專(zhuān)利名稱(chēng)：用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)于掃描計(jì)時(shí)器(scan clocks)，特別是有關(guān)于包含多個(gè)掃描計(jì)時(shí)器的芯片中，用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析(Static TimingAnalysis，STA)的方法及裝置。
背景技術(shù)：
一般測(cè)試芯片于芯片制造完成之后，而高可測(cè)試度可通過(guò)合并設(shè)計(jì)及測(cè)試過(guò)程來(lái)完成。掃描設(shè)計(jì)(scan design)為一般測(cè)試技術(shù)中的一種。一般的掃描設(shè)計(jì)電路將各種不同的儲(chǔ)存元件串聯(lián)置入掃描鏈(scan chain)中。將掃描電路置入設(shè)計(jì)的過(guò)程牽涉到以可掃描的序列元件(scannable sequential elements)取代序列元件，然后將其置入一個(gè)或多個(gè)掃描緩存器(掃描鏈)。此掃描鏈為此設(shè)計(jì)之中透過(guò)初始的輸入輸出將資料移入移出的必要機(jī)制。這樣的掃描轉(zhuǎn)移操作(scanshifting operation)是由掃描致能接腳(scan enable pin)所控制。轉(zhuǎn)移資料進(jìn)入芯片使得循序元件處于已知狀態(tài)。借著以此已知資料使該電路運(yùn)作并得到輸出，可以觀察到結(jié)果并與預(yù)期的資料比較。
將資料移入或移出掃描鏈?zhǔn)怯凇皋D(zhuǎn)移模式」(shift mode)時(shí)完成。而此電路的運(yùn)作及捕捉資料則于「捕捉模式」(scan mode)時(shí)完成。于捕捉模式中，掃描致能訊號(hào)處于非激發(fā)狀態(tài)，因而此設(shè)計(jì)的功能路徑可以產(chǎn)生發(fā)揮作用。于一或多個(gè)掃描計(jì)時(shí)器端給定一個(gè)脈波來(lái)捕捉資料。當(dāng)芯片處于捕捉模式時(shí)，使用者可通過(guò)自動(dòng)測(cè)試樣式產(chǎn)生程序(Automatic Test Pattern Generation，ATPG)工具來(lái)控制要提供多少個(gè)捕捉計(jì)時(shí)器脈波(capture clock pulses)。捕捉模式之后緊跟著轉(zhuǎn)移模式，且資料移出并與所預(yù)期的資料比較。
自動(dòng)測(cè)試樣式產(chǎn)生程序(ATPG)工具可用于產(chǎn)生樣式來(lái)測(cè)試芯片的功能。此ATPG工具可依需要使芯片處于轉(zhuǎn)移或是捕捉模式。此樣式包含被掃描端以及初始輸入驅(qū)動(dòng)進(jìn)入芯片的數(shù)據(jù)。脈波亦可利用掃描計(jì)時(shí)器端來(lái)驅(qū)動(dòng)。此ATPG工具還可在特計(jì)時(shí)間產(chǎn)生與芯片輸出的資料作比較的所預(yù)期的資料。
為了驗(yàn)證的目的，確保任一模式中沒(méi)有時(shí)序違例(timingviolations)以確保掃描電路的適當(dāng)操作及觀察到正確的數(shù)據(jù)是相當(dāng)重要的。因此，應(yīng)該運(yùn)用靜態(tài)時(shí)序分析工具，且準(zhǔn)備及保留違例(setup andhold violations)需要被修正。為了避免計(jì)時(shí)器樹(shù)(clock trees)之間的計(jì)時(shí)器歪斜(clock skew)事件，基本上ATPG工具一次產(chǎn)生一個(gè)捕捉脈波。通常靜態(tài)時(shí)序分析(STA)工具用于分析同步計(jì)時(shí)的多個(gè)計(jì)時(shí)器，若用于分析異步工作的計(jì)時(shí)器時(shí)序，則可能發(fā)生錯(cuò)誤路徑(falsepath)的報(bào)告結(jié)果。
