專利名稱：確定扁平帶狀電纜的導(dǎo)線路徑區(qū)域中的絕緣層厚度的方法和設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于確定扁平帶狀電纜的導(dǎo)線路徑區(qū)域中的絕緣層厚度的方法。
背景技術(shù)：
扁平帶狀電纜被越來(lái)越多地使用，尤其是在汽車工業(yè)中。扁平帶狀電纜給出多個(gè)絞股線狀的扁平導(dǎo)線路徑，這些導(dǎo)線路徑彼此間相距一個(gè)窄的距離并排放置，并且嵌入在絕緣層材料中。單個(gè)導(dǎo)線路徑的寬度根據(jù)各個(gè)應(yīng)用而不同，例如，從0.5到20mm。導(dǎo)線路徑的厚度大致是相等的，一般為0.2mm。扁平帶狀電纜的總厚度由扁平導(dǎo)線和加到兩邊的絕緣層的厚度產(chǎn)生。絕緣層的典型厚度為0.15mm。從而扁平帶狀電纜的總厚度約為0.5mm。
這種扁平帶狀電纜具有可通過(guò)它們進(jìn)行自動(dòng)裝配的優(yōu)點(diǎn)，即與其他導(dǎo)線、插頭等自動(dòng)結(jié)合。為實(shí)現(xiàn)此操作，導(dǎo)線路徑必須在絕緣包殼中精確定位。但是對(duì)于用戶來(lái)說(shuō)了解絕緣層的厚度尤其是在導(dǎo)線路徑之上和之下是否具有預(yù)定值也是很重要的。
從而，本發(fā)明具有陳述用于確定一個(gè)扁平帶狀電纜的金屬導(dǎo)線路徑區(qū)域中的絕緣層厚度的一種方法和一個(gè)設(shè)備的目的。另外，在根據(jù)本發(fā)明的方法的幫助下也可能進(jìn)行扁平帶狀電纜的絕緣層中的導(dǎo)線路徑的位置確定。

發(fā)明內(nèi)容
在根據(jù)本發(fā)明的方法中，扁平帶狀電纜的一側(cè)由一束X光輻射，一個(gè)探測(cè)器放在扁平帶狀電纜的同一側(cè)和/或另一側(cè)，該探測(cè)器對(duì)于來(lái)自導(dǎo)線路徑的X光發(fā)光輻射敏感，并且測(cè)量X光發(fā)光輻射的強(qiáng)度。一個(gè)屏蔽使得主X光輻射不會(huì)沖擊到探測(cè)器上。
通過(guò)一個(gè)介質(zhì)能量(例如，從35至100keV)的X光輻射產(chǎn)生的對(duì)于扁平帶狀電纜的導(dǎo)線路徑的或多或少的強(qiáng)度輻射，一個(gè)較低能帶中的二級(jí)輻射生成在金屬導(dǎo)線路徑中。此輻射被稱為X光發(fā)光輻射。對(duì)于銅導(dǎo)線，它主要位于8keV。X光發(fā)光輻射穿過(guò)絕緣層并被探測(cè)器接收。即使絕緣層相對(duì)較薄，二級(jí)輻射也將受到不小的衰減。此衰減是對(duì)絕緣壁的厚度的度量，且在絕緣材料對(duì)于發(fā)光輻射的特定吸收值已知時(shí)，此衰減能被直接轉(zhuǎn)化為壁厚度的線性度量。
在所述的配置的幫助下還可測(cè)量導(dǎo)線路徑和絕緣層之間的差別。當(dāng)所述發(fā)光輻射來(lái)自導(dǎo)線路徑并被探測(cè)器測(cè)量時(shí)，在相鄰導(dǎo)線路徑之間的純絕緣層區(qū)域不能探測(cè)到這樣的二級(jí)輻射。從而，通過(guò)所述的測(cè)量方法也可確定導(dǎo)線路徑的橫向位置。為實(shí)現(xiàn)此操作，還可能有其他的測(cè)定方法，這將在下文中詳細(xì)說(shuō)明。
