專利名稱：一種電纜檢測(cè)裝置及其掃描方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子與通訊系統(tǒng)中信號(hào)連通測(cè)試領(lǐng)域，具體的說(shuō)，是一種對(duì)各種常規(guī)電纜進(jìn)行生產(chǎn)檢測(cè)及現(xiàn)場(chǎng)維護(hù)檢測(cè)的電纜測(cè)試裝置及其掃描方法。
背景技術(shù)：
在電子及通訊系統(tǒng)中，有許多用于信號(hào)連接的電纜，例如電腦就包含并行電纜、電源線電纜和其它一些電纜；對(duì)于很多通信設(shè)備，電纜也是必不可少的部分。如此眾多不同種類的電纜，如何使用一種快速有效的方式測(cè)試其制作是否合格是對(duì)大批量生產(chǎn)和檢測(cè)的一個(gè)基本要求，同時(shí)也是現(xiàn)場(chǎng)快速故障診斷的需求。
在專利號(hào)為99245623.1的中國(guó)專利“電纜測(cè)試儀”中，提到了使用對(duì)比測(cè)試的方式進(jìn)行電纜測(cè)量，就是使用一根好的電纜進(jìn)行測(cè)試作為基準(zhǔn)，然后對(duì)其它電纜再進(jìn)行測(cè)試，和基準(zhǔn)電纜測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，如果數(shù)據(jù)對(duì)比不一致就顯示出錯(cuò)，否則顯示測(cè)試通過(guò)。接口采用轉(zhuǎn)接插座方式，可以通過(guò)改變轉(zhuǎn)接接口部件，測(cè)試不同接口的電纜，其使用靈活方便。
在專利號(hào)為02136551.2的中國(guó)專利“一種電纜測(cè)試裝置及方法”中，使用了邏輯器件的JTAG接口進(jìn)行測(cè)量，就是利用目前JTAG器件自帶的邊界掃描功能，通過(guò)調(diào)試接口和PC機(jī)并口連接，通過(guò)上位機(jī)軟件讀取JTAG器件的邊界狀態(tài)來(lái)獲取電纜信息。該方法也是先對(duì)一根好的電纜進(jìn)行測(cè)試，然后數(shù)據(jù)暫時(shí)保存到上位機(jī)中，然后再對(duì)被測(cè)電纜進(jìn)行測(cè)試，也就是掃描JTAG器件的所有接口，然后對(duì)比掃描的數(shù)據(jù)是否一致，如果一致就報(bào)告正確，否則就報(bào)告出錯(cuò)。
在以上的現(xiàn)有專利技術(shù)中，都是假設(shè)電纜接口是一對(duì)一的連接關(guān)系，對(duì)于一個(gè)接口對(duì)應(yīng)電纜另外一頭的多個(gè)接口連接關(guān)系沒(méi)有提及如何測(cè)試。而且以上專利提到的設(shè)備都是一個(gè)整體，任何部分都不能缺少，所以無(wú)法根據(jù)實(shí)際運(yùn)用環(huán)境靈活應(yīng)用。對(duì)于99245623.1專利技術(shù)，沒(méi)有提及對(duì)信息的存儲(chǔ)和對(duì)比方法，采用小型分立邏輯器件實(shí)現(xiàn)方式，也沒(méi)有和PC機(jī)通信的功能，不可能實(shí)現(xiàn)對(duì)大量的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)、保存和打印等功能。對(duì)于02136551.2專利，測(cè)試時(shí)都必須要一臺(tái)PC機(jī)或者筆記本，這相對(duì)來(lái)說(shuō)增加了設(shè)備的成本，同時(shí)也帶來(lái)了設(shè)備的體積比較大，不利于攜帶和獨(dú)立使用。
