專利名稱：電子提花機(jī)的龍頭檢測(cè)方法及采用該方法的檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于紡織機(jī)械領(lǐng)域，特別是涉及電子提花機(jī)龍頭檢測(cè)方法及采用該方法的檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)的電子提花機(jī)龍頭生產(chǎn)廠家對(duì)其生產(chǎn)的龍頭進(jìn)行檢測(cè)一般是在龍頭出廠前，采用人工檢查、試織等開(kāi)環(huán)控制的方法，試織工作不僅需要很長(zhǎng)時(shí)間，而且需要消耗大量的人力物力，并且準(zhǔn)確性不高。特別是很多問(wèn)題只能在使用中發(fā)現(xiàn)，這不僅給使用者帶來(lái)不便，而且也變相地增加了廠家的成本，所以有必要在出廠之前準(zhǔn)確和及時(shí)地發(fā)現(xiàn)存在錯(cuò)誤的提針的數(shù)目及其位置。
中國(guó)技術(shù)雜志“儀器儀表學(xué)報(bào)”第26卷第3期，2006年3出版，文章題目“基于DSP的電子提花龍頭檢測(cè)器設(shè)計(jì)”，公開(kāi)了一種電子提花機(jī)龍頭檢測(cè)器的技術(shù)方案。在提花機(jī)龍頭針位下方連接有鋼片，鋼片中間開(kāi)孔，提花時(shí)開(kāi)孔位于光電傳感器中間，產(chǎn)生一個(gè)信號(hào)。傳感器間距為9mm，在傳感器檢測(cè)板上排列，每塊板上正反兩面共安裝64個(gè)傳感器，對(duì)于針數(shù)為2688的電子提花龍頭，需要42塊傳感器檢測(cè)板。將2688個(gè)位，按16個(gè)一組，編成168組，每組占用一個(gè)地址。用DSP采樣數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)寬度為16位，一次讀取一組信息，讀操作168次，完成信息采樣。
中國(guó)技術(shù)雜志“紡織學(xué)報(bào)”第26卷第4期，2005年8月出版，文章題目“基于ARM的電子提花龍頭檢測(cè)器設(shè)計(jì)”，有與前述文章基本相同的技術(shù)方案，只是采用ARM做處理器，采樣數(shù)據(jù)寬度為32位，讀操作84次完成2688針采樣。
以上技術(shù)方案可以概括為二個(gè)要點(diǎn)1.提花位置檢測(cè)采用光電傳感器方案，每針一個(gè)光電傳感器，傳感器間距為9mm。2.數(shù)據(jù)由微處理器通過(guò)并行口讀入，傳感器需要分組，每組分配一個(gè)地址，因此系統(tǒng)需要有一套時(shí)序和地址譯碼電路，用CPLD實(shí)現(xiàn)。
以上技術(shù)方案檢測(cè)電路復(fù)雜，成本高，裝置本身的制作難度大，可靠性不高，傳感器耗電大，峰值電流高達(dá)160安，檢測(cè)針數(shù)僅2688針，不便于針數(shù)擴(kuò)展，對(duì)于5120針以上的電子提花機(jī)檢測(cè)，必須考慮新的檢測(cè)方法和檢測(cè)裝置。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的就是為解決現(xiàn)有技術(shù)的不足而提供一種檢測(cè)較方便，成本較低且便于針數(shù)擴(kuò)展的電子提花機(jī)的龍頭檢測(cè)方法和采用該方法的檢測(cè)裝置。
為解決上述技術(shù)問(wèn)題本發(fā)明的技術(shù)方案為一種電子提花機(jī)的龍頭檢測(cè)方法，所述的電子提花機(jī)的龍頭包括多根依次排列設(shè)置且作上下運(yùn)動(dòng)的提針，該方法包括如下步驟(a)、提針位置檢測(cè)步驟在所述的每根提針下端部連接可導(dǎo)電的鋼綜、與所述的鋼綜相滑動(dòng)連接的檢測(cè)開(kāi)關(guān)，所述的鋼綜兩端設(shè)置有絕緣的尼龍接頭，所述的檢測(cè)開(kāi)關(guān)包括一公共電極、位于公共電極下方的檢測(cè)電極，在提針被提起的狀態(tài)下，所