根據(jù)本發(fā)明可能有不同的配置來(lái)完成該方法。一種配置是保持X光束相對(duì)于扁平帶狀電纜橫向地沖擊在扁平帶狀電纜上的面積范圍與導(dǎo)線路徑的寬度相比較小。在X光束和扁平帶狀電纜之間產(chǎn)生相對(duì)移動(dòng)，通過(guò)相對(duì)移動(dòng)X光束很快掃過(guò)扁平帶狀電纜的總寬度。由于發(fā)光輻射的相對(duì)小的強(qiáng)度，探測(cè)器的接收區(qū)域?qū)崿F(xiàn)得相對(duì)較大。但是，只有被窄X光束生成的輻射沖擊在接收區(qū)域上。實(shí)際上可能保持X光源靜止，并讓扁平帶狀電纜相對(duì)X光束橫向移動(dòng)，但是更好的方式是在扁平帶狀電纜在橫向準(zhǔn)靜止配置的基礎(chǔ)上分別移動(dòng)X光源和X光束。應(yīng)理解扁平帶狀電纜可同時(shí)在縱向移動(dòng)。
為實(shí)現(xiàn)盡可能高的空間分辨率，必須使X光束橫向沖擊在扁平帶狀電纜上的面積范圍較小。為實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)，宜提供一個(gè)瞄準(zhǔn)儀或使X光束聚焦的設(shè)備。這兩種預(yù)防措施都是X光技術(shù)中本來(lái)已知的方法。
為了在一方面獲取高分辨率，而在另一方面讓探測(cè)器獲得足夠的二級(jí)輻射的能量，根據(jù)本發(fā)明的一種實(shí)施方式可將X光束在扁平帶狀電纜在縱向的延伸范圍比橫向大得多。
已提到當(dāng)其操作于掃描模式時(shí)，也可在這種配置的幫助下確定導(dǎo)線路徑的邊緣位置。根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式，此操作宜在用于主輻射的X光探測(cè)器的幫助下產(chǎn)生，該用于主輻射的X光探測(cè)器放置于扁平帶狀電纜與X光源相對(duì)的一側(cè)。自然，接收到的X光輻射的強(qiáng)度根據(jù)輻射是在導(dǎo)線路徑的區(qū)域還是在絕緣區(qū)域穿過(guò)扁平帶狀電纜而不同。從而，可能立刻確定相對(duì)于扁平帶狀電纜的寬度尺寸，導(dǎo)線路徑放置于什么位置。在這種配置的幫助下還可能確定扁平帶狀電纜的總厚度。扁平帶狀電纜之外的區(qū)域和絕緣層區(qū)域中測(cè)量到的強(qiáng)度的差是對(duì)于扁平帶狀電纜的總厚度的度量。另外，可探測(cè)相鄰導(dǎo)線路徑之間的絕緣層厚度是否例如因?yàn)槭湛s變短而減小。
導(dǎo)線路徑的位置自然對(duì)準(zhǔn)扁平帶狀電纜的側(cè)邊。在所述配置的幫助下，側(cè)邊也可被確定，以便確定導(dǎo)線路徑的剩余位置以及導(dǎo)線路徑之間的部分。提供一個(gè)單獨(dú)的邊緣探測(cè)器是有利的，通過(guò)它可精確確定一個(gè)扁平帶狀電纜的側(cè)邊。為實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)，可使用一個(gè)簡(jiǎn)單的光裝置。通過(guò)這種邊緣探測(cè)器還可以補(bǔ)償測(cè)量過(guò)程中扁平帶狀電纜的側(cè)邊移動(dòng)，否則這種側(cè)邊移動(dòng)將導(dǎo)致測(cè)量誤差。
