸入信號(hào) 衰減進(jìn)行改善的一種液晶顯示裝置的測(cè)試電路。
背景技術(shù)：
目前，薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,簡(jiǎn)稱TFT LCD)基于其性能優(yōu)良、大規(guī)模生產(chǎn)特性好、自動(dòng)化程度 高等優(yōu)點(diǎn)，已迅速超過(guò)陰極射線管(Cathode Ray Tube, CRT)的顯示器件而 成為21世紀(jì)的主流產(chǎn) 品o
陣列(Array)面板測(cè)試是TFT LCD制造過(guò)程中一項(xiàng)基本的工藝，陣列面 板測(cè)試通過(guò)在玻璃基板上進(jìn)行5層掩膜板(5Mask )或4層掩膜板(4Mask ) 工藝，在玻璃基板上形成TFT結(jié)構(gòu)，在陣列階段結(jié)束后會(huì)對(duì)基板上所成的每 個(gè)TFT開關(guān)進(jìn)行電學(xué)測(cè)試。如圖la所示，為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示裝置的測(cè)試電 路的連接示意圖。電學(xué)測(cè)試的方法是在像素區(qū)10外圍引出若干條測(cè)試引線 20，測(cè)試引線20分別連通像素區(qū)10的每條數(shù)據(jù)線30 (DATA)和柵極線40 (GATE),測(cè)試時(shí)通過(guò)焊盤(Pad)將管腳(Pin)與測(cè)試引線20連接，達(dá) 到發(fā)送信號(hào)的作用。測(cè)試過(guò)程是先通過(guò)柵極線的時(shí)鐘脈沖打開TFT，然后 通過(guò)數(shù)據(jù)線向像素充電，通過(guò)設(shè)備測(cè)試部件(Modulator)在像素上方感 應(yīng)電荷，達(dá)到測(cè)試的目的。
圖lb為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示裝置的測(cè)試電路的連接放大圖，如圖lb所 示，在現(xiàn)有技術(shù)的面板測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試信號(hào)是從輸入端串聯(lián)單方向輸入 的，當(dāng)導(dǎo)線較長(zhǎng)，電阻較大時(shí)，測(cè)試輸入信號(hào)由一端到另一端的過(guò)程中有較大的阻容延遲(RC delay),從而影響了遠(yuǎn)端TFT的充電，導(dǎo)致了電壓 均勻性差，進(jìn)而給準(zhǔn)確測(cè)試TFT電學(xué)特性是否完好造成了干擾。而且一旦 測(cè)試信號(hào)線受阻，如圖la中A點(diǎn)所示，測(cè)試信號(hào)將無(wú)法輸入到余下的柵 極引線，使得測(cè)試無(wú)法繼續(xù)進(jìn)行。圖lc為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示裝置的測(cè)試電 路的簡(jiǎn)略電路圖，如圖lc所示，以19英寸液晶顯示器為例，數(shù)據(jù)線一共 有4320根，與每條數(shù)據(jù)線連接的測(cè)試引線密集排布形成多個(gè)區(qū)域，每720 根測(cè)試引線為一個(gè)區(qū)域，則該液晶顯示器一共包含6個(gè)區(qū)域。其中，R為 每個(gè)區(qū)域上的線電阻，r為區(qū)域之間的線電阻。6個(gè)區(qū)域之間采用串聯(lián)連 接，測(cè)試信號(hào)從輸入端60單向輸入，從圖lc中可以看出，測(cè)試信號(hào)最先 到達(dá)第一數(shù)據(jù)線70,最后達(dá)到第二數(shù)據(jù)線80,測(cè)試信號(hào)從輸入端60到第 二數(shù)據(jù)線80的過(guò)程中經(jīng)過(guò)的線電阻為(6R+5r ),造成的阻容延遲為(6R+5r ) *C。由于區(qū)域間的線電阻近似為區(qū)域上的線電阻的1/3，即R-3r，因此， 現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試信號(hào)從最先達(dá)到的數(shù)據(jù)線到最后到達(dá)的數(shù)據(jù)線經(jīng)過(guò)了 (23*r*C)的阻容延遲?，F(xiàn)有技術(shù)中柵極線一端產(chǎn)生的信號(hào)衰減與數(shù)據(jù)線 類似，在此不再贅述。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的第一目的是針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，而提供一種液晶顯示裝 置的測(cè)試電路，實(shí)現(xiàn)在陣列面板測(cè)試過(guò)程中，減小與數(shù)據(jù)線連接的測(cè)試引線 的電阻，降低阻容延遲，減小測(cè)試信號(hào)到達(dá)數(shù)據(jù)線的衰減，提高數(shù)據(jù)線一端 測(cè)試電壓的均勻性。