因此，現(xiàn)有技術(shù)還存在一定的缺陷，而有待于改進(jìn)和發(fā)展。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種電纜檢測(cè)裝置及其掃描方法，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)進(jìn)行了優(yōu)化，提出一種可以配置的電纜自動(dòng)檢測(cè)裝置，同時(shí)提出了對(duì)特殊的電纜連接關(guān)系測(cè)試的實(shí)現(xiàn)方法。
本發(fā)明的技術(shù)方案包括一種電纜檢測(cè)裝置，其中，所述裝置包括一MCU單元、一顯示單元、一輸入單元、一存儲(chǔ)單元、一接口緩沖單元以及一電纜接口適配卡單元；所述MCU單元通訊連接所述顯示單元和所述輸入單元，用于從所述輸入單元獲得人機(jī)命令，通過(guò)預(yù)先編寫的程序，進(jìn)行讀取參考電纜的信息、讀取被測(cè)電纜的信息、對(duì)比信息和通過(guò)所述顯示單元進(jìn)行結(jié)果顯示；所述存儲(chǔ)單元用于存儲(chǔ)測(cè)試程序和中間測(cè)試的臨時(shí)數(shù)據(jù)，供所述MCU單元使用；
所述接口緩沖單元用于提供測(cè)試信號(hào)和電纜適配卡單元的緩沖；所述電纜接口適配卡單元用于通過(guò)提供多種電纜接口，把信號(hào)傳遞到電纜連接接口和從電纜另外一頭獲得測(cè)試信號(hào)，和被測(cè)電纜組成一個(gè)環(huán)型測(cè)試鏈路。
所述的裝置，其中，所述裝置還包括一通信單元連接所述MCU單元和一上位機(jī)，用于命令和數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)發(fā)。
所述的裝置，其中，所述存儲(chǔ)器還包括一RAM用于在測(cè)試時(shí)提供臨時(shí)存放數(shù)據(jù)的空間，一ROM則用于提供運(yùn)行程序的存儲(chǔ)，以及一FLASH用于保存參考電纜信息供多次調(diào)用。
所述的裝置，其中，所述裝置還包括一可編程邏輯單元，用于把所述MCU單元的數(shù)據(jù)進(jìn)行轉(zhuǎn)換處理，傳遞給所述接口緩沖單元。
所述的裝置，其中，所述電纜接口適配卡單元上設(shè)置有不同電纜接口。
所述的裝置，其中，所述電纜接口適配卡單元可更換設(shè)置。
一種電纜檢測(cè)掃描方法，包括如下步驟A、操作者獲取參考電纜的連接關(guān)系，獲得的參考電纜的測(cè)試信息保存在存儲(chǔ)器的FLASH參考區(qū)中；B、安裝被測(cè)電纜到接口適配卡的相應(yīng)接口中，構(gòu)成環(huán)型測(cè)試鏈路，通過(guò)所述輸入單元啟動(dòng)測(cè)試；C、MCU單元啟動(dòng)電纜掃描，并把掃描的信息存儲(chǔ)到臨時(shí)存儲(chǔ)區(qū)中，掃描完畢后，把臨時(shí)存儲(chǔ)區(qū)中的信息和參考區(qū)中的信息進(jìn)行對(duì)比，判斷是否有連接錯(cuò)誤的電纜，并在顯示單元上顯示。
所述的方法，其中，所述系統(tǒng)通過(guò)一通信單元連接一上位機(jī)，通過(guò)該上位機(jī)控制啟動(dòng)電纜掃描；并且掃描信息傳輸給所述上位機(jī)處理和顯示。
所述的方法，其中，所述步驟A還包括調(diào)用上位機(jī)存儲(chǔ)的電纜參考信息
在上位機(jī)軟件讀取電纜資料文件后，上位機(jī)軟件通過(guò)所述通信單元把電纜連接關(guān)系的信息傳給所述MCU單元，并保存到存儲(chǔ)器件的FLASH的電纜參考區(qū)，以備后面的電纜測(cè)試使用。
所述的方法，其中，所述步驟A還包括通過(guò)測(cè)試參考電纜自動(dòng)獲得電纜的參考信息將被測(cè)試的參考電纜通過(guò)適當(dāng)?shù)慕涌谶m配卡連接好，通過(guò)上位機(jī)下發(fā)命令或者輸入單元操作，對(duì)參考電纜連接關(guān)系進(jìn)行掃描，把掃描結(jié)果存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器的FLASH的參考區(qū)中，形成參考信息。
