專利名稱：電子元件的自動化測試裝置及其測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電子元件的自動化測試裝置及其測試方法，特別涉及一種可適用于封裝完成的電晶體進(jìn)行全面測試作業(yè)的自動化測試裝置及其測試方法。
背景技術(shù)：
習(xí)知的電子元件及電子產(chǎn)品等，在制程當(dāng)中及出廠前，均會進(jìn)行一系列的檢驗及測試等品管動作，除了確保其產(chǎn)品品質(zhì)之外，并可因檢測動作發(fā)現(xiàn)制程上的瑕疵，以進(jìn)行修正、改進(jìn)或更換，俾提升其產(chǎn)品的良品率。現(xiàn)今的晶片封裝或微處理器制造廠商，通常提供給消費者長期的保固期間，甚或終身保固，因此特別需在產(chǎn)品制程中及出廠前經(jīng)過嚴(yán)密的品質(zhì)控管，尤其在出廠前常會進(jìn)行全面的測試工作，以確保市面上每一顆晶片具有良好的品質(zhì)及功能效果，藉此降低其后續(xù)的品管成本。
但習(xí)知的晶片實際測試方法，是使用多數(shù)人力分別看守數(shù)個測試用主機(jī)板的置柜，該置柜內(nèi)部安裝有復(fù)數(shù)測試用主機(jī)板以供晶片植裝測試，因此一人僅能看守若干主機(jī)板置柜，造成人力成本的增加；其次，習(xí)知的測試作業(yè)是以人力將晶片植裝于測試主機(jī)板，經(jīng)過一系列測試動作之后，再以人力取下電晶體，可見其浪費許多時間在前置作業(yè)(拿取晶片)及后續(xù)作業(yè)(取出晶片并區(qū)別置放等)動作中，影響品管速率甚深，不利于大量生產(chǎn)，如此雖能降低往后保固期間回廠維修成本，卻增加了產(chǎn)品的制造及品管成本，對于消費者而言，終屬不利。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是要解決上述習(xí)見的以人力看守測試主機(jī)板置柜進(jìn)行電子元件測試存在的檢測速度慢、制造及品管成本高的問題，而提供一種可提高測試速度、降低品管成本、適于大量測試品管的電子元件的自動化測試裝置及其測試方法。
本發(fā)明之電子元件的自動化測試裝置，至少包括有一主機(jī)板置柜、二組擷取裝置、一收納區(qū)、一輸送裝置、一控管主機(jī)，主機(jī)板置柜為立式柜，該主機(jī)板置柜內(nèi)設(shè)有復(fù)數(shù)測試用主機(jī)板，測試用主機(jī)板與控管主機(jī)連線；二組擷取裝置是進(jìn)行電子元件取擷、插植及置放動作的自動化機(jī)械裝置，其分別設(shè)置于主機(jī)板置柜兩面處，二組擷取裝置與控管主機(jī)連線；收納區(qū)區(qū)分有已測區(qū)及未測區(qū)，供集中置放電子元件，收納區(qū)設(shè)有一整理裝置，該整理裝置與控管主機(jī)連線；輸送裝置是將收納區(qū)未測電子元件運輸至主機(jī)板置柜處，并將主機(jī)板置柜的已測電子元件輸出至收納區(qū)的運送裝置，該輸送裝置設(shè)于二組擷取裝置及收納區(qū)的整理裝置間，輸送裝置與控管主機(jī)連線；控管主機(jī)是命令擷取裝置產(chǎn)生特定動作，連線于測試用主機(jī)板以統(tǒng)一監(jiān)測電子元件測試品質(zhì)效果，可進(jìn)行電子元件品質(zhì)的比對與區(qū)別，并可儲存測試、比對等資料的裝置，藉此通過訊號連線使主機(jī)板置柜的測試用主機(jī)板與控管主機(jī)構(gòu)成連線，組成電子元件的自動化測試裝置。
所述的主機(jī)板置柜下方設(shè)有一暫存區(qū)，該暫存區(qū)區(qū)分為已測格區(qū)及未測格區(qū)，以供分別暫時置放已測及未測的電子元件。
所述的主機(jī)板置柜為數(shù)個，形成直立并排狀，各主機(jī)板置柜均各設(shè)有二組擷取裝置。
