專利名稱：顯示面板用的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型是關(guān)于一種測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，尤指一種顯示面板用的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
顯示器的發(fā)展逐漸由大體積的陰極射線管(CRT)，轉(zhuǎn)型為較為輕薄的液晶平面顯示器(LCD)，并且朝著面板大型化與大面積化發(fā)展。由于高分辨率與高畫面品質(zhì)的要求，LCD的畫素越做越小，對(duì)于LCD面板成品的品質(zhì)檢驗(yàn)就愈加困難。目前大部份的生產(chǎn)廠商仍是依賴人工目視檢測(cè)，來檢驗(yàn)畫面的品質(zhì)，這對(duì)于檢測(cè)的速度、效能及產(chǎn)品的品質(zhì)穩(wěn)定性有相當(dāng)大的影響。
在已知測(cè)LCD的測(cè)試技術(shù)中，顯示面板于進(jìn)行電性測(cè)試時(shí)，是利用彈性金屬類的探針作為待測(cè)顯示面板與測(cè)試機(jī)臺(tái)間的測(cè)試信號(hào)媒介，藉此以通過該彈性金屬探針來輸入一信號(hào)電壓到每一顯示面板中連接IC的ITO電極，以使該顯示面板得以被驅(qū)動(dòng)，再通過計(jì)算機(jī)的分析后將顯示結(jié)果予以識(shí)別出該顯示面板內(nèi)的電路連通性。但是由于LCD中的ITO電極相當(dāng)薄且脆弱，而這類的彈性金屬探針的測(cè)試端是呈尖銳狀，使得在測(cè)試過程中，測(cè)試者必須格外小心，以防彈性金屬探針刮傷ITO電極，否則便會(huì)破壞了待測(cè)顯示面板的電性而降低其優(yōu)良率。再者，由于該彈性金屬探針的形狀是呈一倒角彎折狀，故十分容易因某根彈性金屬探針的翹起而末能完全接觸到ITO電極，進(jìn)而造成某部份的ITO電極未受到測(cè)試而忽略了該顯示面板的不良性，導(dǎo)致有瑕疵的顯示面板依然可順利出廠。
另一方面，隨著ITO電極的密集化，已知技術(shù)所制作的彈性金屬探針亦趨細(xì)微，除了脆弱易彎、易斷裂外，亦無法將測(cè)試彈性金屬探針的排置密度做相對(duì)性的提高，因而造成檢測(cè)用具上制作的困難，且其成本也相對(duì)提高許多。
概略而言，現(xiàn)有顯示面板的檢測(cè)方式主要有全畫面檢查(FULL CONTACT)、導(dǎo)通檢查(SHORTENG BAR)等方法。然而以已知彈性金屬探針進(jìn)行檢測(cè)媒介時(shí)，其缺點(diǎn)為(1)以已知彈性金屬探針進(jìn)行全畫面檢查(FULL CONTACT)的檢測(cè)率雖可達(dá)100％，但其使用成本高(每組約NT$100萬以上)；(2)以已知彈性金屬探針進(jìn)行導(dǎo)通檢查(SHORTENG BAR)的檢測(cè)率僅達(dá)95％-99％，但其使用成本低(每組約NT$1萬)；(3)無論以上述二種方法或其它方法等，面板業(yè)者會(huì)因考慮制程或其它因素，于光罩階段中完成線路布設(shè)，將相關(guān)線路布設(shè)于面板周緣，以供做測(cè)試接線使用，待完成測(cè)試后，即以雷射切除(LASER CUT)線路，或?qū)⒚姘暹吘壡谐?，以進(jìn)入下一制程.然而若在往后制程欲再做測(cè)試時(shí)，因先前已將面板邊緣所布設(shè)的線路切除，故無法隨即再進(jìn)行連接測(cè)試；(4)無論面板尺寸大小(尤以小尺寸)其邊緣所預(yù)留的線路布設(shè)面積受限制，形成布設(shè)上的不易。
申請(qǐng)人有鑒于已知技術(shù)的缺點(diǎn)，經(jīng)悉心試驗(yàn)與研究，研發(fā)出本實(shí)用新型的一種應(yīng)用于顯示面板檢測(cè)用的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，以取代傳統(tǒng)彈性金屬探針來解決因IC、LCD的輕薄短小化、復(fù)雜化產(chǎn)生的測(cè)試問題。而該測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)更具檢測(cè)精度高、速度快、壽命長(zhǎng)、維修或更換簡(jiǎn)單化等優(yōu)點(diǎn)，更可應(yīng)用于顯示面板的全畫面檢查(FULL CONTACT)、導(dǎo)通檢查(SHORTENG BAR)或其它檢測(cè)方法。

發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的主要目的是為提供一種應(yīng)用于顯示面板檢測(cè)用的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，組裝容易，檢測(cè)精度高、速度快、壽命長(zhǎng)、維修或更換簡(jiǎn)單，并可取代傳統(tǒng)彈性金屬探針來解決因IC、LCD的輕薄短小化、復(fù)雜化產(chǎn)生的測(cè)試問題，廣泛地應(yīng)用于顯示面板的全畫面檢查(FULL CONTACT)、導(dǎo)通檢查(SHORTENG BAR)或其它檢測(cè)方法。