所述的方法，其中，所述步驟A還包括通過(guò)手工設(shè)置電纜的參考信息通過(guò)上位機(jī)可視界面的設(shè)置，全部設(shè)置完畢之后通過(guò)串口把設(shè)置的信息傳給所述MCU單元，或通過(guò)所述輸入單元的輸入進(jìn)行設(shè)置；設(shè)置完畢之后進(jìn)行保存到存儲(chǔ)器的FLASH的參考區(qū)中，形成參考信息。
本發(fā)明所提供的一種電纜檢測(cè)裝置及其掃描方法，由于采用了小系統(tǒng)以及可配置的適配卡，其測(cè)試裝置配置靈活方便，電纜接口可通過(guò)接口適配卡進(jìn)行靈活的更換，可以用于大批量測(cè)量，并且和上位機(jī)軟件配合使用，統(tǒng)計(jì)方便。


圖1為本發(fā)明提出的電纜檢測(cè)裝置的系統(tǒng)框圖。
具體實(shí)施例方式
以下結(jié)合附圖，將對(duì)本發(fā)明的各較佳實(shí)施例進(jìn)行較為詳細(xì)的說(shuō)明。
本發(fā)明的電纜檢測(cè)裝置及其掃描方法，如圖1所示的，所述電纜檢測(cè)裝置主要包括一MCU單元101、顯示單元102、輸入單元103、存儲(chǔ)單元104、通信單元105、可編程邏輯單元106、接口緩沖單元107、電纜接口適配卡單元108。
所述MCU單元101是本發(fā)明系統(tǒng)的核心，主要從鍵盤或者上位機(jī)獲得人機(jī)命令，通過(guò)預(yù)先編寫的程序，進(jìn)行讀取參考電纜的信息、讀取被測(cè)電纜的信息、對(duì)比信息和通過(guò)顯示單元進(jìn)行結(jié)果顯示。所述輸入單元103主要是提供操作人員輸入命令，傳送給所述MCU單元101。所述顯示單元102主要負(fù)責(zé)從MCU單元101獲得信息并顯示給操作者。所述存儲(chǔ)單元104主要是用于存儲(chǔ)測(cè)試程序和中間測(cè)試的臨時(shí)數(shù)據(jù)，供所述MCU單元101使用，其中分別設(shè)置了RAM主要用于在測(cè)試的時(shí)候提供臨時(shí)存放數(shù)據(jù)的空間，ROM則用于提供運(yùn)行程序的主存儲(chǔ)，F(xiàn)LASH主要用于保存參考電纜信息供多次調(diào)用。所述通信單元105主要是提供給所述MCU單元101和外部計(jì)算機(jī)之間的一個(gè)通信通道，主要負(fù)責(zé)命令和數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)發(fā)。
所述可編程邏輯單元106主要是把MCU單元的數(shù)據(jù)進(jìn)行轉(zhuǎn)換處理，傳遞給所述接口緩沖單元107。所述接口緩沖單元107主要負(fù)責(zé)傳遞可編程邏輯單元106的信號(hào)，提供測(cè)試信號(hào)和電纜適配卡單元的緩沖。所述電纜接口適配單元108主要是通過(guò)提供多種電纜接口，與被測(cè)電纜連接，把信號(hào)傳遞到電纜連接接口和從電纜另外一頭獲得測(cè)試信號(hào)，和被測(cè)電纜組成一個(gè)環(huán)型測(cè)試鏈路。
本發(fā)明電纜檢測(cè)裝置中，使用了大規(guī)?？删幊唐骷瓿蓡纹瑱C(jī)并行接口到電纜接口之間的轉(zhuǎn)換任務(wù)，主要是由于可編程器件的集成度高、配置靈活、可用IO口多等諸多優(yōu)點(diǎn)。在配置的時(shí)候需要把所有輸入IO端口的進(jìn)行內(nèi)部上拉設(shè)置，這樣在默認(rèn)的情況下，輸入IO的電平就是高電平了，如此可以防止由于輸入腳懸空而容易受到的干擾。
本發(fā)明裝置中使用了比較靈活的電纜接口適配卡，這樣在測(cè)試不同電纜接口的時(shí)候只要更換不同的接口適配卡即可。當(dāng)然在同一個(gè)接口適配卡上可安裝多種電纜接口，這樣可以測(cè)試某一類電纜接口更換一次適配卡就可以了，減少了更換接口適配卡的次數(shù)。
