專利名稱：多個測試流的校準信息的匯編的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測試，尤其涉及多個測試流的校準信息的匯編。
背景技術(shù)：
在制造和/或銷售電氣設(shè)備(包括諸如電路板、集成電路或片上系統(tǒng)(SOC)這樣的系統(tǒng)或組件)之前，通常測試設(shè)備以確定它是否是按所設(shè)計的方式構(gòu)建或工作的。通常，此測試是由自動測試設(shè)備(ATE，也稱為“測試儀”)來執(zhí)行的。
要使ATE的結(jié)果有意義，ATE需要被校準。即必須量化在不同條件和測試設(shè)置下的測試期間ATE可能引入的固有系統(tǒng)誤差。量化ATE的固有系統(tǒng)誤差的數(shù)據(jù)常被稱為“校準數(shù)據(jù)”，并且可以包括一個或多個“校準因子”。校準數(shù)據(jù)一旦被生成，就被用于從原始測試數(shù)據(jù)中消除ATE的固有系統(tǒng)誤差。
一種描述ATE的固有系統(tǒng)誤差的特征的方法是直接測量它們。通常，這類校準包括將各種ATE探針耦合到一個或多個已知正確的“校準標準”，進行測量，然后將測量結(jié)果與預(yù)期的測量結(jié)果相比較。
另一種描述ATE的固有系統(tǒng)誤差的特征的方法是經(jīng)由數(shù)學模型來模擬它們。然后可根據(jù)模型計算校準數(shù)據(jù)(雖然仍然有必要利用一個或多個校準標準來獲取某些測量結(jié)果)。
校準數(shù)據(jù)一般分成兩類1)“系統(tǒng)校準數(shù)據(jù)”，其描述ATE的核心結(jié)構(gòu)的特征(例如ATE的儀器和基本結(jié)構(gòu)-通常是ATE的那些在測試不同設(shè)備時再次使用的部件)，以及2)“集中(focused)校準數(shù)據(jù)”，其描述不同測試設(shè)置下ATE的特征。測試設(shè)置例如可以指定測試發(fā)生時的物理和電氣參數(shù)，例如包括關(guān)于測試期間將使用的ATE測試路徑的指示及其配置(例如包括關(guān)于激勵和/或測量路徑的指示，以及關(guān)于哪些ATE引腳會被耦合到設(shè)備的哪些引腳的指示)；關(guān)于測試頻率的指示(例如包括測試頻率范圍)；關(guān)于調(diào)制格式的指示；關(guān)于測量帶寬的指示；或者關(guān)于功率或電壓級別的指示。

發(fā)明內(nèi)容
在一個實施例中，一種計算機實現(xiàn)的方法包括1)獲得對多個測試流的選擇，所述多個測試流中的每一個指定ATE應(yīng)該如何測試至少一個設(shè)備；2)識別每個測試流的校準信息；以及3)消除識別出的校準信息中的冗余，以匯編一組非冗余信息，用于在ATE和所選測試流上執(zhí)行集中校準。
還公開了其它實施例。


本發(fā)明的示例性實施例在附圖中示出，附圖中圖1示出用于執(zhí)行多個測試流的集中校準的示例性計算機實現(xiàn)的方法；以及圖2示出示例性圖形用戶界面，通過該界面可提示用戶根據(jù)圖1的方法選擇測試流。
具體實施例方式
由于ATE特性的漂移，ATE必須被周期性地重新校準。當涉及集中校準時，這意味著為要用ATE測試的每個設(shè)備的每個測試流執(zhí)行單獨的集中校準過程。從而，例如如果ATE被用于測試三個設(shè)備，其中每一個被用一組五個設(shè)備特定的測試流來測試，則需要周期性地執(zhí)行十五個不同的集中校準過程。為了降低與執(zhí)行這些集中校準過程相關(guān)聯(lián)的開銷，圖1示出了一種用于執(zhí)行多個測試流的集中校準的新穎的計算機實現(xiàn)的方法。
這里所定義的“測試流”是指定ATE應(yīng)該如何測試至少一個設(shè)備的測試程序的任何部分。例如，測試流可指定ATE要執(zhí)行的測試的類型、數(shù)目和順序。