有需要提出一種方法及裝置可以(1)用于掃描模式中檢查芯片的時(shí)序，(2)于ATPG所產(chǎn)生的向量中考慮多個(gè)計(jì)時(shí)器的異步關(guān)系，及(3)避免根據(jù)供應(yīng)于芯片上的時(shí)間訊號(hào)的特殊時(shí)序，產(chǎn)生時(shí)序違例的可能錯(cuò)誤報(bào)告。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的方法及裝置，該方法及裝置用于當(dāng)多個(gè)掃描計(jì)時(shí)器在掃描模式中使用時(shí)，檢查芯片的時(shí)序。一些邏輯路徑可能只出現(xiàn)于掃描模式(例如到旁支存儲(chǔ)器的邏輯或形成掃描鏈的路徑)。為了確保一個(gè)特定的設(shè)計(jì)不會(huì)引起時(shí)序違例，靜態(tài)時(shí)序分析(STA)可能在此設(shè)計(jì)處于掃描模式時(shí)執(zhí)行。此掃描模式通常具有二個(gè)子模式，「轉(zhuǎn)移模式」及「捕捉模式」。于轉(zhuǎn)移模式之中，所有的掃描計(jì)時(shí)器同時(shí)地工作。因此，于靜態(tài)時(shí)序分析時(shí)設(shè)定所有的掃描計(jì)時(shí)器為激發(fā)狀態(tài)的標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)將可產(chǎn)生準(zhǔn)備與保留違例的正確分析。然而，于捕捉模式中，ATPG工具一次只產(chǎn)生一個(gè)脈波。因此，當(dāng)具有多個(gè)計(jì)時(shí)器時(shí)，需要一種傳統(tǒng)STA方法的改進(jìn)，于捕捉模式中正確地檢查時(shí)序，且避免觸發(fā)許多錯(cuò)誤的違例。
為達(dá)上述目的，本發(fā)明提供的一種用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的方法，其特征是，包含以下步驟(A)提供復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試方塊，任一該測(cè)試方塊包含(1)復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試元件及(2)復(fù)數(shù)個(gè)邏輯元件；及(B)操作于(1)一捕捉模式，利用多個(gè)掃描計(jì)時(shí)器，一次只有該掃描計(jì)時(shí)器之一被觸發(fā)及(2)一轉(zhuǎn)移模式，一次觸發(fā)多個(gè)掃描計(jì)時(shí)器。
本發(fā)明所提供的一種用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的裝置，是用于測(cè)試的電路及復(fù)數(shù)個(gè)電路內(nèi)的測(cè)試方塊所組成的裝置。該裝置包含提供一電路可以(1)與多個(gè)掃描計(jì)時(shí)器在掃描模式中操作及/或(2)與此設(shè)計(jì)中借著不同掃描計(jì)時(shí)器計(jì)時(shí)的區(qū)塊間的功能路徑操作。
為達(dá)上述目的，本發(fā)明提供的一種用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的裝置，其特征是，包含一被測(cè)試電路；及復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試方塊于該測(cè)試電路內(nèi)，任一該測(cè)試方塊包含(i)復(fù)數(shù)個(gè)循序元件及(ii)復(fù)數(shù)個(gè)邏輯元件，其中(1)任一該測(cè)試方塊操作于(a)包含一轉(zhuǎn)移模式的一第一模式中及(b)包含一捕捉模式的一第二模式中，(2)該轉(zhuǎn)移模式與同時(shí)計(jì)時(shí)的復(fù)數(shù)個(gè)掃描計(jì)時(shí)器一起操作，及(3)該捕捉模式與復(fù)數(shù)個(gè)掃描計(jì)時(shí)器一起操作，該復(fù)數(shù)個(gè)掃描計(jì)時(shí)器一次只有一個(gè)被觸發(fā)。
本發(fā)明還包括其它重要技術(shù)特征和步驟，以下將結(jié)合附圖和具體