所述的擷取裝置及整理裝置為軌道式機(jī)械臂或肘式機(jī)械臂，或其它可用自動化指令控制的機(jī)械裝置的其中一種。
所述的輸送裝置設(shè)有一輸入部及一輸出部，用來分別輸送電子元件。
本發(fā)明之電子元件的自動化測試裝置測試方法包括以下步驟(B)、植入電子元件由控管主機(jī)以訊號控制一擷取裝置取擷電子元件植設(shè)于主機(jī)板置柜的測試用主機(jī)板；(C)、測試由主機(jī)板置柜的測試用主機(jī)板與電子元件搭配進(jìn)行測試；(D)、主機(jī)控管將測試用主機(jī)板的測試數(shù)據(jù)資料傳遞給控管主機(jī)，由控管主機(jī)比對、區(qū)分各電子元件的品質(zhì)、效果；(E)、取出電子元件以控管主機(jī)控制另一擷取裝置取出測試完成的電子元件，并依據(jù)測試結(jié)果分級存放電子元件。
另外，所述的步驟(B)植入電子元件前，還可有步驟(A)輸入電子元件，該輸入電子元件的步驟，是以輸送裝置將收納區(qū)的電子元件輸送至主機(jī)板置柜處，供擷取裝置取擷測試。
所述的步驟(E)取出電子元件后，還可有步驟(F)輸出電子元件，該輸出電子元件的步驟，是以輸送裝置將電子元件輸送至收納區(qū)處以集中存放。
本發(fā)明由于采用自動化測試裝置及其測試方法對電子元件進(jìn)行測試，提高了測試速度、降低了品管成本、適于大量測試品管。


圖1為本發(fā)明之電子元件的自動化測試裝置的俯視圖。
圖2為本發(fā)明之電子元件的自動化測試裝置中的主機(jī)板置柜一面視圖。
圖3為本發(fā)明之電子元件的自動化測試裝置中的主機(jī)板置柜另一面視圖。
圖4為本發(fā)明之電子元件的自動化測試裝置測試方法流程框圖。
具體實施例方式
請參閱圖1、圖2、圖3所示，為本發(fā)明之電子元件的自動化測試裝置至少包括有一主機(jī)板置柜1、二組擷取裝置2、2`、一收納區(qū)3、一輸送裝置4、一控管主機(jī)5，并通過有線或無線訊號連線，以能進(jìn)行電子元件的自動化測試作業(yè)，其中主機(jī)板置柜1是提供復(fù)數(shù)測試用主機(jī)板11排列設(shè)置的裝置，其為兩面相通的立式格柜或格架，也可是兩面不相通的結(jié)構(gòu)，該主機(jī)板置柜1內(nèi)設(shè)有復(fù)數(shù)個測試用主機(jī)板11，該測試用主機(jī)板11可為一般桌上型電腦或筆記本型電腦或個人行動秘書(PDA)或其它微型電腦主機(jī)、電機(jī)、機(jī)械等設(shè)備的主機(jī)板，并于主機(jī)板置柜1下方設(shè)有一暫存區(qū)12，該暫存區(qū)12區(qū)分為至少一已測格區(qū)121及一未測格區(qū)122，以供分別暫時置放已測及未測的電子元件10，測試用主機(jī)板11與控管主機(jī)5連線；二組擷取裝置2、2`是可自動進(jìn)行電子元件取擷、插植及置放動作的自動化機(jī)械裝置，其可為一種軌道式機(jī)械臂或肘式機(jī)械臂，或其它可用自動化指令控制的機(jī)械裝置的其中一種，二組擷取裝置2、2`與控管主機(jī)5連線，二擷取裝置2、2`設(shè)有至少一電子元件的擷取頭21、21`，二擷取裝置2、2`分別設(shè)置于主機(jī)板置柜1兩面處，可用其中一擷取裝置2進(jìn)行裝入電子元件于測試用主機(jī)板11的動作，而另一取裝置2`可由測試用主機(jī)板11取出電子元件并置放于收納區(qū)3，或令二組擷取裝置2、2`各自進(jìn)行植入及取出電子元件動作；收納區(qū)3是用來集中區(qū)分電子元件已檢測及未檢測的裝置，可為一置物柜設(shè)置于主機(jī)板置柜1周圍處，并區(qū)隔有至少一已測區(qū)31及一未測區(qū)32，以分別集中置放已檢測及未檢測的電子元件10，該