專利名稱：Pcb測試中實現(xiàn)四八密度共用的連線方法
PCB測試中實現(xiàn)四八密度共用的連線方法技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于印刷電路板(Printed Circuit Board; PCB )測試領(lǐng)域，尤其是指 一種網(wǎng)才各與測-〖式通道組的連線方法。背景技術(shù)：
隨著PCB高密度化的發(fā)展,要求使用更高密度的測試機來對PCB進行測試， 例如四密度測試機、八密度測試機等，其中，四密度測試機所使用的四密度網(wǎng) 格每平方英寸有400個測試點，兩個測試點的間距為50mil;八密度測試機所使 用的八密度網(wǎng)格每平方英寸有800個測試點，兩個測試點的間距為30mil。常見 的四密度測試機是配置四密度網(wǎng)格和與之配合的四密度測試通道組的，網(wǎng)格上 的測試點與測試通道組中的測試通道——對應(yīng)連4秦， 一個測試點連接一個測"R 通道，而在現(xiàn)有測試中，撒針的最大斜率可^f故到400mil，則能測的PCB的最大 密度為808點/平方英寸，超過此密度的PCB則不能在四密度測試機上進行測試， 而必須另外購置密度更高的測試機(例如八密度測試機)才能進行有效測試， 這就導(dǎo)致了 PCB測試成本的升高。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于提供一種PCB測試中實現(xiàn)四八密度共用的連線方法，用 于連接八密度設(shè)置的網(wǎng)格與四密度設(shè)置的測試通道組，以實現(xiàn)測試通道組以四 密度設(shè)置的測試機可以進行四密度測試和八密度測試兩種測試。本發(fā)明的目的是這樣實現(xiàn)的 一種PCB測試中實現(xiàn)四八密度共用的連線方 法，用于連接八密度網(wǎng)格和四密度測試通道組，將所述八密度網(wǎng)格均分為第一 區(qū)域、第二區(qū)域、第三區(qū)域及第四區(qū)域，所述第一區(qū)域上的奇數(shù)測試點列、偶 數(shù)測試點列分別與所述第二區(qū)域上的偶數(shù)測試點列、奇數(shù)測試點列順次對應(yīng)， 所述第三區(qū)域上的奇數(shù)測試點列、偶數(shù)測試點列分別與所迷第四區(qū)域上的偶數(shù) 測試點列、奇數(shù)測試點列順次對應(yīng)，相對應(yīng)的兩列上的測試點——對應(yīng)連接， 相連接的兩個測試點連接于所述四密度測試通道組中的一個測試通道。
上述PCB測試中實現(xiàn)四八密度共用的連線方法中，所述第一區(qū)域、第二區(qū) 域、第三區(qū)域及第四區(qū)域上相對應(yīng)的兩個測試點列，前一列的測試點與后一列 的測試點按照測試點的列順序依次--連接。上速PCB測試申賣現(xiàn)四入密度其用的連線古法中，所迷第一區(qū)城、第二區(qū) 域、第三區(qū)域及第四區(qū)域上相對應(yīng)的兩個測試點列，前一列的奇數(shù)測試點與后 一列的偶數(shù)測試點順次——連接，前一列的偶數(shù)測試點與后一列的奇數(shù)測試點 順次--連接。本發(fā)明的有益效果在于本發(fā)明所公開的PCB測試中實現(xiàn)四八密度共用的 連線方法基于現(xiàn)有的四密度測試機而對其進行改造，將其四密度網(wǎng)格更換成八 密度網(wǎng)格，并按照本發(fā)明所述將八密度網(wǎng)格與四密度測試機的四密度測試通道 組連接，進行PCB四密度測試時，選用八密度網(wǎng)格上的奇數(shù)測試點列，而偶數(shù) 測試點列懸空，所有的奇數(shù)測試點列構(gòu)成了四密度網(wǎng)格，且使每個測試通道對 應(yīng)檢測一個測試點，故可進行四密度測試，進行PCB八密度測試時，選用八密 度網(wǎng)格上的第二區(qū)域和第三區(qū)域，而第一區(qū)域和第四區(qū)域懸空，第二區(qū)域和第 三區(qū)域上的測試點構(gòu)成了八密度網(wǎng)格，且使每個測試通道對應(yīng)檢測一個測試點， 故可進行八密度測試，從而實現(xiàn)測試通道組以四密度設(shè)置的測試機可以進行四 密度測試和八密度測試兩種測試，降低了 PCB測試的成本。
下面結(jié)合附圖及實施例對本發(fā)明做進一步說明。圖1是本發(fā)明的網(wǎng)格與測試通道組的連線示意圖。圖2是本發(fā)明的網(wǎng)格與測試通道組的部分連線示意圖。圖3是本發(fā)明的另 一 實施例的網(wǎng)格與測試通道組的連線示意圖。圖4是本發(fā)明的與圖3同一實施例的網(wǎng)格與測試通道組的部分連線示意圖。