為達(dá)上述目的，本實(shí)用新型提供一種應(yīng)用于顯示面板檢測(cè)的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其結(jié)構(gòu)包含復(fù)數(shù)個(gè)薄膜模塊，其中每一薄膜模塊還包含絕緣基片；導(dǎo)電線路層，設(shè)置于該絕緣基片上，并具有復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)及與該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片(PAD)；其中該復(fù)數(shù)個(gè)薄膜模塊分別設(shè)置于待測(cè)顯示面板與測(cè)試平臺(tái)相接的兩邊，以作為該待測(cè)顯示面板及該測(cè)試平臺(tái)的間的傳輸媒介；使該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)與該待測(cè)顯示面板電接，而該復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片(PAD)與該測(cè)試平臺(tái)電接，由該導(dǎo)電線路層的布線傳導(dǎo)使該待測(cè)顯示面板與該測(cè)試平臺(tái)的兩邊相接觸而形成電性相接，進(jìn)而通過該復(fù)數(shù)個(gè)薄膜模塊與該測(cè)試平臺(tái)的信號(hào)輸出輸入端形成電連接。
其中該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)是與該待測(cè)顯示面板上的RGB像素點(diǎn)的偵測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)接觸。
其中該絕緣基片由可撓性絕緣材質(zhì)所構(gòu)成。
其中該導(dǎo)電線路層是由彈性導(dǎo)電材質(zhì)所構(gòu)成。
其中該待測(cè)顯示面板是為液晶顯示面板、電漿顯示面板、場(chǎng)發(fā)射顯示面板、有機(jī)電激發(fā)光顯示面板或無機(jī)電激發(fā)光顯示面板。
其中該導(dǎo)電線路層還包含復(fù)數(shù)組線路圖樣，分別電連接該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)及與該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的該復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片(PAD)。
其中該復(fù)數(shù)組線路圖樣是由微影蝕刻方式所制得。
其中該待測(cè)顯示面板與該測(cè)試平臺(tái)相接的兩邊，是為該待測(cè)顯示面板的X軸及Y軸。
其中該X軸是為閘極(Gate)端子側(cè)。
其中該Y軸是為源極(Source)端子側(cè)。
其中該X軸與Y軸分別設(shè)有10個(gè)及4個(gè)該薄膜模塊。
本實(shí)用新型的另一目的是為提供一種應(yīng)用于顯示面板檢測(cè)用的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，組裝容易，檢測(cè)精度高、速度快、壽命長(zhǎng)、維修或更換簡(jiǎn)單，并可取代傳統(tǒng)彈性金屬探針來解決因IC、LCD的輕薄短小化、復(fù)雜化產(chǎn)生的測(cè)試問題，進(jìn)行顯示面板的全畫面檢查(FULL CONTACT)、導(dǎo)通檢查(SHORTENG BAR)或其它檢測(cè)方法的應(yīng)用。
為達(dá)上述目的，本實(shí)用新型提供一種應(yīng)用于顯示面板檢測(cè)的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其結(jié)構(gòu)包含測(cè)試平臺(tái)基座，其具有容置空間，用以容置待測(cè)顯示面板；以及復(fù)數(shù)個(gè)薄膜模塊，分別設(shè)置于該待測(cè)顯示面板與該測(cè)試平臺(tái)基座相接的兩邊，以作為該測(cè)試平臺(tái)基座及該待測(cè)顯示面板之間的傳輸媒介，其中每一薄膜模塊還包含絕緣基片；導(dǎo)電線路層，設(shè)置于該絕緣基片上，并具有復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)及與該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片(PAD)；以使該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)與該待測(cè)顯示面板電接，而該復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片(PAD)與該測(cè)試平臺(tái)基座電接，由該導(dǎo)電線路層的布線傳導(dǎo)使該待測(cè)顯示面板與該測(cè)試平臺(tái)基座的兩邊相接觸而形成電性相接，進(jìn)而通過該復(fù)數(shù)個(gè)薄膜模塊與該測(cè)試平臺(tái)基座的信號(hào)輸出輸入端形成電連接。