收納區(qū)3可設(shè)有一自動化的整理裝置33，該整理裝置33可為軌道式機(jī)械臂或肘式機(jī)械臂，或其它可用自動化指令控制的機(jī)械裝置的其中一種，藉此可將未測區(qū)32的未測電子元件10取放于下述輸送裝置4，并由輸送裝置4取回已測電子元件10集中置放于已測區(qū)31，該整理裝置33與控管主機(jī)5連線；輸送裝置4是將上述收納區(qū)3未測電子元件輸送至主機(jī)板置柜1處，并將主機(jī)板置柜1的已測電子元件10輸出至收納區(qū)3的運送裝置，輸送裝置4可為輸送帶或輸送輪等等效裝置，該輸送裝置4設(shè)于二組擷取裝置2、2`及收納區(qū)3的整理裝置33間，輸送裝置4設(shè)有一輸入部41及一輸出部42，以分別進(jìn)行上述電子元件10的運輸動作，輸送裝置4與控管主機(jī)5連線；控管主機(jī)5是統(tǒng)一監(jiān)測電子元件測試品質(zhì)效果，進(jìn)行電子元件品質(zhì)的比對與區(qū)別，可以儲存測試、比對等資料，并可命令擷取裝置2、2`產(chǎn)生特定動作的后端電腦主機(jī)，其包含有比對、區(qū)分、儲存測試資料及產(chǎn)生特定指令所需的軟件及硬件設(shè)備；
藉此，通過有線或無線訊號連線6方式，使主機(jī)板置柜1的各個測試用主機(jī)板11分別或統(tǒng)一與控管主機(jī)5連線，并使各組擷取裝置2、2`與控管主機(jī)5構(gòu)成連線，如此，即組成本發(fā)明之電子元件的自動化測試裝置；且該控管主機(jī)5也可與上述收納區(qū)3、整理裝置33及輸送裝置4構(gòu)成連線，俾使整套自動化測試裝置相互搭配使用，使測試流程更臻順暢、協(xié)調(diào)。
如圖1、圖2所示，本發(fā)明之主機(jī)板置柜1可同時設(shè)有多個，形成直立式并排狀，并于各個主機(jī)板置柜1兩面分別置設(shè)擷取裝置2、2`，且令輸送裝置4設(shè)于二組擷取裝置2、2`及收納區(qū)3的整理裝置33間，藉此組成電子元件的測試群組，以提升測試效率。
請參閱圖4配合圖1、圖2、圖3所示，本發(fā)明之電子元件的自動化測試裝置測試方法包括以下步驟(A)輸入電子元件由收納區(qū)3的整理裝置33從其未測區(qū)32取出電子元件10置放于輸送裝置4的輸入部41，將電子元件10輸送至各個主機(jī)板置柜1處，再令擷取裝置2或擷取裝置2`取放于主機(jī)板置柜1的未測格區(qū)122暫存，或直接進(jìn)入下述(B)流程；(B)、植入電子元件由控管主機(jī)5以訊號控制一組或多組擷取裝置2，令該擷取裝置2統(tǒng)一或分別由主機(jī)板置柜1的未測格區(qū)122或輸送裝置4進(jìn)行取擷電子元件10例如晶片等動作，并將該電子元件10植設(shè)于主機(jī)板置柜1的測試用主機(jī)板11，使各電子元件10與測試用主機(jī)板11構(gòu)成連結(jié)可實際搭配使用狀態(tài)；(C)、測試由主機(jī)板置柜1的測試用主機(jī)板11與電子元件10例如晶片等搭配進(jìn)行實際使用的測試動作，其中，各測試用主機(jī)板11安裝有測試必備的其它軟件、硬件等；(D)、主機(jī)控管將主機(jī)板置柜1的測試用主機(jī)板11所測試的數(shù)據(jù)等資料傳遞給控管主機(jī)5，由控管主機(jī)5內(nèi)設(shè)的軟、硬件進(jìn)行比對、區(qū)分各電子元件的品質(zhì)、使用速度及效果等，可立即以顯示器顯示測試結(jié)果，并可將比對及區(qū)分資料等儲存于磁碟機(jī)或磁帶機(jī)或其它可記錄的硬件設(shè)備中；(E)、取出電子元件以控管主機(jī)5依據(jù)比對結(jié)果，通過指令訊號統(tǒng)一或分別控制主機(jī)板置柜1另一擷取裝置2`取出測試完成的電子元件10，并令擷取