述的尼龍接頭與公共電極或檢測(cè)電極相接觸，所述的檢測(cè)開(kāi)關(guān)處于斷開(kāi)狀態(tài)；在提針落下的狀態(tài)下，所述的鋼綜分別與所述的公共電極和檢測(cè)電極相接觸，所述的檢測(cè)開(kāi)關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)；(b)、設(shè)置采樣器步驟選擇多個(gè)具有并入串出且有存貯功能的采樣器，所述的每個(gè)采樣器具有多個(gè)并行數(shù)據(jù)輸入端，且并行數(shù)據(jù)輸入端的數(shù)目與所述的提針針數(shù)相同，多個(gè)所述的采樣器具有共同的采樣數(shù)據(jù)鎖存控制端、共同的串行數(shù)據(jù)輸出端，將步驟(a)中每個(gè)檢測(cè)電極一一連接到所述的采樣器的并行數(shù)據(jù)輸入端上；(c)、提針位置數(shù)據(jù)采樣步驟提針工作后，按每一緯的開(kāi)口時(shí)序?qū)μ後樜恢眠M(jìn)行采樣，向所述的采樣器的數(shù)據(jù)鎖存控制端輸入鎖存脈沖信號(hào)，則每個(gè)檢測(cè)電極的位置狀態(tài)被鎖存入所述的采樣器；每一緯采樣結(jié)束后啟動(dòng)串行數(shù)據(jù)輸出端，將采樣器中鎖存的每個(gè)檢測(cè)電極的位置狀態(tài)順序讀出；(d)、位置數(shù)據(jù)對(duì)比步驟將讀出的采樣器中的數(shù)據(jù)值與預(yù)期數(shù)據(jù)值相對(duì)應(yīng)比較，若有錯(cuò)誤發(fā)出報(bào)警信號(hào)，并報(bào)告出錯(cuò)的提針位置；(e)、重復(fù)上述步驟(c)到步驟(d)，直至檢測(cè)結(jié)束。
所述的采樣器為并入串出移位寄存器或具有串行接口的微處理器(MCU)的一種。
根據(jù)上述的檢測(cè)方法，本發(fā)明還提供了一種電子提花機(jī)龍頭檢測(cè)裝置，它包括一控制板、多塊檢測(cè)板，所述的每塊檢測(cè)板上設(shè)置有公共電極、相間隔排列的多個(gè)檢測(cè)電極、并行數(shù)據(jù)輸入端與每個(gè)檢測(cè)電極相連接的多個(gè)并入串出采樣器，所述的控制板包括用于串行接收所述的采樣器輸出的提針位置數(shù)據(jù)信息的嵌入式微處理器、用于存儲(chǔ)正確花紋數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)。
該技術(shù)方案中，采樣器為并入串出移位寄存器或具有串行接口的微處理器(MCU)的一種。
所述的每個(gè)檢測(cè)電極的間距為4mm-6mm，從而使得相鄰的電極間不會(huì)發(fā)生短路碰撞。
所述的每個(gè)檢測(cè)電極通過(guò)一上拉電阻與供電電壓相電連接。
所述的檢測(cè)電極與所述的上拉電阻的連接端與地線之間連接有濾波電容。
所述的存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)包括用于接收正確花紋數(shù)據(jù)并將該數(shù)據(jù)送到嵌入式微處理器的無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸模塊、用于存儲(chǔ)經(jīng)過(guò)所述的嵌入式微處理器格式處理后的花紋數(shù)據(jù)的非易失性存儲(chǔ)器。
所述的存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)還包括可移動(dòng)存儲(chǔ)介質(zhì)、與所述的可移動(dòng)存儲(chǔ)介質(zhì)和嵌入式微處理器進(jìn)行數(shù)據(jù)交互的讀寫操作接口。
所述的可移動(dòng)存儲(chǔ)介質(zhì)和讀寫操作接口為U盤、U盤接口或存儲(chǔ)卡、存儲(chǔ)卡接口中的一種。
所述的控制板還包括狀態(tài)表示輸出接口，所述的狀態(tài)表示輸出接口用以與外部計(jì)算機(jī)或顯示界面相電連接。
所述的狀態(tài)表示輸出接口為RS232、RS485、ZigBee接口中的一種。