本發(fā)明的第二目的是提供另外一種液晶顯示裝置的測(cè)試電路，實(shí)現(xiàn)在陣 列面板測(cè)試過(guò)程中，減小與柵極線連接的測(cè)試引線的電阻，降低阻容延遲， 減小測(cè)試信號(hào)到達(dá)柵極線的衰減，提高柵極線一端測(cè)試電壓的均勻性。
為實(shí)現(xiàn)上述第一目的，本發(fā)明提供了一種液晶顯示裝置的測(cè)試電路，包 括分別與每條數(shù)據(jù)線連接的測(cè)試引線，所述測(cè)試引線密集排布形成多個(gè)區(qū)域，每個(gè)區(qū)域并聯(lián)后與至少 一條測(cè)試總線連接。
其中，所述數(shù)據(jù)線包括奇數(shù)據(jù)線和偶數(shù)據(jù)線，所述測(cè)試引線包括奇測(cè)試 引線和偶測(cè)試引線，所述奇數(shù)據(jù)線與所述奇測(cè)試引線相連，所述偶數(shù)據(jù)線與 所述偶測(cè)試引線相連。
本方案通過(guò)改變數(shù)據(jù)線一端測(cè)試引線的布局，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試信號(hào)在測(cè)試 電路中的并聯(lián)輸入，減小了與數(shù)據(jù)線連接的測(cè)試引線的電阻，減小了測(cè)試 信號(hào)的衰減。
為實(shí)現(xiàn)上述第二目的，本發(fā)明還提供了另外一種液晶顯示裝置的測(cè)試 電路，包括分別與每條柵極線連接的測(cè)試引線，所述測(cè)試引線密集排布形成 多個(gè)區(qū)域，每個(gè)區(qū)域并聯(lián)后與至少一條測(cè)試總線連接。
其中，所述柵極線包括奇柵極線和偶柵極線，所述測(cè)試引線包括奇測(cè)試 引線和偶測(cè)試引線，所述奇柵極線與所述奇測(cè)試引線相連，所述偶柵極線與 所述偶測(cè)試引線相連。
本方案通過(guò)改變柵極線一端測(cè)試引線的布局，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試信號(hào)在測(cè)試 電路中的并聯(lián)輸入，減小了與柵極線連接的測(cè)試引線的電阻，減小了測(cè)試 信號(hào)的衰減。
下面通過(guò)附圖和實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。


圖la為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示裝置的測(cè)試電路的連接示意圖； 圖lb為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示裝置的測(cè)試電路的連接放大圖； 圖lc為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示裝置的測(cè)試電路的簡(jiǎn)略電路圖； 圖2a為本發(fā)明液晶顯示裝置的測(cè)試電路實(shí)施例一的連接示意圖； 圖2b為本發(fā)明液晶顯示裝置的測(cè)試電路實(shí)施例一的連接放大圖； 圖2c為本發(fā)明液晶顯示裝置的測(cè)試電路實(shí)施例一的簡(jiǎn)略電路圖； 圖3a為本發(fā)明液晶顯示裝置的測(cè)試電路實(shí)施例二的連接示意圖；圖3b為本發(fā)明液晶顯示裝置的測(cè)試電路實(shí)施例二的連接放大圖； 圖3c為本發(fā)明液晶顯示裝置的測(cè)試電路實(shí)施例二的簡(jiǎn)略電路圖。
具體實(shí)施例方式
實(shí)施例一