其中該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)是與該待測(cè)顯示面板上的RGB像素點(diǎn)的偵測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)接觸。
其中該絕緣基片由可撓性絕緣材質(zhì)所構(gòu)成。
其中該導(dǎo)電線路層是由彈性導(dǎo)電材質(zhì)所構(gòu)成。
其中該待測(cè)顯示面板是為液晶顯示面板、電漿顯示面板、場(chǎng)發(fā)射顯示面板、有機(jī)電激發(fā)光顯示面板或無機(jī)電激發(fā)光顯示面板。
其中該導(dǎo)電線路層更包含復(fù)數(shù)組線路圖樣，分別電連接該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)及與該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的該復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片(PAD)。
其中該復(fù)數(shù)組線路圖樣是由微影蝕刻方式所制得。
其中該待測(cè)顯示面板與該測(cè)試平臺(tái)基座相接的兩邊，是為該待測(cè)顯示面板的X軸及Y軸。
其中該X軸是為閘極(Gate)端子側(cè)。
其中該Y軸是為源極(Source)端子側(cè)。
其中該X軸與Y軸分別設(shè)有10個(gè)及4個(gè)該薄膜模塊。
實(shí)用新型由下列圖標(biāo)與實(shí)施例說明，以便更清楚的了解。


圖1是揭示本實(shí)用新型較佳實(shí)施例應(yīng)用于顯示面板檢測(cè)用的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)。
圖2揭示本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)組裝應(yīng)用的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)。
符號(hào)說明1 薄膜模塊11 絕緣基片12 導(dǎo)電線路層 121 接觸點(diǎn)122 導(dǎo)接墊片2 待測(cè)顯示面板21 X軸 22 Y軸3 測(cè)試平臺(tái)具體實(shí)施方式
本段所敘述的實(shí)施例是解釋本實(shí)用新型，但不限制本實(shí)用新型。本實(shí)用新型不限定于特殊材料、處理步驟或尺寸。本實(shí)用新型由附加的申請(qǐng)專利范圍定義。
本實(shí)用新型是為一種應(yīng)用于顯示面板檢測(cè)用的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其特殊的檢測(cè)結(jié)構(gòu)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，組裝容易，檢測(cè)精度高、速度快、壽命長(zhǎng)、維修或更換簡(jiǎn)單，并可取代傳統(tǒng)彈性金屬探針來解決因IC、LCD的輕薄短小化、復(fù)雜化產(chǎn)生的測(cè)試問題，更可廣泛地應(yīng)用于顯示面板全畫面檢查(FULL CONTACT)、導(dǎo)通檢查(SHORTENG BAR)或其它檢測(cè)方法。以下將以實(shí)施例進(jìn)一步說明本實(shí)用新型的內(nèi)容，然而可應(yīng)用本實(shí)用新型技術(shù)的測(cè)試結(jié)構(gòu)并不限于所提的實(shí)施例而已，其它任何適用本實(shí)用新型技術(shù)的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，在此皆可并入?yún)⒖肌?br> 請(qǐng)參閱圖1及圖2，其是分別揭示本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的應(yīng)用于顯示面板檢測(cè)用的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)；以及本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)組裝應(yīng)用。