裝置2`依據(jù)測試結(jié)果分級存放電子元件10于主機(jī)板置柜1的已測格區(qū)121，或直接放置于輸送裝置4的輸送部42，藉此自動完成電子元件的測試作業(yè)，所說的分級如分成瑕疵品、低功率、高品質(zhì)等等級；(F)、輸出電子元件由主機(jī)板置柜1的擷取裝置2或擷取裝置2`從其已測格區(qū)121或測試用主機(jī)板11取出已測電子元件10置放于輸送裝置4的輸出部42，將已測電子元件10輸送至收納區(qū)3，再令整理裝置33取放于已測區(qū)31集中，俾供進(jìn)行后序制程，例如打印、包裝等。
本發(fā)明之電子元件的自動化測試裝置由于是由主機(jī)板置柜1、二組電子元件的擷取裝置2、2`、收納區(qū)3、輸送裝置4及控管主機(jī)5組成，并通過上述主要的步驟(B)植入電子元件、(C)測試、(D)主機(jī)控管、(E)取出電子元件，因此可完全由控管主機(jī)5統(tǒng)一進(jìn)行電子元件的全面測試工作，僅需一人監(jiān)視控管主機(jī)5，因此可大幅的降低品管的人力成本。
其次，本發(fā)明可以通過控管主機(jī)5控制擷取裝置2、2`、收納區(qū)3、整理裝置33及輸送裝置4，以進(jìn)行電子元件10測試前、后的各種動作，因此可通過適當(dāng)?shù)膭幼髁鞒桃?guī)劃，縮短測試工作前的前置作業(yè)及后續(xù)分級置放作業(yè)的時間，使測試速度及產(chǎn)量易于明確化，并提升其整體測試作業(yè)的速度，故可藉此降低電子元件等產(chǎn)品出廠前的品管成本。
本發(fā)明之電子元件的自動化測試裝置測試方法，其控制擷取裝置2、2`、收納區(qū)3、整理裝置33及輸送裝置4產(chǎn)生動作者，也可由其它電腦主機(jī)設(shè)備進(jìn)行，或令該控管主機(jī)5分別為測試主機(jī)及控制主機(jī)部分。另外，本發(fā)明并不單局限于電子元件產(chǎn)品出廠前的測試作業(yè)，其也可裝設(shè)于特定生產(chǎn)線中，以隨機(jī)或全面的取擷制程中的電子元件，例如封裝過程中的晶片等，并進(jìn)行上述的測試作業(yè)，俾隨時監(jiān)控電子元件的品質(zhì)，并可藉由控管主機(jī)5所儲存的比對資料等，作為改善電子元件制程設(shè)備或維修、更換等工作的依據(jù)；因此，舉凡以本發(fā)明之電子元件的自動化測試裝置及其測試方法，實施為電子產(chǎn)品制程中或出廠前的品管形態(tài)，均應(yīng)為本發(fā)明的權(quán)利要求所包含。
權(quán)利要求
1.一種電子元件的自動化測試裝置，其特征在于其包括有一主機(jī)板置柜、二組擷取裝置、一收納區(qū)、一輸送裝置、一控管主機(jī)，其中，主機(jī)板置柜為立式柜，該主機(jī)板置柜內(nèi)設(shè)有復(fù)數(shù)測試用主機(jī)板，測試用主機(jī)板與控管主機(jī)連線；二組擷取裝置是進(jìn)行電子元件取擷、插植及置放動作的自動化機(jī)械裝置，其分別設(shè)置于主機(jī)板置柜兩面處，二組擷取裝置與控管主機(jī)連線；收納區(qū)區(qū)分有已測區(qū)及未測區(qū)，供集中置放電子元件，收納區(qū)設(shè)有一整理裝置，該整理裝置與控管主機(jī)連線；輸送裝置是將收納區(qū)未測電子元件運輸至主機(jī)板置柜處，并將主機(jī)板置柜的已測電子元件輸出至收納區(qū)的運送裝置，該輸送裝置設(shè)于二組擷取裝置及收納區(qū)的整理裝置間，輸送裝置與控管主機(jī)連線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元件的自動化測試裝置，其特征在于所述的主機(jī)板置柜下方設(shè)有一暫存區(qū)，該暫存區(qū)區(qū)分為暫時置放已測電子元