方法100開始于在102獲得對多個測試流的選擇。在一個實施例中，這是通過提示用戶提供對測試流的選擇來完成的。在某些情況下，這可以通過向用戶呈現(xiàn)用戶可從中選擇測試流的測試流列表來完成(例如通過顯示定制列表，或者僅僅顯示存儲測試流的目錄結(jié)構(gòu)(或文件路徑))。在其它情況下，可通過向用戶呈現(xiàn)設(shè)備列表來提示用戶。通過這種方式，用戶對一個或多個設(shè)備的選擇可被解釋為對與該設(shè)備相關(guān)聯(lián)的測試流的選擇。
如圖2所示，還可利用圖形用戶界面(GUI 200)來提示用戶選擇測試流，圖形用戶界面顯示設(shè)備的列表202以及它們的相關(guān)聯(lián)的測試流的列表204。通過這種方式，用戶可獨立或通過設(shè)備選擇測試流(例如經(jīng)由相關(guān)聯(lián)的復(fù)選框206或無線按鈕)。
在另一實施例中，方法100從文件或從另一進程或應(yīng)用程序獲得對測試流的選擇。
在獲得對多個測試流的選擇之后，方法100在104繼續(xù)進行每個測試流的校準信息的識別。校準信息可包括與執(zhí)行集中校準過程相關(guān)聯(lián)的任何信息，例如包括測試設(shè)置，測試設(shè)置例如是關(guān)于測試期間將使用的ATE測試路徑的指示及其配置(例如包括關(guān)于激勵和/或測量路徑的指示，以及關(guān)于哪些ATE引腳會被耦合到設(shè)備的哪些引腳的指示)；關(guān)于測試頻率的指示(例如包括測試頻率范圍)；關(guān)于調(diào)制格式的指示；關(guān)于測量帶寬的指示；或者關(guān)于功率或電壓級別的指示。在大多數(shù)情況下，將從所選測試流中直接識別校準信息。但是，有時也可從其它源中識別校準信息。
在識別校準信息之后(或之時)，在106消除識別出的校準信息中的冗余，以便匯編一組非冗余信息，用于在ATE和所選測試流上執(zhí)行集中校準。通過這種方式，與為多個測試流中的每一個執(zhí)行多個校準過程相比，可更高效地執(zhí)行集中校準。在某些情況下，冗余校準信息可在校準信息被識別之時被消除。在其他情況下，冗余校準信息可以直到校準信息被識別并被積累后才被消除。
在一個實施例中，校準信息中的冗余是通過識別指定相同硬件要求的校準信息來消除的?；蛘?，冗余可通過識別指定相同測試設(shè)置(可包括關(guān)于相似硬件要求的指示)的校準信息來消除。冗余還可通過識別指定具有定義相似性的硬件要求或測試設(shè)置的校準信息來消除。
在某些情況下，由方法100所匯編的該組非冗余信息可在108被呈現(xiàn)給用戶，以便編輯。在已編輯或未編輯的情況下，方法100然后可在110執(zhí)行集中校準，以生成ATE和所選測試流的一組校準數(shù)據(jù)。
方法100可通過分布、加載或安裝存儲在多個機器可讀介質(zhì)(例如一個或多個固定或可移動存儲器或盤)上的指令序列來實現(xiàn)。指令序列在被機器(例如計算機或計算機網(wǎng)絡(luò))執(zhí)行時，可使機器執(zhí)行該方法的操作。
權(quán)利要求
1.一種計算機實現(xiàn)的方法，包括獲得對多個測試流的選擇，所述多個測試流中的每一個指定自動測試設(shè)備應(yīng)該如何測試至少一個設(shè)備；識別所述多個測試流中的每一個的校準信息；以及消除識別出的校準信息中的冗余，以匯編一組非冗余信息，用于在所述自動測試設(shè)備和所選測試流上執(zhí)行集中校準。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述對多個測試流的選擇是通過提示用戶提供對測試流的選擇來獲得的。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中所述提示包括向用戶呈現(xiàn)用戶可從中選擇測試流的測試流列表。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述多個測試流對應(yīng)于多個設(shè)備。