正如已提到的那樣，當(dāng)扁平帶狀電纜被一束在扁平帶狀電纜的縱向上為點(diǎn)狀或線狀的X光照射時(shí)，X光發(fā)光輻射探測(cè)器的接收區(qū)域可實(shí)現(xiàn)得較大。但是，也可將一束尺寸相對(duì)較寬大的X光束指向扁平帶狀電纜，并同時(shí)保持接收探測(cè)器的視野較小，即使得探測(cè)器僅以點(diǎn)狀或線狀方式橫向在運(yùn)行方向掃描扁平帶狀電纜。在這種情況下，導(dǎo)線路徑的位置確定的X光探測(cè)器可被實(shí)現(xiàn)為一個(gè)線探測(cè)器。
根據(jù)本發(fā)明用于執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的方法的設(shè)備構(gòu)想出了一個(gè)附于一個(gè)適當(dāng)?shù)闹挝锷系腦光源。在同一支撐物上還可附上X光發(fā)光探測(cè)器；宜提供一個(gè)裝置使得支撐物可分別相對(duì)于扁平帶狀電纜的縱向延伸或移動(dòng)方向橫向移動(dòng)，以便掃描扁平帶狀電纜。當(dāng)一個(gè)X光探測(cè)器被額外提供在相對(duì)一側(cè)時(shí)，它也同步移動(dòng)，尤其當(dāng)它由一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)接收器組成時(shí)。但是，當(dāng)該X光探測(cè)器被實(shí)現(xiàn)為一個(gè)延著電纜寬度延伸的線探測(cè)器時(shí)，線探測(cè)器可在X光源及發(fā)光探測(cè)器相對(duì)于電纜的移動(dòng)方向橫向移動(dòng)時(shí)保持靜止。當(dāng)電纜被X光輻射以寬大尺寸方式照射時(shí)，X光源也可為靜止的，以便僅僅讓X光發(fā)光輻射探測(cè)器相對(duì)電纜進(jìn)行橫向掃描移動(dòng)。
當(dāng)X光源和X光發(fā)光探測(cè)器位于扁平帶狀電纜的一側(cè)而一個(gè)不能透過(guò)X光但能被X光激發(fā)的裝置(例如一片銅片等)位于扁平帶狀的另一側(cè)時(shí)，則可測(cè)量導(dǎo)線上的絕緣壁厚度以及絕緣壁的總厚度。X光輻射在銅片中激勵(lì)一個(gè)二級(jí)輻射或發(fā)光，它穿透導(dǎo)線路徑之外的區(qū)域中的絕緣層，并被發(fā)光探測(cè)器以衰減后的狀態(tài)接收。
將了解到根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備可構(gòu)想一個(gè)測(cè)定設(shè)備，通過(guò)它可測(cè)定探測(cè)器的測(cè)量信號(hào)，以便確定一個(gè)扁平帶狀電纜的個(gè)別參數(shù)。


本發(fā)明將通過(guò)一個(gè)表現(xiàn)在附圖中的實(shí)施例更詳細(xì)地說(shuō)明。
圖1示意性地透視顯示了用于執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的方法的一個(gè)設(shè)備。
圖2顯示了一個(gè)扁平帶狀電纜的一個(gè)x-光透射測(cè)量圖。
圖3顯示了根據(jù)圖1的扁平帶狀電纜的x-光發(fā)光測(cè)量圖。
圖4顯示了與圖2相似但具有實(shí)際測(cè)量值的圖。
圖5顯示了與圖3相似但具有實(shí)際測(cè)量值的圖。
圖6顯示了與圖1相似的一個(gè)裝置，但其具有修改后的測(cè)量裝置。
圖7顯示了根據(jù)圖6的扁平帶狀電纜的x-光發(fā)光測(cè)量圖。
具體實(shí)施例方式