本發(fā)明所有的目的、特色及優(yōu)點(diǎn)，將由以下的詳細(xì)描述及權(quán)利要求范圍與附圖中清楚表達(dá)，其中圖1為在轉(zhuǎn)移及捕捉模式中包含多個(gè)補(bǔ)捉脈波的掃描計(jì)時(shí)器；圖2為一處于轉(zhuǎn)移模式的電路；圖3為一處于捕捉模式的電路；圖4為于STA中多個(gè)激發(fā)的掃描計(jì)時(shí)器；圖5為于捕捉模式中ATPG測(cè)試樣式掃描計(jì)時(shí)器；圖6為STA工具所分析的時(shí)序弧線(xiàn)；圖7為具有一捕捉脈波于轉(zhuǎn)移及捕捉模式的掃描計(jì)時(shí)器；及圖8為一時(shí)域內(nèi)的時(shí)序。
圖中符號(hào)說(shuō)明100 芯片102a-102n循序元件103a-103n邏輯區(qū)塊104a-104n循序元件105a-105n邏輯區(qū)塊106a-106n循序元件107a-107n邏輯區(qū)塊108a-108n掃描計(jì)時(shí)器端具體實(shí)施方式
參閱圖1，表示一典型的時(shí)序波形圖。此波形可能發(fā)生于當(dāng)使用者允許多個(gè)捕捉脈波時(shí)，由ATPG工具驅(qū)動(dòng)于掃描計(jì)時(shí)器端(未圖標(biāo))。于此圖顯示許多掃描計(jì)時(shí)器訊號(hào)(如SCAN_CLK0至SCAN_CLK2)及一個(gè)掃描致能訊號(hào)(例如SCAN_EN)。
于轉(zhuǎn)移模式中，掃描致能訊號(hào)SCAN_EN設(shè)定為高電位(HIGH)。如此可讓數(shù)據(jù)透過(guò)一或多個(gè)掃描數(shù)據(jù)輸入端移入一或多個(gè)掃描鏈。于任一計(jì)時(shí)器周期中，新數(shù)據(jù)移入任一特定的掃描鏈。轉(zhuǎn)移模式中計(jì)時(shí)器周期的數(shù)目等于最長(zhǎng)掃描鏈元件的數(shù)目。當(dāng)所有的掃描鏈都已負(fù)載時(shí)，捕捉模式隨即開(kāi)始。于補(bǔ)捉模式中，掃描致能訊號(hào)SCAN_EN通常設(shè)定為低電位(LOW)，且ATPG工具(未圖標(biāo))于掃描計(jì)時(shí)器端提供計(jì)時(shí)器脈波。由于在不同時(shí)域(clock domain)間可能有計(jì)時(shí)器歪斜，ATPG工具于只有在一次只發(fā)出一個(gè)脈波的區(qū)域產(chǎn)生測(cè)試樣式，以避免時(shí)序違例。如果于此設(shè)計(jì)中，在二個(gè)或更多以不同的掃描計(jì)時(shí)器計(jì)時(shí)的區(qū)塊之間沒(méi)有功能路徑，此工具會(huì)對(duì)多個(gè)掃描計(jì)時(shí)器同時(shí)提供捕捉脈波。
通常，三個(gè)個(gè)別的靜態(tài)時(shí)序分析的執(zhí)行需要用于掃描模式中檢查時(shí)序。一個(gè)分析的執(zhí)行用于轉(zhuǎn)移模式。兩個(gè)分析的執(zhí)行通常用于捕捉模式。于轉(zhuǎn)移模式中，掃描致能訊號(hào)SCAN_EN設(shè)定為HIGH。標(biāo)準(zhǔn)的STA方法(所有的掃描計(jì)時(shí)器設(shè)定為激發(fā)態(tài))可能于轉(zhuǎn)移模式中檢查準(zhǔn)備與保持時(shí)序。于轉(zhuǎn)移模式中，同時(shí)驅(qū)動(dòng)所有的計(jì)時(shí)器。于捕捉模式中，掃描致能訊號(hào)SCAN_EN設(shè)定為L(zhǎng)OW。ATPG工具只于掃描計(jì)時(shí)器端中之一端驅(qū)動(dòng)一個(gè)捕捉脈波。于下一個(gè)計(jì)時(shí)器周期，ATPG工具可能于一不同的掃描計(jì)時(shí)器端驅(qū)動(dòng)另一捕捉脈波。
