專利名稱：熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測量方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于彩色熒光粉檢測技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種測量方法，特別涉及彩色顯象管和彩色顯示器用熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測量方法。
背景技術(shù)：
彩色顯象管使用的紅、綠、藍(lán)三色熒光粉，其顏色是由它們輻射的光譜分布來決定的。對于生產(chǎn)制造出來的熒光粉，要知道它們的發(fā)光特性，就必須進行測量。另外，為了吸收部分來自熒光屏前的環(huán)境光及熒光粉發(fā)光以外的波長，提高圖象對比度和改善熒光粉的色純度，對熒光粉的反射、吸收特性也要進行測量。
現(xiàn)有的發(fā)光特性的測量方法是用MCPD型分光儀在電子槍的激發(fā)下，測量放置在其真空樣品室內(nèi)的專用測量載片上熒光粉的發(fā)光特性(Br、x、y)。由于該測量儀器測量光柵的面積為一定值，因此，對測量發(fā)光專用測量載片的高度、寬度就得做出限制，即載片的高度、寬度為固定值。而測量反射率光譜的方法是用分光光度計儀器，將裝有熒光粉的專用測量載片放置在反射光譜載片樣品室內(nèi)，測量其熒光粉的反射、吸收特性。為了保證激發(fā)光譜對熒光粉樣品的測量要求，即保證測量精度，該儀器的樣品室限定了測量載片的高度也必須為固定值。因此，現(xiàn)有的兩種儀器在分別測量熒光粉的發(fā)光特性與反射特性時，必須分別在兩種不同形狀的熒光粉載片上制作被檢測熒光粉的測量載片，從而造成檢測成本較高，工人勞動強度加大。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決測量發(fā)光特性和反射特性分別制作載片而造成的檢測成本高、勞動強度大的缺點，本發(fā)明的目的是提供了可一體化測量的熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測量方法，降低了檢測成本，減輕了勞動強度。
本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是，熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測量方法，將熒光粉樣品裝入測量發(fā)光光譜特性的載片上的凹槽內(nèi)，將其壓平，進行發(fā)光特性的測量，測量完成后，將載片疊加在測量反射光譜特性的載片上，蓋上玻璃片，再進行反射光譜特性的測量。
本發(fā)明所采用的另一技術(shù)方案是，熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測量方法，包括一通用載片，通用載片上開有長方形凹槽，凹槽的四角圓弧過渡，該方法包括先將熒光粉樣品裝入通用載片上的凹槽內(nèi)，將其壓平，進行發(fā)光特性的測量，測量完成后，蓋上玻璃片，再進行反射光譜特性的測量。
本發(fā)明的特點還在于，通用載片上凹槽的長為45mm，寬為25mm，表面積為1125平方毫米。
本發(fā)明的方法是將制作測量熒光粉發(fā)光特性用的載片及制作測量熒光粉反射光譜用的載片，一次完成，從而降低制樣費用，減輕了檢測工的勞動量，提高檢測工作效率，減輕了檢測廢棄熒光粉對環(huán)境的污染。


圖1是原有測量發(fā)光特性的載片示意圖；圖2是原有測量發(fā)光特性的載片裝樣品后示意圖；圖3是原有測量反射光譜特性的載片示意圖；圖4是原有測量反射光譜特性的載片裝樣品后示意圖；
圖5是本發(fā)明的一種測量方法示意圖；圖6是本發(fā)明的通用載片示意圖；圖7是本發(fā)明使用通用載片測量發(fā)光特性示意圖；圖8是本發(fā)明使用通用載片測量反射光譜特性示意圖；圖9是紅粉反射率的測試對比曲線圖，橫坐標(biāo)是波長，縱坐標(biāo)是反射率；圖10是藍(lán)粉反射率的測試對比曲線圖，橫坐標(biāo)是波長，縱坐標(biāo)是反射率。
圖中1載片，2凹槽，3熒光粉樣品，4載片，5凹槽，6玻璃片，7通用載片，8凹槽。
具體實施例方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明進行詳細(xì)說明。