如圖所示，本實(shí)用新型揭露的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其具有復(fù)數(shù)個(gè)薄膜模塊1，其中每一薄膜模塊1還包含絕緣基片11；導(dǎo)電線路層12，設(shè)置于該絕緣基片11上，并具有復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)121及與該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)121相對(duì)應(yīng)的復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片(PAD)122；其中該復(fù)數(shù)個(gè)薄膜模塊1是分別設(shè)置于待測(cè)顯示面板2與測(cè)試平臺(tái)3相接的兩邊，以作為該待測(cè)顯示面板2及該測(cè)試平臺(tái)3的間的傳輸媒介；使該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)121與該待測(cè)顯示面板2電接，而該復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片(PAD)122與該測(cè)試平臺(tái)3電接，藉由該導(dǎo)電線路層12的布線傳導(dǎo)使該待測(cè)顯示面板2與該測(cè)試平臺(tái)3的兩邊相接觸而形成電性相接，進(jìn)而透過該復(fù)數(shù)個(gè)薄膜模塊1與該測(cè)試平臺(tái)3的信號(hào)輸出輸入端形成電連接。
在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，本實(shí)用新型測(cè)試薄膜組裝測(cè)試的待測(cè)顯示面板2可為液晶顯示面板、電漿顯示面板、場(chǎng)發(fā)射顯示面板、有機(jī)電激發(fā)光顯示面板或無機(jī)電激發(fā)光顯示面板。使用者只要將各該薄膜模塊1的該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)121是與該待測(cè)顯示面板2上的RGB像素點(diǎn)的偵測(cè)點(diǎn)(未揭示)對(duì)應(yīng)接觸；而再將該復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片(PAD)122，接貼至該測(cè)試平臺(tái)3的信號(hào)輸出輸入端即可，其中該導(dǎo)電線路層12所包含的復(fù)數(shù)組線路圖樣，是經(jīng)由特殊布線設(shè)計(jì)而分別電連接該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)121及與該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)121相對(duì)應(yīng)的該復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片(PAD)122。當(dāng)然該復(fù)數(shù)組線路圖樣是由微影蝕刻方式所制得。另外在制作材質(zhì)的選用上，該絕緣基片11由可撓性絕緣材質(zhì)所構(gòu)成；該導(dǎo)電線路層12則可由彈性導(dǎo)電材質(zhì)所構(gòu)成。
在本實(shí)用新型實(shí)施例中所揭示的該待測(cè)顯示面板2其尺寸可為一般的面板尺寸，即寬281.1mm長(zhǎng)348.35mm的矩形面板。再者，該待測(cè)顯示面板2與該測(cè)試平臺(tái)基座3相接的兩邊，是為該待測(cè)顯示面板2的X軸21及Y軸22，其中該X軸21是為閘極(Gate)端子側(cè)；而該Y軸22則為源極(Source)端子側(cè)。則在本實(shí)用新型實(shí)施例中，該X軸21與Y軸22可分別設(shè)有10組及4組該薄膜模塊，以進(jìn)行該待測(cè)顯示面板2的測(cè)試。
根據(jù)本實(shí)用新型另一實(shí)施例，本實(shí)用新型更提供一種應(yīng)用于顯示面板檢測(cè)用的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，測(cè)試平臺(tái)基座3，其具有容置空間(未揭示)，用以容置待測(cè)顯示面板2；以及復(fù)數(shù)個(gè)薄膜模塊1，分別設(shè)置于該待測(cè)顯示面板2與該測(cè)試平臺(tái)基座3相接的兩邊，如圖2所示，以作為該測(cè)試平臺(tái)基座3及該待測(cè)顯示面板2的間的傳輸媒介，其中每一薄膜模塊1更包含絕緣基片11；導(dǎo)電線路層12，設(shè)置于該絕緣基片11上，并具有復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)121及與該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)121相對(duì)應(yīng)的復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片(PAD)122；藉由該導(dǎo)電線路層12的布線傳導(dǎo)使該待測(cè)顯示面板2與該測(cè)試平臺(tái)基座3的兩邊相接觸而形成電性相接，進(jìn)而透過該復(fù)數(shù)個(gè)薄膜模塊1與該測(cè)試平臺(tái)基座3的信號(hào)輸出輸入端形成電連接。