在圖1中，示意性地表示了一個(gè)扁平帶狀電纜10的橫截面。它具有5個(gè)寬度不同但厚度相同的扁平導(dǎo)線路徑12，(例如銅線)，這些導(dǎo)線路徑彼此相距一定距離被排列在一個(gè)公共平面中。扁平導(dǎo)線12的排列被嵌入在一個(gè)絕緣層14中。
扁平帶狀電纜10被一個(gè)未顯示的傳送設(shè)備在其縱向上垂直于所畫的平面而傳送。因此它在U型支撐物20的分支16、18之間移動(dòng)。在上半分支16中，放置了一個(gè)X光源22。在下半分支18中，一個(gè)X光探測(cè)器24相對(duì)X光源22放置。在上半分支16中，一個(gè)X光發(fā)光探測(cè)器26放置在離x-光源一定距離處。
X光源22僅被示意性地顯示。它生成一束X光30，該X光束大致垂直地立于扁平帶狀電纜10的平面上。X光束30在扁平帶狀電纜10的橫向上只具有很小的延伸范圍，但在扁平帶狀電纜的縱向12是長(zhǎng)方形的，因此在扁平帶狀電纜10上形成一個(gè)線狀沖擊區(qū)域。
X光探測(cè)器24具有一個(gè)非常小的接收區(qū)域(線狀)。還可設(shè)計(jì)幾個(gè)線狀傳感器。發(fā)光探測(cè)器的接收區(qū)域與之相比相對(duì)較大。
在測(cè)量過(guò)程中，支撐物20被一個(gè)未顯示的驅(qū)動(dòng)設(shè)備在雙箭頭32的方向來(lái)回移動(dòng)，以便X光束30跨過(guò)扁平帶狀電纜20的整個(gè)寬度擺動(dòng)。在扁平帶狀電纜恒定向前移動(dòng)的同時(shí)，此擺動(dòng)連續(xù)來(lái)回發(fā)生。
導(dǎo)線路徑12由金屬(例如銅)組成。銅對(duì)于X光輻射具有非常小的透射因子。在導(dǎo)線路徑12之間，只有一層絕緣層，它可以很大程度地透過(guò)X光。從而，光X光束30跨過(guò)扁平帶狀電纜10的寬度移動(dòng)時(shí)，產(chǎn)生了根據(jù)圖2的一幅圖，其中接收到的X光束的強(qiáng)度是根據(jù)扁平帶狀電纜10的寬度B繪制的。通過(guò)此操作生成的脈沖34表示了相鄰導(dǎo)線路徑12之間的間隔的強(qiáng)度。根據(jù)圖2，在導(dǎo)線路徑12的區(qū)域中產(chǎn)生了一個(gè)相對(duì)較強(qiáng)的屏蔽，因此測(cè)量到的強(qiáng)度較低，約為25％。從而，脈沖的邊緣36精確表示了導(dǎo)線路徑12相對(duì)于扁平帶狀電纜10的邊緣的位置。當(dāng)圖中的零點(diǎn)對(duì)應(yīng)于扁平帶狀電纜10的側(cè)邊時(shí)，獲得了邊緣36的位置的基準(zhǔn)點(diǎn)，并通過(guò)它獲得了導(dǎo)線路徑12的位置。從而，在所述測(cè)量設(shè)備的幫助下，可確定在生產(chǎn)扁平帶狀電纜時(shí)導(dǎo)線路徑12是否放置在預(yù)定位置。將了解到必須提供一個(gè)適當(dāng)?shù)臏y(cè)定設(shè)備以測(cè)定X光探測(cè)器24的信號(hào)，此處未顯示此設(shè)備。
脈沖34與100％水平級(jí)別的距離對(duì)應(yīng)于導(dǎo)線路徑之間的絕緣層的總厚度wd1。
當(dāng)X光輻射沖擊在例如金屬上時(shí)，激勵(lì)起一個(gè)二級(jí)輻射，它從沖擊位置發(fā)射出。這在圖1的40處顯示。發(fā)射出的輻射，即一個(gè)X光發(fā)光輻射，與X光束30相比處于小得多的能量級(jí)。因此，輻射40在一定程度上被位于導(dǎo)線路徑12上的絕緣層吸收。探測(cè)器26具有相對(duì)較大的接收區(qū)域，以便將能量較衰弱的輻射轉(zhuǎn)化為一個(gè)可用信號(hào)。
