專利名稱：Pcb板測(cè)試儀的測(cè)試電路改良的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)量?jī)x器，更具體的說，為PCB板儀器的測(cè)試 電路改良。
背景技術(shù)：
現(xiàn)在的測(cè)試儀器測(cè)試元件電阻， 一般采用電流電壓法測(cè)試原理，即采 用將電流表或電壓表的測(cè)試探頭直接接觸在被測(cè)元件的兩端，電流表或電 壓表提供恒定的電壓或電流，通過測(cè)試回路的電流或電壓，達(dá)到測(cè)試元件 的電阻的目的。
這種結(jié)構(gòu)的測(cè)量?jī)x器，當(dāng)測(cè)量電阻值較大時(shí)，其測(cè)量精度可以保證， 但測(cè)量較小的電阻元件時(shí)，由于測(cè)量?jī)x器的測(cè)試探頭線本身有一定的內(nèi) 阻，與待測(cè)電阻相差較小時(shí)，測(cè)量值就會(huì)產(chǎn)生較大誤差，無法保證測(cè)量的 精度?，F(xiàn)在的市場(chǎng)測(cè)試儀器還沒有很好的克服這一技術(shù)難題。
對(duì)于PCB板測(cè)試，待測(cè)的元件內(nèi)阻一般相差較大，有時(shí)可能需要測(cè)量 內(nèi)阻上百兆歐姆的元件，有時(shí)可能需要測(cè)量一個(gè)幾毫歐姆的元件，另外， PCB板的測(cè)試點(diǎn)數(shù)多，元件的精度高，這無疑對(duì)PCB板的儀器產(chǎn)生更高的 要求。 發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)不足，提供一種測(cè)量精度高，測(cè)量的點(diǎn)數(shù) 多的PCB板儀器的測(cè)試電路改良。
本實(shí)用新型提供的PCB板測(cè)試儀的測(cè)試電路改良，測(cè)試電路設(shè)有恒 流源或恒壓源，測(cè)試電路連接有定值電阻，定值電阻連接運(yùn)算放大器一， 運(yùn)算放大器一的輸出端連接數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊，測(cè)試電路的兩個(gè)測(cè)量端子連接 高阻抗運(yùn)算放大器二，測(cè)試電路中還設(shè)有電子開關(guān)。
所述的定值電阻有多個(gè)，他們并聯(lián)在測(cè)試電路中，每個(gè)定值電阻都串 聯(lián)有一個(gè)開關(guān)。
所述的測(cè)試電路的恒流源或恒壓源直接連接兩個(gè)PNP三極管Ql、 的發(fā)射極，PNP三極管的基極Q1、 Q3串聯(lián)信號(hào)源SC, PNP三極管Q1、 Q3集電極分別連接測(cè)量端子P1、 P2，測(cè)量端子P1、 P2分別與兩個(gè)NPN 三極管Q2、 Q4的集電極相連，NPN三極管Q2、 Q4的基極與控制源SK 連接，此NPN三極管Q2、 Q4發(fā)射極同時(shí)定值電阻。
本實(shí)用新型有益效果在于本實(shí)用新型通過運(yùn)算放大器二直接與測(cè)量 端子相連接，由于運(yùn)算放大器二為高阻抗的元件，這相當(dāng)于將測(cè)試探頭線 本身的內(nèi)阻變?yōu)榱?，有效提高測(cè)量的精確程度，本實(shí)用新型還提供了恒壓 源和恒流源兩種測(cè)量電壓，使測(cè)量范圍較大程度的擴(kuò)大。


圖1為本實(shí)用新型的電路原理圖具體實(shí)施方式
以下僅為本實(shí)用新型較佳實(shí)施例，并不以此來限定本實(shí)用新型的保護(hù) 范圍。
見圖1所示，本實(shí)用新型采用的PCB板測(cè)試儀的測(cè)試電路改良，測(cè) 試電路提供恒流源或恒壓源，恒流源或恒壓源直接連接兩個(gè)PNP三極管