如圖2a所示，為本發(fā)明液晶顯示裝置的測(cè)試電路實(shí)施例一的連接示意 圖。本實(shí)施例提供一種液晶顯示裝置的測(cè)試電路，包括分別與每條數(shù)據(jù)線103 連接的測(cè)試引線102,測(cè)試引線102密集排布形成多個(gè)區(qū)域105，每個(gè)區(qū)域 105并聯(lián)后與至少一條測(cè)試總線連接。具體地，以19英寸液晶顯示器為例， 一共有4320根數(shù)據(jù)線103，編號(hào)依次為0~4319， 一條數(shù)據(jù)線103連接一 條測(cè)試引線102，測(cè)試引線102密集排布形成多個(gè)區(qū)域105,其中每720 根測(cè)試引線102為一個(gè)區(qū)域105。與現(xiàn)有技術(shù)中串聯(lián)連接的方式不同，本 發(fā)明實(shí)施例中各個(gè)區(qū)域105之間采用并聯(lián)的方式連接到測(cè)試總線上。在每 個(gè)區(qū)域105中，數(shù)據(jù)線103按照編號(hào)的奇偶不同分為奇數(shù)據(jù)線和偶數(shù)據(jù)線， 相應(yīng)地，與奇數(shù)據(jù)線連接的測(cè)試引線102為奇測(cè)試引線203，與偶數(shù)據(jù)線 連接的測(cè)試引線102為偶測(cè)試引線202。因此，測(cè)試總線可分為奇測(cè)試總 線205和偶測(cè)試總線204，其中奇測(cè)試總線205和奇測(cè)試引線203相連接， 偶測(cè)試總線204和偶測(cè)試引線202相連接，每個(gè)區(qū)域內(nèi)部的奇測(cè)試引線203 之間也采用并聯(lián)的方式連接，每個(gè)區(qū)域內(nèi)部的偶測(cè)試引線202之間也采用 并聯(lián)的方式連接。測(cè)試信號(hào)分別從奇數(shù)據(jù)線輸入端207和偶數(shù)據(jù)線輸入端 206輸入，分別到達(dá)奇測(cè)試總線205和偶測(cè)試總線204后，雙向輸入到各 區(qū)域105中的數(shù)據(jù)線103中。
如圖2b所示，為本發(fā)明液晶顯示裝置的測(cè)試電路實(shí)施例一的連接放大 圖，圖2b只顯示了測(cè)試電路中的兩個(gè)區(qū)域105,從圖2b可以看出，每個(gè)區(qū) 域105上均存在各導(dǎo)線帶來(lái)的電阻，測(cè)試信號(hào)可以對(duì)每個(gè)區(qū)域105直接加信 號(hào)，將區(qū)域105之間的電阻轉(zhuǎn)移在測(cè)試總線上，而測(cè)試總線上的電阻不會(huì)降低測(cè)試信號(hào)的均勻性。因此，當(dāng)測(cè)試信號(hào)從輸入端輸入，在到達(dá)各區(qū)域105 中的數(shù)據(jù)線103的過(guò)程中只經(jīng)過(guò)各區(qū)域105上的線電阻。再如圖lb所示，現(xiàn) 有技術(shù)的測(cè)試電路中測(cè)試信號(hào)從輸入端到各區(qū)域105數(shù)據(jù)線103的過(guò)程中除 了經(jīng)過(guò)各區(qū)域105上的線電阻外，還必須經(jīng)過(guò)區(qū)域105之間的線電阻。
如圖2c所示，為本發(fā)明液晶顯示裝置的測(cè)試電路實(shí)施例一的簡(jiǎn)略電 路圖，本圖也是對(duì)上述19英寸液晶顯示器所作的筒化，圖中將6個(gè)區(qū)域 包含的測(cè)試引線分為并聯(lián)連接的兩組，每組包含3個(gè)區(qū)域。測(cè)試輸入信號(hào) 從輸入端106雙向輸入，雙向分別輸入到左右兩組數(shù)據(jù)線中，以左邊一組 為例，測(cè)試信號(hào)經(jīng)過(guò)一個(gè)線電阻R首先到達(dá)第一數(shù)據(jù)線107,此時(shí)測(cè)試信 號(hào)已造成R"的衰減，到達(dá)第二數(shù)據(jù)線108所經(jīng)過(guò)的線電阻為(r+R/2)， 又造成了阻容延遲為(R/2+r) *C的信號(hào)衰減。其中，R為每個(gè)區(qū)域上的 線電阻，r為區(qū)域之間的線電阻，由于區(qū)域間的線電阻近似為區(qū)域上的線 電阻的1/3，即R-3r,因此，本發(fā)明實(shí)施例中測(cè)試信號(hào)從最先達(dá)到的數(shù)據(jù) 線到最后到達(dá)的數(shù)據(jù)線經(jīng)過(guò)了阻容延遲為(5/2*r*C)的衰減，右邊一組 測(cè)試信號(hào)的衰減同左邊類似，在此不再贅述。
再如圖lc所示，現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試電路中測(cè)試信號(hào)從輸入端60到第二 數(shù)據(jù)線80的過(guò)程中造成的阻容延遲為23*r*C，因此，改進(jìn)后的測(cè)試電路 的信號(hào)衰減比現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試電路的信號(hào)衰減明顯減少了 ，只為現(xiàn)有技術(shù) 的17. 4%。