參閱圖2，為一處于轉(zhuǎn)移模式的電路(或芯片)100(例如將訊號(hào)SCAN_EN設(shè)定為HIGH)。此電路100通常由一方塊A、一方塊B及一方塊C所組成。方塊A通常由多個(gè)元件102a-102n所組成?？梢詫⒃?02a-102n如循序元件來(lái)完成。舉例來(lái)說(shuō)，可以將元件102a-102n如正反器來(lái)完成(flip-flops)，而正反器則由一掃描計(jì)時(shí)器來(lái)驅(qū)動(dòng)(例如SCAN_CLK0)。循序元件102a-102n形成一掃描鏈A。方塊B通常由多個(gè)元件104a-104n所組成。元件104a-104n通常形成一掃描鏈B。方塊C通常由多個(gè)元件106a-106n所組成。元件106a-106n形成一掃描鏈C。由于方塊A、方塊B及方塊C由不同的掃描計(jì)時(shí)器SCAN_CLK0-SCAN_CLK1來(lái)驅(qū)動(dòng)，可以將方塊A中的掃描鏈的最后一個(gè)元件102n以鎖存器(lock-up latch)來(lái)實(shí)施。當(dāng)資料移入或移出方塊A的掃描鏈時(shí)，鎖存器102n可避免時(shí)序違例的發(fā)生。于圖2的例子，實(shí)施了二條掃描計(jì)時(shí)器(例如SCAN_CLK0及SCAN_CLK1)。然而，可以加入額外的計(jì)時(shí)器來(lái)達(dá)到一特定設(shè)施的設(shè)計(jì)要求。通常掃描計(jì)時(shí)器SCAN_CLK0及SCAN_CLK1于轉(zhuǎn)移模式中同時(shí)地驅(qū)動(dòng)電路100。
當(dāng)所有的掃描鏈A、B及C透過(guò)轉(zhuǎn)移模式而皆已負(fù)載，捕捉模式隨即開(kāi)始。當(dāng)電路100處于捕捉模式時(shí)，掃描致能訊號(hào)SCAN_EN設(shè)定為L(zhǎng)OW，開(kāi)始測(cè)試功能路徑。ATPG測(cè)試于一或多個(gè)掃描計(jì)時(shí)器端108a-108n提供捕捉計(jì)時(shí)器脈波。因?yàn)橛诓煌畷r(shí)域(例如SCAN_CLK0及SCAN_CLK1)可能有計(jì)時(shí)器歪斜，ATPG工具(未圖標(biāo))只于掃描計(jì)時(shí)器端108a-108n中之一端產(chǎn)生測(cè)試樣式，如此可避免時(shí)序違例。若于一特定的設(shè)計(jì)中，由不同的掃描計(jì)時(shí)器所驅(qū)動(dòng)的二個(gè)或更多的區(qū)域沒(méi)有功能路徑，ATPG工具可一次于多個(gè)掃描計(jì)時(shí)器提供捕捉脈波。
參閱圖3，為芯片100處于捕捉模式的例子(例如將訊號(hào)SCAN_EN設(shè)定為L(zhǎng)OW)，如此功能路徑可以發(fā)揮功能。除了循序元件102a-102n、104a-104n及106a-106n外，多個(gè)邏輯區(qū)塊(例如組合邏輯)103a-103n、105a-105n及107a-107n亦顯示于圖中。于捕捉模式，訊號(hào)SCAN_CLK0產(chǎn)生脈波。循序元件102a-102n通常由訊號(hào)SCAN_CLK0所驅(qū)動(dòng)，且可由初始輸入(例如IN0或IN1)捕捉資料。循序元件102a-102n亦可由位于相同的或不同的功能方塊中的循序元件或邏輯區(qū)塊捕捉資料。當(dāng)訊號(hào)SCAN_CLK1產(chǎn)生脈波，訊號(hào)SCAN_CLK0則處于非激發(fā)態(tài)。接下來(lái)由訊號(hào)SCAN_CLK1驅(qū)動(dòng)的特定循序元件從初始輸入IN2或IN3(或者借著其它的循序元件或邏輯區(qū)塊)捕捉資料。于捕捉模式及轉(zhuǎn)移模式中，被捕捉進(jìn)入所有循序元件106a-106n的資料，借著將初始輸出訊號(hào)(例如OUT0-OUT4)與所預(yù)期的資料作比較來(lái)確認(rèn)其為有效的資料。
參閱圖4，附圖中具有二個(gè)掃描計(jì)時(shí)器。當(dāng)此二計(jì)時(shí)器對(duì)于STA工具以相同的時(shí)序參數(shù)設(shè)定，STA工具假設(shè)計(jì)時(shí)器于每一周期皆發(fā)出脈波。然而，STA工具一次只于一個(gè)掃描計(jì)時(shí)器產(chǎn)生脈波時(shí)產(chǎn)生測(cè)試樣式，脈波B及C(或脈波A及D)實(shí)際上并不存在。STA工具實(shí)際上可以產(chǎn)生如圖5所示的測(cè)試樣式中的一種。
因此，時(shí)序分析需于捕捉模式中二次執(zhí)行之內(nèi)完成。第一次執(zhí)行通常包含一準(zhǔn)備時(shí)序檢驗(yàn)(setup timing check)。所有的計(jì)時(shí)器訊號(hào)一般設(shè)定成本質(zhì)上相同的時(shí)序參數(shù)。只有準(zhǔn)備程序報(bào)告(setup report)需要檢驗(yàn)，且需要修正時(shí)序違例。應(yīng)該忽略保留違例(hold violations)，因?yàn)槠渲锌赡馨e(cuò)誤的違例的情形。