同樣地，在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，本實(shí)施例中，該測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)可用于測(cè)試液晶顯示面板、電漿顯示面板、場(chǎng)發(fā)射顯示面板、有機(jī)電激發(fā)光顯示面板或無機(jī)電激發(fā)光顯示面板。使用者只要將各該薄膜模塊1的該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)121是與該待測(cè)顯示面板2上的RGB像素點(diǎn)的偵測(cè)點(diǎn)(未揭示)對(duì)應(yīng)接觸；而再將該復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片(PAD)122，接貼至該測(cè)試平臺(tái)基座3的信號(hào)輸出輸入端即可，其中該導(dǎo)電線路層12所包含的復(fù)數(shù)組線路圖樣，是經(jīng)由特殊布線設(shè)計(jì)而分別電連接該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)121及與該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)121相對(duì)應(yīng)的該復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片(PAD)122。當(dāng)然該復(fù)數(shù)組線路圖樣是由微影蝕刻方式所制得。另外在制作材質(zhì)的選用上，該絕緣基片11由可撓性絕緣材質(zhì)所構(gòu)成；該導(dǎo)電線路層12則可由彈性導(dǎo)電材質(zhì)所構(gòu)成。
當(dāng)本實(shí)用新型實(shí)施例的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)用于檢測(cè)寬281.1mm長(zhǎng)348.35mm的矩形面板時(shí)，該待測(cè)顯示面板2與該測(cè)試平臺(tái)基座3相接的兩邊，是為該待測(cè)顯示面板2的X軸21及Y軸22，其中該X軸21是為閘極(Gate)端子側(cè)；而該Y軸22則為源極(Source)端子側(cè)；而該X軸21與Y軸22可分別設(shè)有10組及4組該薄膜模塊1，以進(jìn)行該待測(cè)顯示面板2的測(cè)試。
綜上所述，本實(shí)用新型提供一種應(yīng)用于顯示面板檢測(cè)用的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其特殊的檢測(cè)結(jié)構(gòu)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，組裝容易，檢測(cè)精度高、速度快、壽命長(zhǎng)、維修或更換簡(jiǎn)單，并可取代傳統(tǒng)彈性金屬探針來解決因IC、LCD的輕薄短小化、復(fù)雜化產(chǎn)生的測(cè)試問題。相較于已知技藝以已知彈性金屬探針結(jié)構(gòu)做測(cè)試，本實(shí)用新型改以薄膜探針取代，作為測(cè)試平臺(tái)與待測(cè)顯示面板的媒介。當(dāng)然為了使線路便于導(dǎo)接，本實(shí)用新型的薄膜線路端均可為凸出結(jié)構(gòu)以與玻璃板上的線路接觸。相較于已知彈性金屬探針結(jié)構(gòu)，本實(shí)用新型所引入的薄膜模塊的成本更為低廉，且可以方式布設(shè)任意或更密集的線路以符合更多的需求。再者，本實(shí)用新型的測(cè)試薄膜更可于一般顯示面板在測(cè)試完成后，其被切除的測(cè)試線路若欲重新使用，可提供重新接合導(dǎo)通的媒介，再次進(jìn)行測(cè)試，使顯示面板的后續(xù)檢測(cè)更佳容易及便利。總括而言，本實(shí)用新型所揭示的薄膜模塊結(jié)構(gòu)可廣泛地應(yīng)用于顯示面板的全畫面檢查(FULL CONTACT)、導(dǎo)通檢查(SHORTENG BAR)或其它檢測(cè)方法，因?yàn)橛谝淮郎y(cè)顯示面板的邊緣上，無論其原先是否已有線路的布設(shè)，均可以此薄膜模塊結(jié)構(gòu)所布設(shè)的線路取代。即當(dāng)待測(cè)顯示面板完成雷射切除后，若原先的待測(cè)顯示面板并無布設(shè)線路時(shí)，即可使用本實(shí)用新型的薄膜模塊結(jié)構(gòu)作為導(dǎo)通媒介；然而若原先的待測(cè)顯示面板已布設(shè)有檢測(cè)線路，卻已于前段制程后被電射切除，如欲進(jìn)行再檢測(cè)則須重新導(dǎo)通檢測(cè)線路，而此時(shí)即可使用本實(shí)用新型的薄膜模塊結(jié)構(gòu)作為導(dǎo)通媒介，以進(jìn)行檢測(cè)。而上述二種情況皆可因本實(shí)用新型薄膜模塊結(jié)構(gòu)的導(dǎo)入而使其檢測(cè)線路布設(shè)更為便利，此均為已知技藝無法實(shí)現(xiàn)的。