本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)改變測(cè)試電路中數(shù)據(jù)線一端的輸入信號(hào)布局，由串 聯(lián)改為并聯(lián)，并且雙向輸入測(cè)試信號(hào)，明顯改善了信號(hào)衰減現(xiàn)象，從而使 得對(duì)像素的充電更加均勻，測(cè)試效果更好。同時(shí)，由于線路之間均采用并 聯(lián)連接，即使一路測(cè)試信號(hào)線受損，其他并聯(lián)的信號(hào)線仍然能對(duì)相對(duì)應(yīng)的 數(shù)據(jù)線加信號(hào)，可以最小程度上減小不能測(cè)試的區(qū)域，保證良好的測(cè)試效 果。
本發(fā)明實(shí)施例還可以采用多路相同的測(cè)試輸入信號(hào)輸入，為每個(gè)測(cè)試總線各提供 一 個(gè)測(cè)試輸入信號(hào)，可以達(dá)到與上述實(shí)施例相同的效果。 實(shí)施例二
如圖3a所示，為本發(fā)明液晶顯示裝置的測(cè)試電路實(shí)施例二的連接示意 圖。本發(fā)明實(shí)施例提供另外一種液晶顯示裝置的測(cè)試電路，包括分別與每條 柵極線104連接的測(cè)試引線102，測(cè)試引線102密集排布形成多個(gè)區(qū)域105， 每個(gè)區(qū)域105并聯(lián)后與至少一條測(cè)試總線連接。具體地，仍以19英寸液 晶顯示器為例， 一條柵極線104連接一條測(cè)試引線102,測(cè)試引線102密 集排布形成多個(gè)區(qū)域105，其中每720根測(cè)試引線102為一個(gè)區(qū)域105。 本發(fā)明實(shí)施例中各個(gè)區(qū)域105之間釆用并聯(lián)的方式連接到測(cè)試總線上。在 每個(gè)區(qū)域105中，柵極線104按照編號(hào)的奇偶不同分為奇柵極線和偶柵極 線，相應(yīng)地，與柵極線連接的測(cè)試引線102分為奇測(cè)試引線203和偶測(cè)試 引線202，與測(cè)試引線連接的測(cè)試總線也分為奇測(cè)試總線205和偶測(cè)試總 線204，每個(gè)區(qū)域內(nèi)部的奇測(cè)試引線203之間以及偶測(cè)試引線202之間也 采用并聯(lián)的方式連接。測(cè)試信號(hào)分別從奇柵極線輸入端301和偶片冊(cè)極線輸 入端302輸入，分別到達(dá)奇測(cè)試總線205和偶測(cè)試總線204后，雙向輸入 到各區(qū)域105中的對(duì)冊(cè)極線104中。
如圖3b所示，為本發(fā)明液晶顯示裝置的測(cè)試電路實(shí)施例二的連接放大 圖，圖中只顯示了測(cè)試電路中的兩個(gè)區(qū)域105,從圖3b可以看出，每個(gè)區(qū)域 105上均存在各導(dǎo)線帶來(lái)的電阻，測(cè)試信號(hào)可以對(duì)每個(gè)區(qū)域105直接加信號(hào)， 將區(qū)域105之間的電阻轉(zhuǎn)移在測(cè)試總線上。因此，當(dāng)測(cè)試信號(hào)從輸入端輸入， 在到達(dá)各區(qū)域105中的柵極線104的過(guò)程中只經(jīng)過(guò)各區(qū)域105上的線電阻。
如圖3c所 示，為本發(fā)明液晶顯示裝置的測(cè)試電路實(shí)施例二的簡(jiǎn)略電 路圖，本圖也是對(duì)上述19英寸液晶顯示器所作的簡(jiǎn)化，同圖2c類似。根 據(jù)實(shí)施例 一 中對(duì)簡(jiǎn)化測(cè)試電路的分析，本實(shí)施例中測(cè)試信號(hào)/人最先達(dá)到 的柵極線到最后到達(dá)的柵極線也經(jīng)過(guò)了阻容延遲為(5/2*r*C)的衰減。 再如圖lc所示，現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試電if各中測(cè)試信號(hào)從輸入端60到第二數(shù)據(jù)線80的過(guò)程中造成的阻容延遲為23*r*C，因此，改進(jìn)后的測(cè)試電路的 信號(hào)衰減比現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試電路的信號(hào)衰減明顯減少了 ，只為現(xiàn)有技術(shù)的 17. 4%。