Ql、 Q3的發(fā)射極，此PNP三極管基極Q1、 Q3串聯(lián)信號(hào)源SC連接，此 PNP三極管Q1、 Q3集電極分別連接測(cè)量端子P1、 P2，測(cè)量觸點(diǎn)P1、 P2 分別與兩個(gè)NPN三極管Q2、 Q4的集電極相連，此NPN三極管Q2、 Q4 的基極與控制源SK連接，此NPN三極管Q2、 Q4發(fā)射極同時(shí)串聯(lián)定值電 阻到信號(hào)地，定值電阻有多個(gè)，其阻值各不相同，他們并聯(lián)在測(cè)試電路中， 每個(gè)定值電阻都串聯(lián)有一個(gè)開關(guān)，本實(shí)施例提供三個(gè)電阻R1、 R2和R3， 分別串聯(lián)開關(guān)K1、 K2和K3，其應(yīng)用與不同測(cè)量值的電路中。定值電阻 連接運(yùn)算放大器一的輸入端，運(yùn)算放大器的輸出端連接數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊，測(cè) 試電路的兩個(gè)測(cè)量端子P1、 P2還連接高阻抗運(yùn)算放大器二，在測(cè)量端子 Pl、 P2和高阻抗運(yùn)算放大器二的兩個(gè)端子之間設(shè)有電子開關(guān)Kl、 K2、 K3、 K4、 K5、 K6，以控制端子是否連通高阻抗運(yùn)算放大器二。
本電路為PCB板測(cè)試儀器的兩個(gè)量測(cè)端子的測(cè)試電路，實(shí)際的PCB 板測(cè)試儀器設(shè)置多個(gè)測(cè)試卡，每個(gè)測(cè)試卡集成了 256測(cè)試端子。
本實(shí)用新型的工作原理如下
1.當(dāng)測(cè)量端子P1、 P2連接待測(cè)電阻Rx的電阻值比較小時(shí)(0.005— 30歐姆)，測(cè)試電路連接恒流源，即電流值大小恒定，并已知電流值，三 極管開關(guān)通路Ql與Q4開通，電流從Ql流過Rx ，經(jīng)過Q4 、 K7和 定值電阻R1通入恒流源負(fù)端。此時(shí)開關(guān)K1、 K2、 K4、 K6、 K7閉合，運(yùn) 算放大器二與待測(cè)電阻Rx兩端直接相連通，可直接測(cè)出待測(cè)電阻Rx兩 端電壓，且運(yùn)算放大器二本身為高阻抗元件，直接測(cè)量端子P1、 P2連接, 相當(dāng)于將測(cè)試探頭線本身的內(nèi)阻變?yōu)榱?，運(yùn)算放大器二將經(jīng)過測(cè)得的結(jié)果 直接輸入A/D數(shù)模轉(zhuǎn)換，通過顯示器直接顯示測(cè)得的結(jié)果。
2. 當(dāng)測(cè)量端子P1、 P2連接待測(cè)電阻Rx的電阻值比較大時(shí)(l一100K 歐姆)，測(cè)試電路連接恒壓源，即電壓值大小恒定，并己知電壓值，三極 管開關(guān)通路Q1與Q4開通，電流從Q1流過Rx ，經(jīng)過Q4 、 K8和定 值電阻R2通入恒流源負(fù)端。此時(shí)開關(guān)K1、 K2、 K4、 K6、 K8閉合，定值 電阻Rl運(yùn)算放大器2與待測(cè)電阻Rx兩端直接相連通，可直接測(cè)出待測(cè) 電阻Rx兩端電壓，此時(shí)運(yùn)算放大器一可直接測(cè)定定值電阻R2兩端的電 壓，可得到電路中的電流值，運(yùn)算放大器一和運(yùn)算放大器二綜合得到測(cè)得 的結(jié)果直接輸入A/D數(shù)模轉(zhuǎn)換，通過顯示器直接顯示測(cè)得的結(jié)果。