參閱圖6，脈波A與D之間，以及脈波C與B之間的時(shí)序弧線(xiàn)(timing arcs)出現(xiàn)于附圖之中。同時(shí)也檢驗(yàn)了一時(shí)域(未圖標(biāo))內(nèi)的時(shí)序(例如脈波A與B之間，以及脈波C與D之間的時(shí)序)。要忽略脈波A與C之間的時(shí)序(由于脈波A與脈波C并非同時(shí)產(chǎn)生，因而不是一個(gè)有效的例子)。因此，保留違例可以被忽略。
第二次執(zhí)行通常包含一保留程序檢驗(yàn)(hold check)。所有的計(jì)時(shí)器都要被設(shè)定，但是在任一時(shí)間與其它的時(shí)間之間，需要有一或多個(gè)SET_FALSE_PATH的敘述(statements)。SET_FALSE_PATH的敘述指示STA工具忽略?xún)蓚€(gè)時(shí)域之間的時(shí)序弧線(xiàn)。例如，如果有三個(gè)掃描計(jì)時(shí)器，可以運(yùn)用以下的敘述SET_FALSE_PATH-from SCAN_CLK0-to SCAN_CLK1SET_FALSE_PATH-from SCAN_CLK0-to SCAN_CLK2SET_FALSE_PATH-from SCAN_CLK1-to SCAN_CLK0SET_FALSE_PATH-from SCAN_CLK1-to SCAN_CLK2SET_FALSE_PATH-from SCAN_CLK2-to SCAN_CLK0
SET_FALSE_PATH-from SCAN_CLK2-to SCAN_CLK1特定的STA工具可以使用SET_FALSE_PATH指令的文法(例如PrimeTime，Synopsys出品)作為指令集的一部份。其它的指令可以為特定的STA工具使用。然而，一般而言所使用的特定的文法，會(huì)去指示特定工具去忽略?xún)蓚€(gè)時(shí)域之間的時(shí)序弧線(xiàn)。
參閱圖6，借著完成SET_FALSE_PATH指令，STA工具忽略脈波A與C之間的保留程序檢驗(yàn)，但會(huì)檢驗(yàn)相同時(shí)域內(nèi)正反器之間的準(zhǔn)備時(shí)間。要檢驗(yàn)準(zhǔn)備程序報(bào)告，且要修正違例。
如果使用者選擇當(dāng)執(zhí)行ATPG工具且產(chǎn)生測(cè)試樣式時(shí)，每次捕捉只有一個(gè)捕捉脈波，則只需一次執(zhí)行。所有的計(jì)時(shí)器都要被設(shè)定，且類(lèi)似于前一案例的第二次執(zhí)行，在任一時(shí)間與其它的時(shí)間之間，需要有一或多個(gè)SET_FALSE_PATH的敘述(statements)。使用者應(yīng)檢驗(yàn)準(zhǔn)備及保留違例，且須修正違例。
參閱圖7，附圖為于掃描計(jì)時(shí)器端由ATPG工具產(chǎn)生的一組典型的波形圖。圖7顯示使用者允許ATPG工具于每一捕捉模式只產(chǎn)生一捕捉脈波。一般而言，并不需要二掃描計(jì)時(shí)器之間的準(zhǔn)備程序檢驗(yàn)，因?yàn)橹挥幸粋€(gè)計(jì)時(shí)器被觸發(fā)。
參閱圖8，只有于一時(shí)域內(nèi)的時(shí)序要被檢驗(yàn)。脈波A與D、脈波C與B及脈波A與C之間的時(shí)序弧線(xiàn)需被忽略(因?yàn)橛谝粧呙栌?jì)時(shí)器通過(guò)ATPG工具所產(chǎn)生的一脈波并不是一個(gè)有效的例子)。
本發(fā)明可確保得到只有真實(shí)違例路徑發(fā)生的正確報(bào)告。無(wú)本發(fā)明的捕捉模式的STA分析可能產(chǎn)生許多錯(cuò)誤的保留違例的報(bào)告，且遮蔽了真實(shí)的違例報(bào)告。本發(fā)明可涵蓋轉(zhuǎn)移及捕捉模式，且考慮到由ATPG工具對(duì)掃描計(jì)時(shí)器所產(chǎn)生的特殊時(shí)序。