圖1顯示的是原有測量發(fā)光特性的載片，載片1上開有方形凹槽2。
如圖2所示，進行發(fā)光特性測量時，將少量熒光粉樣品3裝入載片1上的凹槽2內(nèi)，使粉稍高于載片1的內(nèi)表面，用平面砣將其壓平整，用MCPD型分光儀在電子槍激發(fā)下測量樣品的發(fā)光特性(Br、x、y)。
圖3顯示的是原有測量反射光譜特性的載片，載片4上開有圓形凹槽5。
如圖4所示，原來進行反射光譜特性測量時，將少量熒光粉樣品3裝入載片4上的凹槽5內(nèi)，使粉稍高于載片4的內(nèi)表面，用平面砣將其壓平整，用分光光度計儀器測量樣品的反射特性。
圖5顯示用本發(fā)明的方法進行測量，將少量熒光粉樣品3裝入測量發(fā)光光譜特性的載片1上的凹槽2內(nèi)，使粉稍高于載片1的內(nèi)表面，用平面砣將其壓平整，用MCPD型分光儀在電子槍激發(fā)下測量樣品的發(fā)光特性，測量完成后，將載片1疊加在測量反射光譜特性的載片4上，再用玻璃片6蓋在熒光粉體3上，四周用膠帶將玻璃片6與載片1封嚴(yán)，杜絕粉末外溢，并用衛(wèi)生紙將玻璃面擦凈，最后測量其反射光譜特性。從而使發(fā)光、反射光譜測量制片只需一次完成，節(jié)省了單另制作測量反射率用載片的制片過程。
圖6是本發(fā)明方法使用的通用載片，通用載片7上開有長方形凹槽8，其長為65mm，寬為24mm，表面積為625平方毫米，凹槽8的四角圓弧過渡。
圖7、圖8顯示用本發(fā)明的另一種方法進行測量，先將一定量熒光粉樣品裝入通用載片7上的凹槽8內(nèi)，使粉稍高于載片7的內(nèi)表面，然后用平面砣將粉壓平整，首先用MCPD型分光儀在電子槍激發(fā)下測量樣品的發(fā)光特性(Br、x、y)，測量完成后，測量載片7再利用，用玻璃片6蓋在其熒光粉3上，四周用膠帶將玻璃片6與載片7封嚴(yán)，杜絕粉末外溢，并用衛(wèi)生紙將玻璃面擦凈，最后測量其反射率特性，從而使發(fā)光測量、反射光譜測量制片一次完成。
用本發(fā)明的兩種測量方法與原來的測量方法相比，見下表隨機取樣進行兩種制片方法測試反射光譜測試點對比

從上表的測試數(shù)據(jù)對比可以看出，其測試結(jié)果的極差很小，驗證了本發(fā)明的可行性。
圖9、圖10是隨機取樣進行的本發(fā)明的制片方法與原有方法測量出的反射光譜特性對比曲線，可以看出用本發(fā)明的制片方法測量出的結(jié)果與原有的反射光譜測量方法的測量結(jié)果完全吻合。
權(quán)利要求
1.熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測量方法，其特征在于，將熒光粉樣品(3)裝入測量發(fā)光光譜特性的載片(1)上的凹槽(2)內(nèi)，將其壓平，進行發(fā)光特性的測量，測量完成后，將載片(1)疊加在測量反射光譜特性的載片(4)上，蓋上玻璃片(6)，再進行反射光譜特性的測量。
2.熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測量方法，其特征在于，包括一通用載片(7)，所述通用載片(7)上開有長方形凹槽(8)，所述凹槽(8)的四角圓弧過渡，該方法包括先將熒光粉樣品(3)裝入通用載片(7)上的凹槽(8)內(nèi)，將其壓平，進行發(fā)光特性的測量，測量完成后，蓋上玻璃片(6)，再進行反射光譜特性的測量。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測量方法，其特征在于，所述凹槽(8)的長為45mm，寬為25mm，表面積為1125平方毫米。
全文摘要
熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測量方法，一種方法是將進行發(fā)光特性測量后的載片疊加在測量反射光譜特性的載片上，蓋上玻璃片，再進行反射光譜特性的測量；另一種方法是將熒光粉樣品裝入通用載片上的凹槽內(nèi)，進行發(fā)光特性的測量，測量完成后，蓋上玻璃片，再進行反射光譜特性的測量。該方法使發(fā)光特性和反射光譜特性的測量一次完成，從而降低制樣費用，減輕了檢測工的勞動量，提高檢測工作效率，減輕了檢測廢棄熒光粉對環(huán)境的污染。
文檔編號G01N21/69GK1664565SQ200510041908
公開日2005年9月7日 申請日期2005年4月7日 優(yōu)先權(quán)日2005年4月7日
發(fā)明者傅紅梅, 張東宏 申請人:彩虹集團電子股份有限公司