本發(fā)明裝置的小系統(tǒng)帶有鍵盤輸入設(shè)備和液晶顯示單元部分，這部分是在沒(méi)有上位機(jī)的情況下用于獨(dú)立完成測(cè)試任務(wù)的人工界面，在有上位機(jī)配合的情況下，可以不用，靈活的配置可以滿足在不同情況下的需要。
本發(fā)明裝置的小系統(tǒng)可以通過(guò)MCU串口通信和上位機(jī)的軟件組成一個(gè)功能更強(qiáng)大、操作更方便的測(cè)試系統(tǒng)。上位機(jī)軟件可以對(duì)下位機(jī)小系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)置和讀取測(cè)試參數(shù)進(jìn)行分析。上位機(jī)的軟件采用圖形化的界面設(shè)計(jì)，顯示給用戶更直接的電纜連接信息，同時(shí)也方便了用戶在沒(méi)有參照電纜的情況下，通過(guò)windows的拖放方式進(jìn)行手工配置。
另外，本專利提出了對(duì)電纜連接測(cè)試的一種通用的掃描方法，其測(cè)試過(guò)程可以通過(guò)上位機(jī)軟件界面完成，也可以通過(guò)下位機(jī)MCU101小系統(tǒng)的輸入單元103(小鍵盤)和顯示單元102完成。
本發(fā)明電纜檢測(cè)裝置及其掃描方法中，組建一套測(cè)試系統(tǒng)，需要以下步驟首先，制作一套完整的小系統(tǒng)和電纜接口適配卡。
其次，操作人員把電纜接口適配卡和小系統(tǒng)上的接口對(duì)接相連。
第三，找一個(gè)參考電纜，電纜的兩頭的接口都插到電纜接口適配卡上的對(duì)應(yīng)接口，組成一個(gè)環(huán)回電路。
第四，形成測(cè)試環(huán)路后就可以進(jìn)行測(cè)試了。
所述環(huán)回回路MCU單元-＞邏輯輸出電路-＞緩沖電路輸出接口-＞適配卡輸出接口-＞被測(cè)電纜或者參考電纜-＞適配卡輸入接口-＞緩沖電路輸入接口-＞邏輯輸入電路-＞MCU單元。
本發(fā)明的測(cè)試方法如下首先操作者要獲取參考電纜的連接關(guān)系，方法有三種。第一種是調(diào)用以前保存的，第二種通過(guò)測(cè)試參考電纜獲得，第三種是通過(guò)手工輸入。在上位機(jī)軟件中每種輸入方法都包含有電纜類型、電纜編號(hào)、連接映射關(guān)系和操作者等必要信息，方便電纜測(cè)量統(tǒng)計(jì)；下位機(jī)的MCU單元只保留電纜連接關(guān)系和類型編號(hào)。下面通過(guò)具體步驟說(shuō)明操作過(guò)程。
針對(duì)調(diào)用上位機(jī)存儲(chǔ)的電纜信息在上位機(jī)軟件讀取電纜資料文件后，上位機(jī)軟件需要通過(guò)通信單元105把電纜連接關(guān)系的信息傳給下位機(jī)MCU單元101，下位機(jī)MCU單元101保存到存儲(chǔ)器件104的FLASH的電纜參考區(qū)，以備后面的測(cè)試使用。
針對(duì)通過(guò)測(cè)試參考電纜自動(dòng)獲得電纜的連接信息首先，需要把被測(cè)試的參考電纜通過(guò)適當(dāng)?shù)慕涌谶m配卡連接好，然后通過(guò)上位機(jī)下發(fā)命令或者下位機(jī)鍵盤操作，對(duì)參考電纜連接關(guān)系進(jìn)行掃描，把掃描結(jié)果存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器104的FLASH的參考區(qū)中，形成參考數(shù)據(jù)，并且可以通過(guò)鍵盤讓下位機(jī)把連接關(guān)系在顯示單元102中顯示出來(lái)，同時(shí)通過(guò)串口上傳給上位機(jī)軟件，如果需要保存參考信息，需要用戶添加電纜編號(hào)等的基本信息，然后保存。自動(dòng)獲取電纜連接信息是最快的一種獲取參考電纜連接信息的方式。