權(quán)利要求1.一種應(yīng)用于顯示面板檢測(cè)的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其特征在于該結(jié)構(gòu)包含測(cè)試平臺(tái)基座，其具有容置空間，用以容置待測(cè)顯示面板；以及復(fù)數(shù)個(gè)薄膜模塊，分別設(shè)置于該待測(cè)顯示面板與該測(cè)試平臺(tái)基座相接的兩邊，以作為該測(cè)試平臺(tái)基座及該待測(cè)顯示面板之間的傳輸媒介，其中每一薄膜模塊還包含絕緣基片；導(dǎo)電線路層，設(shè)置于該絕緣基片上，并具有復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)及與該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片；由該導(dǎo)電線路層的布線傳導(dǎo)使該待測(cè)顯示面板與該測(cè)試平臺(tái)基座的兩邊相接觸而形成電性相接，進(jìn)而通過該復(fù)數(shù)個(gè)薄膜模塊與該測(cè)試平臺(tái)基座的信號(hào)輸出輸入端形成電連接。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其特征是該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)是與該待測(cè)顯示面板上的RGB像素點(diǎn)的偵測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)接觸。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其特征是該絕緣基片由可撓性絕緣材質(zhì)所構(gòu)成。
4.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其特征是該導(dǎo)電線路層是由彈性導(dǎo)電材質(zhì)所構(gòu)成。
5.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其特征是該待測(cè)顯示面板是為液晶顯示面板、電漿顯示面板、場(chǎng)發(fā)射顯示面板、有機(jī)電激發(fā)光顯示面板或無機(jī)電激發(fā)光顯示面板。
6.如如權(quán)利要求1所述的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其特征是該導(dǎo)電線路層還包含復(fù)數(shù)組線路圖樣，分別電連接該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)及與該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的該復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片。
7.如如權(quán)利要求6所述的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其特征是該復(fù)數(shù)組線路圖樣是由微影蝕刻方式所制得。
8.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其特征是該待測(cè)顯示面板與該測(cè)試平臺(tái)基座相接的兩邊，為該待測(cè)顯示面板的X軸及Y軸。
9.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其特征是該X軸是為閘極端子側(cè)。
10.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其特征是該Y軸是為源極端子側(cè)。
專利摘要本實(shí)用新型是一種應(yīng)用于顯示面板檢測(cè)用的測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)，其具有復(fù)數(shù)個(gè)薄膜模塊，其中每一薄膜模塊還包含絕緣基片；導(dǎo)電線路層，設(shè)置于該絕緣基片上，并具有復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)及與該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片(PAD)；其中該復(fù)數(shù)個(gè)薄膜模塊分別設(shè)置于待測(cè)顯示面板與測(cè)試平臺(tái)相接的兩邊，以作為該測(cè)試平臺(tái)及該待測(cè)顯示面板之間的傳輸媒介；使該復(fù)數(shù)個(gè)接觸點(diǎn)與該待測(cè)顯示面板電接，而該復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)接墊片(PAD)與該測(cè)試平臺(tái)電接，由該導(dǎo)電線路層的布線傳導(dǎo)使該待測(cè)顯示面板與該測(cè)試平臺(tái)的兩邊相接觸而形成電性相接，進(jìn)而通過該復(fù)數(shù)個(gè)薄膜模塊與該測(cè)試平臺(tái)的信號(hào)輸出輸入端形成電連接。
文檔編號(hào)G01R31/00GK2824039SQ20052010403
公開日2006年10月4日 申請(qǐng)日期2005年8月16日 優(yōu)先權(quán)日2005年8月16日
發(fā)明者柯穎和 申請(qǐng)人:旭貿(mào)股份有限公司