在圖3中，相對(duì)于扁平帶狀電纜10的寬度繪制了此發(fā)光輻射的強(qiáng)度。脈沖42產(chǎn)生在有導(dǎo)線路徑12的區(qū)域，而這些脈沖之間的脈沖間隔產(chǎn)生于導(dǎo)線路徑12之間僅有絕緣層的區(qū)域，這些區(qū)域當(dāng)然不會(huì)產(chǎn)生發(fā)光。脈沖42與沒有絕緣層時(shí)的強(qiáng)度級(jí)43的距離對(duì)應(yīng)于一個(gè)導(dǎo)線路徑上的絕緣壁厚度wd2。
當(dāng)除了要確定導(dǎo)線路徑12上的絕緣層厚度外，還要確定導(dǎo)線路徑的位置時(shí)，可省略X光探測(cè)器24，僅以探測(cè)器26工作。但是不可能通過(guò)這種裝置分別確定扁平帶狀電纜10或其絕緣層的厚度。
在X光束30和探測(cè)器26之間，必須提供一個(gè)屏蔽，它使得沒有X光輻射能沖擊在探測(cè)器26上。
也可能在分支18上再安排另一個(gè)探測(cè)器，對(duì)應(yīng)于探測(cè)器26，如圖1中的虛線所示，因?yàn)閄光束30在穿過(guò)銅導(dǎo)線的下側(cè)時(shí)也生成一個(gè)二級(jí)輻射，它在分支18的方向向下出現(xiàn)。實(shí)際上它比輻射40微弱，但仍可被測(cè)量到。通過(guò)它可測(cè)量導(dǎo)線路徑12下側(cè)的絕緣層厚度。上層的影響對(duì)于此探測(cè)器可忽略，因?yàn)檎缫烟岬降?，它幾乎是可透過(guò)X光束30的。自然，下方絕緣層的厚度也可被一個(gè)第二測(cè)量裝置確定，該裝置包括一個(gè)第二X光源和一個(gè)發(fā)光輻射探測(cè)器。
為在扁平帶狀電纜10上創(chuàng)建一個(gè)X光束30沖擊的有限區(qū)域，可提供適當(dāng)?shù)难b置，例如一個(gè)瞄準(zhǔn)器或一個(gè)使X光束聚焦的設(shè)備。當(dāng)不采取這樣的光線分區(qū)時(shí)，也可在探測(cè)器26和扁平帶狀電纜之間提供一個(gè)裝置，即通過(guò)在其前設(shè)置一個(gè)阻擋器之類的物體，使得探測(cè)器26每次只能查看扁平帶狀電纜上的一個(gè)面積元素。
在圖1中，探測(cè)器26被表示為具有相對(duì)較大的朝著扁平帶狀電纜10橫向延伸的范圍。但是，宜使得此探測(cè)器26的主要延伸范圍位于扁平帶狀電纜10的縱向上。畢竟也可使用幾個(gè)這樣放置在扁平帶狀電纜10的縱向和橫向的X光發(fā)光探測(cè)器。
也可提供一個(gè)探測(cè)器行，它具有多個(gè)相對(duì)較小的、緊密躺著的傳感器元件，用于替換線形X光探測(cè)器24。這種探測(cè)器行將必須靜止排列，而X光源和/或探測(cè)器26跨過(guò)扁平帶狀電纜橫向擺動(dòng)。
已提到例如通過(guò)圖2的圖，可以通過(guò)與導(dǎo)線路徑12的側(cè)邊相似的方式確定扁平帶狀電纜10的側(cè)邊。但是，對(duì)側(cè)邊有不確定性，只要絕緣層14對(duì)X光束30的衰減十分微弱。因此不采用此方式，而是提供一個(gè)附加的邊緣探測(cè)器是很有利的，該邊緣探測(cè)器通過(guò)一個(gè)光裝置工作，以便獲得更好地相對(duì)于導(dǎo)線路徑12的位置確定的基準(zhǔn)點(diǎn)。