由于采用了上述的技術(shù)方案，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)為由于在每根提針下端部連接可導(dǎo)電的鋼綜、與鋼綜相滑動(dòng)連接的檢測(cè)開(kāi)關(guān)，通過(guò)檢測(cè)開(kāi)關(guān)的導(dǎo)通與斷開(kāi)從而可獲取提針的提花與否的信息，該信息經(jīng)由采樣器采樣，并與正確的花紋數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，從而可檢測(cè)出提針的出錯(cuò)信息，此方法簡(jiǎn)單易行，且利用此方法設(shè)計(jì)的檢測(cè)裝置簡(jiǎn)單可靠，同時(shí)由于用檢測(cè)板的方式，可適應(yīng)針數(shù)不同的龍頭，便于擴(kuò)展。


附圖1為實(shí)施例一中的檢測(cè)板的電原理示意圖；附圖2為實(shí)施例一中檢測(cè)板與控制板的功能框圖；附圖3為實(shí)施例二中的檢測(cè)板的電原理示意圖；附圖4為實(shí)施例二中的控制板與檢測(cè)板的功能框圖；其中1、檢測(cè)板；2、控制板；21、嵌入式微處理器；22、存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)；221、無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸模塊；222、非易失性存儲(chǔ)器；223、可移動(dòng)存儲(chǔ)介質(zhì)；23、狀態(tài)表示輸出接口；24、斷電檢測(cè)電路；25、串行數(shù)據(jù)讀入電路；26、串行接口；3、同步信號(hào)模塊。
具體實(shí)施例方式
電子提花機(jī)的龍頭包括多根依次排列設(shè)置且作上下運(yùn)動(dòng)的提針，現(xiàn)有的提花機(jī)龍頭的提針數(shù)越來(lái)越多，大提花機(jī)已經(jīng)使用5120針、10240針的龍頭出現(xiàn)，并且針數(shù)具有擴(kuò)大的趨勢(shì)，因此對(duì)提花機(jī)的龍頭檢測(cè)采用先進(jìn)的技術(shù)已是必然，本發(fā)明所涉及的電子提花機(jī)的龍頭檢測(cè)方法，就是提供一種簡(jiǎn)單可靠，功耗低，便于擴(kuò)展的龍頭檢測(cè)方法，該方法主要包括如下步驟(a)、提針位置檢測(cè)步驟在所述的每根提針下端部連接可導(dǎo)電的鋼綜、與所述的鋼綜相滑動(dòng)連接的檢測(cè)開(kāi)關(guān)，所述的鋼綜兩端設(shè)置有絕緣的尼龍接頭，所述的檢測(cè)開(kāi)關(guān)包括一公共電極、位于公共電極下方的檢測(cè)電極，在提針被提起的狀態(tài)下，所述的尼龍接頭與公共電極或檢測(cè)電極相接觸，此時(shí)檢測(cè)開(kāi)關(guān)處于斷開(kāi)狀態(tài)；在提針落下的狀態(tài)下，所述的鋼綜分別與所述的公共電極和檢測(cè)電極相接觸，此時(shí)檢測(cè)開(kāi)關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)；(b)、設(shè)置采樣器步驟選擇多個(gè)具有并入串出且有存貯功能的采樣器，所述的每個(gè)采樣器具有多個(gè)并行數(shù)據(jù)輸入端，且并行數(shù)據(jù)輸入端的數(shù)目與所述的提針針數(shù)相同，多個(gè)所述的采樣器具有共同的采樣數(shù)據(jù)鎖存控制端、共同的串行數(shù)據(jù)輸出端，將步驟(a)中每個(gè)檢測(cè)電極一一連接到所述的采樣器的并行數(shù)據(jù)輸入端上，所述的采樣器可選擇并入串出移位寄存器或帶有串行口的微處理器；(c)、提針位置數(shù)據(jù)采樣步驟提針工作后，按每一緯的開(kāi)口時(shí)序?qū)μ後樜恢眠M(jìn)行采樣，向所述的采樣器的數(shù)據(jù)鎖存控制端輸入鎖存脈沖信號(hào)，則每個(gè)