針對(duì)通過(guò)手工設(shè)置電纜連接信息可以通過(guò)上位機(jī)可視界面方便的設(shè)置，全部設(shè)置完畢之后就可以通過(guò)串口把設(shè)置的信息傳給所述下位機(jī)的MCU單元101。也可以通過(guò)下位機(jī)的鍵盤即輸入單元103的輸入方式進(jìn)行設(shè)置。設(shè)置完畢之后進(jìn)行保存，以備后用。通過(guò)下位機(jī)鍵盤設(shè)置由于不如上位機(jī)界面方便，所以設(shè)置電纜芯數(shù)比較多的時(shí)候，就會(huì)比較容易出錯(cuò)，而且也比較耗時(shí)，所以手工輸入是在即沒(méi)有以前的保存的信息也不太好自動(dòng)獲得的情況下才使用的方法。
在通過(guò)以上的三種方式之一獲得參考電纜的測(cè)試信息保存在存儲(chǔ)器104的FLASH參考區(qū)中，然后就可以進(jìn)行測(cè)試了。安裝被測(cè)電纜到接口適配卡的相應(yīng)接口中，整個(gè)連接確認(rèn)無(wú)誤后，就可以通過(guò)上位機(jī)按鈕或者下位機(jī)的鍵盤啟動(dòng)測(cè)試了。
所述MCU單元101啟動(dòng)電纜掃描，并把掃描的信息存儲(chǔ)到臨時(shí)存儲(chǔ)區(qū)中。掃描完畢后，把臨時(shí)存儲(chǔ)區(qū)中的信息和參考區(qū)中的信息進(jìn)行對(duì)比，判斷是否有連接錯(cuò)誤的電纜，同時(shí)把對(duì)比信息傳給上位機(jī)。對(duì)比完畢之后，顯示單元102和上位機(jī)界面軟件將自動(dòng)顯示被測(cè)試電纜是否正確。如果不正確，顯示單元102就顯示前幾個(gè)出錯(cuò)電纜連接信息，其它錯(cuò)誤可以通過(guò)鍵盤操作查看；上位機(jī)軟件由于采用可視的界面，所以可以一次顯示所有出錯(cuò)的電纜連接關(guān)系，方便操作者查看。同時(shí)為了批量生產(chǎn)記錄需要，上下位機(jī)的程序都設(shè)計(jì)了對(duì)批量生產(chǎn)的統(tǒng)計(jì)算法，可以記錄每種或每批電纜的測(cè)量總數(shù)、合格率等。上位機(jī)可以方便的記錄測(cè)試的操作者、電纜編號(hào)、電纜品種、時(shí)間、次數(shù)和合格率等更加詳細(xì)的記錄。所有的測(cè)試信息都可以保存在數(shù)據(jù)庫(kù)或者文件中供以后參考查看、統(tǒng)計(jì)或打印。
本發(fā)明針對(duì)電纜連接關(guān)系的一種通用掃描方法本發(fā)明方法對(duì)于一個(gè)接口對(duì)應(yīng)電纜另外一端多個(gè)接口的情況也適用，下面就測(cè)試各種電纜的測(cè)試方法進(jìn)行描述。
小系統(tǒng)能夠測(cè)試最大電纜芯數(shù)為100。操作人員啟動(dòng)測(cè)試程序后，測(cè)試程序首先把可編程邏輯單元所有的輸出端都置高。然后依次把可編程邏輯單元其中一個(gè)輸出接口置低電平，每一時(shí)刻只有一個(gè)輸出接口為低電平。
然后MCU單元從可編程邏輯單元讀取電纜另外一端所有接口的狀態(tài)。如果是掃描參考電纜的連接關(guān)系，就把測(cè)量結(jié)果存儲(chǔ)到參考數(shù)據(jù)區(qū)，并退出報(bào)告測(cè)試完畢；如果是被測(cè)量電纜，就把數(shù)據(jù)存放到測(cè)試數(shù)據(jù)區(qū)，繼續(xù)下面的對(duì)比測(cè)試。然后所述MCU單元與預(yù)先保存好的參考電纜數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，判斷是否有不一致的地方。把測(cè)試信息通過(guò)顯示單元顯示或者通過(guò)通信單元上傳到上位機(jī)中。如果錯(cuò)誤，下位機(jī)顯示單元就指示前幾根出錯(cuò)的電纜信息，其它錯(cuò)誤可以通過(guò)鍵盤操作查詢；上位機(jī)由于界面比較大，所以可以顯示所有出錯(cuò)電纜的連接信息。