本發(fā)明的各種不同的訊號(hào)通常為「on」(數(shù)字的HIGH或1)，或「off」(數(shù)字的LOW或0)。然而on及off狀態(tài)的特定極性(如激發(fā)的及非激發(fā)的)可以在達(dá)到一特定實(shí)施的設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)的情況下加以調(diào)整(例如加以反向)。
除此之外，可能會(huì)加上反向器來(lái)改變訊號(hào)的一特定極性。此處所使用的術(shù)語(yǔ)「同時(shí)地(simultaneously)」是用來(lái)描述事件發(fā)生于相同的時(shí)間周期，而不是只局限于事件必須開(kāi)始于同一時(shí)間點(diǎn)、結(jié)束于同一時(shí)間點(diǎn)或持續(xù)相同的時(shí)間。
本發(fā)明可借著利用多重時(shí)域的高速設(shè)計(jì)來(lái)分析下一代的無(wú)線(xiàn)行動(dòng)聲音及資料應(yīng)用之分碼多重存取(CDMA)芯片組。對(duì)新的CDMA設(shè)計(jì)執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析可以驗(yàn)證布局及出產(chǎn)新的集成電路之前任何修正的不足之處。本發(fā)明亦可由特殊應(yīng)用集成電路(ASIC)工程師來(lái)維護(hù)現(xiàn)存CDMA及相關(guān)設(shè)計(jì)以整合成較大的系統(tǒng)或系統(tǒng)芯片(system-on-a-chip)。本發(fā)明除了可用于CDMA設(shè)計(jì)之外，亦可用于其它設(shè)計(jì)的靜態(tài)時(shí)序分析。
本發(fā)明經(jīng)由較佳實(shí)施例特別加以附圖及闡明，需了解本領(lǐng)域中一般現(xiàn)有技術(shù)者不脫離本發(fā)明之精神的等效改變或修飾，均應(yīng)包含在本發(fā)明的權(quán)利要求之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的裝置，其特征是，包含一被測(cè)試電路；及復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試方塊于該測(cè)試電路內(nèi)，任一該測(cè)試方塊包含(i)復(fù)數(shù)個(gè)循序元件及(ii)復(fù)數(shù)個(gè)邏輯元件，其中(1)任一該測(cè)試方塊操作于(a)包含一轉(zhuǎn)移模式的一第一模式中及(b)包含一捕捉模式的一第二模式中，(2)該轉(zhuǎn)移模式與同時(shí)計(jì)時(shí)的復(fù)數(shù)個(gè)掃描計(jì)時(shí)器一起操作，及(3)該捕捉模式與復(fù)數(shù)個(gè)掃描計(jì)時(shí)器一起操作，該復(fù)數(shù)個(gè)掃描計(jì)時(shí)器一次只有一個(gè)被觸發(fā)。
2.如權(quán)利要求1所述的用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的裝置，其特征是，該轉(zhuǎn)移模式與該捕捉模式包含部分的靜態(tài)時(shí)序分析。
3.如權(quán)利要求1所述的用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的裝置，其特征是，該復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試方塊之一方塊于該復(fù)數(shù)個(gè)循序元件之一末端包含一鎖存器。
4.如權(quán)利要求1所述的用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的裝置，其特征是，該轉(zhuǎn)移模式包含同時(shí)觸發(fā)所有該復(fù)數(shù)個(gè)掃描計(jì)時(shí)器。
5.如權(quán)利要求1所述的用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的裝置，其特征是，該捕捉模式包含一次只觸發(fā)該復(fù)數(shù)個(gè)掃描計(jì)時(shí)器之一的脈波。