檢測(cè)電極的位置狀態(tài)被鎖存入所述的采樣器；每一緯采樣結(jié)束后啟動(dòng)串行數(shù)據(jù)輸出端，將采樣器中鎖存的每個(gè)檢測(cè)電極的位置狀態(tài)順序讀出；(d)、位置數(shù)據(jù)對(duì)比步驟將讀出的采樣器中的數(shù)據(jù)值與預(yù)期數(shù)據(jù)值相對(duì)應(yīng)比較，若有錯(cuò)誤發(fā)出報(bào)警信號(hào)，并報(bào)告出錯(cuò)的提針位置；(e)、重復(fù)上述步驟(c)到步驟(d)，直至檢測(cè)結(jié)束。
本發(fā)明同時(shí)還提供了根據(jù)上述的龍頭檢測(cè)方法的所有技術(shù)特征設(shè)計(jì)的檢測(cè)裝置，下面以兩個(gè)具體的實(shí)施例加以說(shuō)明。
實(shí)施例一圖1為本發(fā)明檢測(cè)板的電原理圖，在該塊檢測(cè)板1上設(shè)置有多個(gè)并入串出移位寄存器U1～Un、多個(gè)檢測(cè)開(kāi)關(guān)。并入串出移位寄存器用于實(shí)現(xiàn)上述檢測(cè)方法中的并入串出采樣器的功能，每個(gè)并入串出寄存器具有8位并行數(shù)據(jù)輸入口，可以采樣8個(gè)位置的所述的檢測(cè)開(kāi)關(guān)，其中DI為并入串出移位寄存器的串行數(shù)據(jù)輸入線，DO為并入串出移位寄存器的串行數(shù)據(jù)輸出線，PL為并入串出移位寄存器的并行數(shù)據(jù)鎖存線，CP為并入串出移位寄存器的移位脈沖時(shí)鐘線，CE為并入串出移位寄存器的移位脈沖許可線。多個(gè)并入串出移位寄存器相串聯(lián)，即多個(gè)移位寄存器串聯(lián)組成寄存器列，將并入串出移位寄存器U1的串行輸出線DO連接到并入串出移位寄存器U2的串行輸入線DI，并入串出移位寄存器U2的串行輸出線DO連接到并入串出移位寄存器U3的串行輸入線DI，依次類推，且將每個(gè)并入串出移位寄存器的并口數(shù)據(jù)鎖存端PL連接在一起，移位時(shí)鐘端CP連接在一起，移位時(shí)鐘許可端CE連接在一起。
檢測(cè)開(kāi)關(guān)在圖1中只是一個(gè)開(kāi)關(guān)符號(hào)，實(shí)際制作時(shí)，在印制板上焊接有公共電極和檢測(cè)電極，公共電極是開(kāi)關(guān)接地的一端，公共電極是條形貫通的，統(tǒng)一接低電位；檢測(cè)電極是連接上拉電阻的一端，檢測(cè)電極是各個(gè)獨(dú)立的，通過(guò)上拉電阻接高電位，且相鄰的檢測(cè)電極在印制板上的距離為5mm。所述的檢測(cè)電極與所述的上拉電阻的連接端與地線之間還連接有濾波電容，該濾波電容起濾波作用，減少開(kāi)關(guān)噪聲。
將檢測(cè)開(kāi)關(guān)的檢測(cè)電極一一連接到并入串出移位寄存器的并行數(shù)據(jù)輸入口上，從而形成整個(gè)檢測(cè)板。
對(duì)于一個(gè)5120針的提花機(jī)龍頭檢測(cè)裝置，需要有5120個(gè)檢測(cè)開(kāi)關(guān)，在實(shí)際制作的時(shí)候在一塊檢測(cè)板上安裝80個(gè)檢測(cè)開(kāi)關(guān)，每16塊這樣的板組成一組，每組檢測(cè)1280針，4組這樣的檢測(cè)板就實(shí)現(xiàn)5120針的檢測(cè)。所有的檢測(cè)板通過(guò)連接電纜和接插件連接起來(lái)。