假設(shè)電纜為100芯，在存儲(chǔ)區(qū)中，每根電纜存儲(chǔ)區(qū)大小為每根電纜對(duì)應(yīng)100÷8＝12.5個(gè)字節(jié)，取13字節(jié)，100根電纜需要100×13＝1300個(gè)對(duì)應(yīng)關(guān)系，每個(gè)信息用兩個(gè)字節(jié)記錄，一個(gè)輸出端口序號(hào)和一個(gè)輸入端口序號(hào)，共約2600字節(jié)。如此可以對(duì)100芯以內(nèi)的任意連接關(guān)系的信息進(jìn)行記錄和分析。
本發(fā)明測(cè)試裝置配置靈活方便，電纜接口可通過(guò)接口適配卡進(jìn)行靈活的更換。它可以用于大批量測(cè)量，在進(jìn)行大批量測(cè)量的過(guò)程中，最好和上位機(jī)軟件配合使用，方便統(tǒng)計(jì)。
在進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)維護(hù)的時(shí)候，可以使用電池供電，如果下位機(jī)中沒(méi)有參考電纜信息，可以通過(guò)直接獲取被測(cè)電纜連接信息，然后通過(guò)鍵盤和顯示單元來(lái)查看連接的關(guān)系，由人工來(lái)判斷電纜是否正常。
本發(fā)明裝置和方法其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便，配置靈活，但須理解的是，上述針對(duì)具體實(shí)施例的描述較為具體，并不能因此而理解為對(duì)本發(fā)明的專利保護(hù)范圍的限制，本發(fā)明的專利保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種電纜檢測(cè)裝置，其特征在于，所述裝置包括一MCU單元、一顯示單元、一輸入單元、一存儲(chǔ)單元、一接口緩沖單元以及一電纜接口適配卡單元；所述MCU單元、通訊連接單元、顯示單元和所述輸入單元，用于從所述輸入單元獲得人機(jī)命令，通過(guò)預(yù)先編寫的程序，進(jìn)行讀取參考電纜的信息、讀取被測(cè)電纜的信息、對(duì)比信息和通過(guò)所述顯示單元進(jìn)行結(jié)果顯示；所述存儲(chǔ)單元用于存儲(chǔ)測(cè)試程序和中間測(cè)試的臨時(shí)數(shù)據(jù)，供所述MCU單元使用；所述接口緩沖單元用于提供測(cè)試信號(hào)和電纜適配卡單元的緩沖；所述電纜接口適配卡單元用于通過(guò)提供多種電纜接口，把信號(hào)傳遞到電纜連接接口和從電纜另外一頭獲得測(cè)試信號(hào)，和被測(cè)電纜組成一個(gè)環(huán)型測(cè)試鏈路。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括一通信單元連接所述MCU單元和一上位機(jī)，用于命令和數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)發(fā)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述存儲(chǔ)器還包括一RAM用于在測(cè)試時(shí)提供臨時(shí)存放數(shù)據(jù)的空間，一ROM則用于提供運(yùn)行程序的存儲(chǔ)，以及一FLASH用于保存參考電纜信息供多次調(diào)用。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括一可編程邏輯單元，用于把所述MCU單元的數(shù)據(jù)進(jìn)行轉(zhuǎn)換處理，傳遞給所述接口緩沖單元。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述電纜接口適配卡單元上設(shè)置有不同電纜接口。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述電纜接口適配卡單元可更換設(shè)置。