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述識別出的校準信息中的冗余是通過識別指定相同硬件要求的校準信息來消除的。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述識別出的校準信息中的冗余是通過識別指定具有定義相似性的測試硬件的校準信息來消除的。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述識別出的校準信息中的冗余是通過識別指定相同測試設(shè)置的校準信息來消除的。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述識別出的校準信息中的冗余是通過識別指定具有定義相似性的測試設(shè)置的校準信息來消除的。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括執(zhí)行所述集中校準以生成所述ATE和所選測試流的一組校準數(shù)據(jù)。
10.多個存儲有指令序列的機器可讀介質(zhì)，所述指令序列在被機器執(zhí)行時使所述機器執(zhí)行以下操作獲得對多個測試流的選擇，所述多個測試流中的每一個指定自動測試設(shè)備應(yīng)該如何測試至少一個設(shè)備；識別所述多個測試流中的每一個的校準信息；以及消除識別出的校準信息中的冗余，以匯編一組非冗余信息，用于在所述自動測試設(shè)備和所選測試流上執(zhí)行集中校準。
11.如權(quán)利要求10所述的介質(zhì)，其中所述對多個測試流的選擇是通過提示用戶提供對測試流的選擇來獲得的。
12.如權(quán)利要求11所述的介質(zhì)，其中所述提示包括向用戶呈現(xiàn)用戶可從中選擇測試流的測試流列表。
13.如權(quán)利要求11所述的介質(zhì)，其中所述提示包括向用戶呈現(xiàn)設(shè)備列表。
14.如權(quán)利要求11所述的介質(zhì)，其中所述提示包括向用戶呈現(xiàn)設(shè)備及其相關(guān)聯(lián)的測試流的列表。
15.如權(quán)利要求10所述的介質(zhì)，其中所述指令序列通過識別指定相同硬件要求的校準信息，來消除所述識別出的校準信息中的冗余。
16.如權(quán)利要求10所述的介質(zhì)，其中所述指令序列通過識別指定具有定義相似性的測試硬件的校準信息，來消除所述識別出的校準信息中的冗余。
17.如權(quán)利要求10所述的介質(zhì)，其中所述指令序列通過識別指定相同測試設(shè)置的校準信息，來消除所述識別出的校準信息中的冗余。
18.如權(quán)利要求10所述的介質(zhì)，其中所述指令序列通過識別指定具有定義相似性的測試設(shè)置的校準信息，來消除所述識別出的校準信息中的冗余。
19.如權(quán)利要求10所述的介質(zhì)，其中所述指令序列還使所述機器執(zhí)行以下操作執(zhí)行所述集中校準以生成所述ATE和所選測試流的一組校準數(shù)據(jù)。
20.如權(quán)利要求10所述的介質(zhì)，其中所述指令序列還使所述機器執(zhí)行以下操作向用戶呈現(xiàn)所述非冗余信息組以便編輯。
全文摘要
在一個實施例中，首先獲得對多個測試流的選擇。每個測試流指定自動測試設(shè)備(ATE)應(yīng)該如何測試至少一個設(shè)備。然后為每個測試流識別校準信息，并且消除識別出的校準信息中的冗余，以匯編一組非冗余信息，以便在ATE和所選測試流上執(zhí)行集中校準。
文檔編號G01R35/00GK1841077SQ20051013187
公開日2006年10月4日 申請日期2005年12月15日 優(yōu)先權(quán)日2005年3月28日
發(fā)明者周正容, 徐益, 凱·伊克 申請人:安捷倫科技有限公司