同時(shí)，在提花機(jī)龍頭的每一根提針的下端部依次連接綜線、鋼綜、彈簧、彈簧支架，鋼綜二端有尼龍接頭，用以連接綜線和彈簧，鋼綜是導(dǎo)體，尼龍接頭是絕緣體，鋼綜在彈簧的作用下保持一定張力，尼龍接頭和鋼綜構(gòu)成了檢測(cè)開(kāi)關(guān)的活動(dòng)電極，當(dāng)尼龍接頭與公共電極或檢測(cè)電極相接觸，檢測(cè)開(kāi)關(guān)處于斷開(kāi)狀態(tài)；當(dāng)鋼綜分別與公共電極和檢測(cè)電極相接觸，檢測(cè)開(kāi)關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)；因此當(dāng)提針上下運(yùn)動(dòng)時(shí)，帶動(dòng)鋼綜上下運(yùn)動(dòng)，使得鋼綜和尼龍接頭始終保持與檢測(cè)開(kāi)關(guān)的兩個(gè)電極相接觸，從而使得檢測(cè)開(kāi)關(guān)在導(dǎo)通與斷開(kāi)狀態(tài)之間進(jìn)行轉(zhuǎn)換，通過(guò)并入串出移位寄存器讀取該導(dǎo)通與斷開(kāi)狀態(tài)的信息就可以對(duì)提針的位置信息進(jìn)行采樣。
附圖2為控制板與檢測(cè)板連接關(guān)系原理方框圖，其中，控制板2包括用于串行接收所述的檢測(cè)板1上的并入串出移位寄存器輸出的提針位置數(shù)據(jù)信息的嵌入式微處理器21、用于存儲(chǔ)正確花紋數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)22，所述的嵌入式微處理器21可以采用ARM處理器或DSP處理器，所述的存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)22包括用于接收正確花紋數(shù)據(jù)并將該數(shù)據(jù)送到嵌入式微處理器的無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸模塊221、用于存儲(chǔ)經(jīng)過(guò)所述的嵌入式微處理器格式處理后的花紋數(shù)據(jù)的非易失性存儲(chǔ)器222，在本實(shí)施例中該無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸模塊221采用ZigBee模塊，非易失性存儲(chǔ)器采用FLASH存儲(chǔ)器。
存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)22還包括可移動(dòng)存儲(chǔ)介質(zhì)223、與可移動(dòng)存儲(chǔ)介質(zhì)223和嵌入式微處理器21進(jìn)行數(shù)據(jù)交互的讀寫操作接口，其中可移動(dòng)存儲(chǔ)介質(zhì)和讀寫操作接口為U盤、U盤接口或存儲(chǔ)卡、存儲(chǔ)卡接口中的一種，存儲(chǔ)卡包括SD卡、CF卡、MMC卡、MS卡、XD卡中的一種。
控制板還設(shè)置有狀態(tài)表示輸出接口23，所述的狀態(tài)表示輸出接口23用以與外部計(jì)算機(jī)或顯示界面相電連接，所述的狀態(tài)表示輸出接口23可采用RS232、RS485、ZigBee接口中的一種。
在檢測(cè)板1與嵌入式微處理器21之間還電連接有串行數(shù)據(jù)讀入電路25，用于串入的從檢測(cè)板1上讀取數(shù)據(jù)，同時(shí)，為了在斷電時(shí)數(shù)據(jù)能夠得到保存，控制板上還設(shè)有斷電檢測(cè)電路24。
控制板1上還連接有一同步信號(hào)模塊3的輸出端，該同步信號(hào)模塊3從提花機(jī)上取出與提花機(jī)運(yùn)行狀態(tài)同步的電信號(hào)，嵌入式微處理器21檢測(cè)這些信號(hào)，并實(shí)現(xiàn)同步檢測(cè)。
在進(jìn)行龍頭檢測(cè)前，嵌入式微處理器21從非易失性存儲(chǔ)器222中讀出提花編程數(shù)據(jù)，并存貯在FLASH存貯器上，經(jīng)過(guò)格式轉(zhuǎn)換，形成與檢測(cè)板對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)格式，處理后的數(shù)據(jù)也存貯在FLASH上。