6.如權(quán)利要求1所述的用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的裝置，其特征是，任一該循序元件包含一正反器。
7.如權(quán)利要求1所述的用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的裝置，其特征是，該裝置以該轉(zhuǎn)移模式與該捕捉模式來(lái)修正時(shí)序違例。
8.如權(quán)利要求1所述的用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的裝置，其特征是，該裝置(1)于該轉(zhuǎn)移模式進(jìn)行一第一測(cè)試執(zhí)行(2)于該捕捉模式進(jìn)行一第二及第三測(cè)試執(zhí)行。
9.如權(quán)利要求8所述的用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的裝置，其特征是，該裝置于任一該測(cè)試執(zhí)行之間插入一或多個(gè)錯(cuò)誤路徑敘述。
10.一種用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的方法，其特征是，包含步驟(A)提供復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試方塊，任一該測(cè)試方塊包含(1)復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試元件及(2)復(fù)數(shù)個(gè)邏輯元件；及(B)操作于(1)一捕捉模式，利用多個(gè)掃描計(jì)時(shí)器，一次只有該掃描計(jì)時(shí)器之一被觸發(fā)及(2)一轉(zhuǎn)移模式，一次觸發(fā)多個(gè)掃描計(jì)時(shí)器。
11.如權(quán)利要求10所述的用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的方法，其特征是，步驟(B)包含于該轉(zhuǎn)移模式進(jìn)行一第一測(cè)試執(zhí)行；及于該捕捉模式進(jìn)行一第二及第三測(cè)試執(zhí)行。
12.如權(quán)利要求11所述的用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的方法，其特征是，更包含修正復(fù)數(shù)個(gè)時(shí)序違例錯(cuò)誤以響應(yīng)該測(cè)試執(zhí)行。
13.如權(quán)利要求11所述的用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的方法，其特征是，更包含任一該執(zhí)行步驟之間插入一或多個(gè)錯(cuò)誤路徑敘述。
全文摘要
一種用于掃描模式執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析的方法及裝置，該裝置由一被測(cè)試電路及該電路中多個(gè)測(cè)試方塊所組成。每一個(gè)測(cè)試方塊通常由復(fù)數(shù)個(gè)循序元件及復(fù)數(shù)個(gè)邏輯元件所組成。每一個(gè)測(cè)試方塊操作包含轉(zhuǎn)移模式的第一模式及捕捉模式的第二模式。此轉(zhuǎn)移模式通常與同步計(jì)時(shí)的多個(gè)掃描計(jì)時(shí)器一起操作，而此捕捉模式通常與多個(gè)掃描計(jì)時(shí)器一起操作，但一次只有一個(gè)計(jì)時(shí)器在工作。該方法及裝置可以用于掃描模式中檢查芯片的時(shí)序；于ATPG所產(chǎn)生的向量中考慮多個(gè)計(jì)時(shí)器的異步關(guān)系；避免根據(jù)供應(yīng)于芯片上的時(shí)間訊號(hào)的特殊時(shí)序，產(chǎn)生時(shí)序違例的可能錯(cuò)誤報(bào)告。
文檔編號(hào)G01R31/28GK1591036SQ200410079188
公開(kāi)日2005年3月9日 申請(qǐng)日期2004年9月16日 優(yōu)先權(quán)日2004年2月27日
發(fā)明者阿朗·沙多, 楊林利 申請(qǐng)人:開(kāi)曼群島威睿電通股份有限公司