3. 當(dāng)測(cè)量端子Pl 、P2連接待測(cè)電阻Rx的電阻值比較大時(shí)(1M—100M 歐姆)，測(cè)試電路連接恒壓源，即電壓值大小恒定，并已知電壓值，三極 管開關(guān)通路Q1與Q4開通，電流從Q1流過Rx ，經(jīng)過Q4 、 K9和定 值電阻R3通入恒流源負(fù)端。此時(shí)開關(guān)K9閉合，定值電阻R3運(yùn)算放大器 二與待測(cè)電阻Rx兩端直接相連通，可直接測(cè)出待測(cè)電阻Rx兩端電壓， 此時(shí)運(yùn)算放大器一可直接測(cè)定定值電阻R3兩端的電壓，可得到電路中的 電流值，運(yùn)算放大器一和運(yùn)算放大器二可測(cè)得待測(cè)電阻的電阻值。
總之，本實(shí)用新型通過運(yùn)算放大器二直接與測(cè)量端子相連接，由于運(yùn) 算放大器二為高阻抗的元件，這相當(dāng)于將測(cè)試探頭線本身的內(nèi)阻變?yōu)榱悖?有效提高測(cè)量的精確程度，本實(shí)用新型還提供了恒壓源和恒流源兩種測(cè)量 電壓，使測(cè)量范圍較大程度的擴(kuò)大。
權(quán)利要求1.PCB板測(cè)試儀的測(cè)試電路改良，其特征在于測(cè)試電路設(shè)有恒流源或恒壓源，測(cè)試電路連接有定值電阻，定值電阻連接運(yùn)算放大器一，運(yùn)算放大器一的輸出端連接數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊，測(cè)試電路的兩個(gè)測(cè)量端子連接高阻抗運(yùn)算放大器二，測(cè)試電路中還設(shè)有電子開關(guān)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCB板測(cè)試儀的測(cè)試電路改良，其特征在于所述的定值電阻有多個(gè)，它們并聯(lián)在測(cè)試電路中，每個(gè)定值電阻都串 聯(lián)有一個(gè)開關(guān)。
3. 根據(jù)權(quán)制要求1或2所述的PCB板測(cè)試儀的測(cè)試電路改良，其特 征在于:所述的測(cè)試電路的恒流源或恒壓源直接連接兩個(gè)PNP三極管Ql 、 Q3的發(fā)射極，PNP三極管的基極Ql、 Q3串聯(lián)信號(hào)源SC， PNP三極管 Ql、 Q3集電極分別連接測(cè)量端子P1、 P2，測(cè)量端子P1、 P2分別與兩個(gè) NPN三極管Q2、 Q4的集電極相連，NPN三極管Q2、 Q4的基極與控制 源SK連接，此NPN三極管Q2、 Q4發(fā)射極同時(shí)定值電阻。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種測(cè)量?jī)x器，更具體地說，為PCB板儀器的測(cè)試電路改良。測(cè)試電路設(shè)有恒流源或恒壓源，測(cè)試電路連接有定值電阻，定值電阻連接運(yùn)算放大器一，運(yùn)算放大器一的輸出端連接數(shù)模轉(zhuǎn)化模塊，測(cè)試電路的兩個(gè)測(cè)量端子連接高阻抗運(yùn)算放大器二，測(cè)試電路中還設(shè)有電子開關(guān)。本實(shí)用新型通過運(yùn)算放大器二直接與測(cè)量端子相連接，由于運(yùn)算放大器二為高阻抗的元件，這相當(dāng)于將測(cè)試探頭線本身的內(nèi)阻變?yōu)榱悖行岣邷y(cè)量的精確程度，本實(shí)用新型還提供了恒壓源和恒流源兩種測(cè)量電壓，使測(cè)量范圍較大程度的擴(kuò)大。
文檔編號(hào)G01R27/02GK201014993SQ20062015412
公開日2008年1月30日 申請(qǐng)日期2006年12月4日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月4日
發(fā)明者楊世光 申請(qǐng)人:楊世光