當(dāng)需要對(duì)龍頭進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，啟動(dòng)提花龍頭，提針工作后，將按每一緯的開(kāi)口時(shí)序?qū)μ後樜恢眠M(jìn)行采樣，在規(guī)定的檢測(cè)時(shí)刻在并口數(shù)據(jù)鎖存端輸入鎖存脈沖信號(hào)，則每個(gè)檢測(cè)電極的狀態(tài)被鎖存入移位寄存器，此時(shí)的移位時(shí)鐘許可端為禁止?fàn)顟B(tài)；采樣結(jié)束后，置移位時(shí)鐘許可端為許可狀態(tài)，輸入移位時(shí)鐘，在寄存器列的末位串行輸出線上順序讀出整個(gè)寄存器列的值，輸入移位時(shí)鐘脈沖的個(gè)數(shù)要大于等于寄存器列的總位數(shù)，暫存讀出的數(shù)據(jù)，置移位時(shí)鐘許可端為禁止?fàn)顟B(tài)，停止輸入移位時(shí)鐘脈沖，最后嵌入式微處理器將讀出的寄存器列數(shù)據(jù)值與正確的數(shù)據(jù)值的排列順序調(diào)整一致，并對(duì)應(yīng)比較，若有錯(cuò)誤做出標(biāo)記，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)，對(duì)每一緯都進(jìn)行上述的檢測(cè)工作，檢測(cè)一定的時(shí)間后停止檢測(cè)。
實(shí)施例二圖3為本實(shí)施例檢測(cè)板1電原理框圖，其采用微處理器MCU作為采樣器。微處理器MCU的并行輸入口線連接位置檢測(cè)開(kāi)關(guān)，此中的檢測(cè)開(kāi)關(guān)結(jié)構(gòu)與實(shí)施例一中的檢測(cè)開(kāi)關(guān)相同，在此不再贅述。另外微處理器MCU設(shè)置有二根口線作為同步信號(hào)接口，微處理器MCU的串行接口用作串行數(shù)據(jù)輸出。通常微處理器MCU的口線比較多，但是要達(dá)到一塊檢測(cè)板上80個(gè)檢測(cè)開(kāi)關(guān)的數(shù)量，用一片大型的微處理器MCU并不經(jīng)濟(jì)，因此選擇使用2-4片規(guī)模較小的MCU，這樣比較經(jīng)濟(jì)，在檢測(cè)板上布線也比較容易。多片MCU通過(guò)同步信號(hào)接口取得每一緯的時(shí)序信號(hào)，從而控制同步采樣。多片MCU通過(guò)串行接口將采樣數(shù)據(jù)傳遞出去。串行接口可以用RS485接口、I2C接口、CAN接口之一，每個(gè)檢測(cè)板分配不同的地址編碼，在實(shí)際制作的時(shí)候可以為MCU分別固化不同的地址碼，以降低成本。當(dāng)然也可以通過(guò)拔碼開(kāi)關(guān)設(shè)定地址碼，這樣通用性好，但是要占用口線資源，這為本領(lǐng)域公知技術(shù)，不再贅述。
圖4為本實(shí)施例控制板電原理框圖，其基本構(gòu)成與實(shí)施例一相同，只是為了配合使用MCU作采樣器的檢測(cè)板，需要有相應(yīng)的串行接口26，此處控制板2上的ARM為串行接口26的主機(jī)，檢測(cè)板上的MCU均為串行接口26的從機(jī)，控制板2通過(guò)串行接口26讀取各檢測(cè)板上的數(shù)據(jù)。此方案的優(yōu)點(diǎn)在于，采樣數(shù)據(jù)可以多次讀取，因而抗干擾能力較強(qiáng)。實(shí)施例一的移位寄存器方案，數(shù)據(jù)只能讀取一次，如果因?yàn)楦蓴_影響了數(shù)據(jù)的正常移位輸出，則會(huì)出現(xiàn)傳輸失敗的情況。但是實(shí)施例二的成本要高一些。
上述實(shí)施例只為說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思及特點(diǎn)，其目的在于讓熟悉此項(xiàng)技術(shù)的人士能夠了解本發(fā)明的內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，并不能以此限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。