具體實施方式本發(fā)明所公開的PCB測試中實現(xiàn)四八密度共用的連線方法，其用于連接八 密度網(wǎng)格和四密度測試通道組，可對現(xiàn)有的四密度測試機進行改進，將其四密 度網(wǎng)格替換設(shè)置為八密度網(wǎng)格，使經(jīng)過改進后的'四密度測試機既可執(zhí)行四密度 測試，也可執(zhí)行八密度測試。
參考圖1和圖2所示，本發(fā)明提供有一八密度網(wǎng)格IO及一四密度測試通道 組20，將八密度網(wǎng)格10均分為第一區(qū)域12、第二區(qū)域14、第三區(qū)域16及第四 區(qū)域18等四個區(qū)域，每個區(qū)域上所設(shè)置的測試點IOO的數(shù)目相同。第一區(qū)域12 上的奇數(shù)測試點列烏第二區(qū)城14上的偶救測試點列順次對應(yīng)，即第一區(qū)域12 上的第1測試點列121、第3測試點列123、第5測試點列125、……分別對應(yīng) 于第二區(qū)域14上的第2測試點列142、第4測試點列144、第6測試點列146……， 相對應(yīng)的兩列上的測試點按照測試點的列順序依次連接，即第一區(qū)域12的第1 測試點列121上的第一個測試點與第二區(qū)域14的第2測試點列142上的第一個 測試點連接，第1測試點列121上的第二個測試點與第2測試點列142上的第二個測試點連接，……，依此類推，而實現(xiàn)所對應(yīng)的兩列上的測試點的--~對應(yīng)連接，相連接的兩個測試點連接于四密度測試通道組20中的一個測試通道 200;第一區(qū)域12上的偶數(shù)測試點列與第二區(qū)域14上的奇數(shù)測試點列順次對應(yīng)， 即第一區(qū)域12上的第2測試點列122、第4測試點列124、第6測試點列126、......分別對應(yīng)于第二區(qū)域14上的第1測試點列141、第3測試點列143、第5測試點列145.......,相對應(yīng)的兩列上的測試點按照測試點的列順序依次連接，即第一區(qū)域12的第2測試點列122上的第一個測試點與第二區(qū)域14的第1測試點 列141上的第一個測試點連接，第2測試點列122上的第二個測試點與第1測 試點列141上的第二個測試點連接，......，依此類推，而實現(xiàn)所對應(yīng)的兩列上的測試點的一>""對應(yīng)連接，相連接的兩個測試點連接于四密度測試通道組20中 的一個測試通道200。按照第一區(qū)域12與第二區(qū)域14的連線方法，以實現(xiàn)第三區(qū)域16與第四區(qū) 域18的連接，第三區(qū)域16上的奇數(shù)測試點列與第四區(qū)域18上的偶數(shù)測試點列 順次對應(yīng)，相對應(yīng)的兩列上的測試點按照測試點的列順序依次連接，相連接的 兩個測試點連接于四密度測試通道組20中的一個測試通道200;第三區(qū)域16上 的偶數(shù)測試點列與第四區(qū)域18上的奇數(shù)測試點列順次對應(yīng)，相對應(yīng)的兩列上的 測試點按照測試點的列順序依次連接，相連接的兩個測試點連接于四密度測試 通道組20中的一個測試通道200。基于現(xiàn)有的四密度測試機，將其四密度網(wǎng)格更換成八密度網(wǎng)格，使用本發(fā) 明所闡述的連線方法將八密度網(wǎng)絡(luò)連接于四密度測試機上的四密度測試通道 組，進行PCB四密度測試時，逸用八密度網(wǎng)格上的奇數(shù)測試點列，而偶數(shù)測試 點列懸空，所有的奇數(shù)測試點列構(gòu)成了四密度網(wǎng)格，且使每個測試通道對應(yīng)檢 測一個測試點，故可進行四密度測試，進行PCB八密度測試時，選用八密度網(wǎng)
格上的第二區(qū)域和第三區(qū)域，而第一區(qū)域和第四區(qū)域懸空，第二區(qū)域和第三區(qū) 域上的測試點構(gòu)成了八密度網(wǎng)格，且使每個測試通道對應(yīng)檢測一個測試點，故 可進行八密度測試，從而實現(xiàn)測試通道組以四密度設(shè)置的測試機可以進行四密度測試和八密度測試兩種測試，降低了 PCB測試的成本。結(jié)合圖3和圖4，以說明本發(fā)明的另一實施例，提供有一八密度網(wǎng)格30及 —四密度測試通道組40,將八密度網(wǎng)格30均分為第一區(qū)域32、第二區(qū)域34、 第三區(qū)域36及第四區(qū)域38等四個區(qū)域。第一區(qū)域32上的奇數(shù)測試點列與第二 區(qū)域34上的偶數(shù)測試點列順次對應(yīng)，相對應(yīng)的兩列上，前一列的奇數(shù)測試點與 后一列的偶數(shù)測試點順次連接，前一列的偶數(shù)測試點與后一列的奇數(shù)測試點順次連接，即第一區(qū)域32的第1測試點列321的第1個測試點、第3個測試點.......