7.一種電纜檢測(cè)的掃描方法，其特征在于包括如下步驟A、操作者獲取參考電纜的連接關(guān)系，獲得的參考電纜的測(cè)試信息保存在存儲(chǔ)器的FLASH參考區(qū)中；B、安裝被測(cè)電纜到接口適配卡的相應(yīng)接口中，構(gòu)成環(huán)型測(cè)試鏈路，通過(guò)所述輸入單元啟動(dòng)測(cè)試；C、MCU單元啟動(dòng)電纜掃描，并把掃描的信息存儲(chǔ)到臨時(shí)存儲(chǔ)區(qū)中，掃描完畢后，把臨時(shí)存儲(chǔ)區(qū)中的信息和參考區(qū)中的信息進(jìn)行對(duì)比，判斷是否有連接錯(cuò)誤的電纜，并在顯示單元上顯示。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述系統(tǒng)通過(guò)一通信單元連接一上位機(jī)，通過(guò)該上位機(jī)控制啟動(dòng)電纜掃描；并且掃描信息傳輸給所述上位機(jī)處理和顯示。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述步驟A還包括調(diào)用上位機(jī)存儲(chǔ)的電纜參考信息在上位機(jī)軟件讀取電纜資料文件后，上位機(jī)軟件通過(guò)所述通信單元把電纜連接關(guān)系的信息傳給所述MCU單元，并保存到存儲(chǔ)器件的FLASH的電纜參考區(qū)，以備后面的電纜測(cè)試使用。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述步驟A還包括通過(guò)測(cè)試參考電纜自動(dòng)獲得電纜的參考信息將被測(cè)試的參考電纜通過(guò)適當(dāng)?shù)慕涌谶m配卡連接好，通過(guò)上位機(jī)下發(fā)命令或者輸入單元操作，對(duì)參考電纜連接關(guān)系進(jìn)行掃描，把掃描結(jié)果存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器的FLASH的參考區(qū)中，形成參考信息。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述步驟A還包括通過(guò)手工設(shè)置電纜的參考信息通過(guò)上位機(jī)可視界面的設(shè)置，全部設(shè)置完畢之后通過(guò)串口把設(shè)置的信息傳給所述MCU單元，或通過(guò)所述輸入單元的輸入進(jìn)行設(shè)置；設(shè)置完畢之后進(jìn)行保存到存儲(chǔ)器的FLASH的參考區(qū)中，形成參考信息。
全文摘要
本發(fā)明的一種電纜檢測(cè)裝置及其掃描方法，所述裝置包括一MCU單元、通訊連接單元、顯示單元和輸入單元，用于從輸入單元獲得人機(jī)命令，進(jìn)行讀取參考電纜的信息、讀取被測(cè)電纜的信息、對(duì)比信息和通過(guò)所述顯示單元進(jìn)行結(jié)果顯示；存儲(chǔ)單元用于存儲(chǔ)測(cè)試程序和中間測(cè)試的臨時(shí)數(shù)據(jù)，供所述MCU單元使用；接口緩沖單元用于提供測(cè)試信號(hào)和電纜適配卡單元的緩沖；電纜接口適配卡單元用于通過(guò)提供多種電纜接口，把信號(hào)傳遞到電纜連接接口和從電纜另外一頭獲得測(cè)試信號(hào)，和被測(cè)電纜組成一個(gè)環(huán)型測(cè)試鏈路。本發(fā)明裝置及其掃描方法由于采用了小系統(tǒng)以及可配置的適配卡，其測(cè)試裝置配置靈活方便，電纜接口可通過(guò)接口適配卡進(jìn)行靈活的更換，可以用于大批量測(cè)量。
文檔編號(hào)G01R31/08GK1924597SQ20051009373
公開日2007年3月7日 申請(qǐng)日期2005年8月29日 優(yōu)先權(quán)日2005年8月29日
發(fā)明者朱紅軍, 張來(lái)喜, 周嶸, 郝磷 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司