件的已測格區(qū)及暫時置放未測電子元件的未測格區(qū)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種電子元件的自動化測試裝置，其特征在于所述的主機(jī)板置柜為數(shù)個，形成直立并排狀，各主機(jī)板置柜均各設(shè)有二組擷取裝置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元件的自動化測試裝置，其特征在于所述的擷取裝置及整理裝置為軌道式機(jī)械臂或肘式機(jī)械臂，或其它可用自動化指令控制的機(jī)械裝置的其中一種。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元件的自動化測試裝置，其特征在于所述的輸送裝置設(shè)有用來分別輸送電子元件的一輸入部及一輸出部。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元件的自動化測試裝置，其特征在于所述的擷取裝置、收納區(qū)、整理裝置及輸送裝置通過訊號連線與控管主機(jī)連線。
7.一種如權(quán)利要求1所述的一種電子元件的自動化測試裝置的測試方法，該方法包括以下步驟(B)、植入電子元件由控管主機(jī)以訊號控制一擷取裝置取擷電子元件植設(shè)于主機(jī)板置柜的測試用主機(jī)板；(C)、測試由主機(jī)板置柜的測試用主機(jī)板與電子元件搭配進(jìn)行測試；(D)、主機(jī)控管將測試用主機(jī)板的測試數(shù)據(jù)資料傳遞給控管主機(jī)，由控管主機(jī)比對、區(qū)分各電子元件的品質(zhì)、效果；(E)、取出電子元件以控管主機(jī)控制另一擷取裝置取出測試完成的電子元件，并依據(jù)測試結(jié)果分級存放電子元件。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種電子元件的自動化測試裝置的測試方法，其特征在于所述的步驟(B)植入電子元件前，還具有(A)輸入電子元件步驟，該輸入電子元件的步驟，是以輸送裝置將收納區(qū)的電子元件輸送至主機(jī)板置柜處，供擷取裝置取擷測試。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種電子元件的自動化測試裝置的測試方法，其特征在于所述的步驟(E)取出電子元件后，還具有(F)輸出電子元件步驟，該輸出電子元件的步驟，是以輸送裝置將電子元件輸送至收納區(qū)處以集中存放。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電子元件的自動化測試裝置及其測試方法，其中的測試裝置是由至少一主機(jī)板置柜、二組擷取裝置、一收納區(qū)、一輸送裝置、一控管主機(jī)所組成，其測試方法的步驟為(B)植入電子元件由控管主機(jī)以訊號控制一擷取裝置取擷電子元件植設(shè)于主機(jī)板置柜的測試用主機(jī)板；(C)測試由主機(jī)板置柜的測試用主機(jī)板與電子元件搭配進(jìn)行測試；(D)主機(jī)控管將測試用主機(jī)板的測試數(shù)據(jù)資料傳遞給控管主機(jī)，由控管主機(jī)比對、區(qū)分各電子元件的品質(zhì)、效果；(E)取出電子元件以控管主機(jī)控制另一擷取裝置取出測試完成的電子元件，并依據(jù)測試結(jié)果分級存放電子元件，本發(fā)明由于采用自動化測試裝置及其測試方法對電子元件進(jìn)行測試，提高了測試速度、降低了品管成本、適于大量測試品管。
文檔編號G01R31/00GK1609624SQ20041001124
公開日2005年4月27日 申請日期2004年11月23日 優(yōu)先權(quán)日2004年11月23日
發(fā)明者資重興 申請人:資重興