在圖4中給出了一幅顯示在探測(cè)器24的位置測(cè)量到的X光輻射強(qiáng)度的圖。在這個(gè)范圍內(nèi)原則上它與根據(jù)圖2的圖是一致的?？煽闯鲆粋€(gè)扁平帶狀電纜已被掃描，它具有比圖1的扁平帶狀電纜10更多的導(dǎo)線路徑。另外，可看出在純絕緣層區(qū)域接收到的X光輻射強(qiáng)度不是100％，而在導(dǎo)線區(qū)域也不是0。從而無(wú)論如何，有導(dǎo)線路徑的絕緣層的影響。在圖4的圖的區(qū)域50中，扁平帶狀電纜在X光束之外。在區(qū)域52中進(jìn)入了扁平帶狀電纜的第一絕緣部分，并在54處被第一導(dǎo)線路徑將其強(qiáng)度減為20％。下一脈沖56將相鄰導(dǎo)線路徑之間的構(gòu)造顯示到一個(gè)約95％的強(qiáng)度。在未顯示的扁平帶狀電纜的進(jìn)一步掃描中重該操作。在此情況下，脈沖56之間的距離表示相鄰導(dǎo)線電纜之間的間隔，而脈沖的邊緣定義了導(dǎo)線路徑相對(duì)于圖4中定義為52的一側(cè)邊的位置。
脈沖和間隔54之間的差產(chǎn)生一個(gè)強(qiáng)度值d，它是扁平帶狀電纜中的導(dǎo)線的一個(gè)度量。從而，可用所述裝置測(cè)量導(dǎo)線的厚度。根據(jù)圖4中的50的100％強(qiáng)度與脈沖56之間的間隔對(duì)應(yīng)于絕緣層的厚度di。在圖4中還將看到，脈沖56的形狀在個(gè)別脈沖中是鋸齒狀的。它也可以具有凹陷的形狀，從中可以推論出，由于材料的收縮，相鄰導(dǎo)線路徑之間的位置被壓縮了。
圖5表示了根據(jù)圖4的扁平帶狀電纜的掃描過(guò)程中的X光發(fā)光輻射的進(jìn)程，它是通過(guò)圖1的探測(cè)器26測(cè)量的?？煽闯鰡蝹€(gè)脈沖不是確切位于相同水平的。這是由于X光線不充分聚集引起的。在脈沖60或61的情況下，導(dǎo)線上的絕緣層已經(jīng)被去除。從而，可清楚地看到接收到的X光發(fā)光輻射的強(qiáng)度比有絕緣層時(shí)在導(dǎo)線處的強(qiáng)度高得多，如71或70處所示。從而，來(lái)自導(dǎo)線路徑的發(fā)光輻射的強(qiáng)度值給出關(guān)于下面的絕緣層的厚度的信息。
應(yīng)確定多個(gè)測(cè)量值，這些值是由多個(gè)掃描過(guò)程中在測(cè)定設(shè)備(未進(jìn)一步討論和示出)中生成的，并應(yīng)處理它們以便確定一個(gè)平均值，以便補(bǔ)償統(tǒng)計(jì)波動(dòng)、噪聲和測(cè)量誤差。
根據(jù)圖6的實(shí)施方式與根據(jù)圖1的類似，因此相同的部分用相同的附圖標(biāo)記表示。一片銅片80放置于扁平帶狀電纜10之下。例如，其厚度為100μm。在X光照射扁平帶狀電纜時(shí)，一方面具有小厚度80銅片被激勵(lì)發(fā)射出發(fā)光輻射，另一方面導(dǎo)線路徑12也被激勵(lì)發(fā)射出發(fā)光輻射，如上文已說(shuō)明的。在掃描時(shí)，產(chǎn)生圖7所示的圖。脈沖42和沒有絕緣層時(shí)的接收機(jī)輸入水平之間的距離產(chǎn)生導(dǎo)線路徑之上的絕緣壁的厚度。脈沖間隙和所述水平之間的距離產(chǎn)生導(dǎo)線路徑12之間的絕緣層的總厚度，表示為wd1。
還提供了一個(gè)與圖1的探測(cè)器24相似的X光探測(cè)器。實(shí)際上，銅片80衰減X光輻射，但在銅片80下其強(qiáng)度足以激勵(lì)探測(cè)器24，以便完成導(dǎo)線路徑的位置確定。