凡根據(jù)本發(fā)明精神實(shí)質(zhì)所作的等效變化或修飾，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種電子提花機(jī)的龍頭檢測(cè)方法，所述的電子提花機(jī)的龍頭包括多根依次排列設(shè)置且作上下運(yùn)動(dòng)的提針，其特征在于該方法包括如下步驟(a)、提針位置檢測(cè)步驟在所述的每根提針下端部連接可導(dǎo)電的鋼綜、與所述的鋼綜相滑動(dòng)連接的檢測(cè)開(kāi)關(guān)，所述的鋼綜兩端設(shè)置有絕緣的尼龍接頭，所述的檢測(cè)開(kāi)關(guān)包括一公共電極、位于公共電極下方的檢測(cè)電極，在提針被提起的狀態(tài)下，所述的尼龍接頭與公共電極或檢測(cè)電極相接觸，所述的檢測(cè)開(kāi)關(guān)處于斷開(kāi)狀態(tài)；在提針落下的狀態(tài)下，所述的鋼綜分別與所述的公共電極和檢測(cè)電極相接觸，所述的檢測(cè)開(kāi)關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)；(b)、設(shè)置采樣器步驟選擇多個(gè)具有并入串出且有存貯功能的采樣器，所述的每個(gè)采樣器具有多個(gè)并行數(shù)據(jù)輸入端，且多個(gè)采樣器的并行數(shù)據(jù)輸入端的數(shù)目與所述的提針針數(shù)相同，多個(gè)所述的采樣器具有共同的采樣數(shù)據(jù)鎖存控制端、共同的串行數(shù)據(jù)輸出端，將步驟(a)中每個(gè)檢測(cè)電極一一連接到所述的采樣器的并行數(shù)據(jù)輸入端上；(c)、提針位置數(shù)據(jù)采樣步驟提針工作后，按每一緯的開(kāi)口時(shí)序?qū)μ後樜恢眠M(jìn)行采樣，向所述的采樣器的數(shù)據(jù)鎖存控制端輸入鎖存脈沖信號(hào)，則每個(gè)檢測(cè)電極的位置狀態(tài)被鎖存入所述的采樣器；每一緯采樣結(jié)束后啟動(dòng)串行數(shù)據(jù)輸出端，將采樣器中鎖存的每個(gè)檢測(cè)電極的位置狀態(tài)順序讀出；(d)、位置數(shù)據(jù)對(duì)比步驟將讀出的采樣器中的數(shù)據(jù)值與預(yù)期數(shù)據(jù)值相對(duì)應(yīng)比較，若有錯(cuò)誤發(fā)出報(bào)警信號(hào)，并報(bào)告出錯(cuò)的提針位置；(e)、重復(fù)上述步驟(c)到步驟(d)，直至檢測(cè)結(jié)束。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子提花機(jī)的龍頭檢測(cè)方法，其特征在于所述的采樣器為并入串出移位寄存器或具有串行接口的微處理器(MCU)中的一種。
3.一種電子提花機(jī)龍頭檢測(cè)裝置，其特征在于它包括一控制板(2)、多塊檢測(cè)板(1)，所述的每塊檢測(cè)板(1)上設(shè)置有公共電極、相間隔排列的多個(gè)檢測(cè)電極、并行數(shù)據(jù)輸入端與每個(gè)檢測(cè)電極相連接的多個(gè)并入串出采樣器，所述的控制板(1)包括用于串行接收所述的采樣器輸出的提針位置數(shù)據(jù)信息的嵌入式微處理器(21)、用于存儲(chǔ)正確花紋數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)(22)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子提花機(jī)的龍頭檢測(cè)裝置，其特征在于所述的采樣器為并入串出移位寄存器或具有串行接口的微處理器(MCU)的一種。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子提花機(jī)龍頭檢測(cè)裝置，其特征在于所述的每個(gè)檢測(cè)電極的間距為4mm-6mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子提花機(jī)龍頭檢測(cè)裝置，其特征在于所述的每個(gè)檢測(cè)電極通過(guò)一上拉電阻與供電電壓相電連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子提花機(jī)龍頭檢測(cè)裝置，其特征在于所述的檢測(cè)電極與所述的上拉電阻的連接端與地線之間連接有濾波電容。