分別與第二區(qū)域34的第2測試點列342的第2個測試點、第4個測試點.......連接，第一區(qū)域32的第1測試點列321的第2個測試點、第4個測試點.......分別與第二區(qū)域34的第2測試點列342的第1個測試點、第3個測試點.......連接，......，依此類推，實現(xiàn)所對應(yīng)的兩列上的測試點的--對應(yīng)連接，相連接的兩個測試點連接于四密度測試通道組40中的一個測試通道400;第一區(qū)域 32上的偶數(shù)測試點列與第二區(qū)域34上的奇數(shù)測試點列順次對應(yīng)，相對應(yīng)的兩列 上，前一列的奇數(shù)測試點與后一列的偶數(shù)測試點順次連接，前一列的偶數(shù)測試 點與后一列的奇數(shù)測試點順次連接，相連接的兩個測試點連接于四密度測試通 道組40中的一個測試通道400。按照第一區(qū)域32與第二區(qū)域34的連線方法， 以實現(xiàn)第三區(qū)域36與第四區(qū)域38的連接，第三區(qū)域36上的奇數(shù)測試點列與第 四區(qū)域38上的偶數(shù)測試點列順次對應(yīng)，相對應(yīng)的兩列上，前一列的奇數(shù)測試點 與后一列的偶數(shù)測試點順次連接，前一列的偶數(shù)測試點與后一列的奇數(shù)測試點 順次連接，相連接的兩個測試點連接于四密度測試通道組40中的一個測試通道 400;第三區(qū)域36上的偶數(shù)測試點列與第四區(qū)域38上的奇數(shù)測試點列順次對應(yīng)， 相對應(yīng)的兩列上，前一列的奇數(shù)測試點與后一列的偶數(shù)測試點順次連接，前一 列的偶數(shù)測試點與后一列的奇數(shù)測試點順次連接，相連接的兩個測試點連接于 四密度測試通道組40中的一個測試通道400。此實施例所描述的連線方法，其 對于四密度測試機的改造，相同于上一實施例所述。
權(quán)利要求
1. 一種PCB測試中實現(xiàn)四八密度共用的連線方法，用于連接八密度網(wǎng)格和四密度測試通道組，其特征在于將所述八密度網(wǎng)格均分為第一區(qū)域、第二區(qū)域、第三區(qū)域及第四區(qū)域，所述第一區(qū)域上的奇數(shù)測試點列、偶數(shù)測試點列分別與所述第二區(qū)域上的偶數(shù)測試點列、奇數(shù)測試點列順次對應(yīng)，所述第三區(qū)域上的奇數(shù)測試點列、偶數(shù)測試點列分別與所述第四區(qū)域上的偶數(shù)測試點列、奇數(shù)測試點列順次對應(yīng)，相對應(yīng)的兩列上的測試點一一對應(yīng)連接，相連接的兩個測試點連接于所述四密度測試通道組中的一個測試通道。
2. 如權(quán)利要求1所述的PCB測試中實現(xiàn)四八密度共用的連線方法，其特征 在于所述第一區(qū)域、第二區(qū)域、第三區(qū)域及第四區(qū)域上相對應(yīng)的兩個測試點 列，前一列的測試點與后一列的測試點按照測試點的列順序依次一^~連接。
3. 如權(quán)利要求1所述的PCB測試中實現(xiàn)四八密度共用的連線方法，其特征 在于所述第一區(qū)域、第二區(qū)域、第三區(qū)域及第四區(qū)域上相對應(yīng)的兩個測試點 列，前一列的奇數(shù)測試點與后一列的偶數(shù)測試點順次——連接，前一列的偶數(shù) 測試點與后 一列的奇數(shù)測試點順次——連接。
全文摘要
本發(fā)明公開一種PCB測試中實現(xiàn)四八密度共用的連線方法，用于連接八密度網(wǎng)格和四密度測試通道組，將八密度網(wǎng)格均分為第一區(qū)域、第二區(qū)域、第三區(qū)域及第四區(qū)域，第一區(qū)域上的奇數(shù)測試點列、偶數(shù)測試點列分別與第二區(qū)域上的偶數(shù)測試點列、奇數(shù)測試點列順次對應(yīng)，第三區(qū)域上的奇數(shù)測試點列、偶數(shù)測試點列分別與第四區(qū)域上的偶數(shù)測試點列、奇數(shù)測試點列順次對應(yīng)，相對應(yīng)的兩列上的測試點一一對應(yīng)連接，相連接的兩個測試點連接于所述四密度測試通道組中的一個測試通道。本發(fā)明用于連接八密度設(shè)置的網(wǎng)格與四密度設(shè)置的測試通道組，而實現(xiàn)測試通道組以四密度設(shè)置的測試機可以進行四密度測試和八密度測試兩種測試，從而降低PCB測試的成本。
文檔編號G01R1/02GK101210938SQ20061017059
公開日2008年7月2日 申請日期2006年12月26日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月26日
發(fā)明者張亞民 申請人:張亞民