權(quán)利要求
1.一種確定扁平帶狀電纜的金屬導(dǎo)線路徑區(qū)域中的絕緣層厚度的方法，其特征在于扁平帶狀電纜的一側(cè)被一束X光照射，而位于扁平帶狀電纜的相同或相反一側(cè)的一個(gè)探測(cè)器測(cè)量由各個(gè)導(dǎo)線路徑發(fā)射出的X光發(fā)光輻射的強(qiáng)度，其中探測(cè)器被屏蔽掉X光輻射。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其特征在于X光束相對(duì)于扁平帶狀電纜橫向地沖擊在扁平帶狀電纜上的面積范圍與導(dǎo)線路徑及導(dǎo)線路徑之間的絕緣層的寬度相比較小，并且X光束在扁平帶狀電纜上相對(duì)于扁平電纜的縱向橫向移動(dòng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2的方法，其特征在于X光束是移動(dòng)的，而扁平帶狀電纜在橫向保持準(zhǔn)靜止，并且探測(cè)器隨X光束移動(dòng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任何一個(gè)的方法，其特征在于X光束被橫向聚焦到扁平帶狀電纜，或通過(guò)一個(gè)瞄準(zhǔn)器被限制延伸范圍。
5.權(quán)利要求1至4中任何一個(gè)的方法，其特征在于探測(cè)器的敏感區(qū)域的大小是X光束在扁平帶狀電纜上的沖擊面積的幾倍。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任何一個(gè)的方法，其特征在于通過(guò)一個(gè)X光探測(cè)器在扁平帶狀電纜的相反側(cè)測(cè)量X光輻射的強(qiáng)度。
7.根據(jù)權(quán)利要求6的方法，其特征在于通過(guò)所述X光探測(cè)器確定扁平帶狀電纜的邊緣位置。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7的方法，其特征在于通過(guò)所述X光探測(cè)器確定扁平帶狀電纜中的導(dǎo)線路徑的位置。
9.根據(jù)權(quán)利要求6至8中任何一個(gè)的方法，其特征在于通過(guò)所述X光探測(cè)器分別確定相鄰導(dǎo)線路徑之間的絕緣層的厚度和扁平帶狀電纜的邊緣區(qū)域中的絕緣層的厚度。
10.根據(jù)權(quán)利要求6至8中的任何一個(gè)的方法，其特征在于在導(dǎo)線路徑的區(qū)域中確定扁平帶狀電纜的總厚度。
11.根據(jù)權(quán)利要求6至10中的任何一個(gè)的方法，其特征在于用一個(gè)單獨(dú)的邊緣探測(cè)器確定扁平帶狀電纜的側(cè)邊位置。
12.用于確定一個(gè)扁平帶狀電纜的金屬導(dǎo)線路徑的區(qū)域中的絕緣層厚度的設(shè)備，其特征在于提供一個(gè)X光源(22)，它的X光束(30)被射向扁平帶狀電纜(10)的一側(cè)，一個(gè)對(duì)于X光發(fā)光敏感的探測(cè)器(26)被放置于扁平帶狀電纜(10)的相同和/或相反側(cè)，所述探測(cè)器與一個(gè)測(cè)定設(shè)備相連接以測(cè)定所述發(fā)光輻射的強(qiáng)度。
13.根據(jù)權(quán)利要求12的設(shè)備，其特征在于對(duì)于X光發(fā)光敏感的探測(cè)器(26)與X光源放置于扁平帶狀電纜的相同側(cè)，而一個(gè)金屬板或片(80)放置于扁平帶狀電纜的相反側(cè)。