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子提花機(jī)龍頭檢測(cè)裝置，其特征在于所述的存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)(22)包括用于接收正確花紋數(shù)據(jù)并將該數(shù)據(jù)送到嵌入式微處理器(21)的無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸模塊(221)、用于存儲(chǔ)經(jīng)過(guò)所述的嵌入式微處理器(21)格式處理后的花紋數(shù)據(jù)的非易失性存儲(chǔ)器(222)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電子提花機(jī)龍頭檢測(cè)裝置，其特征在于所述的存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)還包括可移動(dòng)存儲(chǔ)介質(zhì)(223)、與所述的可移動(dòng)存儲(chǔ)介質(zhì)和嵌入式微處理器進(jìn)行數(shù)據(jù)交互的讀寫操作接口。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子提花機(jī)龍頭檢測(cè)裝置，其特征在于所述的可移動(dòng)存儲(chǔ)介質(zhì)(223)和讀寫操作接口為U盤、U盤接口或存儲(chǔ)卡、存儲(chǔ)卡接口中的一種。
11.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子提花機(jī)龍頭檢測(cè)裝置，其特征在于所述的控制板還包括狀態(tài)表示輸出接口(23)，所述的狀態(tài)表示輸出接口用以與外部計(jì)算機(jī)或顯示界面相電連接。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的電子提花機(jī)龍頭檢測(cè)裝置，其特征在于所述的狀態(tài)表示輸出接口(23)為RS232、RS485、ZigBee接口中的一種。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種電子提花機(jī)的龍頭檢測(cè)方法及采用該方法的檢測(cè)裝置，通過(guò)在每根提針下連接檢測(cè)開(kāi)關(guān)，在提針上下運(yùn)動(dòng)的時(shí)候，由多個(gè)具有并入串出且具有存儲(chǔ)功能的采樣器采樣檢測(cè)開(kāi)關(guān)的導(dǎo)通與斷開(kāi)信息，采樣器將輸出的采樣信息輸出并與正確花紋信息進(jìn)行比較，從而獲知提針的出錯(cuò)信息，按照上述步驟實(shí)現(xiàn)的裝置，包括一控制板、多塊檢測(cè)板，每塊檢測(cè)板上設(shè)置有多個(gè)檢測(cè)開(kāi)關(guān)、并行數(shù)據(jù)輸入端與每個(gè)檢測(cè)開(kāi)關(guān)的檢測(cè)電極相連接的多個(gè)并入串出采樣器，控制板包括用于串行接收采樣器輸出的提針位置數(shù)據(jù)信息的嵌入式微處理器、用于存儲(chǔ)正確花紋數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)，利用此方法設(shè)計(jì)的檢測(cè)裝置簡(jiǎn)單可靠，同時(shí)由于用檢測(cè)板的方式，可適應(yīng)針數(shù)不同的龍頭，便于擴(kuò)展。
文檔編號(hào)G01M99/00GK101054751SQ200710022039
公開(kāi)日2007年10月17日 申請(qǐng)日期2007年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月28日
發(fā)明者李錫放 申請(qǐng)人:江蘇萬(wàn)工科技集團(tuán)有限公司