本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)改變測(cè)試電路中柵極線一端的輸入信號(hào)布局，由串 聯(lián)改為并聯(lián)，并且雙向輸入測(cè)試信號(hào)，明顯改善了信號(hào)衰減現(xiàn)象，從而使 得對(duì)像素的充電更加均勻，測(cè)試效果更好。同時(shí)，由于線路之間均采用并 聯(lián)連接，即使一路測(cè)試信號(hào)線受損，其他并聯(lián)的信號(hào)線仍然能對(duì)相對(duì)應(yīng)的 柵極線加信號(hào)，可以最大程度上減小不能測(cè)試的區(qū)域，保證良好的測(cè)試效 果。
本發(fā)明實(shí)施例還可以采用多路相同的測(cè)試輸入信號(hào)輸入，為每個(gè)測(cè)試 總線各提供一 個(gè)測(cè)試輸入信號(hào)，可以達(dá)到與上述實(shí)施例相同的效果。
本發(fā)明實(shí)施例也可以將數(shù)據(jù)線 一 端和柵極線 一 端的測(cè)試電路均作以 上改進(jìn)，通過(guò)改變兩端測(cè)試信號(hào)的輸入布局，可以進(jìn)一步提高區(qū)域內(nèi)和區(qū) 域相互間的電壓均勻性，進(jìn)一步改善測(cè)試效果。
最后應(yīng)說(shuō)明的是以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案而非對(duì)其進(jìn) 行限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技 術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解其依然可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換， 而這些修改或者等同替換亦不能使修改后的技術(shù)方案脫離本發(fā)明技術(shù)方案的 精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種液晶顯示裝置的測(cè)試電路，包括分別與每條數(shù)據(jù)線連接的測(cè)試引線，所述測(cè)試引線密集排布形成多個(gè)區(qū)域，其特征在于每個(gè)區(qū)域并聯(lián)后與至少一條測(cè)試總線連接。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置的測(cè)試電路，其特征在于所述數(shù) 據(jù)線包括奇數(shù)據(jù)線和偶數(shù)據(jù)線，所述測(cè)試引線包括奇測(cè)試引線和偶測(cè)試引線， 所述奇數(shù)據(jù)線與所述奇測(cè)試引線相連，所述偶數(shù)據(jù)線與所述偶測(cè)試引線相連。
3. —種液晶顯示裝置的測(cè)試電路，包括分別與每條棚-極線連接的測(cè)試引 線，所述測(cè)試引線密集排布形成多個(gè)區(qū)域，其特征在于每個(gè)區(qū)域并聯(lián)后與至 少一條測(cè)試總線連接。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的液晶顯示裝置的測(cè)試電路，其特征在于所述柵 極線包括奇柵極線和偶柵極線，所述測(cè)試引線包括奇測(cè)試引線和偶測(cè)試引線， 所述奇沖冊(cè)才及線與所述奇測(cè)試引線相連，所述偶對(duì)冊(cè)極線與所述偶測(cè)試引線相連。
全文摘要
本發(fā)明公開了液晶顯示裝置的測(cè)試電路，其中一種測(cè)試電路包括分別與每條數(shù)據(jù)線連接的測(cè)試引線，測(cè)試引線密集排布形成多個(gè)區(qū)域，每個(gè)區(qū)域并聯(lián)后與至少一條測(cè)試總線連接。另一種測(cè)試電路包括分別與每條柵極線連接的測(cè)試引線，測(cè)試引線密集排布形成多個(gè)區(qū)域，每個(gè)區(qū)域并聯(lián)后與至少一條測(cè)試總線連接。本發(fā)明通過(guò)改變測(cè)試電路中數(shù)據(jù)線或柵極線一端的輸入信號(hào)布局，使得測(cè)試信號(hào)并聯(lián)雙向輸入，改善了測(cè)試輸入信號(hào)的衰減，本發(fā)明無(wú)需改變?cè)O(shè)備軟硬件結(jié)構(gòu)和工藝過(guò)程，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，易于實(shí)現(xiàn)。
文檔編號(hào)G01R31/00GK101556383SQ20081010387
公開日2009年10月14日 申請(qǐng)日期2008年4月11日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月11日
發(fā)明者崢 王 申請(qǐng)人:北京京東方光電科技有限公司