14.根據(jù)權(quán)利要求12或13的設(shè)備，其特征在于在X光源(22)和扁平帶狀電纜(10)之間提供用于生成一束在扁平帶狀電纜(10)的橫向上具有較小延伸范圍的X光(30)的裝置。
15.根據(jù)權(quán)利要求14的設(shè)備，其特征在于通過(guò)一個(gè)瞄準(zhǔn)器或用于聚焦X光輻射的設(shè)備來(lái)形成所述裝置。
16.根據(jù)權(quán)利要求12或13的設(shè)備，其特征在于X光束射向扁平帶狀電纜的較大的區(qū)域，扁平帶狀電纜和探測(cè)器之間放置一個(gè)裝置，通過(guò)該裝置，從扁平帶狀電纜的橫向來(lái)看，探測(cè)器的接收區(qū)域每次只看到扁平帶狀電纜的一個(gè)小區(qū)域。
17.根據(jù)權(quán)利要求12至16中任何一個(gè)的設(shè)備，其特征在于一個(gè)傳送設(shè)備在一個(gè)第一方向向前移動(dòng)扁平帶狀電纜(10)，而X光源(22)的一個(gè)支撐物(20)在橫跨第一方向的一個(gè)第二方向上移動(dòng)，并且探測(cè)器的一個(gè)支撐物與第一支撐物(20)同步移動(dòng)。
18.權(quán)利要求12至17中任何一個(gè)的設(shè)備，其特征在于X光源(22)和探測(cè)器(26)附于一個(gè)公共支撐物(20)上，X光束和探測(cè)器(26)被形成為使得探測(cè)器(26)的敏感區(qū)域只接收這樣的X光發(fā)光輻射在橫跨扁平帶狀電纜的方向上看，每次只來(lái)自扁平帶狀電纜的非常窄的區(qū)域部分。
19.根據(jù)權(quán)利要求15至18中任何一個(gè)的設(shè)備，其特征在于瞄準(zhǔn)器或聚焦設(shè)備被形成為X光束(30)在扁平帶狀電纜(10)上的縱向延伸的范圍比橫向延伸范圍大幾倍。
20.根據(jù)權(quán)利要求12至19中任何一個(gè)的設(shè)備，其特征在于一個(gè)X光探測(cè)器(24)被放置于扁平帶狀電纜的與X光源(22)相反的一側(cè)，所述探測(cè)器與一個(gè)測(cè)定設(shè)備相連接，以測(cè)定X光輻射的強(qiáng)度。
21.根據(jù)權(quán)利要求20的設(shè)備，其特征在于X光探測(cè)器(24)在掃描方向具有點(diǎn)狀接收區(qū)域。
22.根據(jù)權(quán)利要求20的設(shè)備，其特征在于X光探測(cè)器是一個(gè)線傳感器。
23.根據(jù)權(quán)利要求12至22中任何一個(gè)的設(shè)備，其特征在于提供一個(gè)單獨(dú)的邊緣探測(cè)器。
全文摘要
用于確定一個(gè)扁平帶狀電纜的金屬導(dǎo)線路徑區(qū)域中的絕緣層厚度的方法，其中扁平帶狀電纜的一側(cè)被一束X光照射，在扁平帶狀電纜的相同或相反一側(cè)的一個(gè)探測(cè)器測(cè)量由各導(dǎo)線路徑發(fā)射出的X光發(fā)光輻射的強(qiáng)度，探測(cè)器對(duì)于X光輻射是被屏蔽的。
文檔編號(hào)G01N23/22GK1523322SQ20041000584
公開日2004年8月25日 申請(qǐng)日期2004年2月20日 優(yōu)先權(quán)日2003年2月21日
發(fā)明者赫拉爾德·斯克拉, 赫拉爾德 斯克拉 申請(qǐng)人:斯考拉股份公司